光学信息记录介质及其制造方法 |
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| 申请号 | CN201180034707.9 | 申请日 | 2011-06-27 | 公开(公告)号 | CN102985973B | 公开(公告)日 | 2015-11-25 |
| 申请人 | 富士胶片株式会社; | 发明人 | 北原淑行; | ||||
| 摘要 | 一种光学信息记录介质10，其包括：多个记录层14，各个记录层14通过记录光的照射而发生折射率的变化；以及设置在记录层14之间的 中间层 15。中间层15包括第一中间层15A和第二中间层15B，所述第一中间层15A被设置为在记录光进入记录层的入射侧的相对侧与该记录层14邻接，所述第二中间层15B被设置为在记录光进入记录层的入射侧与该记录层14邻接。第一中间层15A和记录层14具有不同的折射率，而第二中间层15B和记录层14具有基本相同的折射率。第一中间层15A和第二中间层15B在它们之间的界面处相互融合，由此折射率在该界面处逐渐变化。 | ||||||
| 权利要求 | 1.一种光学信息记录介质，包括： |
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| 说明书全文 | 光学信息记录介质及其制造方法技术领域[0001] 本发明涉及光学信息记录介质及其制造方法。 背景技术[0002] 近年来，为了在光学信息记录介质的多个层中记录信息，研究了这样的方法：该方法利用双光子吸收等多光子吸收反应使光学信息记录介质中所含的记录材料发生光学变化（参见（例如）专利文献1）。对于利用多光子吸收反应的光学信息记录介质，与广泛使用的传统的具有记录单层的光学信息记录介质相同，考虑到读取信息时在记录层的上下两界面处所反射的反射光相互干涉（这被称作干涉效果），确定在记录区域处记录材料的折射率变化和记录层的厚度，使得记录部分的反射率与非记录部分的反射率的差值（即，在记录层的上下界面处反射并且相互干涉，然后返回到光学拾波器的光束的比率的差值）大。在专利文献1中公开的信息记录介质中，如该文献的图2所示考虑了膜厚度与反射率之间的关系，并且第[0062]段建议记录层的厚度优选为约λ/4n（其中λ为读取光的波长，n为记录层的折射率），或者厚度更薄至约5nm至50nm。 [0004] 引用列表 [0005] 专利文献 [0006] 专利文献1：日本专利No.4290650 [0007] 专利文献2：日本特开专利申请公开No.2001-325745 发明内容[0008] 技术问题 [0009] 然而，如果同专利文献1一样，在读取信息时利用在记录层的两界面处所反射的反射光的干涉效果，则记录层必须被制造为具有所设计的精确的膜厚度以获得优异的调制度。这要求膜厚度的精度，因此导致光学信息记录介质的制造成本增加。 [0010] 另外，如果同专利文献2一样，将发出的荧光视为基础光（base light），并且由用于检测基础光返回多少的光检测器所接收的光的变化而得到调制，则由于所发出的荧光很弱，因此难以获得可接受的再生输出。 [0011] 鉴于以上情况，本发明旨在提供一种具有优异的再生输出而不要求记录层的膜厚度高度精确的光学信息记录介质以及制造该光学信息记录介质的方法。 [0012] 解决问题的方法 [0013] 为了解决前述问题，本发明提供了一种光学信息记录介质，其包括：多个记录层，各个记录层通过记录光的照射而发生折射率的变化；以及至少一个中间层。所述中间层为包括第一中间层和第二中间层的复合层，并且位于两个邻接的记录层之间。所述第一中间层被设置为在记录光进入记录层的入射侧的相对侧与两个记录层中的一个邻接，并且所述第一中间层的折射率不同于该记录层的折射率。所述第二中间层被设置为在记录光进入记录层的入射侧与两个记录层中的另一个邻接，并且所述第二中间层的折射率与该记录层的折射率基本相同。所述第一中间层与所述第二中间层在它们之间的界面处互相融合，由此折射率在该界面处逐渐变化。 [0014] 根据该光学信息记录介质，如果用光照射记录层，并且如后所述使记录层的折射率发生变化以具有透镜效果，则在读取信息时，从读出光（用于读取信息而照射的光）进入记录层的方向看，读出光在记录层与设置在该记录层远侧的邻接第一中间层之间的界面（在本说明书中，该界面被称为“远侧界面”）处反射，然而，读出光在记录层与设置在该记录层近侧的邻接第二中间层之间的界面（在本说明书中，该界面被称为“近侧界面”）处不反射。另外，读出光在第一中间层与第二中间层之间的界面（该界面被称为“中间界面”）处不反射。因此，近侧界面和中间界面处的反射不妨碍在远侧界面处的反射光的检测，从而以高信噪比读取信息。 [0015] 在前述光学信息记录介质中，所述记录层可以由含有染料的树脂制成，并且所述第一中间层和所述第二中间层可以由对记录光透明的树脂制成。 [0016] 另外，前述光学信息记录介质优选被构造为满足0.001＜((n2-n1)/(n2+n1))2＜0.04，其中n1为所述记录层的折射率，n2为所述第一中间层的折射率。 [0017] 当((n2-n1)/(n2+n1))2（即反射率）大于0.001时，充分确保了在远侧界面处的反射光的强度，从而能够读取信息。然而，当反射率小于0.04时，在远侧界面处的反射光的强度适当的小，使得记录光和读出光能到达更深的记录层，从而允许设置大量记录层以实现高容量记录。 [0018] 在根据本发明的光学信息记录介质中，由于在近侧界面处和中间界面处基本上不发生反射，因此如果考虑近侧界面处的反射、远侧界面处的反射和中间界面处的反射而确定的反射率是一定的，则与在近侧界面处和中间界面处发生反射的介质相比，在远侧界面处的反射率可以被设定为较大的值。这确保了读取信息时的较高信噪比。 [0019] 制造前述光学信息记录介质的方法包括：第一步，将记录层的材料涂布到记录层形成表面；第二步，使记录层固化；第三步，在记录层之上涂布第二中间层的材料；第四步，在使前一步刚刚涂布的第二中间层固化之前或部分固化之后，涂布第一中间层的材料；第五步，使第一中间层和第二中间层固化。重复实施这些步骤。 [0020] 在使记录层固化后在记录层之上涂布第二中间层的材料，使得记录层和第二中间层在近侧界面处清晰地分离。然而，由于记录层和第二中间层具有基本上相同的折射率，因此近侧界面处的反射被抑制。另外，在使所涂布的第二中间层固化之前或部分固化之后涂布第一中间层的材料，使得第二中间层的材料和第一中间层的材料分散并略微相互融合。然后，使以这种方式融合的第一中间层和第二中间层同时固化，从而可以制造第二中间层和第一中间层在中间界面处互相融合的光学信息记录介质。这可以抑制在中间界面处的反射。另外，由于重复实施这些步骤，因此记录层被涂布在已经固化的第一中间层之上，从而使第一中间层和记录层在远侧界面处不融合，并且在它们之间形成清晰分离的界面。因此，在远侧界面处发生反射。 [0021] 前述制造方法可进一步包括：第六步，使第二中间层固化；以及第七步，在第二中间层之上涂布第二中间层的材料，并且在第三步和第四步之间实施第六步和第七步。 [0022] 在前述制造方法中，可通过旋涂来进行记录层材料的涂布、第一中间层材料的涂布和第二中间层材料的涂布。 [0023] 在前述制造方法中，记录层的材料、第一中间层的材料和第二中间层的材料可含有光固化树脂，并且可在第二步和第五步中通过光照射使记录层的材料、第一中间层的材料和第二中间层的材料固化。同样，也可在第六步中通过光照射使第二中间层的材料固化。 [0025] 附图简要说明 [0026] 图1为多层光学信息记录介质的截面图； [0027] 图2为示出记录层的厚度与调制度之间的关系的图； [0028] 图3为记录点的俯视图； [0029] 图4为示出d/ω0与调制度之间的关系的图； [0030] 图5为示出记录信息时的焦点位置和记录点的形成的说明图； [0031] 图6为示出读取信息时的焦点位置和记录点处的透镜效果的说明图； [0032] 图7为示出读取信息时的焦点位置和非记录位置处的读出光的反射的说明图； [0033] 图8为示出包括步骤（a）至（c）的光学信息记录介质的制造方法的说明图； [0034] 图9为示出包括步骤（a）和（b）的光学信息记录介质的制造方法的说明图； [0035] 图10为示出包括步骤（a）和（b）的光学信息记录介质的制造方法的说明图；以及[0036] 图11为变型实施方案的说明图，示出了读取信息时的透镜效果。 