Integrated circuit device
专利汇可以提供Integrated circuit device专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且PURPOSE:To provide a device wherein a first memory storing a test pattern, a second memory storing an output pattern, and a test control circuit and a comparison circuit for comparing a response output pattern of the device body with said output pattern to judge whether its logical function is acceptable or not, are integrated together simultaneously. CONSTITUTION:First and second read-only memories (ROM's) 5, 6 store a test pattern for the integrated circuit device body and an output pattern, respectively, which patterns have been written therein beforehand in the manufacturing steps. The test pattern read out of the first ROM5 is applied to a combination circuit 1 via a multiplexer (MPX) 8. The output pattern read out of the second ROM6 is applied to a coincidence circuit 9 where it is compared with an response output pattern applied from the combination circuit 1 via FF2. These FF2, MPX8, address counter 7, etc. are operated under control of a test control circuit 10 to execute the test for the combination circuit 1.，下面是Integrated circuit device专利的具体信息内容。
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