| 序号 | 专利名 | 申请号 | 申请日 | 公开（公告）号 | 公开（公告）日 | 发明人 |
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| 1 | 用于谱滤波的基于泰伯效应的近场衍射 | CN201480019691.8 | 2014-11-12 | CN105103238B | 2017-03-08 | E·勒斯尔; T·克勒 |
| 本发明涉及一种用于对X射线射束(B)进行谱滤波的光栅布置和方法，所述光栅布置包括：色散元件(10)，其包括棱镜，所述棱镜被配置为使X射线射束(B)衍射成包括第一方向(D1)的第一射束分量(BC1)和包括第二方向(D2)的第二射束分量(BC2)，所述第二方向相对于所述第一方向倾斜；第一光栅(20)，其被配置为生成第一射束分量(BC1)的第一衍射图样(DP1)和第二射束分量(BC2)的第二衍射图样(DP2)，所述第二衍射图样(DP2)相对于所述第一衍射图样(DP1)移位；以及第二光栅(30)，其包括至少一个开口(31)，所述至少一个开口沿从第一衍射图样(DP1)或第二衍射图样(DP2)的强度的最大值(MA)到最小值(MI)的线(d)对准。 | ||||||
| 2 | 相位对比X射线成像设备 | CN201480029379.7 | 2014-05-22 | CN105228524A | 2016-01-06 | O·普罗伊彻 |
| 本发明涉及相位对比X射线成像设备(2)，特别用于医疗领域，包括用于生成X辐射场的X辐射源(6)，以及具有一维或二维像素布置(10)的X射线探测器(8)，其中，相位对比差分放大器(14)被定位在X辐射源(6)和X射线探测器(10)之间，借助于相位对比差分放大器(14)在X辐射场中的空间相位差在操作期间被放大。 | ||||||
| 3 | 用于微分相位对比扇形线束CT、锥形线束CT以及混合锥形线束CT的方法和装置 | CN201080018703.7 | 2010-03-02 | CN102413767B | 2015-07-22 | 劳拉·宁; 蔡卫兴 |
| 一种用于成像物体(如乳房成像)的设备，包括托台架，其上安装有X射线源、源光栅、用于待成像物体的支持物或其它位置、相位光栅、分析光栅和X射线检测器。所述设备通过微分相位对比锥形线束计算机X射线断层摄影术来成像物体。混合系统包括用于常规和微分相位对比计算机X射线断层摄影两者的源和检测器。 | ||||||
| 4 | 波前测量装置和波前测量方法 | CN201210269373.X | 2012-07-31 | CN102914374B | 2015-04-22 | 近藤刚史 |
| 本发明公开了波前测量装置和波前测量方法。一种波前测量装置，包括：由光形成周期模式的光学元件，具有用于检测光的像素的检测器，以及基于检测器的检测结果来计算透过样本或被样本反射的光的波前中的多个位置处的波前信息的计算机。检测器检测由光形成的第一周期模式以及由光形成的并且在相位上从第一周期模式进行了偏移的第二周期模式。计算机通过使用在检测到第一周期模式时在像素中的第一像素中检测到的结果、在检测到第一周期模式时在像素中的第二像素中检测到的结果以及在检测到第二周期模式时在第一像素中检测到的结果来计算多个位置中的一个位置处的波前信息，其中，第二像素位于离第一像素在三个像素以内的位置处。 | ||||||
| 5 | 多方向相衬X射线成像 | CN201380006588.5 | 2013-01-22 | CN104066375A | 2014-09-24 | E·勒斯尔; T·克勒 |
| 本发明涉及对象的相衬X射线成像。为了提供在多于一个方向的相衬信息，提供一种X射线成像系统，所述X射线成像系统包括X射线源(12)、X射线探测器装置(16)、以及具有相位-光栅结构(46)和分析器-光栅结构(48)的光栅装置(18)。所述X射线探测器装置包括在第一方向平行于彼此的至少八个线探测器单元(40)，所述至少八个线探测器单元在垂直于所述第一方向的方向(44)线性延伸。所述X射线源、所述X射线探测器装置和所述光栅装置适于在平行于所述第一方向的扫描方向执行相对于对象的采集移动。所述相位-光栅结构具有若干线性相位-光栅，它们中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线固定关联；第一部分作为在所述第一方向具有狭缝的第一相位-光栅，并且第二部分作为在不同于所述第一方向的第二方向具有狭缝的第二相位-光栅。