涂敷装置

申请号 CN201080053957.2 申请日 2010-12-02 公开(公告)号 CN102665889B 公开(公告)日 2015-09-30
申请人 株式会社保锐士; 发明人 长谷川浩司; 长门琢也; 松井航;
摘要 在旋转滚筒(11)的内部设有测定部(13),测定部(13)具备设置在另一端部(11b)的内壁的中央区域的透光构件(13a)和光学 传感器 (13b)。在粉粒体的涂敷处理时,通过NIR传感器(13b)经由透光构件(13a)对关于与透光构件(13a)的表面 接触 的粉粒体层(A)的粒子的物性(覆膜厚度、 水 分、涂敷性能、杂质等)的信息进行实时测定,并通过NRI分光分析装置的处理部对该数据进行处理并监视,根据该结果,通过反馈控制或手动操作对涂敷操作条件(供气 风 量、供气 温度 、 喷涂 条件、旋转滚筒(1)的转速等)进行适当调整,由此能够进行高品质的涂敷处理。
权利要求

1.一种涂敷装置,其具备旋转滚筒,该旋转滚筒将需要处理的粉粒体收容在内部,且被驱动为绕其轴线旋转,所述涂敷装置的特征在于,
在所述旋转滚筒的端部设有测定部,该测定部具备:以与所述旋转滚筒内部的粉粒体层接触的方式配置在所述端部的透光构件;配置在通过该透光构件与所述旋转滚筒的内部分隔开的所述测定部的内部、经由该透光构件来测定与该透光构件接触的所述粉粒体层的粒子的物性的光学传感器
2.根据权利要求1所述的涂敷装置,其特征在于,
所述光学传感器近红外线分光分析装置的近红外线传感器。
3.根据权利要求1或2所述的涂敷装置,其特征在于,
所述旋转滚筒的所述端部与驱动该旋转滚筒旋转的旋转驱动机构的中空状驱动轴连结,所述测定部的内部与所述中空状驱动轴的中空部连通。