具体实施方式[0037] 下面将参考附图对本发明的一个示例性实施方案进行说明。 [0040] 伺服信号层12由发粘的或粘合性的树脂材料制成，并且被构造为使记录层14和中间层15保持在基板11上。预先将伺服信号记录在伺服信号层12接近基板11的表面上；伺服信号被记录为不规则图案，或利用折射率的变化来进行记录。此处，预先将伺服信号设定为用于辅助记录读取装置1在记录和读取信息的过程中识别伺服信号层12作为焦点参考面的信号。为了聚焦于预定的记录层14，考虑与参考面的距离以及界面的数目而进行聚焦控制。另外，为了在记录和读取信息时用激光束精确地照射圆周方向上设置的记录点的踪迹，优选预先设置跟踪伺服信号或跟踪槽。需要注意的是，伺服信号层12的有无是任选的。 [0041] 记录层14由可光学记录信息的感光材料制成。用记录光（用于记录的照射光）照射记录层14使记录层14的折射率发生变化。由记录光的照射引起的折射率变化可以是从较低状态升至较高状态，或者从较高状态降至较低状态。作为本实施方案的例子，在记录层14中使用折射率从较高状态变化至较低状态的记录材料。为了设置具有适当厚度的记录层14，并且为了使用染料吸光而产生的热来改变记录层的折射率，优选的是，记录层14的材料为含有染料的树脂，该染料使得记录光发生单光子吸收或多光子吸收。含有染料的树脂可以通过（例如）将染料分散于高分子粘结剂中而制备。高分子粘结剂的具体例子可包括聚醋酸乙烯酯（PVAc）、聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）、聚碳酸酯（PC）、聚苯乙烯（PS）和聚乙烯醇（PVA）。在本实施方案中，作为记录层14的材料，高分子粘结剂包含通过光（紫外光）的照射而固化的光固化树脂（紫外光固化树脂）。 [0042] 记录光吸收染料的例子可包括传统被用作可热变形的加热模式型记录材料的染料。例如，酞菁系化合物、偶氮化合物、偶氮金属络合物、和次甲基染料（例如菁系化合物、类菁（oxonol）系化合物、苯乙烯基型染料和份菁染料）可用作记录光吸收染料。另外，为了在记录和读取具有多层记录层的记录介质过程中对邻接的记录层的不利影响最小化，优选将多光子吸收染料用作记录光吸收染料。作为多光子吸收染料的例子，优选在读出光的波长处没有线性吸收带的双光子吸收化合物。 [0043] 可使用任何已知的双光子吸收化合物，只要该双光子吸收化合物在读出光的波长处没有线性吸收带即可；例如，可使用具有由下列通式（1）所示结构的化合物。 [0044] [化学式1] [0045] 式（1） [0046] [0047] 在式（1）中，X和Y可以分别表示Hammett对位取代基常数（σp值，Hammett's sigma para-value）为0以上的取代基，X和Y可彼此相同或不同；n表示1至4的整数；R表示取代基，并且多个R可彼此相同或不同；m表示0至4的整数。 [0048] 在式（1）中，X和Y分别表示Hammett方程中的σp值取正值的基团，即，所谓的吸电子基团，优选（例如）三氟甲基、杂环基、卤素原子、氰基、硝基、烷基磺酰基、芳基磺酰基、氨磺酰基、氨基甲酰基、酰基、酰氧基、烷氧羰基等，更优选三氟甲基、氰基、酰基、酰氧基和烷氧羰基，并且最优选氰基和苯甲酰基。在这些取代基中，为了各种目的（包括赋予在溶剂中的溶解性），烷基磺酰基、芳基磺酰基、氨磺酰基、氨基甲酰基、酰基、酰氧基和烷氧羰基可进一步含有取代基。取代基的例子包括烷基、烷氧基、烷氧基烷基、芳氧基等。 [0049] n表示1以上且4以下的整数，优选为2或3，最优选为2。如果n为5以上，则据说n变得越大，出现在更长的波长侧的线性吸收越多，使得利用了波长区域小于700nm的记录光的非谐振双光子吸收记录无法完成。 [0050] R表示取代基。对于取代基没有特别的限制，作为具体例子，可以列举烷基、烷氧基、烷氧基烷基和芳氧基。m表示0以上且4以下的整数。 [0051] 对于具有式（1）所示结构的化合物没有特别的限制，例如可使用由以下化学结构式D-1至D-21所表示的化合物。 [0052] [化学式2] [0053] [0054] 记录层14具有足够的厚度，使得记录后形成的折射率分布实现透镜效果。更具体而言，记录层14的厚度等于或大于2λ/n，其中λ为记录光的波长，n为记录层14的折射率。由图2得知，当计算nD/λ（其中D为记录层的厚度）和调制度（即，由检测光的强度的(最大值-最小值)/最大值所得到的值）之间的关系时，如果nD/λ等于或大于2，则调制度为0.1以上，因此说明实现了优异的调制度。这表明厚度D优选为等于或大于2λ/n。 [0055] 作为例子，如果记录光的波长为522nm并且记录层14的折射率为1.40，则记录层14的厚度应该为745nm以上。该厚度比传统的利用干涉效果的光学信息记录介质的厚度厚几倍。因此，当在记录层14中形成记录点时，记录点具有透镜效果。 [0056] 尽管记录层14的厚度没有上限，但是为了尽可能多的增加记录层14的层数，优选的是，其厚度等于或小于5μm。在本实施方案中，作为例子，记录层14的厚度为1μm。所设置的记录层14的层数大约为（例如）2层至100层。为了增加光学信息记录介质10的存储容量，优选大量的记录层14，例如10个以上的记录层14。 [0057] 如图1所示，各个中间层15被设置在多个记录层14之间。换言之，中间层15被设置为与各个记录层14的上下侧邻接。为了防止多个记录层14之间的串扰（即，来自于一个记录层14的信号与另一个来自于邻接的记录层14的信号混合的现象），设置中间层15，以在邻接的记录层14之间形成预定量的空间。为此，中间层15的厚度等于或大于3μm。作为例子，本实施方案中的中间层15的厚度为10μm。 [0058] 各个（一个）中间层15包括第一中间层15A和第二中间层15B，该第二中间层15B与第一中间层15A邻接并设置在其下侧。第一中间层15A与设置在中间层15的上侧的记录层14邻接，并且第二中间层15B与设置在中间层15的下侧的记录层14邻接。同时，如果将焦点放在一个记录层14上，则第一中间层15A被设置为在记录光进入记录层14的入射侧的相对侧与该记录层14邻接，而第二中间层15B被设置为在记录光进入记录层14的入射侧与该记录层14邻接。 [0059] 第一中间层15A和第二中间层15B由这样的材料制成：该材料对于记录和读取信息时的激光照射不发生反应。另外，为了使记录光、读出光和读取光（用读出光照射而产生的光）的损失最小化，优选第一中间层15A和第二中间层15B由对记录光、读出光和读取光透明的树脂制成。此处，术语“透明”表示通过考虑第一中间层15A的吸收率和第二中间层15B的吸收率而确定的吸收率等于或小于1%。另外，在本实施方案中，与记录层14的材料相同，第一中间层15A的材料和第二中间层15B的材料中含有紫外线固化树脂。 [0060] 从记录光和其它光进入记录层14的方向（即，从图1的上侧）看，第一中间层15A与记录层14邻接，并且设置在记录层14的下侧（远侧）。第一中间层15A的折射率不同于记录层14的折射率。因此，在记录层14与第一中间层15A之间的界面（远侧界面18）处，发生由折射率的急剧变化引起的读出光的反射。优选的是，使第一中间层15A的折射率在适当程度上不同于记录层14的折射率。更具体而言，优选满足以下关系： [0061] 0.001＜((n2-n1)/(n2+n1))2＜0.04 [0062] 其中n1为记录层14的折射率，n2为第一中间层15A的折射率。 [0063] 如果((n2-n1)/(n2+n1))2大于0.001，则在远侧界面18处的反射光量大，从而在2 读取信息时获得高的信噪比。然而，如果((n2-n1)/(n2+n1))小于0.04，则在远侧界面18处的反射光量被限定至适当小的程度，使得在记录和读取信息时记录/读取光（即在本说明书中包括记录光、读出光和读取光的光）可以在记录/读取光没有大量衰减的情况下到达更深的记录层14。 [0064] 作为例子，第一中间层15A的折射率n2为1.61。如果记录层14的折射率n1为2 1.40，则((n2-n1)/(n2+n1))为0.0049，满足前述不等式。 [0065] 从记录光和其它光进入记录层14的方向看，第二中间层15B与记录层14邻接，并且设置在记录层14的上侧（近侧）。第二中间层15B的折射率基本上与记录层14的折射率相同。根据本发明，优选的是，在记录层14与第二中间层15B之间的界面（近侧界面19）处的反射率充分小于远侧界面18处的反射率。如果来自于近侧界面19的反射光和来自于远侧界面18的反射光互相干涉，则再生输出根据记录层14的厚度变化而变大或变小。再生输出的这种变化不允许哪怕很小的记录层14厚度的误差（例如，读取光的波长的几分之一或更小）。因此，以下述方式制造实际的介质是非常困难的：即，使得厚度为（例如）1μm的记录层14不发生上述再生输出的任何变化而精确并均匀地形成。仍然从这个角度考虑，使近侧界面19处的反射率充分小于远侧界面18处的反射率是非常重要的。 [0066] 因此，在本发明中，近侧界面19处的反射率等于或小于远侧界面18处的反射率的五分之一，优选为等于或小于十分之一，并且最优选的是，近侧界面19处的反射率为0。为了满足该条件，需要记录层14和第二中间层15B具有基本相同的折射率。更具体而言，本说明书中的“具有基本相同的折射率”是指记录层14的折射率与第二中间层15B的折射率之间的差值等于或小于0.05，优选为等于或小于0.03，更优选为等于或小于0.01，并且最优选的是，它们之间的差值为0。因此，在近侧界面19处不会发生由折射率的急剧变化引起的反射，从而使记录/读取光在不发生反射的情况下透过近侧界面19。 [0067] 为了使记录层14的折射率与第二中间层15B的折射率之间的差值更小，并且优选为0，可以调整记录层14的材料的组成和第二中间层15B的材料的组成。更具体而言，由于记录层14的材料含有要混合在高分子粘结剂中的双光子吸收化合物等染料，因此可选择性地调整染料或高分子粘结剂以使其具有适当的折射率并且改变组成比，从而可以任意地调节记录层14的折射率。即使它们具有相似的基本组分，高分子粘结剂的折射率也可根据聚合度而发生变化。因此，也可以使用不同聚合度的高分子粘结剂或通过调节高分子粘结剂的聚合度来调节记录层14的折射率。另外，可以通过混合多种高分子粘结剂来调节记录层14的折射率。还可以添加折射率调节剂（无机微粒等）来调节记录层14的折射率。 [0068] 为了调节第二中间层15B的折射率，可以调节可用作第二中间层15B的材料的诸如树脂等高分子材料的聚合度。或者，可以随意添加可用作中间层15的材料、或者可以添加折射率调节剂（无机微粒等）来调节第二中间层15B的折射率。 [0069] 形成一个中间层15的第一中间层15A和第二中间层15B在它们之间的界面（中间界面20）处相互融合，由此折射率在该界面处逐渐变化。即，在中间界面20处未清晰地形成界面。因此，在中间界面20处不会发生由折射率的急剧变化引起的反射，从而使记录/读取光在不发生反射的情况下透过中间界面20。 [0070] 被覆层16是为了保护记录层14和中间层15（第一中间层15A和第二中间层15B）而设置的。被覆层16由允许记录/读取光透过被覆层16的材料制成。被覆层16的适当厚度在几十微米至几毫米的范围内。 [0071] 对在上述光学信息记录介质10上记录和读取信息的方法予以说明。 [0072] 对于在所期望的记录层14中记录信息，用输出是根据待记录的信息调制过的激光（记录光RB）照射记录层14。如果记录层14包含多光子吸收化合物作为主要的记录染料，则优选用于该记录的激光可为峰值功率能够增大的脉冲激光。如图5所示，优选的是，记录光RB的焦点位置以满足ω0＜d＜3ω0的偏移量d从远侧界面18向记录光RB的入射侧移动。此处，ω0为图3中所示的记录点M的半径。如同图3左侧所示的记录点M，该半径ω0表示当记录光RB和光学信息记录介质10没有彼此相对移动时所形成的圆点的半径。如果由于记录光RB和光学信息记录介质10之间的相对移动而获得如同图3中间和右侧所示的两个记录点M一样的伸长记录点，则该半径ω0确定为记录点M宽度的一半。 [0073] 对偏移量d的范围予以说明。首先，可以由激光束形成的微点（fine spot）的半径ω0被认为在0.1μm至0.3μm的范围内。