所述分析器-光栅结构具有若干线性分析器-光栅，它们中的每个被布置为与所述至少八个线探测器单元中指定的线固定关联；第一部分作为在所述第一方向具有狭缝的第一分析器-光栅，并且第二部分作为在所述第二方向具有狭缝的第二分析器-光栅。所述线探测器单元中的至少四个毗邻的线与所述第一相位-光栅和所述第一分析器-光栅关联，并且所述线探测器单元中的至少四个毗邻的线与所述第二相位-光栅和所述第二分析器-光栅关联。所述光栅装置可以包括被布置在所述X射线源与所述相位-光栅结构之间的源-光栅结构，用于为经过所述源-光栅结构的所述X射线束提供足够的相干性，使得在经过所述相位-光栅结构之后，可以在所述分析器-光栅结构的位置处观察到干涉。 | ||||||
| 6 | X射线成像装置和X射线成像的方法 | CN201080004293.0 | 2010-01-15 | CN102272861B | 2014-07-30 | 向出大平; 高田一广; 福田一德; 渡边壮俊 |
| 一种尺寸减小的X射线成像装置和方法，能够获得考虑被检物的X射线吸收效果的微分相位图像或相位图像。X射线在空间上被分离，并且，使用其中X射线的透过量根据X射线穿过被检物时的位移而连续变化的第一衰减元件。通过使用第一衰减元件和第二衰减元件来计算透过率，第二衰减元件关于X射线的透过量在X射线的位移方向上的变化量或变化特性与第一衰减元件不同。使用透过率来计算被检物的微分相位图像等。 | ||||||
| 7 | 用于X射线的源光栅、用于X射线相衬图像的成像装置和X射线计算层析成像系统 | CN200980112851.2 | 2009-04-13 | CN102047344B | 2013-11-06 | 伊藤英之助; 市村好克; 中村高士; 今田彩 |
| 提供用于X射线等的源光栅，所述用于X射线等的源光栅可增强空间相干性并且被用于X射线相衬成像。用于X射线的源光栅被放置在X射线源和被检对象之间，并被用于X射线相衬成像。用于X射线的源光栅包含由以恒定的间隔(A′)周期性地布置的突出部分形成的多个子光栅(130、120)，所述突出部分各自具有屏蔽X射线(110)的厚度(140)。通过使多个子光栅进行偏移(1/2A′)来多层地层叠所述多个子光栅。 | ||||||
| 8 | X射线暗场成像系统和方法 | CN200910088662.8 | 2009-07-07 | CN101943668B | 2013-03-27 | 黄志峰; 陈志强; 张丽; 王振天; 邢宇翔; 赵自然; 肖永顺 |
| 一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。 | ||||||
| 9 | 用于微分相衬成像的校正方法 | CN201080026949.9 | 2010-06-10 | CN102802529A | 2012-11-28 | K·J·恩格尔; D·格勒; G·福格特米尔 |
| 本发明总体上涉及用于基于光栅的X射线微分相衬成像(DPCI)的校正方法以及能够有利地应用于X射线辐射照相术和层析成像的设备，用于对要扫描的样本对象或感兴趣解剖区域进行X射线DPCI。更确切地说，提出的发明提供了一种适当方式，有助于增强采集的X射线图像的图像质量，其受到相位缠绕的影响，例如，在Talbot-Lau型干涉仪的探测器平面中，在X射线束在相移分束光栅处衍射之后，所发射的所述X射线束的所得莫尔干涉图案中。这种问题被所获得的DPCI图像中的噪声进一步加重，如果所探测X射线图像中两个相邻像素之间的相位改变超过π弧度，就会发生这种问题，其受到对象局部相位梯度上线积分的影响，这种线积分诱发2π弧度的相位偏移误差，导致平行于所述线积分方向的显著线人为噪声。 | ||||||
| 10 | 微分相位对比成像系统的校准 | CN201080055691.5 | 2010-12-08 | CN102651994A | 2012-08-29 | G·福格特米尔; K·J·恩格尔; D·格勒; T·克勒; E·勒斯尔 |
| 本发明涉及X射线成像系统和用于对对象进行微分相位对比成像的方法。为了改进微分相位对比成像系统的校准和光栅的对准，提供一种X射线成像系统，包括提供至少部分相干的X射线辐射的X射线发射装置和包括全部沿着光轴设置的相位偏移衍射光栅、相位分析器光栅和X射线图像检测器的X射线检测装置。为了步进，光栅和/或X射线发射装置提供有相对于光轴彼此相对设置的至少两个致动器。为了校准，在无对象的情况下获取校准投射，其中所发射的X射线辐射或一个光栅以校准移位值逐步移位。为了检查，在有对象的情况下获得测量投射，其中所发射的X射线辐射或一个光栅以测量逐步移位，通过将测量投射与校准投射配准，将校准投射关联到每个测量投射。 | ||||||
