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一种电源器件ATE检测工艺

阅读:1042发布:2020-06-20

专利汇可以提供一种电源器件ATE检测工艺专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及 电子 行业,具体涉及一种电源器件ATE检测工艺,包括如下步骤:步骤1、调出待测试 单体 的测试程序;步骤2、取流 水 线上的单体插入治具上;步骤3、接好USB测试输出 连接线 后,按绿色“F10”键开始测试;步骤4、测试结果显示PASS的为良品;步骤5、显示FAIL的为不良品,贴上不良标签填写不良内容放在不良胶框内;步骤6、将测试OK的完成品自检合格后轻放输送带流下工程。本发明的一种电源器件ATE检测工艺,操作过程简单,可操作性强,检测效果良好,检测时的 定位 准确,检测的排查率高,大大提高测试效率降低测试成本,测试时间可以缩短到原有测试时间的30%以内。,下面是一种电源器件ATE检测工艺专利的具体信息内容。

1.一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1、调出待测试单体的测试程序;
步骤2、取流线上的单体插入治具上;
步骤3、接好USB测试输出连接线后,按“F10”键开始测试;
步骤4、测试结果显示PASS的为良品;将测试合格的良品,自检合格后轻放输送带流下工位;
步骤5、测试结果显示FAIL的为不良品,贴上不良标签,并填写不良内容,将不良品单独存放在不良胶框内;
步骤6、完成单品的测试后,重复进行步骤2至步骤5。
2.根据权利1所述的一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,在上述步骤3中,ATE检测设备的输出电压为12V。
3.根据权利1所述的一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,在进行实验前,点检测试机及样品机是否合格,并记录于点检表,所要检测的产品不能堆积在一起且拿取时需轻拿轻放,避免碰撞发生机壳刮伤。
4.根据权利1所述的一种电源器件ATE检测工艺,其特征在于,根据被测产品以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形,包括:利用软件开发工具编写测试代码,所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列中的至少一种,以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息。

说明书全文

一种电源器件ATE检测工艺

技术领域

[0001] 本发明涉及电子行业,具体涉及一种电源器件ATE检测工艺。

背景技术

[0002] 随着科技发展,电子产业突飞猛进,各种集成、控制电路需求急剧增长,对芯片封装的需求也增长迅猛。电源是将其它形式的能转换成电能的装置。电源自“磁生电”原理,由力、海潮、水坝水压差、太阳能可再生能源,及烧炭、油渣等产生电力来源。发电机能把机械能转换成电能,干电池能把化学能转换成电能。发电机、电池本身并不带电,它的两极分别有正负电荷,由正负电荷产生电压电流是电荷在电压的作用下定向移动而形成的),电荷导体里本来就有,要产生电流只需要加上电压即可,当电池两极接上导体时为了产生电流而把正负电荷释放出去,当电荷散尽时,也就荷尽流(压)消了。干电池等叫做电源。通过变压器整流器,把交流电变成直流电的装置叫做整流电源。能提供信号的电子设备叫做信号源。晶体三极管能把前面送来的信号加以放大,又把放大了的信号传送到后面的电路中去。晶体三极管对后面的电路来说,也可以看做是信号源。整流电源、信号源有时也叫做电源。
[0003] ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求、图纸及参考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。现有笔记本用电源需要进行ATE检测,用以验证其是否符合产品要求,现有技术中的老化实验步骤繁琐,一般人员很难操作。
[0004] 现需要一种电源器件ATE检测工艺,以期可以解决上述技术问题。

发明内容

[0005] 本发明的目的是提供一种电源器件ATE检测工艺,以弥补现有检测过程中的不足。
[0006] 为了达到上述目的,本发明提供了一种电源器件ATE检测工艺,步骤如下:步骤1、调出待测试单体的测试程序;
步骤2、取流水线上的单体插入治具上;
步骤3、接好USB测试输出连接线后,按“F10”键开始测试;
步骤4、测试结果显示PASS的为良品;将测试合格的良品,自检合格后轻放输送带流下工位;
步骤5、测试结果显示FAIL的为不良品,贴上不良标签,并填写不良内容,将不良品单独存放在不良胶框内;
步骤6、完成单品的测试后,重复进行步骤2至步骤5。
[0007] 优选地,在上述步骤3中,ATE检测设备的输出电压为12V。
[0008] 优选地,在进行实验前,点检测试机及样品机是否合格,并记录于点检表,所要检测的产品不能堆积在一起且拿取时需轻拿轻放,避免碰撞发生机壳刮伤。
[0009] 优选地,根据被测产品以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形,包括:利用软件开发工具编写测试代码,所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列中的至少一种,以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息。
[0010] 本发明的一种电源器件ATE检测工艺,操作过程简单,可操作性强,检测效果良好,检测时的定位准确,检测的排查率高,大大提高测试效率降低测试成本,测试时间可以缩短到原有测试时间的30%以内。

具体实施方式

[0011] 为了达到上述目的,本发明提供了一种电源器件ATE检测工艺,步骤如下:步骤1、调出待测试单体的测试程序;
步骤2、取流水线上的单体插入治具上;
步骤3、接好USB测试输出连接线后,按“F10”键开始测试;
步骤4、测试结果显示PASS的为良品;将测试合格的良品,自检合格后轻放输送带流下工位;
步骤5、测试结果显示FAIL的为不良品,贴上不良标签,并填写不良内容,将不良品单独存放在不良胶框内;
步骤6、完成单品的测试后,重复进行步骤2至步骤5。
[0012] 其中,在上述步骤3中,ATE检测设备的输出电压为12V。
[0013] 其中,在进行实验前,点检测试机及样品机是否合格,并记录于点检表,所要检测的产品不能堆积在一起且拿取时需轻拿轻放,避免碰撞发生机壳刮伤。
[0014] 其中,根据被测产品以及需要的预定测试功能生成相应的调制信号的测试波形,包括:利用软件开发工具编写测试代码,所述测试代码包括符号的采样率、符号的位数、保护位、信息位、PN码序列中的至少一种,以及所述预定测试功能所涉及的所述被测集成电路的其他管脚的信息。
[0015] 以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
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