专利汇可以提供一种基于移相调频的光热成像检测方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种基于移相调频的光热成像检测方法,其步骤如下:S1、利用函数发生器产生 相位 编码脉内线性调频 信号 ,对卤素 光源 的功率 放大器 进行模拟调制,实现卤素光源输出光强按照相位编码脉内线性调频信号规律变化;S2、将计算机与焦平面红外热像仪连接,控制焦平面红外热像仪采集被测试样表面的热波雷达信号;S3、对采集到的 图像序列 进行处理,提取移相调频热波信号的时 频域特征 信息,并得到特征信息图像进行 缺陷 检测。本 发明 采用相位编码脉内线性调频信号对加热热源进行调制,克服了 锁 相法热波成像检测的不足,提高了对缺陷深度的 分辨率 与探测范围。,下面是一种基于移相调频的光热成像检测方法专利的具体信息内容。
1.一种基于移相调频的光热成像检测方法,其特征在于所述方法步骤如下:
S1、调整卤素灯与被测样件的空间位置,利用BNC数据线将信号发生器的信号输出端口与卤素光源功率放大器的模拟调制信号输入端口相连,由计算机控制函数发生器产生脉内线性调频,脉间二相编码混合信号,驱动卤素光源功率放大器的功率驱动器,使卤素灯的功率按照相位编码脉内线性调频信号规律变化;
S2、利用以太网数据线将计算机与焦平面红外热像仪连接,打开卤素灯的电源,由计算机控制焦平面红外热像仪采集被测样件表面的移相调频热波信号,将采集到的图像数据存储到计算机相应目录下;
S3、提取移相调频热波信号的时频域特征信息并形成特征图像,利用特征图像确定材料内部缺陷特征。
2.根据权利要求1所述的基于移相调频的光热成像检测方法,其特征在于所述入射光线与被测样件待检区域表面外法线的夹角小于60°。
3.根据权利要求1所述的基于移相调频的光热成像检测方法,其特征在于所述焦平面红外热像仪采样频率设置为线性调频信号最高频率的5~10倍。
4.根据权利要求1所述的基于移相调频的光热成像检测方法,其特征在于所述焦平面红外热像仪采集被测样件表面的移相调频热波信号时,记录至少2~3个周期的移相调频热波信号。
5.根据权利要求1、3或4所述的基于移相调频的光热成像检测方法,其特征在于所述焦平面红外热像仪的像素为320×256,全幅最大采样频率为170Hz。
6.根据权利要求1所述的基于移相调频的光热成像检测方法,其特征在于所述函数发生器输出的调制信号为相位编码脉内线性调频信号。
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