| 11 | 放射线成像中使用的栅格和栅格制备方法,以及放射线成像系统 | CN201210024910.4 | 2012-01-31 | CN102626320A | 2012-08-08 | 金子泰久; 桥本温之 |
| 本发明涉及用于在放射线成像中使用的栅格和栅格制备方法，以及使用栅格的放射线成像系统。将X射线透射基板刻蚀以形成多个槽、多个X射线透过部和多个支持部。形成在X射线透过部之间的槽在Y方向上延伸并且排列在垂直于所述Y方向的X方向上。在该槽中，支持部从X射线透过部的侧面在X方向上突出并且交替地排列在Y方向上。当通过电镀用X射线吸收材料填充槽时，支持部支持X射线透过部。支持部避免了X射线透过部由于电镀液的波动以及X射线吸收材料的不均匀生长而落下。 | ||||||
| 12 | 用于放射线图像摄影的栅格及制造方法和放射线成像系统 | CN201110378444.5 | 2011-11-24 | CN102525541A | 2012-07-04 | 金子泰久 |
| 本发明涉及用于放射线图像摄影的栅格及制造方法和放射线成像系统。在第二栅格的制造方法中，在传送期间在条状的X射线透过片的顶面上形成X射线吸收层，而在其背面上形成缓冲层。之后，将X射线透过片卷绕成卷，以将X射线吸收层露在外侧。因此，X射线透过片和X射线吸收层由缓冲层粘结而层叠。将叠层结构的卷沿其径向方向切片成叠层片，该叠层片具有叠成多层的缓冲层、X射线透过片和X射线吸收层。在对叠层片的切片面进行抛光之后，由按压装置对叠层片进行按压，使得第二栅格弯曲成近似圆柱形状。 | ||||||
| 13 | 用于X射线的源光栅、用于X射线相衬图像的成像装置和X射线计算层析成像系统 | CN200980112851.2 | 2009-04-13 | CN102047344A | 2011-05-04 | 伊藤英之助; 市村好克; 中村高士; 今田彩 |
| 提供用于X射线等的源光栅，所述用于X射线等的源光栅可增强空间相干性并且被用于X射线相衬成像。用于X射线的源光栅被放置在X射线源和被检对象之间，并被用于X射线相衬成像。用于X射线的源光栅包含由以恒定的间隔(A′)周期性地布置的突出部分形成的多个子光栅(130、120)，所述突出部分各自具有屏蔽X射线(110)的厚度(140)。通过使多个子光栅进行偏移(1/2A′)来多层地层叠所述多个子光栅。 | ||||||
| 14 | X射线微分干涉相衬成像系统 | CN200810216469.3 | 2008-10-10 | CN101413905B | 2011-03-16 | 牛憨笨; 郭金川; 刘鑫 |
| 本发明涉及一种X射线微分干涉相衬成像系统。适用于医学和无损探伤等领域。系统组成中按照X射线传播方向包括X射线管、滤波器、样品台、相位光栅及X射线探测器，系统中还包括微机和配套的系统管理软件，关键在于：①系统中采用的X射线管中具有呈平行线状分布的、相干高能X射线发射体，发射角为30—50度。②所采用的X射线探测器具有分析光栅和探测器的双重功能，基本组成中包括平行线阵列式X射线转换屏、中继光学系统和面阵探测器或包括平行线阵列式光电导X射线探测器，X射线转换屏或光电导X射线探测器其结构组成和尺寸与上述X射线管中呈平行线状分布的、相干高能X光源及相位光栅对应配套。 | ||||||
| 15 | 尤其用于高温反应堆的核燃料颗粒的无损表征方法 | CN200780034846.5 | 2007-07-18 | CN101517401A | 2009-08-26 | J·班彻特; D·蒂西耶 |
| 本发明涉及一种用于高温反应堆的核燃料颗粒的无损表征方法。本方法的目标是表征包括通过分界面彼此分离的多个叠加层的元件(21)。所述方法至少包括以下步骤：利用从源(13)发射的辐射(15)照射所述元件(21)；在探测器(17)上采集透射穿过所述元件(21)的辐射(23)，该透射辐射在所述探测器(17)上形成所述元件(21)的实验图像，所述探测器(17)被放置在距所述元件(21)的某个距离处以使得在实验图像上出现在层之间的分界面处的干涉条纹；通过基于所述实验图像进行计算来确定至少一个给定层的至少一种物理特性的近似值，通过最小化所述元件(21)的所述实验图像和至少一部分所述实验图像的模拟图像之间的偏差来实现所述确定步骤。 | ||||||
