一种可寻址测试芯片版图的生成方法
阅读：1020发布：2020-11-13
专利汇可以提供一种可寻址测试芯片版图的生成方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 涉及集成 电路 测试芯片领域，公开了一种可寻址测试芯片版图的生成方法，包括以下步骤：（1）选择IP；（2）根据设计规则将测试结构摆放成阵列；（3）IP和测试结构阵列自动连接绕线产生测试芯片版图。本发明根据可寻址测试的优点及测试程序根据设计信息自动生成，故测试速度迅速且测试结果精确；本发明生成的 软件 可以应用到行业内标准的参数测试机中；本发明测试 精度 可达到pA级。本发明自动化生成不仅大大缩短了测试芯片的开发时间，降低了人 力 成本、避免了人工绘图带来的设计错误，还提高了可寻址测试芯片的可延展性和重复使用力，为快速应对制程变更、工艺 节点 转移提供了有力保障。，下面是一种可寻址测试芯片版图的生成方法专利的具体信息内容。
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