Semiconductor inspecting device
专利汇可以提供Semiconductor inspecting device专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且PURPOSE: To check a holding time in a short time by emitting a light to a device to be measured by a light emitting unit when measuring a device of a wafer state.
CONSTITUTION: A light is emitted to a device to be measured of a wafer 4 by a light emitting unit 2 to measure a holding time. When a light is emitted in case of measuring the holding time of a dynamic memory, the actually measured value of the actual device is obtained by a photoelectric effect in a shorter time. Accordingly, when a light is emitted to the device to be measured to measure the holding time, the same specified holding time can be checked in a short time.
COPYRIGHT: (C)1987,JPO&Japio，下面是Semiconductor inspecting device专利的具体信息内容。
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