说明书全文

涂敷装置

技术领域

[0001] 本发明涉及进行药品、食品、农药等粉粒体的涂敷、混合、干燥等的涂敷装置,尤其涉及具备被驱动为绕轴线旋转的旋转滚筒的涂敷装置。

背景技术

[0002] 为了对药品、食品、农药等的药片、软胶囊、丸、颗粒等类似于这些的物品(以下,将这些统称为粉粒体。)实施膜涂敷或糖衣涂敷等,而使用具备旋转滚筒的涂敷装置。
[0003] 此种涂敷装置例如在下述的专利文献1、2中被公开。
[0004] 专利文献1中公开一种涂敷装置,其具备被驱动为绕平的轴线旋转的通气式的旋转滚筒。旋转滚筒具备:多边筒形的周壁部;从周壁部的一端朝向轴向一方延伸的多边锥形的一端部;从周壁部的另一端朝向轴向另一方延伸的多边锥形的另一端部。在周壁部的各面分别安装有多孔板,通过多孔板的多孔部对周壁部赋予通气性。并且,在各多孔板的外周侧分别安装有套管,在套管与多孔板之间形成通气通道。
[0005] 另外,在旋转滚筒的另一端侧、即设置有包括电动机等在内的旋转驱动机构的一侧,配置有控制干燥空气等处理气体对旋转滚筒的通气的通气机构。该通气机构具有伴随旋转滚筒的旋转而使来到规定位置的通气通道分别与供气管道和排气管道连通的功能。
[0006] 例如,伴随旋转滚筒的旋转,当某通气通道到达旋转滚筒的上部时,使该通气通道与供气管道连通,当某通气通道到达旋转滚筒的下部时,使该通气通道与排气管道连通。因此,从供气管道导入到旋转滚筒的上部的通气通道后的处理气体通过周壁部的上部的多孔板而流入旋转滚筒的内部,然后,通过粉粒体层(滚动床)的内部后,通过周壁部的下部的多孔板而向通气通道流出,进而通过通气通道而向排气管道排出。
[0007] 专利文献2公开一种涂敷装置,其具备将需要处理的粉粒体收容在内部,且被驱动为绕其轴线旋转的通气式的旋转滚筒,其中,旋转滚筒沿着其轴线方向具有一端部、另一端部、使一端部与另一端部连续的周壁部,另一端部位于驱动旋转滚筒旋转的旋转驱动机构侧,在一端部及另一端部分别设有通气口,一端部及另一端部中的一方的通气口成为用于将处理气体从外部向旋转滚筒的内部供给的供气口,一端部及另一端部中的另一方的通气口成为用于将处理气体从旋转滚筒的内部向外部排出的排气口,经由供气口而被供给到旋转滚筒的内部的处理气体通过旋转滚筒的内部的粉粒体层中而从排气口排出。
[0008] 旋转滚筒为通气式的滚筒,但通气口设置在一端部和另一端部,在周壁部未设置供排气用的通气部(多孔部)。因此,不需要像以往的通气式的旋转滚筒那样设置通过套管从外周侧覆盖周壁部的通气部(多孔部)来形成通气通道这样的复杂的通气结构。即,虽然本发明的涂敷装置具备通气式的旋转滚筒,但在旋转滚筒的周壁部没有供排气用的通气部(多孔部),换言之,旋转滚筒的周壁部具有气密的结构,并且,在旋转滚筒的周壁部的外周侧也没有由套管覆盖的通气通道。因此,与现有装置相比,能够容易且可靠地进行清洗作业、清洗后的确认作业。
[0009] 一端部及另一端部中的一方的通气口为供气专用,另一方的通气口为排气专用,经由一端部或另一端部的供气口供给到旋转滚筒的内部的处理气体(热、冷风等)通过旋转滚筒的内部的粉粒体层中而从另一端部或一端部的排气口排出。因此,通气遍布到粉粒体层的内部,从而将粉粒体层的干燥等处理均匀且充分地进行。
[0010] 旋转滚筒以其轴线相对于水平线形成0°≤θ≤90°的范围内的规定度θ的状态配设。即,旋转滚筒选择其轴线与水平线平行的状态(θ=0°)、其轴线与铅垂线平行的状态(θ=90°)、其轴线相对于水平线倾斜的状态(0°<θ<90°)中的任一种状态配设并进行运转。优选旋转滚筒以其轴线相对于水平线具有规定角度θ而倾斜的状态配设。在该情况下,轴线的倾斜角度θ设定为20°≤θ≤70°,更优选设定为30°≤θ≤45°,尤其优选设定为θ=30°或θ=45°。
[0011] 通过使旋转滚筒的轴线相对于水平线以规定角度θ倾斜,因此在旋转滚筒的内部能够处理的粉粒体的容积量变多,因而每一次的处理量增大,从而生产效率得以提高。另外,通过使旋转滚筒绕倾斜的轴线旋转,收容在旋转滚筒的内部的粉粒体伴随旋转滚筒的旋转,以带有向旋转方向的运动和向轴线方向的运动的状态流动,因此粉粒体层的搅拌混合效果高,例如,即使在旋转滚筒的内部未配设所谓的折流板(搅拌叶片)的情况下,也能够得到充分的搅拌混合效果。当然,若并用折流板,则能够得到更高的搅拌混合效果。在使旋转滚筒的轴线倾斜的情况下,通常使旋转滚筒的后端部位于倾斜下方侧。
[0012] 【在先技术文献】
[0013] 【专利文献】
[0014] 【专利文献1】日本特开2001-58125号公报
[0015] 【专利文献2】日本特开2004-148292号公报