由衍射极限来确定待记录的点的半径ω0，所述衍射极限是通过所使用的记录光的波长和物镜的开口数NA而确定的。考虑到每个记录层14的表面记录密度和所用的记录用激光的波长，半径ω0优选为大约在0.1μm至0.3μm范围内。如图4所示，对偏移量d相对于半径ω0的比d/ω0与调制度的关系进行计算，表明如果ω0=0.15-0.3μm，并且d/ω0值在1-3的范围内，则可获得较好的调制度。所以说较好的偏移量d在ω0＜d＜3ω0范围内。在此计算中，记录层14的厚度为1μm。 [0074] 当用上述记录光RB照射记录层14时，如图5的示意性说明，根据光强度，在光强度强的焦点位置附近，引发的光吸收反应较多（在双光子吸收反应时，所吸收的光与光强度的平方成比例），依照此反应，在焦点附近位置的折射率小。因此，在1μm厚的记录层14中形成折射率的分布。具有该折射率分布的记录点M发挥透镜的作用。 [0075] 对于从所期望的记录层14中读取信息，用CW激光束（读出光OB）照射记录层14。在这种情况下，如图6所示将记录层14与中间层15（第一中间层15A）之间的远侧界面18设为目标来调节读出光OB的焦点位置。然后读出光OB进入记录点M，并且由于记录点M的透镜效果，它沿着偏离记录点M的路径前进。因此，在记录点M的远侧界面18处几乎没有光被反射。同时，如图7所示，在记录层14的非记录部分（其为除了记录点M之外的部分），读出光OB在远侧界面18处被反射，因此获得记录部分与非记录部分之间的反射光强度的差异。从而读取信息。 [0076] 如上所述，根据本实施方案中的光学信息记录介质10是利用在远侧界面18处的记录部分与非记录部分之间的反射率差异来进行信息的记录和读取。然而，根据传统的记录方法是利用在远侧界面18处的反射和近侧界面19处的反射之间的干涉效果使信息再生，因而近侧界面19处的反射不可缺少。与传统的记录方法相反，在近侧界面19处的反射对于本实施方案所描述的记录方法不是必需的，相反被认为是噪音。 [0077] 因此，如本实施方案所述，使在近侧界面19处邻接记录层14的第二中间层15B的折射率与记录层14的折射率基本相同，从而使在近侧界面19处不发生记录/读取光的反射。另外，第一中间层15A的折射率和第二中间层15B的折射率在第二中间层15B与第一中间层15A（其折射率不同于记录层14的折射率）之间的界面（中间界面20）处逐渐变化，因而在中间界面20处不发生记录/读取光的反射。由此可提高读取光的信噪比，从而获得优异的再生输出。 [0078] 另外，根据本实施方案中的上述光学信息记录介质10，由于没有利用干涉效果，而是利用了记录层14中形成的记录点M的透镜效果获得记录部分与非记录部分之间的再生输出（反射光强度）的调制，因此能够在不需要高度精确的记录层14的膜厚度从而降低制造成本的条件下制造光学信息记录介质10。另外，由于在读取信息时利用了在远侧界面18处读出光的反射，因此与使用荧光的方法相比，获得了更高的再生输出。 [0079] 接下来，对光学信息记录介质10的制造方法予以说明。 [0080] 如图8（a）所示，在由基板11和形成于基板11之上的伺服信号层12所构成的工件上形成中间层15。因此，中间层15的表面提供了在后续步骤中形成记录层14的记录层形成表面F。作为制造中间层15的方法，稍后将进行说明，其详细说明在此省略。当使用折射率不同于记录层14的折射率的伺服信号层12时，记录层形成表面F可以是伺服信号层12的表面，并且记录层14可形成于伺服信号层12之上。 [0081] 接下来，如图8（b）所示，通过旋涂将记录层14的材料涂布到记录层形成表面F上（第一步），随后用紫外光（光）照射，使记录层14的材料完全固化（第二步）。 [0082] 接下来，如图8（c）所示，通过旋涂将第二中间层15B的材料涂布于记录层14之上（第三步）。在第三步中涂布的第二中间层15B的材料的厚度比最终得到的第二中间层15B的期望厚度薄。然后，通过紫外光照射使第二中间层15B的材料完全固化（第六步）。 [0083] 此后，如图9（a）所示，通过旋涂再将第二中间层15B的材料涂布于已经完全固化的第二中间层15B之上（第七步）。