垂直调制型表面电位计传感器
专利汇可以提供垂直调制型表面电位计传感器专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型涉及一种垂直调制型表面电位计 传感器 ，其特征在于，由 外壳 、曝光孔、 支架 、 电极 窗口、振簧、压 块 、极片、前置 放大器 、插头、 电缆 、电磁块组成，外壳顶部中心设有曝光孔，支架设于外壳内的一侧，振簧的一端通过压块置于支架的下端，另一端设有极片，其极片置于外壳底部正中电极窗口的中心，在外壳内的另一侧，设有前置放大器，与极片连接，插头设于外壳的一侧，通过电缆与电磁块连接，同时与前置放大器连接。本实用新型的优点是能替代进口，采用非 接触 式测量，不会使被测样品电荷损失，测光衰时边界 电场 影响小，测量灵敏度高， 分辨率 强，操作方便。，下面是垂直调制型表面电位计传感器专利的具体信息内容。
1.一种垂直调制型表面电位计传感器，其特征在于，由外壳(1)、曝光孔(2)、 支架(3)、电极窗口(4)、振簧(5)、压块(6)、极片(7)、前置放大器(8)、 插头(9)、电缆(10)、电磁块(11)组成，外壳(1)顶部中心设有曝光孔 (2)，支架(3)设于外壳(1)内的一侧，振簧(5)的一端通过压块(6) 置于支架(3)的下端，另一端设有极片(7)，其极片(7)置于外壳(1)底 部正中电极窗口(4)的中心，在外壳(1)内的另一侧设有前置放大器(8)， 与极片(7)连接，插头(9)设于外壳(1)的一侧，通过电缆(10)与电磁 块(11)连接，同时与前置放大器(8)连接。
2.根据权利要求1所述的垂直调制型表面电位计传感器，其特征在于，所述的 外壳(1)、曝光孔(2)与电极窗口(4)处于同一中心线。
3.根据权利要求1所述的垂直调制型表面电位计传感器，其特征在于，所述的 电极窗口(4)小于45mm。
4.根据权利要求1所述的垂直调制型表面电位计传感器，其特征在于，所述的 极片(7)与所测样品之间距离最大为12mm。
技术领域
本实用新型涉及一种垂直调制型表面电位计传感器，可用于大试品的检测， 能测量光导体的充电电位，光衰，安衰及残余电位；也能测量驻极体的表面电荷 密度和高分子薄膜的表面电位或者用来测量高阻抗材料的直流电压，属于传感器
技术领域。
背景技术
发明内容
本实用新型的目的是发明一种操作简便、测量准确、能替代进口的垂直调制 型表面电位计传感器。
为实现以上目的，本实用新型的技术方案是提供一种垂直调制型表面电位计 传感器，其特征在于，由外壳、曝光孔、支架、电极窗口、振簧、压块、极片、 前置放大器、插头、电缆、电磁块组成，外壳顶部中心设有曝光孔，支架设于外 壳内的一侧，振簧的一端通过压块置于支架的下端，另一端设有极片，其极片置 于外壳底部正中电极窗口的中心，在外壳内的另一侧，设有前置放大器，与极片 连接，插头设于外壳的一侧，通过电缆与电磁块连接，同时与前置放大器连接。
所述的外壳、曝光孔与电极窗口处于同一中心线。
本实用新型采用电磁铁以一定的频率来驱动振簧，带动极片一起振动，使 极片和样品之间的间隙发生变化，从而将电极感应到的直流信号调制成交流信 号，经前置放大器进行阻抗变化后，输入到仪器主机中进行测量。
本实用新型极片上的交流讯号决定于被测带电体的电压和极片的振动，不随 时间衰减，因此，这种仪表除可用作测量仪表外，还可用作固定接入的监测仪表。
本实用新型的优点是：
1.能替代进口，采用非接触式测量，不会使被测样品电荷损失；
2.本实用新型的表面电位计测光衰时边界电场影响小；
3.本实用新型的表面电位计响应时间快，测量电极的窗口面积可以做得很大， 且灵敏度高，分辨率强，操作方便。
附图说明
图1为垂直调制型表面电位计传感器结构示意图。
具体实施方式
实施例
如图1所示，为垂直调制型表面电位计传感器结构示意图，所述的垂直调制 型表面电位计传感器由外壳1、曝光孔2、支架3、电极窗口4、振簧5、压块6、 极片7、前置放大器8、插头9、电缆10、电磁块11组成，外壳1顶部中心开有 曝光孔2，支架3安装在外壳1内的一侧，振簧5一端通过压块6固定在支架3 的下端，另一端贴上极片7，使极片7处于外壳1底部正中电极窗口4的中心， 所述的外壳1、曝光孔2与电极窗口4处于同一中心线，所述的窗口4小于45mm， 在外壳1内的另一侧，安装前置放大器8，与极片7连接，插头9装于外壳1的 一侧，通过电缆10与电磁块11连接，同时与前置放大器8连接。
工作时，在电极窗口4的下面放一块校验板，将待测样品放在电极窗口4 与校验板之间，极片7与所测样品之间距离最大为12mm，插头9外接电源，电 流通过电磁块11以一定频率来驱动振簧5并带动极片7振动，使极片7与样品 之间的间隙发生变化，从而将极片7感应到的直流信号调制成交流信号，经前置 放大器8进行阻抗变换后输入到仪器主机进行电位测量。
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