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Method for growing single crystal

阅读:960发布:2020-10-25

专利汇可以提供Method for growing single crystal专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且PURPOSE: To provide a Czochralski process for growing an Si single crystal having an oxygen content arbitrarily controllable within the range of 10
15 /cm
3 to 10
18 /cm and a variation of oxygen concentration of ≤5% in a plane perpendicular to the direction of growth.
CONSTITUTION: In the growth of an Si single crystal by a Czochralski process, the Thermal Rossby number is set to be ≥30 and the convection flow in the molten Si 2 is made to have axial symmetry. A quartz pipe 7 is inserted into the molten Si to control the oxygen concentration. An Si single crystal having an oxygen content arbitrarily controllable within the range of 10
15 /cm
3 to 10
18 /cm and a variation of oxygen concentration of ≤5% in a plane perpendicular to the direction of growth can be grown by this process.
COPYRIGHT: (C)1993,JPO&Japio,下面是Method for growing single crystal专利的具体信息内容。

【特許請求の範囲】
  • 【請求項1】 チョクラルスキー法によるSi単結晶育成法において、Thermal Rossby数が30
    以上でかつ、Si融液中に石英管を挿入して酸素濃度を制御することを特徴とする単結晶育成法。
  • 说明书全文

    【発明の詳細な説明】

    【0001】

    【産業上の利用分野】本発明は、チョクラルスキー法を用いてSi単結晶を育成する方法に関するものである。

    【0002】

    【従来の技術】チョクラルスキー法によるSi単結晶育成において、従来は、酸素濃度の制御とるつぼ内の融液温度分布の均一性を得るために、高速でるつぼを回転していた。 しかし高速るつぼ回転の場合には、融液対流が不安定となり、育成した結晶には不規則な成長縞が存在し、均一に酸素を含んだSi単結晶を得ることができなかった。

    【0003】

    【発明が解決しようとする課題】従来のチョクラルスキー法によるSi単結晶育成法では、結晶内の酸素濃度と融液内の温度分布均一性の両方をるつぼ回転数のみで制御していた。 このため、融液内の対流の制御が行えず、
    均一に酸素を含んだSi単結晶が得られなかった。

    【0004】本発明の目的は、結晶中に10 15 /cm 3
    から10 18 /cm 3までの任意の範囲の酸素を含み、かつ成長方向に垂直な面内での濃度変動が5%以下の均一なSi単結晶を得る単結晶育成法を提供することにある。

    【0005】

    【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため、本発明による単結晶成長法においては、チョクラルスキー法によるSi単結晶育成法において、Therm
    al Rossby数が30以上でかつ、Si融液中に石英管を挿入して酸素濃度を制御するものである。

    【0006】

    【作用】本発明では、融液内の対流を軸対称流にし、成長方向に垂直な面内均一に酸素が取り込まれるようにする。 このために、Thermal Rossby数を3
    0以上になるように設定する。 さらに、円筒状の石英管を融液に付け込むことによっての任意の範囲の酸素濃度を得る。 この方法により、酸素を10 15 /cm 3から1
    18 /cm 3までの任意の範囲で含み、さらに成長方向に垂直な面内で酸素濃度の変動が5%以下の均一な単結晶を得ることができる。

    【0007】本発明によれば、Thermal Ros
    sby数を30以上にすることにより融液内対流を軸対称にできることをX線透視法により確認している。 このような軸対称流は、融液内に溶けている酸素を均一に輸送するため、結晶中への酸素の混入を成長方向に対して垂直な面内で濃度変動を5%以下にすることができる。
    Thermal Rossby数(RoT)は、以下の式で決定される。

    【0008】RoT=gdβΔT/ω 22ここで、g:重加速度 β:熱膨張率 ΔT:温度差 d:融液の高さ r:融液の半径 ω:るつぼ回転数 である。 このThermal Rossby数は、浮力による自然対流に対するるつぼ回転の効果を表す無次元数と考えてよく、大きくなるほどに自然対流が優勢となり、軸対称流が起こりやすくなることが予想される。

    【0009】このように軸対称流が起きている状況でさらに石英管を溶かし込むことにより酸素濃度を10 15
    cm 3から10 18 /cm 3までの任意の範囲で任意に選ぶことができる。 したがって、10 15 /cm 3から10 18
    /cm 3までの範囲の任意の濃度の酸素を含み、かつ成長方向に対して垂直な面内での酸素濃度の変動が5%以下のSi単結晶を得ることができる。