在此步骤中，考虑到在固化过程中的收缩等，涂布第二中间层15B的材料，连同预先形成的第二中间层15B的厚度，从而获得了最终得到的第二中间层15B的期望厚度。 [0084] 接下来，如图9（b）所示，在使前一步（第七步）中所涂布的第二中间层15B的材料固化之前、或者通过少量的紫外光照射或其它方式使第二中间层15B的材料部分固化之后，通过旋涂来涂布第一中间层15A的材料（第四步）。在第四步中，液状的第一中间层15A的材料附着在尚未完全固化的第二中间层15B上，从而使第二中间层15B的材料和第一中间层15A的材料略微分散并相互融合。 [0085] 然后，如图10（a）所示，通过紫外光照射使第二中间层15B的材料和第一中间层15A的材料完全固化（第五步）。一旦第二中间层15B和第一中间层15A固化，第一中间层 15A和第二中间层15B即以这些层适度融合的状态彼此固定，从而形成一个中间层15。之后不会发生第一中间层15A和第二中间层15B的分散。从而形成包括记录层14和中间层 15（第一中间层15A和第二中间层15B）的一组层（复合层）。 [0086] 随后，重复实施上述这些步骤。更具体而言，如图10（b）所示，通过旋涂将记录层14的材料涂布到最上方的中间层15（记录层形成表面F）之上（第一步）。此时，由于最上方的中间层15（第一中间层15A）已经完全固化，因此即使将记录层14的材料涂布到其上面，记录层14也不会与中间层15（第一中间层15A）融合，并且清晰地形成界面（远侧界面 18）。 [0087] 然后，依次实施图8（c）至图10（a）中所示的第二步、第三步、第六步、第七步、第四步和第五步。因此形式了第二复合层。之后多次重复前述步骤。最后，在中间层15之上形成被覆层16以制造光学信息记录介质10。 [0088] 根据本实施方案中的上述光学信息记录介质10的制造方法，通过在旋涂机上重复涂布步骤和固化步骤来制造光学信息记录介质10。换言之，使用传统的旋涂机设备能够廉价地制造光学信息记录介质10。 [0089] 另外，由于记录层14的材料、第一中间层15A的材料和第二中间层15B的材料含有紫外线固化树脂，因此在图8（b）中所示的第二步、图8（c）中所示的第六步和图10（a）中所示的第五步中，通过用紫外光照射可以使记录层14、第一中间层15A和第二中间层15B容易并且迅速地固化。 [0090] 根据本发明，根据所选择的第一中间层15A的材料和第二中间层15B的材料的特性，可以省略前述第六步和第七步。在这种情况下，将第二中间层15B的材料涂布于在第一步和第二步后形成的记录层14之上（第三步）。考虑到在固化过程中的收缩等，以最终得到的第二中间层15的期望厚度所需要的量涂布第二中间层15B的材料。然后，在使前一步（第三步）中涂布的第二中间层15B固化之前或部分固化之后，涂布第一中间层15A的材料（第四步），随后使第一中间层15A和第二中间层15B固化（第五步）。 [0092] 例如，在上述实施方案中，通过记录光的照射使记录层14的折射率减小。但是，也可改用通过记录光的照射使折射率增加的记录材料。在这种情况下，如图11所示，由于记录点M发挥了聚集读出光OB的作用，因此记录部分以高于非记录部分的反射率反射读出光OB，使得由记录部分与非记录部分之间的反射光强度的差异产生调制。当然，为了增加调制度以在再生输出中获得更高的信噪比，如上述实施方案一样，优选记录层14含有通过记录光的照射而使折射率减小的记录材料。 [0093] 在上述实施方案中，使用旋涂机涂布记录层14的材料、第一中间层15A的材料和第二中间层15B的材料。然而，只要获得具有期望厚度的适当涂层即可，涂布方法并不局限于旋涂。 [0094] 在上述实施方案中，记录层14的材料、第一中间层15A的材料和第二中间层15B的材料含有紫外线固化树脂（光固化树脂）。然而，这些材料并不局限于该特定的实施方案，还可不含有任何光固化树脂。 [0095] 另外，在上述实施方案中，在中间层15之上形成被覆层16。然而，本发明并不局限于该特定的实施方案，还可在记录层14之上形成被覆层16。 |
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