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一种恒温 晶体 振荡器最佳 温度系数点的确定方法

阅读：1027发布：2020-06-23

专利汇可以提供一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本发明公开了一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法。提供恒温晶体振荡器，通过改变高低温试验箱的设定温度和改变所述恒温晶体振荡器内部恒温槽的温度相结合的方法，测得所述的恒温晶体振荡器的频率 ‑温度特性数据和所述的恒温槽中的晶体的频率‑温度特性数据，并综合所述的数据用曲线拟合的方法计算出恒温晶体振荡器最佳温度系数点。所述自动系统包括，运算控制模块、恒温晶体振荡器采样通讯板、高低温试验箱、频率计、频标。用所述的自动系统，按照本发明的方法，可以高效率地实现对大批量的恒温晶体振荡器进行最佳温度系数点的准确确定和设置，提高所述恒温晶体振荡器的频率‑温度稳定度，提高生产效率和产品的一致性。，下面是一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：初始化运算控制模块，所述的初始化是设定高低温试验箱改变的温度个数及每次的温度值；并设定每个恒温晶体振荡器的恒温槽改变的温度个数及每次的温度值；频率计和频标实时采集恒温晶体振荡器的频率值；
步骤2：运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置高低温试验箱的初始温度，将该初始温度作为当前高低温试验箱温度；
步骤3：在当前高低温试验箱温度下，运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置每个恒温晶体振荡器恒温槽的初始温度，将该初始温度作为当前恒温槽温度；
步骤4：在当前高低温试验箱温度下和当前恒温槽温度下，频率计和频标把采集的每个恒温晶体振荡器的频率值通过射频选择开关数据总线保存到运算控制模块；
步骤5：运算控制模块通过射频选择开关数据总线设定每个恒温晶体振荡器恒温槽的温度为下一个温度值，将该温度值作为当前恒温槽温度；
步骤6：跳转到步骤4，直到完成所设定恒温槽改变的温度个数的频率值的采集和存储；
步骤7：将高低温试验箱的温度设定为下一个温度，将该温度作为当前高低温试验箱温度；
步骤8：跳转到步骤3，直到完成所设定高低温试验箱改变的温度个数的频率值的采集和存储；
步骤9：运算控制模块根据存储的频率值，描绘出每个恒温晶体振荡器的频率-高低温试验箱温度-恒温槽温度的三维曲线；
步骤10：运算控制模块用曲线拟合的方法，对每个恒温晶体振荡器，计算出频率-高低温试验箱温度特性曲线在频率轴方向上峰峰值最小的恒温槽温度的设定值，该设定值就是恒温晶体振荡器的最佳温度系数点；
步骤11：运算控制模块通过射频选择开关数据总线将每个恒温晶体振荡器的恒温槽的温度设定在相应的最佳温度系数点上，并将最佳温度系数点的恒温槽的温度设定值存入所述恒温晶体振荡器中；
完成恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定。
2.根据权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法，其特征在于:所述的恒温晶体振荡器以阵列的形式安装在恒温晶体振荡器采样通讯板上；所述的恒温晶体振荡器采样通讯板置于高低温试验箱中。
3.根据权利要求1所述的一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法，其特征在于：所述的运算控制模块包括处理器和通信接口；所述的处理器是个人计算机、单片机、DSP、arm处理器或FPGA。

说明书全文

一种恒温晶体 振荡器最佳 温度系数点的确定方法

技术领域

[0001] 本发明涉及恒温晶体振荡器，更具体地涉及一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法。

背景技术

[0002] 随着通信等技术领域的发展，对恒温晶体振荡器的频率-温度稳定度要求也越来越高。而当恒温晶体振荡器内部的恒温槽温度设定在最佳温度点上时，恒温晶体振荡器具有最好的频率-温度稳定度，也就是其频率值随温度漂移最小。而目前许多论文或者专利已经公开的寻找恒温晶体振荡器的拐点温度的方法，都仅仅是寻找恒温晶体振荡器内部的晶体元件的拐点，并非恒温晶体振荡器的最佳温度系数点，这使得恒温晶体振荡器的频率-温度稳定度很难得到提高。而且目前许多晶振的厂商是人工设置恒温晶体振荡器内部恒温槽的温度，存在效率低，恒温槽温度设置不准确，产品一致性差等问题。所以急需一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点确定的正确方法，及其高效的自动系统，在不改变原材料的基础上，提高恒温晶体振荡器的频率-温度稳定度，提高生产效率和产品的一致性。

