一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法
专利汇可以提供一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种瓷质悬式绝缘子 缺陷 诊断方法，该方法通过分析瓷质悬式绝缘子串的 温度 特征信息来实现劣化绝缘子的诊断。应用该方法实施诊断时需先在待检测现场采集一定数量同类型无明显异常绝缘子串的红外热像图谱，形成本检测现场该类型绝缘子串的基准温度特征信息。然后提取待诊断绝缘子串红外热像图谱中的温度特征信息与基准温度特征信息比较，有明显差异时即可以判断为缺陷绝缘子。本 发明 可排除环境干扰因素对绝缘子串的温度特征影响，有效提高红外热像法绝缘子缺陷诊断的正确率。本发明考虑了不同 位置 绝缘子温度特征的差异性，提出比较相同环境下同类设备相同位置的温度特征来实现诊断，适用于各种复杂条件下的绝缘子缺陷诊断。本发明可在现场方便应用。，下面是一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法专利的具体信息内容。
1.一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述方法通过分析瓷质悬式绝缘子串的温度特征信息，引入数值分析理论对基于红外热像图谱的绝缘子缺陷进行诊断；所述方法的步骤为：
（1）在待检测现场采集n串无明显异常绝缘子串的红外热像图谱，若待检测现场共有m串同类型瓷质悬式绝缘子串，则n满足以下条件：
0.1×m
（2）提取步骤（1）所述绝缘子串红外热像图谱中每片绝缘子钢帽处温度，按绝缘子位置保存；
（3）将步骤（2）所述n串绝缘子相同位置绝缘子钢帽的温度求算术平均后得到基准温度，为该检测现场该类型绝缘子串的基准温度特征信息；
（4）采集待诊断绝缘子串的红外热像图谱，然后按步骤（2）所述方法获取待诊断绝缘子串的温度，为待诊断绝缘子串特征信息；
（5）将步骤（4）所述待检测绝缘子串的温度特征信息减步骤（3）所述基准温度特征信息，得到待检测绝缘子的缺陷诊断信息；所述缺陷诊断信息去除最大值和最小值后求均值乘1.2得到上阈值；所述缺陷诊断信息去除最大值和最小值后求均值乘0.8得到下阈值；
（6）将步骤（5）所述待检测绝缘子的缺陷诊断信息与上下阀值比较大小；缺陷诊断信息大于上阀值信息所对应位置的绝缘子可判断为低值绝缘子；小于下阀值信息所对应位置的绝缘子可判断为零值绝缘子。
2.根据权利要求1所述瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述绝缘子串的温度特征信息是指绝缘子钢帽处的温度信息；所述绝缘子钢帽处的温度可以是钢帽处的平均温度或最高温度，也可以是运用图像处理技术实施降噪、去干扰信息后钢帽处的平均温度或最高温度。
3.根据权利要求1所述瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述步骤（2）绝缘子位置是指每片绝缘子在绝缘子串中所处的位置，在指定方向后，每片绝缘子的位置编号是唯一的；所述方向是指编号起始是导线侧还是构架侧。
4.根据权利要求1所述瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法，其特征在于，所述低值绝缘子的绝缘电阻在10兆欧与500兆欧之间；所述零值绝缘子的绝缘电阻小于10兆欧。
一种瓷质悬式绝缘子缺陷诊断方法
运行中的绝缘子长期工作于强电场、机械应力、污秽及恶劣气候等共存的复杂环境中。随着运行时间的增加，受机电联合作用，绝缘子的绝缘性能和机械性能会慢慢下降，从而产生低值绝缘子（绝缘子电阻在10兆欧与500兆欧之间）或零值绝缘子（绝缘子电阻小于10兆欧）。零值或低值绝缘子统称为缺陷绝缘子。如果一串绝缘子中有缺陷绝缘子出现，则表示部分绝缘被短路，相应地增加了闪络概率。如果有缺陷绝缘子的绝缘子串发生工频闪络或遭受雷击，会有很大电流流过缺陷绝缘子内部，强大的电流产生的热效应往往会造成悬式绝缘子钢帽炸裂或脱开，从而出现绝缘子串掉串、导线落地等严重事故。
具体实施方式
a=[9.34,8.74,8.26,7.78,7.54,7.42,7.42,7.42,7.66,7.78,8.02,8.14,8.26,7.06]（2）采集待诊断绝缘子串的温度特征信息向量。采集待诊断绝缘子的红外热像图谱后，获取每片绝缘子钢帽处的最高温度，得到待诊断绝缘子串温度特征信息向量：
b=[9.4,10.1,9.8,9.4,9.3,9.1,9.0,9.5,9.3,9.4,9.5,9.6,9.8,8.7]
（3）生成缺陷诊断信息向量。将待检测绝缘子串的温度特征信息向量b减基准温度特征信息向量a，即为缺陷诊断信息向量：
c=[c1,c2…,c14]
=[0.06,1.36,1.54,1.62,1.76,1.68,1.58,2.08,1.64,1.62,1.48,1.46,1.54,1.64]故上阈值:
H=[sum(c1,c2…,c14)-max(c1,c2…,c14)-min(c1,c2…,c14)]/12*1.2=1.89下阈值：
L=[sum(c1,c2…,c14)-max(c1,c2…,c14)-min(c1,c2…,c14)]/12*0.8=1.26（4）缺陷诊断:
c1=0.06< L，判断靠近导线侧第1片绝缘子为零值绝缘子；
c8=2.08>H，判断靠近导线侧第8片绝缘子为低值绝缘子。
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