技术领域
[0001] 本实用新型
实施例涉及通信测试技术领域，尤其涉及一种规定协议的通信质量测试系统。
背景技术
[0002] 随着通信技术的发展和市场需求，越来越多设备(
汽车，手机，
家用电器，工业电器等)需要接入通信网络(非授权频段)，以实现更加便于人们生活的功能属性。
[0003]
物联网的快速发展对无线通信技术提出了更高的要求，专为低带宽、低功耗、远距离、大量连接的物联网应用而设计的LPWAN(low-power Wide-Area Network，低功耗广域网)也快速兴起。LoRa技术(远距离低功耗的无线技术) 作为其典型代表之一，也是最有发展前景的低功耗广域网通信技术。LoRa技术都有
覆盖广、连接多、速率低、成本低、功耗少等特点，适合低功耗物联网应用的特点。
[0004] 目前在行业中LoRa应用广泛，同时对具有LoRa功能模
块的设备的测试显得越来越重要。市场上现在对设备的测试方案仍是常见的测试设备堆叠，即各种大型测试设备搭建起来的一个测试平台，不但测试设备成本非常高，同时不利于设备运输以后维护，在
信号收发之间不能灵活切换等。对于应用越来越广的LoRa应用，在测试系统中，高集成度低成本轻量化的要求变得日益强烈。实用新型内容
[0005] 本实用新型实施例提供一种规定协议的通信质量测试系统，可以实现基于嵌入式
接口转换，对待测试设备的通信质量进行测试更加快捷，准确，控制性强的效果。
[0006] 第一方面，本实用新型实施例提供了一种规定协议的通信质量测试系统，所述规定协议的通信质量测试系统包括：
[0007] 协议提供模块，与待测设备连接，用于对所述待测设备提供通信协议；
[0008] 控
制模块，与所述协议提供模块相连，用于按照所述通信协议，
控制信号发射模块发射第一测试信号；
[0009] 所述信号发射模块，通过
开关组件与射频端口连接，并通过所述射频端口发送至所述待测设备；
[0010] 开关
控制模块，与所述开关组件连接，用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述射频端口与所述信号发射模块的连接切换至与
频谱分析模块连接；
[0011] 所述射频端口，还用于获取所述待测设备的针对所述第一测试信号接收到的接收结果反馈信号，并将所述接收结果反馈
信号传输到所述频谱分析模块；
[0012] 所述频谱分析模块，用于对所述接收结果反馈信号进行频谱分析，得到所述接收结果反馈信号频谱分析结果；
[0013] 所述控制模块，与所述频谱分析模块相连，用于将所述接收结果反馈信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0014] 进一步的，
[0015] 所述射频端口，还用于接收所述待测设备发射的第二测试信号；
[0016] 所述频谱分析模块，还用于对所述第二测试信号进行频谱分析，得到第二测试信号频谱分析结果；
[0017] 所述控制模块，还用于将所述第二测试信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0018] 进一步的，
[0019] 所述开关控制模块，还用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述信号发射模块与所述频谱分析模块连接，并均与所述射频端口断开连接；
[0020] 所述控制模块，还用于控制所述信号发射模块发出第三测试信号，并接收所述频谱分析模块对所述第三测试信号频谱分析结果，并发送给显示器进行显示。
[0021] 进一步的，在所述信号发射模块与所述开关控制模块之间，设置隔直器和
衰减器，用于对所述信号发射模块发出的信号进行滤除杂波和降低功率处理；
[0022] 在所述频谱分析模块与所述开关控制模块之间，设置隔直器，用于对所述信号发射模块发出的信号进行滤除杂波处理。
[0023] 进一步的，所述开关组件包括第一信号切换开关、第二信号切换开关和第三信号切换开关；
[0024] 所述第一信号切换开关的公共端与所述信号发射模块连接；所述第一信号切换开关的第二端与所述第二信号切换开关的第一端连接；所述第二信号切换开关的公共端与所述射频端口连接；
[0025] 所述第二信号切换开关的第二端与所述第三信号切换开关的第一端连接；所述第三信号切换开关的公共端与所述频谱分析模块连接；
[0026] 所述第一信号切换开关的第一端与所述第三信号切换开关的第二端连接；
[0027] 所述开关控制模块具体用于，
[0028] 控制所述第一信号切换开关的公共端与第二端连接，控制所述第二信号切换开关的公共端与第一端连接，以使所述信号发射模块与所述射频端口连接；