发明内容

[0016] 涂敷品质在装置面中由混合性、干燥效率、喷涂性能决定,要求进行严格的参数设定。这些的参数设定大多需要制造者的熟练。
[0017] 虽然不同时间待处理药片的水分值大多不同,但进行涂敷前的药片预热通常由时间、排气温度(初始温度)控制,而并不是因对品质产生影响的水分值不同而转移工序。
[0018] 在喷涂结束后进行后续干燥,但该工序通常也由时间、排气温度(初始温度)控制,而并不是监视对品质产生影响的水分值,因此误差大,不能进行精密的控制。
[0019] 作为药片涂敷品质的涂敷性能由覆膜厚度、致密度来确定,但它们的测定只能在涂敷结束后事后评价。在不能得到目标的涂敷性能时,需要重新考虑涂敷条件等,为了得到所期望的品质而需要较多的时间和成本。通常该工序的工序时间长,且为单位操作工序的下游,因此花费较多的时间和成本,从而不允许出错误。
[0020] 在工序中,即使因某种原因而药片水分值比规格增加或减少,也没有监视的机构。
[0021] 在膜涂敷时,因待处理药片的状态不同,还存在药片过干燥,从而导致药片脆而产生边缘欠缺等不良情况。在糖衣涂敷时,各循环的干燥由时间控制,导致工序时间的延长的情况也较多。
[0022] 以往利用的药片的水分控制技术中,在滚筒内(药片滚动层内)具有传感器,但因雾尘等而使传感器(温度计、各种探头·光源形成的传感器)面污染,因此很难得到再现性高的数据。
[0023] 在从滚筒外测定的情况下,在涂敷中滚筒被涂敷液污染,因此存在计测值的再现性和测定值的可靠性欠缺的问题。
[0024] 近些年,使用了近红外线(NIR)传感器的计测备受注目,但未解决传感器或传感器面的污染问题,从而无法充分地得到效果。
[0025] 为了解决上述课题,本发明提供一种涂敷装置,其具备旋转滚筒,该旋转滚筒将需要处理的粉粒体收容在内部,且被驱动为绕其轴线旋转,其中,旋转滚筒的内部设有测定部,测定部具备:以与旋转滚筒内部的粉粒体层接触的方式配置的透光构件;经由透光构件来测定与透光构件接触的粉粒体层的粒子的物性的光学传感器。透光构件例如由透明的玻璃形成。通过光学传感器经由测定部的透光构件来测定粉粒体层的粒子的物性,由此能够不受涂敷中的雾尘或滚筒的污染这样的影响而实时测定涂敷粒子的物性。
[0026] 在上述结构中,光学传感器例如为近红外线(NIR)分光分析装置的近红外线传感器。通过使用NIR分光分析装置对药片品质(水分等)进行实时测定并管理,由此即使在存在批量间的不均等情况下,也能够制造具有高的再现性的涂敷产品。
[0027] 例如,对作为涂敷品质的覆膜厚度、水分、涂敷性能、杂质进行实时监视及实施控制。通过光学传感器,能够经由透光构件以非接触方式进行测定。
[0028] 优选旋转滚筒的轴向的一端部与驱动旋转滚筒旋转的旋转驱动机构的中空状驱动轴连结,测定部设置在旋转滚筒的所述端部,并且测定部的内部与中空状驱动轴的中空部连通。由此,能够利用中空状驱动轴的中空部而将光学传感器设置在测定部的内部。并且,通过光学传感器测定与透光构件的表面接触的粉粒体层的粒子(药片)。优选透光构件设置成与旋转滚筒的内壁面没有高低差,以免产生药片的磨损。另外,在测定部可以具有针对透光构件的防止附着用气洗,气洗可以是用于防止结露的暖风。并且,气洗可以间歇输入。附图说明
[0029] 图1是表示本发明的实施方式的简要剖视图。
[0030] 图2是表示本发明的另一实施方式的简要剖视图。
[0031] 图3是表示粒子的水分值的测定值与实测值的图。
[0032] 图4是表示吸光度(ABS)的测定结果的图。

