专利汇可以提供全自动化学发光测定仪孵育盘模块跳动度检测方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种全自动 化学发光 测定仪孵育盘模 块 跳动度检测方法,一、在孵育盘模块一侧放置第一、第二和第三激光位移 传感器 ;第一激光位移传感器投光轴线垂直于温育盘上盘面,第二激光位移传感器投光轴线垂直于前处理盘上盘面,第三激光位移传感器投光轴线垂直于前处理盘的外周面;二、第一、第二、第三激光位移传感器检测数据输出端与PLC数据 信号 输入端连接,PLC输出控制端与第一、第二步进 电机 输入控制端连接;上位计算机与PLC通信连接;三、第一、第二步进电机按照各自设定参数驱动温育盘和前处理盘转动;四、上位计算机 触摸屏 以折线图形式将各 采样 点相对高度 波动 过程信息显示出来,从而判断孵育盘模块装配是否达到标准要求。,下面是全自动化学发光测定仪孵育盘模块跳动度检测方法专利的具体信息内容。
1.一种全自动化学发光测定仪孵育盘模块跳动度检测方法,其特征在于:按照下述步骤进行:
第一步、在孵育盘模块的机架一侧放置传感器支架,在所述传感器支架的横梁上安装第一激光位移传感器和第二激光位移传感器,在传感器支架的立柱上安装第三激光位移传感器;所述第一激光位移传感器的投光轴线垂直于孵育盘模块的温育盘上盘面,所述第二激光位移传感器的投光轴线垂直于孵育盘模块的前处理盘上盘面,所述第三激光位移传感器的投光轴线垂直于所述前处理盘的外周面;
第二步、将所述第一、第二、第三激光位移传感器的检测数据信号输出端分别与所述PLC控制系统的数据信号采集输入端相连接,然后将PLC控制系统输出控制端分别与安装在孵育盘模块机架上的第一步进电机的电机驱动器输入控制端、第二步进电机的电机驱动器输入控制端相连接;所述第一步进电机用于驱动所述温育盘转动,所述第二步进电机用于驱动所述前处理盘转动;最后将具有触摸屏的上位计算机通过RS232通讯接口与PLC控制系统通信连接;
第三步、检测人员通过所述触摸屏界面向所述PLC控制系统发出指令信号,启动所述第一步进电机和所述第二步进电机按照各自设定的转动参数驱动所述温育盘和前处理盘转动;同时,所述第一、第二、第三激光位移传感器对温育盘和前处理盘的运动状态进行实时监测,获得各采样点的相对高度信息,并将所述各采样点的相对高度信息实时传输给PLC控制系统,由PLC控制系统通过A/D转换后进行数据处理,并将数据处理结果传输给上位计算机;所述数据处理包括执行最大值、最小值命令以及变址寄存器命令;
第四步、所述上位计算机通过触摸屏以折线图形式将各采样点的相对高度波动过程的信息显示出来,最大最小值的差值(即高度落差值)也反映在屏幕上,通过触摸屏自带的组态软件进行配置,超过合格值的数字在屏幕上自动变红,从而判断孵育盘模块装配是否达到标准要求。
2.根据权利要求1所述的全自动化学发光测定仪孵育盘模块跳动度检测方法,其特征在于:第一步进电机和所述第二步进电机均为五相步进电机;所述第三步中, 所述第一步进电机设定的转动参数为:第一步进电机步进X步,驱动所述温育盘转动的角度α=360°÷N,其中N为沿周向开设在温育盘盘面上的反应杯插孔位的个数,X为自然数;即:第一步进电机步进X步驱动温育盘转动一个所述反应杯插孔位;所述PLC控制系统输出控制端向第一步进电机的电机驱动器输入控制端发出X×N个脉冲信号,第一步进电机驱动温育盘盘面转动一周,同时,PLC控制系统的数据信号采集输入端以每增加X步为触发条件接收所述第一激光位移传感器输出的检测数据信号,并将所述检测数据经A/D转换后通过RS232通讯传递给上位计算机进行储存;所述检测数据包含温育盘上盘面检测点的落差值以及变址寄存器的值,所述变址寄存器包含最大值、最小值的地址区域;通过所述落差值即可直观反映出温育盘转动一周其上盘面的上、下波动情况,由此判断前处理盘装配是否达到标准要求;所述变址寄存器信息包含采集数据最大值最小值地址区,对应于盘面某处区域,应用组态技术将该值进行图像位置指针指示,一旦出现超差情况给予调整参考;
所述第二步进电机设定的转动参数为:第二步进电机步进Y步,驱动所述前处理盘转动的角度β=360°÷M,其中M为沿周向开设在前处理盘盘面上的反应杯插孔位的个数,Y为自然数;即:第二步进电机步进Y步驱动前处理盘转动一个所述反应杯插孔位;所述PLC控制系统输出控制端向第二步进电机的电机驱动器输入控制端发出Y×M个脉冲信号,第二步进电机驱动前处理盘盘面转动一周,同时,PLC控制系统的数据信号采集输入端以每增加Y步为触发条件接收所述第二、第三激光位移传感器输出的检测数据信号,并将所述检测数据经A/D转换后通过RS232通讯传递给上位计算机机进行储存;所述检测数据包含前处理盘上盘面检测点和前处理盘外周面检测点的落差值以及变址寄存器的值,所述变址寄存器包含最大值、最小值的地址区域;通过所述落差值即可直观反映出前处理盘转动一周其上盘面的上、下波动情况和外周面沿径向的波动情况,由此判断前处理盘装配是否达到标准要求;所述变址寄存器信息包含采集数据最大值最小值地址区,对应于盘面某处区域,应用组态技术将该值进行图像位置指针指示,一旦出现超差情况给予调整参考。
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