[0029] 控制所述第二信号切换开关的公共端与第二端连接，控制所述第三信号切换开关的公共端与第一端连接，以使所述频谱分析模块与所述射频端口连接，并使所述信号发射模块与所述射频端口断开连接；
[0030] 控制所述第一信号切换开关的公共端与第一端连接，控制所述第三信号切换开关的公共端与第二端连接，以使所述信号发射模块与所述频谱分析模块连接，并均与所述射频端口断开连接。
[0031] 进一步的，所述协议提供模块包括至少一块印制
电路板，所述印制
电路板上设置有1276芯片，所述1276芯片用于提供LoRa协议，或者提供FSK (Frequency-shift keying，频移键控)协议。
[0032] 第二方面，本实用新型实施例提供了一种规定协议的通信质量测试方法，所述通信质量测试方法包括：
[0033] 通过开关控制模块，控制开关组件的连接状态，以使信号发射模块与射频端口连接；
[0034] 控制信号发射模块通过射频端口向待测设备发送第一测试信号；
[0035] 通过开关控制模块，控制开关组件的连接状态，以使所述射频端口与频谱分析模块连接，并且所述射频端口与所述信号发射模块断开；
[0036] 通过频谱分析模块，获取所述测试设备对所述接收结果反馈信号进行频谱分析，得到所述接收结果反馈信号频谱分析结果；并将所述接收结果反馈信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0037] 进一步的，在所有步骤之前或者之后，所述方法还包括：
[0038] 通过开关控制模块，控制开关组件的连接状态，以使所述射频端口与频谱分析模块连接，并且所述射频端口与所述信号发射模块断开；
[0039] 通过所述射频端口接收所述待测设备发射的第二测试信号；
[0040] 通过所述频谱分析模块，对所述第二测试信号进行频谱分析，得到第二测试信号频谱分析结果；并将所述第二测试信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0041] 进一步的，在所有步骤之前或者之后，所述方法还包括：
[0042] 通过开关控制模块，还用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述信号发射模块与所述频谱分析模块连接，并均与所述射频端口断开连接；
[0043] 控制信号发射模块通过射频端口发送第三测试信号；
[0044] 通过所述频谱分析模块，对所述第三测试信号进行频谱分析，得到第三测试信号频谱分析结果；并将所述第三测试信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0045] 进一步的，所述方法还包括：
[0046] 通过外接设备，获取工作人员的操作指令，根据所述操作指令确定协议提供模块所提供的协议类型，所述协议类型至少包括LoRa协议或FSK (Frequency-shift keying，频移键控)协议。
[0047] 本实用新型实施例所提供的技术方案，协议提供模块，与待测设备连接，用于对所述待测设备提供通信协议；控制模块，与所述协议提供模块相连，用于按照所述通信协议，控制信号发射模块发射第一测试信号；所述信号发射模块，通过开关组件与射频端口连接，并通过所述射频端口发送至所述待测设备；开关控制模块，与所述开关组件连接，用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述射频端口与所述信号发射模块的连接切换至与频谱分析模块连接；所述射频端口，还用于获取所述待测设备的针对所述第一测试信号接收到的接收结果反馈信号，并将所述接收结果反馈信号传输到所述频谱分析模块；所述频谱分析模块，用于对所述接收结果反馈信号进行频谱分析，得到所述接收结果反馈信号频谱分析结果；所述控制模块，与所述频谱分析模块相连，用于将所述接收结果反馈信号频谱分析结果发送给显示器进行显示，可以实现基于嵌入式接口转换，对待测试设备的通信质量进行测试更加快捷，准确，控制性强的效果。
附图说明
[0048] 图1是本实用新型实施例一提供的规定协议的通信质量测试系统的结构
框图；
[0049] 图2是本是本实用新型实施例一提供的开关组件连接关系示意图。
具体实施方式
[0050] 下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。
[0051] 在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为
流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理，但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
