一种发光二极管漏电流测试方法及系统
专利汇可以提供一种发光二极管漏电流测试方法及系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了可以实现温控的集LED漏 电流 与抗静 电能 力 测试于一体的检测方案。本发明采用TLP测试系统测量 漏电流 ，并引入恒温鼓 风 干燥箱控制箱实现温控调节，同时消除了空气中的湿度可能对静电测试结果的影响。采用本发明所述方法，既能利用TLP模型测量各个 温度 下通过LED的漏电流，反映出LED芯片的 质量 高低，又可以产生幅度连续可调的矩形短脉冲进行LED芯片的抗静电能力检测，说明器件存在的一些潜在失效机理。，下面是一种发光二极管漏电流测试方法及系统专利的具体信息内容。
1.一种发光二极管漏电流测试系统，其特征在于，包括恒温装置、控制器及TLP测试装置；其中
所述控制器连接至恒温装置，用于设置恒温装置内的恒温温度；
所述TLP测试装置连接至恒温装置及控制器，用于测试需要放置在恒温装置内的发光二极管的漏电流，并将测试结果发送至控制器。
2.如权利要求1所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述控制器包括温度调节模块，用于调节恒温装置内的温度值。
3.如权利要求2所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述测试结果包括恒温装置处于不同恒温时的发光二极管漏电流测试结果。
4.如权利要求1所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述测试结果包括不同测试电压下的发光二极管漏电流值。
5.如权利要求1所述的漏电流测试系统，其特征在于，所述恒温装置内设置有开关阵列底座，该底座具体包括：
开关阵列，设置有一对或多对发光二极管两极接口，用于接入待测试发光二极管；
整流模组，连接至开关阵列，用于通过开关阵列向待测试发光二极管施加测试信号并获取测试结果。
6.一种发光二极管漏电流测试方法，其特征在于，包括步骤：
通过控制线缆（2）调节恒温箱（3）内待测发光二极管的环境温度并保持恒温；
将待测发光二极管通过开关阵列底座（6）接入TLP测试系统（5）；
通过幅度连续可调的矩形短脉冲，实现对待测发光二极管漏电流的检测；
TLP测试系统将结果返回处理器（1）。
一种发光二极管漏电流测试方法及系统
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具体实施方式
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