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一种用于污染烟气的检测装置

阅读：705发布：2022-03-01

专利汇可以提供一种用于污染烟气的检测装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型公开了一种用于污染烟气的检测装置，涉及烟气检测技术领域，为解决现有的对污染烟气的检测步骤多，检测效率较低的问题。所述污染烟气检测箱体的上端设置有进气口，所述进气口的一端安装有引气风机，所述引气风机的另一端安装有主进气管道，所述污染烟气检测箱体的一侧安装有固定箱，所述污染烟气检测箱体的另一侧安装有半导体光电探测器，且半导体光电探测器嵌入污染烟气检测箱体的内部，且固定箱嵌入污染烟气检测箱体的内部，所述固定箱的内部安装有激光发射器，所述固定箱内壁的内部安装有透镜，所述污染烟气检测箱体的一侧放置有脉冲发生器，且脉冲发生器与激光发射器之间安装有第一光纤。，下面是一种用于污染烟气的检测装置专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种用于污染烟气的检测装置，包括污染烟气检测箱体(1)，其特征在于：所述污染烟气检测箱体(1)的上端设置有进气口(2)，所述进气口(2)的一端安装有引气风机(3)，所述引气风机(3)的另一端安装有主进气管道(4)。
2.根据权利要求1所述的一种用于污染烟气的检测装置，其特征在于：所述污染烟气检测箱体(1)的一侧安装有固定箱(5)，所述污染烟气检测箱体(1)的另一侧安装有半导体光电探测器(10)，且半导体光电探测器(10)嵌入污染烟气检测箱体(1)的内部，且固定箱(5)嵌入污染烟气检测箱体(1)的内部，所述固定箱(5)的内部安装有激光发射器(6)，所述固定箱(5)内壁的内部安装有透镜(9)，所述污染烟气检测箱体(1)的一侧放置有脉冲发生器(8)，且脉冲发生器(8)与激光发射器(6)之间安装有第一光纤(7)。
3.根据权利要求1所述的一种用于污染烟气的检测装置，其特征在于：所述污染烟气检测箱体(1)的另一侧放置有光谱仪(12)，所述光谱仪(12)的前端设置有液晶显示屏(13)，所述光谱仪(12)与半导体光电探测器(10)之间安装有第二光纤(11)。
4.根据权利要求1所述的一种用于污染烟气的检测装置，其特征在于：所述污染烟气检测箱体(1)下端的两侧安装有支脚(15)，所述污染烟气检测箱体(1)下端的中间设置有排气窗(14)。
5.根据权利要求1所述的一种用于污染烟气的检测装置，其特征在于：所述污染烟气检测箱体(1)的内部安装有第一采样滤膜(16)，所述第一采样滤膜(16)的下方安装有第二采样滤膜(17)，所述第一采样滤膜(16)和第二采样滤膜(17)的两侧与污染烟气检测箱体(1)之间均安装有滑轨(20)。
6.根据权利要求2所述的一种用于污染烟气的检测装置，其特征在于：所述固定箱(5)的前端设置有散热栅(18)，所述污染烟气检测箱体(1)的前端安装有箱门(19)，且箱门(19)与污染烟气检测箱体(1)通过合页连接。

说明书全文

一种用于污染烟气的检测装置

技术领域

[0001] 本实用新型涉及烟气检测技术领域，具体为一种用于污染烟气的检测装置。

背景技术

[0002] 随着人们生活水平的不断提升和工业的快速发展，导致我国的能源消耗急剧增加，大量的化石能源消耗与不合理燃烧造成严重的大气污染，近年来居民分散式采暖所排放的烟气污染物导致的大气污染愈发严重，尤其北方地区雾霾天气频繁，给人们的生活和健康带来了极大的威胁，随着可持续发展的需要和环境保护意识的提高，人们开始普遍关注大气污染的危害，燃烧的烟气是大气污染的主要污染，已成为环境治理的主要对象，控制烟气中污染物排放的主要前提是要知道污染物的成分，其检测结果可及时发现燃烧过程中的污染物，以便及时采取相应的措施，以减少重大污染事件的发生。