发明内容

[0003] 本发明要解决的技术问题是提供一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点确定的方法，及其可以满足大批量生产需求的高效的自动系统。

[0004] 本发明采用的技术方案是：

[0005] 一种恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定方法，包括以下步骤：

[0006] 步骤1：初始化运算控制模块，所述的初始化是设定高低温试验箱改变的温度个数及每次的温度值；并设定每个恒温晶体振荡器的恒温槽改变的温度个数及每次的温度值；频率计和频标实时采集恒温晶体振荡器的频率值；

[0007] 步骤2：运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置高低温试验箱的初始温度，将该初始温度作为当前高低温试验箱温度；

[0008] 步骤3：在当前高低温试验箱温度下，运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置每个恒温晶体振荡器恒温槽的初始温度，将该初始温度作为当前恒温槽温度；

[0009] 步骤4：在当前高低温试验箱温度下和当前恒温槽温度下，频率计和频标把采集的每个恒温晶体振荡器的频率值通过射频选择开关数据总线保存到运算控制模块；

[0010] 步骤5：运算控制模块通过射频选择开关数据总线设定每个恒温晶体振荡器恒温槽的温度为下一个温度值，将该温度值作为当前恒温槽温度；

[0011] 步骤6：跳转到步骤4，直到完成所设定恒温槽改变的温度个数的频率值的采集和存储；

[0012] 步骤7：将高低温试验箱的温度设定为下一个温度，将该温度作为当前高低温试验箱温度；

[0013] 步骤8：跳转到步骤3，直到完成所设定高低温试验箱改变的温度个数的频率值的采集和存储；

[0014] 步骤9：运算控制模块根据存储的频率值，描绘出每个恒温晶体振荡器的频率-高低温试验箱温度-恒温槽温度的三维曲线；

[0015] 步骤10：运算控制模块用曲线拟合的方法，对每个恒温晶体振荡器，计算出频率-高低温试验箱温度特性曲线在频率轴方向上峰峰值最小的恒温槽温度的设定值，该设定值就是恒温晶体振荡器的最佳温度系数点；

[0016] 步骤11：运算控制模块通过射频选择开关数据总线将每个恒温晶体振荡器的恒温槽的温度设定在相应的最佳温度系数点上，并将最佳温度系数点的恒温槽的温度设定值存入所述恒温晶体振荡器中；

[0017] 完成恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定。

[0018] 其中，所述的恒温晶体振荡器以阵列的形式安装在恒温晶体振荡器采样通讯板上；所述的恒温晶体振荡器采样通讯板置于高低温试验箱中。

[0019] 其中，所述的运算控制模块包括处理器和通信接口；所述的处理器是个人计算机、单片机、DSP、arm处理器或FPGA。

[0020] 本发明与背景技术相比的有益效果为：

[0021] 本发明首次提出改变高低温试验箱设定温度和改变所述的恒温晶体振荡器内部恒温槽的温度相结合的方法，用所述的自动系统计算出恒温晶体振荡器最佳温度系数点，提高所述恒温晶体振荡器的频率 -温度稳定度，提高生产效率和产品的一致性。附图说明

