用以判斷一樣本材料層參數的熱成像方法及系統
阅读：911发布：2020-06-05
专利汇可以提供用以判斷一樣本材料層參數的熱成像方法及系統专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且一種使用鎖相熱成像(LIT)技術判斷樣本層的材料參數之方法和系統，其中一電路的至少一個熱源埋藏在該樣本層中。該方法包括將一非諧波測試信號施加於該樣本層之電路，並且使用紅外感測器將該樣本層成像，以在該非諧波測試信號施加於該電路的同時，獲得該樣本層之IR圖像；檢測一從該樣本層之成像中獲得的熱響應信號，該熱響應信號與該樣本層中的熱學熱傳播相關；使該熱響應信號受快速傅利葉變換(FFT)處理，以便將該響應信號分解到一頻譜，該頻譜包含屬一基諧波正弦或餘弦信號的至少第一和第二諧波信號，作為在多個特定頻率下之頻率特定響應信號；判斷在在一熱源 位置 處的多個特定頻率下的頻率特定響應信號之 相位 移；以及從與該樣本層的材料參數相關的該等頻率特定響應信號所判斷的相位移中，獲得一頻率對相位移之關係曲線。，下面是用以判斷一樣本材料層參數的熱成像方法及系統专利的具体信息内容。
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