用于飞行时间测量的半导体器件和方法
专利汇可以提供用于飞行时间测量的半导体器件和方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一种 半导体 器件包括：电磁 辐射 的发射器(2)；光电检测器(10)，其能够检测特定 波长 的 电磁辐射 ；滤光片(11)，其具有包括特定波长的 通带 ，所述滤光片布置在光电检测器上，所述发射器和/或所述滤光片可电调谐到特定波长；以及 电路 (14)，所述电路配置成确定由发射器发射并随后由光电检测器接收的 信号 的发射与接收之间经过的时间。，下面是用于飞行时间测量的半导体器件和方法专利的具体信息内容。
1.一种半导体器件，其包括：
电磁辐射的发射器(2)，
光电检测器(10)，其能够检测特定波长的电磁辐射，
滤光片(11)，其具有包括所述特定波长的通带，所述滤光片(11)布置在所述光电检测器(10)上，
所述发射器(2)和/或所述滤光片(11)能够电调谐到所述特定波长，以及电路(14)，其配置成确定由所述发射器(2)发射并随后由所述光电检测器(10)接收的信号的发射与接收之间经过的时间。
2.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，所述发射器(2)能够电调谐到所述特定波长。
3.根据权利要求1或2所述的半导体器件，其中，所述滤光片(11)能够电调谐到所述特定波长。
4.根据权利要求1至3之一所述的半导体器件，其中，所述光电检测器(10)包括至少一个单光子雪崩二极管。
5.根据权利要求1至4之一所述的半导体器件，其中，所述滤光片(11)包括比5nm窄的通带。
6.根据权利要求1至5之一所述的半导体器件，其中，所述发射器(2)配置为发射限定的持续时间的信号以进行飞行时间测量。
7.根据权利要求1至6之一所述的半导体器件，其中，所述发射器(2)是电可调谐垂直腔面发射激光器。
8.根据权利要求1至7之一所述的半导体器件，还包括：
参考光电检测器(12)，其布置成监测来自所述发射器(2)的电磁辐射，和另外的滤光片(13)，其具有包括所述特定波长的通带，所述另外的滤光片(13)布置在所述参考光电检测器(12)上。
9.根据权利要求1至7之一所述的半导体器件，还包括：
光电检测器器件(1)，其包括所述光电检测器(10)，
载体(3)，所述光电检测器器件(1)和所述发射器(2)安装在所述载体(3)上，盖(4)，其具有形成所述光电检测器(10)和所述发射器(2)的孔的窗口(5)，以及电连接(6)，其位于所述光电检测器器件(1)和所述发射器(2)之间。
10.根据权利要求9所述的半导体器件，还包括：
参考光电检测器(12)，其布置在所述载体(3)与所述盖(4)之间，以监测来自所述发射器(2)的电磁辐射，和
另外的滤光片(13)，其具有包括所述特定波长的通带，所述另外的滤光片(13)布置在所述参考光电检测器(12)上，位于所述载体(3)与所述盖(4)之间。
11.一种飞行时间测量方法，其包括：
使用电可调谐发射器(2)以产生电磁辐射的信号，其中所述信号的持续时间被限制以进行飞行时间测量，并将信号的产生调谐到特定波长，
发射所述信号，
通过具有包括所述特定波长的通带的滤光片(11)来检测接收的信号，所述接收的信号是由发射的信号的反射产生的，以及
确定所述信号的发射与接收之间经过的时间。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述滤光片(11)包括比5nm窄的通带。
13.根据权利要求11或12所述的方法，其中，电信号(VTUNE)用于调谐所述信号的产生。
14.根据权利要求13所述的方法，其中，电可调谐垂直腔面发射激光器用作所述电可调谐发射器(2)，并且所述电信号(VTUNE)是施加到所述电可调谐垂直腔面发射激光器的调谐电压。
15.根据权利要求11至14之一所述的方法，还包括：
在一系列调谐条件下连续地调谐信号的产生，
确定产生所述接收的信号的最大强度的调谐条件，以及
通过应用确定的调谐条件将所述信号的产生调谐到所述特定波长。
16.根据权利要求11至15之一所述的方法，还包括：
通过带有另外的滤光片(13)的参考光电检测器(12)监测来自所述电可调谐发射器(2)的电磁辐射，所述另外的滤光片具有包括所述特定波长的通带。
17.根据权利要求11至16之一所述的方法，还包括：
用设置有所述滤光片(11)的光电检测器(10)检测所述接收的信号，使得所述光电检测器(10)的视场取决于入射辐射的波长，以及
将所述信号的产生附加地调谐到与所述特定波长不同的另外的至少一个特定波长，从而对不同的视场执行测量。
18.一种飞行时间测量方法，其包括：
使用发射器(2)发射电磁辐射的信号，其中所述信号的持续时间被限制以进行飞行时间测量，
通过具有包括特定波长的通带的电可调谐滤光片(11)来检测接收的信号，所述接收的信号是由发射的信号的反射产生的，以及
将所述滤光片(11)调谐到所述特定波长，并且
确定所述信号的发射与接收之间经过的时间。
用于飞行时间测量的半导体器件和方法
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