[0022] 图1是本发明所述方法实施例的工作流程框图。

[0023] 图2是本发明中所述自动系统实施例的硬件组成框图。

具体实施方式

[0024] 现结合附图对本发明作进一步描述：

[0025] 图2是所述恒温晶体振荡器最佳温度系数点确定的自动系统的机构框图，包括：运算控制模块、射频选择开关数据总线、恒温晶体振荡器、恒温晶体振荡器采样通讯板、高低温试验箱、频率计和频标；所述恒温晶体振荡器以阵列的形式安装在恒温晶体振荡器采样通讯板上的，恒温晶体振荡器采样通讯板置于所述的高低温试验箱中；所述的运算控制模块包括处理器和通信接口；所述的处理器是个人计算机、单片机、DSP、arm处理器或FPGA。所述运算控制模块分别与所述频率计、所述恒温晶体振荡器采样通讯板、高低温试验箱电连接。所述频标与所述频率计电连接。运算控制模块根据相应数据指令设定高低温试验箱的温度；运算控制模块通过射频选择开关数据总线选择恒温晶体振荡器，设定每个恒温晶体振荡器恒温槽的温度；频率计和频标采集每个恒温晶体振荡器的频率值，存储在运算控制模块中；运算控制模块根据上述过程得到的数据，描绘出恒温晶体振荡器的频率 -高低温试验箱温度-恒温槽温度的三维曲线，运算控制模块用曲线拟合的方法，计算出使其频率-高低温试验箱温度特性曲线在频率轴方向上峰峰值最小的恒温槽温度的设定值，得到恒温晶体振荡器的最佳温度系数点；运算控制模块通过射频选择开关数据总线选择相应的恒温晶体振荡器，通过数据指令将相应的晶体振荡器恒温槽的温度设定在最佳温度系数点上，并将最佳温度系数点的恒温槽温度设定值存入晶体振荡器的存储单元中。

[0026] 利用所述恒温晶体振荡器最佳温度系数点确定的自动系统，按照本发明的方法，进行恒温晶体振荡器最佳温度系数点确定，需要完成在高低温试验箱的M个设定温度下(T11、T12、……T1M)对每个恒温晶体振荡器进行频率数据采集。而在高低温试验箱的每个设定温度下，需要完成恒温晶体振荡器的恒温槽的N个温度点(T21、T22、…… T2N)的设定，并采集恒温槽的每个设定温度下每个恒温晶体振荡器的频率值数据。具体实施过程结合图1说明如下：

[0027] 步骤1：初始化运算控制模块，所述的初始化是设定高低温试验箱改变M个温度及每次的温度值；并设定每个恒温晶体振荡器的恒温槽改变N个温度及每次的温度值；频率计和频标实时采集恒温晶体振荡器的频率值；

[0028] 步骤2：运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置高低温试验箱的初始温度，将该初始温度作为当前高低温试验箱温度；

[0029] 步骤3：在当前高低温试验箱温度下，运算控制模块根据初始化过程通过射频选择开关数据总线设置每个恒温晶体振荡器恒温槽的初始温度，将该初始温度作为当前恒温槽温度；

[0030] 步骤4：在当前高低温试验箱温度下和当前恒温槽温度下，频率计和频标把采集的每个恒温晶体振荡器的频率值通过射频选择开关数据总线保存到运算控制模块；

[0031] 步骤5：运算控制模块通过射频选择开关数据总线设定每个恒温晶体振荡器恒温槽的温度为下一个温度值，将该温度值作为当前恒温槽温度；

[0032] 步骤6：跳转到步骤4，直到完成N个恒温槽温度的频率值的采集和存储；

[0033] 步骤7：将高低温试验箱的温度设定为下一个温度，将该温度作为当前高低温试验箱温度；

[0034] 步骤8：跳转到步骤3，直到完成M个高低温试验箱温度的频率值的采集和存储；

[0035] 步骤9：运算控制模块根据存储的频率值，描绘出每个恒温晶体振荡器的频率-高低温试验箱温度-恒温槽温度的三维曲线；

[0036] 步骤10：运算控制模块用曲线拟合的方法，对每个恒温晶体振荡器，计算出频率-高低温试验箱温度特性曲线在频率轴方向上峰峰值最小的恒温槽温度的设定值，该设定值就是恒温晶体振荡器的最佳温度系数点；

[0037] 步骤11：运算控制模块通过射频选择开关数据总线将每个恒温晶体振荡器的恒温槽的温度设定在相应的最佳温度系数点上，并将最佳温度系数点的恒温槽的温度设定值存入所述恒温晶体振荡器中。

[0038] 完成恒温晶体振荡器最佳温度系数点的确定。

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