[0003] 但是，现有的对污染烟气的检测步骤多，检测效率较低；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种用于污染烟气的检测装置。实用新型内容

[0004] 本实用新型的目的在于提供一种用于污染烟气的检测装置，以解决上述背景技术中提出的现有的对污染烟气的检测步骤多，检测效率较低的问题。

[0005] 为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于污染烟气的检测装置，包括污染烟气检测箱体，所述污染烟气检测箱体的上端设置有进气口，所述进气口的一端安装有引气风机，所述引气风机的另一端安装有主进气管道。

[0006] 优选的，所述污染烟气检测箱体的一侧安装有固定箱，所述污染烟气检测箱体的另一侧安装有半导体光电探测器，且半导体光电探测器嵌入污染烟气检测箱体的内部，且固定箱嵌入污染烟气检测箱体的内部，所述固定箱的内部安装有激光发射器，所述固定箱内壁的内部安装有透镜，所述污染烟气检测箱体的一侧放置有脉冲发生器，且脉冲发生器与激光发射器之间安装有第一光纤。

[0007] 优选的，所述污染烟气检测箱体的另一侧放置有光谱仪，所述光谱仪的前端设置有液晶显示屏，所述光谱仪与半导体光电探测器之间安装有第二光纤。

[0008] 优选的，所述污染烟气检测箱体下端的两侧安装有支脚，所述污染烟气检测箱体下端的中间设置有排气窗。

[0009] 优选的，所述污染烟气检测箱体的内部安装有第一采样滤膜，所述第一采样滤膜的下方安装有第二采样滤膜，所述第一采样滤膜和第二采样滤膜的两侧与污染烟气检测箱体之间均安装有滑轨。

[0010] 优选的，所述固定箱的前端设置有散热栅，所述污染烟气检测箱体的前端安装有箱门，且箱门与污染烟气检测箱体通过合页连接。

[0011] 与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

[0012] 1、本实用新型通过脉冲发生器控制激光发射器产生高能量激光束，高能量激光束照射到被测烟气上，将被测烟气中的各种物质激发到高能态，高能态的各种物质在恢复正常形态时会辐射出各自的光谱特征，由于透镜与半导体光电探测器处于同一水平高度，所以光谱特征进入到半导体光电探测器的光敏面，光谱仪对发射的光谱特征进行采集，谱线强度在液晶显示屏上显示出来，由于谱线强度与元素浓度成正比，所以根据谱线强度可计算出元素的浓度，不同的元素具有不同的纳米特征谱线，所以能够对多种元素进行同时检测，且检测步骤简单，激光检测灵敏度高，响应速度快，检测效率高；

[0013] 2、本实用新型通过第一采样滤膜和第二采样滤膜可对烟气内部的大颗粒物质进行采集，将第一采样滤膜和第二采样滤膜的孔径设置成与被测量颗粒粒径大小相应的孔径，即可对被测量颗粒进行拦截，可进行多种粒径颗粒物的同时采集，采集完毕后将滤膜取出干燥并进行称重测量，即可得出固体颗粒的含量，第一采样滤膜和第二采样滤膜与污染烟气检测箱体通过滑轨连接，取出与防止方便。附图说明

[0014] 图1为本实用新型的一种用于污染烟气的检测装置的整体结构示意图；

[0015] 图2为本实用新型的污染烟气检测箱体的主视图；

[0016] 图3为本实用新型的第一采样滤膜的结构示意图。

[0017] 图中：1、污染烟气检测箱体；2、进气口；3、引气风机；4、主进气管道；5、固定箱；6、激光发射器；7、第一光纤；8、脉冲发生器；9、透镜；10、半导体光电探测器；11、第二光纤；12、光谱仪；13、液晶显示屏；14、排气窗；15、支脚；16、第一采样滤膜；17、第二采样滤膜；18、散热栅；19、箱门；20、滑轨。