    【0010】

    【実施例】以下に本発明の実施例を図によって説明する。 図1は、本発明で用いる装置図である。 図において、本発明装置は、Si融液を保持する石英るつぼ1,
    Si融液2,Si単結晶3,ヒーター4,石英るつぼを固定するカーボン持具5,石英るつぼを回転させるシャフト6,酸素を供給するための石英管7から構成されている。

    【0011】実施例としてこの方法により、3インチの石英るつぼ1を使用し、融液の半径と高さとの比が1:
    1になるようにSi融液2を作製し、直径2インチのS
    i単結晶3を育成した場合について説明する。 この時、
    融液2内の上下温度差を55Kと80Kの場合について、るつぼ回転数を0から8rpmまで変化させた。

    【0012】さらに、酸素濃度が10 16 /cm 3になるように石英管7を融液表面から3mmの位置に設置した。 この時の結晶育成の条件をThermal Ros
    sby数とTaylor数の関係でまとめたものが図2
    である。

    【0013】Taylor数とは、次のような式で決定される。

    【0014】Ta=(r/d)4ω 24 /ν 2ここで、νは、Si融液の動粘性係数である。 Si融液の場合動粘性係数は、温度によってあまり変化がなく、
    一定と見なせるのでTaylor数は、融液の形状と回転数を表す無次元数と考えられる。 図中、右下がりの斜めの線は、温度差一定のラインを表している。

    【0015】実施例として、Thermal Ross
    by数が30以上となるこの線上の丸印の点で結晶育成を行った。 この条件で育成した結晶の成長方向に対し垂直な面内での酸素濃度の変動を、走査型のFT−IRで測定した結果を表1に示す。

    【0016】

    【表1】

    【0017】また、比較例として図2中に三印で示した、非軸対称流となるThermal Rossby数が30以下の条件でSi単結晶3を育成した場合についても併記した。 この表からThermal Rossb
    y数が30以上の場合に育成したSi単結晶3中の酸素濃度の変動が、5%以下に抑えられていることがわかる。

    【0018】また表2に融液内温度で差55K,るつぼ回転数1rpmに固定し、石英管7を融液表面から1m
    mから10mmまで変化させ融液中に溶け込む量を調整し、実施例5,6,7として1mm,5mm,10mm
    で育成したSi単結晶3中の酸素濃度と成長方向に対して垂直な面内での酸素濃度の変動を走査型FT−IRで測定した結果を表2に示す。

    【0019】

    【表2】

    【0020】この表から、石英管7を溶かす量によって単結晶中3の酸素濃度を10 15 /cm 3から10 18 /c
    3まで任意に選べることがわかる。

    【0021】さらにるつぼ1の直径を15インチと20
    インチの大型のものを使用して結晶育成を行った。 この時、育成した結晶は、それぞれ直径が8インチ,10インチである。 また酸素濃度が10 17 /cm 3になるように石英管7を融液表面から7mmの位置に設置した。 温度差を55Kに固定し、Thermal Rossby
    数を30以上になるように設定した場合について、実施例7,8,9として表3にまとめた。

    【0022】

    【表3】

    【0023】この表から、大型のるつぼを使用した場合についても、Thermal Rossby数が30以上であれば酸素濃度変動が5%以下の均一なSi単結晶3が得られることが確認された。

    【0024】以上のように、融液対流を軸対称流とした場合に、単結晶中に酸素を10 15 /cm 3から10 18
    cm 3までの範囲の任意の濃度で含み、かつ成長方向に対して垂直な面内での濃度変動が5%以下に抑えられた均一なSi単結晶を育成できることを確認した。

    【0025】

    【発明の効果】以上のように本発明によれば、10 15
    cm 3から10 18 /cm 3までの任意の範囲の酸素を成長方向に対し、垂直な面内で濃度変動が5%以下に抑えられた均一なSi単結晶をチョクラルスキー法によって育成できる効果を有する。

    【図面の簡単な説明】

    【図1】本発明に用いる結晶育成装置の概念的断面図である。

    【図2】本発明を説明するための図である。

    【符号の説明】

    1 石英るつぼ 2 Si融液 3 Si単結晶 4 ヒーター 5 カーボン持具 6 シャフト 7 石英管

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