| 16 | 用于相衬成像的X射线干涉仪 | CN200780026455.9 | 2007-06-28 | CN101495853A | 2009-07-29 | C·戴维; F·普费弗 |
| 本发明涉及一种用于从目标获得定量的x射线影像的x射线干涉仪，尤其是硬x射线干涉仪，包含：a)x射线源，优选的是标准多色x射线源，b)非布喇格晶体的衍射分束光栅，最好采用透射几何，c)拥有多个单独像素的空间调制探测灵敏度的位置灵敏探测器；d)用于记录相位步进法中探测器影像的装置；e)用于在一系列的影像中评估每个像素强度的装置，以把每个单独的像素的目标特性鉴别为吸收主导的像素和/或差分相衬主导的像素和/或x射线散射主导的像素。 | ||||||
| 17 | 用于产生相位对比照片的X射线设备的焦点/检测器系统 | CN200710007953.0 | 2007-02-01 | CN101011252A | 2007-08-08 | 比约恩·海斯曼; 埃克哈德·亨普尔; 斯蒂芬·波普斯库 |
| 本发明涉及一种用于产生投影的或断层造影的相位对比照片的X射线设备的焦点/检测器系统(2，3)，其至少由下述部分组成：辐射源，产生一个射线相干的X射线(Si)的场，光栅/检测器装置，带有相位光栅(G1)和检测器(D1)，该检测器带有多个平面布置的检测器元件(Ei)，其中，所述检测器元件(Ei)由多个伸长的检测带(DSx)构成，这些检测带平行于所述相位光栅(G1)的光栅刻线地取向。此外，本发明还涉及这种焦点/检测器系统(2，3)在X射线系统或C形弓架设备或CT系统中的应用，以及利用这种焦点/检测器系统来产生检查对象(7)、优选是患者(P)的投影的和断层造影的X射线照片的方法。 | ||||||
| 18 | 高分辨率成像 | CN200580021066.8 | 2005-04-15 | CN1985188A | 2007-06-20 | J·M·罗登伯格; H·M·L·福尔克纳 |
| 公开了一种提供可用于重建目标物体区域的高分辨率图像的图像数据的方法和装置。该方法包括以下步骤，从辐射源发出至目标物体的入射辐射；通过至少一个检测器来检测由该目标物体散射的辐射强度；生成对应所检测强度的图像数据，而无需相对于该目标物体对入射辐射或目标物体后的光圈进行高分辨率的定位。 | ||||||
| 19 | 多方向相衬X射线成像 | CN201380006588.5 | 2013-01-22 | CN104066375B | 2017-08-11 | E·勒斯尔; T·克勒 |
| 本发明涉及对象的相衬X射线成像。为了提供在多于一个方向的相衬信息，提供一种X射线成像系统，所述X射线成像系统包括X射线源(12)、X射线探测器装置(16)、以及具有相位‑光栅结构(46)和分析器‑光栅结构(48)的光栅装置(18)。所述X射线探测器装置包括在第一方向平行于彼此的至少八个线探测器单元(40)，所述至少八个线探测器单元在垂直于所述第一方向的方向(44)线性延伸。所述光栅装置可以包括被布置在所述X射线源与所述相位‑光栅结构之间的源‑光栅结构，用于为经过所述源‑光栅结构的所述X射线束提供足够的相干性，使得在经过所述相位‑光栅结构之后，可以在所述分析器‑光栅结构的位置处观察到干涉。 | ||||||
| 20 | 具有聚焦偏转结构板的微分相位对比成像 | CN201280017003.5 | 2012-01-30 | CN103460301B | 2017-08-11 | E·勒斯尔; T·克勒 |
| 本发明涉及X射线微分相位对比成像，尤其涉及用于X射线微分相位对比成像的偏转装置。为了提供剂量效率得到提高的微分相位对比成像，提供了一种用于X射线微分相位对比成像的偏转装置（28），包括偏转结构（41），其具有第一多个（44）第一区域（46）和第二多个（48）第二区域（50）。提供所述第一区域以改变X射线辐射的相位和/或振幅；并且其中，所述第二区域是X射线透明的。周期性地布置第一和第二区域，使得在横截面中，所述偏转结构具备布置为使得以形成于作为凸起（56）提供的第一区域之间的槽状凹部（54）的形式来提供所述第二区域的剖面。相邻凸起形成部分包封布置于其间的相应凹部的相应侧表面（58)。每个凹部的侧表面都在所述凹部的整个深度（62）上具有变化的距离（60）。 | ||||||
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