具体实施方式

[0018] 下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

[0019] 请参阅图1-3，本实用新型提供的一种实施例：一种用于污染烟气的检测装置，包括污染烟气检测箱体1，污染烟气检测箱体1的上端设置有进气口2，进气口2的一端安装有引气风机3，引气风机3的另一端安装有主进气管道4，将引气风机3的一端与主进气管道4连接，另一端与进气口2连接，当引气风机3工作时，可将烟气经主进气管道4引进污染烟气检测箱体1的内部。

[0020] 进一步，污染烟气检测箱体1的一侧安装有固定箱5，污染烟气检测箱体1的另一侧安装有半导体光电探测器10，且半导体光电探测器10嵌入污染烟气检测箱体1的内部，且固定箱5嵌入污染烟气检测箱体1的内部，固定箱5的内部安装有激光发射器6，固定箱5内壁的内部安装有透镜9，污染烟气检测箱体1的一侧放置有脉冲发生器8，且脉冲发生器8与激光发射器6之间安装有第一光纤7，通过脉冲发生器8控制激光发射器6产生高能量激光束，高能量激光束照射到被测烟气上，将被测烟气中的各种物质激发到高能态，高能态的各种物质在恢复正常形态时会辐射出各自的光谱特征。

[0021] 进一步，污染烟气检测箱体1的另一侧放置有光谱仪12，光谱仪12的前端设置有液晶显示屏13，光谱仪12与半导体光电探测器10之间安装有第二光纤11，光谱仪12对发射的光谱特征进行采集，谱线强度在液晶显示屏13上显示出来，由于谱线强度与元素浓度成正比，所以根据谱线强度可计算出元素的浓度。

[0022] 进一步，污染烟气检测箱体1下端的两侧安装有支脚15，污染烟气检测箱体1下端的中间设置有排气窗14，将测量完毕后的烟气排出。

[0023] 进一步，污染烟气检测箱体1的内部安装有第一采样滤膜16，第一采样滤膜16的下方安装有第二采样滤膜17，第一采样滤膜16和第二采样滤膜17的两侧与污染烟气检测箱体1之间均安装有滑轨20，可进行多种粒径颗粒物的同时采集。

[0024] 进一步，固定箱5的前端设置有散热栅18，污染烟气检测箱体1的前端安装有箱门19，且箱门19与污染烟气检测箱体1通过合页连接,打开箱门19可将第一采样滤膜16和第二采样滤膜17取出。

[0025] 工作原理：使用时，将引气风机3的一端与主进气管道4连接，另一端与进气口2连接，当引气风机3工作时，可将烟气经主进气管道4引进污染烟气检测箱体1的内部，通过脉冲发生器8控制激光发射器6产生高能量激光束，高能量激光束照射到被测烟气上，将被测烟气中的各种物质激发到高能态，高能态的各种物质在恢复正常形态时会辐射出各自的光谱特征，由于透镜9与半导体光电探测器10处于同一水平高度，所以光谱特征进入到半导体光电探测器10的光敏面，光谱仪12对发射的光谱特征进行采集，谱线强度在液晶显示屏13上显示出来，由于谱线强度与元素浓度成正比，所以根据谱线强度可计算出元素的浓度，不同的元素具有不同的纳米特征谱线，所以能够对多种元素进行同时检测，通过第一采样滤膜16和第二采样滤膜17可对烟气内部的大颗粒物质进行采集，将第一采样滤膜16和第二采样滤膜17的孔径设置成与被测量颗粒粒径大小相应的孔径，即可对被测量颗粒进行拦截，可进行多种粒径颗粒物的同时采集，采集完毕后通过滑轨20将滤膜取出干燥并进行称重测量，即可得出固体颗粒的含量。

[0026] 对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

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