具体实施方式

[0033] 图1表示本发明的第一实施方式涉及的涂敷装置。该涂敷装置具有与日本特开2004-148292号公报(专利文献2)所记载的涂敷装置同样的基本结构,具备被驱动为绕相对于水平线倾斜的轴线旋转的通气式的旋转滚筒1。
[0034] 旋转滚筒1沿该轴线方向具有一端部1a、另一端部1b、使一端部1a与另一端部1b连续的周壁部1c,另一端部1b位于驱动旋转滚筒1旋转的旋转驱动机构2侧。在一端部1a及另一端部1b分别设有通气口,一端部1a的通气口为用于将处理气体从外部向旋转滚筒1的内部供给的供气口,另一端部1b的通气口为用于将处理气体从旋转滚筒1的内部向外部排出的排气口。经由一端部1a的供气口供给到旋转滚筒1的内部的处理气体通过旋转滚筒1的内部的粉粒体层中A而被从另一端部1b的排气口排出。
[0035] 在旋转滚筒1的内部设有测定部3,在该实施方式中,测定部3具备设置在另一端部1b的内壁(具有多孔部的圆板)的中央区域的透光构件3a和光学传感器3b。透光构件3a例如由透明的玻璃、尤其是强化玻璃形成为碗状,其周缘部以与另一端部1b的内壁没有高低差的状态设置。在旋转滚筒1旋转时,透光构件3a的表面的整个区域(或一部分区域)与粉粒体层A接触。光学传感器3b例如为近红外线(NIR)分光分析装置的NIR传感器,配置在通过透光构件3a与粉粒体层A分隔开的测定部3的内部。测定部3的内部与旋转驱动机构2的中空状驱动轴2a的中空部连通,NIR传感器3b的检测信息经由穿过中空状驱动轴2a的中空部的线缆3c而向外部的NIR分光分析装置的处理部输送。
[0036] 在粉粒体(例如,药品药片)的涂敷处理时,通过NIR传感器3b经由透光构件3a对关于与透光构件3a的表面接触的粉粒体层A的粒子的物性(覆膜厚度、水分、涂敷性能、杂质等)的信息进行实时测定,并通过NIR分光分析装置的处理部对该数据进行处理并监视,根据其结果,通过反馈控制或手动操作对涂敷操作条件(供气风量、供气温度、喷涂条件、旋转滚筒1的转速等)进行适当调整,从而能够进行高品质的涂敷处理。
[0037] 图2表示本发明的第二实施方式涉及的涂敷装置。该涂敷装置具有与日本特开2001-58125号公报(专利文献1)所记载的涂敷装置同样的基本结构,具备被驱动为绕与水平线平行的轴线旋转的通气式的旋转滚筒11。
[0038] 旋转滚筒11包括:多边筒形的周壁部11c;从周壁部的一端朝向轴向一方延伸的一端部11a;从周壁部11c的另一端朝向轴向另一方延伸的另一端部11b。在周壁部11c的各面分别安装有多孔板,通过多孔板的多孔部对周壁部11c赋予通气性。并且,在各多孔板的外周侧分别安装有套管11d,在套管11d与多孔板之间形成通气通道11e。
[0039] 在旋转滚筒11的另一端部11b侧配置有旋转驱动机构12、控制干燥空气等处理气体对旋转滚筒11进行通气的通气机构14。该通气机构14具有使伴随旋转滚筒11的旋转而来到规定位置的通气通道11e分别与未图示的供气管道和排气管道连通的功能。例如,从未图示的供气管道导入到旋转滚筒11的上部的通气通道11e的处理气体通过周壁部11c的上部的多孔板而流入旋转滚筒11的内部,然后通过粉粒体层A的内部,之后通过周壁部11c的下部的多孔板而向通气通道11e流出,进而通过通气通道11e而向未图示的排气管道排出。
[0040] 在旋转滚筒11的内部设有测定部13,在该实施方式中,测定部13具备设置在另一端部11b的内壁的中央区域的透光构件13a和光学传感器13b。透光构件13a例如通过透明的玻璃、尤其是强化玻璃形成为板状,其周缘部以与另一端部11b的内壁没有高低差的状态设置。在旋转滚筒11旋转时,透光构件13a的表面的一部分区域(或整个区域)与粉粒体层A接触。光学传感器13b例如为近红外线(NIR)分光分析装置的NIR传感器,配置在通过透光构件13a与粉粒体层A分隔开的测定部13的内部。测定部13的内部与旋转驱动机构12的中空状驱动轴12a的中空部连通,NIR传感器13b的检测信息经由穿过中空状驱动轴12a的中空部的线缆13c而向外部的NIR分光分析装置的处理部输送。
[0041] 在粉粒体(例如药品药片)的涂敷处理时,通过NIR传感器13b经由透光构件3a对关于与透光构件13a的表面接触的粉粒体层A的粒子的物性(覆膜厚度、水分、涂敷性能、杂质等)的信息进行实时测定,并通过NIR分光分析装置的处理部对该数据进行处理并监视,根据其结果,通过反馈控制或手动操作对涂敷操作条件(供气风量、供气温度、喷涂条件、旋转滚筒1的转速等)进行适当调整,从而能够进行高品质的涂敷处理。
[0042] 图3表示在使用了图1所示的涂敷装置的药片的涂敷处理中通过测定部3测定的粒子的水分值的测定值和该粒子的水分值的实测值。如根据该图能够理解的那样,粒子的水分值的测定值与实测值表现出良好的相关关系。
[0043] 然而,当从NIR传感器的投光部投射的近红外线光在透光构件的表面引起漫反射时,在受光部除了检测到在粉粒体层的粒子表面发生了反射的反射光成分,还检测到在透光构件的表面发生了漫反射的漫反射光成分,从而存在检测精度降低的情况。该问题能够通过调整NIR传感器相对于透光构件的表面的设置角度(NIR传感器的受光部或投光部的光轴与透光构件的表面所成的角度)来改正。
[0044] 为了求出NIR传感器优选的设置角度,而测定吸光度(ABS)。吸光度(ABS)的测定通过向图1所示的涂敷装置投放粒子(样品药片),使旋转滚筒1旋转,并改变NIR传感器3b的设置角度,从NIR传感器3b投射波长为1200~1500nm(水分测定所需要的波长区域)的光而进行。在图4中示出该测定结果。在图4中,横轴为NIR传感器3b的设置角度(NIR传感器3b的受光部的光轴与透光构件3a的表面所成的角度),纵轴为吸光度(ABS:负值)。
[0045] 吸光度(ABS)的值越低,光的漫反射的影响变得越少。即,吸光度(ABS)的值越低,在药片表面发生反射的反射光成分的影响变得越大,从而能够进行更高精度的测定。由图4所示的测定结果可知,在吸光度(ABS)的值为-50以下时,与脱机测定的样品药片的水分值表现出良好的相关性。因此,可知NIR传感器3b的设置角度优选为5~15°。
[0046] 【符号说明】
[0047] 1、11 旋转滚筒
[0048] 2、12 旋转驱动机构
[0049] 2a、12a 中空状驱动轴
[0050] 3、13 测定部
[0051] 3a、13a 透光构件
[0052] 3b、13bNIR 传感器
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