[0052] 实施例一
[0053] 图1是本实用新型实施例一提供的规定协议的通信质量测试系统的结构框图，本实施例可适用对于通信质量进行测试的情况，该系统可以由
软件和/或
硬件的方式来实现。
[0054] 如图1所示，所述规定协议的通信质量测试系统包括：
[0055] 协议提供模块110，与待测设备连接，用于对所述待测设备提供通信协议；
[0056] 控制模块120，与所述协议提供模块110相连，用于按照所述通信协议，控制信号发射模块130发射第一测试信号；
[0057] 所述信号发射模块130，通过开关组件140与射频端口150连接，并通过所述射频端口150发送至所述待测设备；
[0058] 开关控制模块160，与所述开关组件140连接，用于控制所述开关组件140 的连接状态，以使所述射频端口150与所述信号发射模块130的连接切换至与频谱分析模块170连接；
[0059] 所述射频端口150，还用于获取所述待测设备的针对所述第一测试信号接收到的接收结果反馈信号，并将所述接收结果反馈信号传输到所述频谱分析模块170；
[0060] 所述频谱分析模块170，用于对所述接收结果反馈信号进行频谱分析，得到所述接收结果反馈信号频谱分析结果；
[0061] 所述控制模块120，与所述频谱分析模块170相连，用于将所述接收结果反馈信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0062] 协议提供模块，与待测设备连接，用于对所述待测设备提供通信协议。其中，协议提供模块所提供的协议可以是用来使待测设备在接收到相应的信号后能够按照该协议来进行接收和译码，也可以是用来使待测设备按照该协议发射信号。
[0063] 在本实施例中，可选的，所述协议提供模块包括至少一块印制电路板，所述印制电路板上设置有1276芯片，所述1276芯片用于提供LoRa协议，或者提供FSK(Frequency-shift keying，频移键控)协议。其中，1276芯片时用来提供LoRa协议或者提供FSK协议的芯片，可以通过控制在两种协议中自由切换。这样设置可以有利于在非授权频段的通信网络内进行设别的接受以及发射信号性能的测试。
[0064] 控制模块，与所述协议提供模块相连，用于按照所述通信协议，控制信号发射模块发射第一测试信号。其中，控制模块可以是电脑、手机等智能终端，可以用来控制信号发射模块所发射信号的一些参数，如
频率、
能量大小等。控制模块通过获取通信协议，并按照通信协议控制信号发射模块发射第一测试信号。其中第一测试信号用于获取待测设备的接收结果反馈信号，通过对两个信号的参数进行对比，就可以确定当前待测设备的通信质量是否符合要求，从而达到对待测设备的通信质量进行测试的效果。
[0065] 其中，控制模块可以通过一拖多的USB接口与信号发射模块。频谱分析模块、协议提供模块以及开关控制模块进行连接。其中，协议提供模块的印制电路板上的TTL电平(Transistor Transistor Logic，即晶体管-晶体管逻辑)采用专业TTL电平转接头连接到控制模块。
[0066] 所述信号发射模块，通过开关组件与射频端口连接，并通过所述射频端口发送至所述待测设备。其中开关组件可以用来控制信号发射模块与射频端口之间的连接或者断开。其中，通过射频端口与待测设备连接后，就可以将视频设备所发射的
射频信号传输到待测设备中。
[0067] 开关控制模块，与所述开关组件连接，用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述射频端口与所述信号发射模块的连接切换至与频谱分析模块连接。其中，开关控制模块可以附属于控制模块，也可以单独设置，开关控制模块用于控制开关组件的通断，从而改变射频端口、信号发射模块的连接以及频谱分析模块三者之间的连接关系。通过开关控制模块控制开关组件，使得射频端口与频谱分析模块连接，这就使得第一测试信号发送到待测设备后，通过改变连接状态，使得频谱分析模块接收到待测设备针对第一测试信号所发射的接受结果反馈信号。
[0068] 所述射频端口，还用于获取所述待测设备的针对所述第一测试信号接收到的接收结果反馈信号，并将所述接收结果反馈信号传输到所述频谱分析模块。
[0069] 所述频谱分析模块，用于对所述接收结果反馈信号进行频谱分析，得到所述接收结果反馈信号频谱分析结果。
[0070] 其中，频谱分析模块可以通过对接受结果反馈信号的频谱分析，得到接受结果反馈信号的参数，通过将其与第一发射信号的参数进行对比，就可以得到待测设备的通信质量。
[0071] 所述控制模块，与所述频谱分析模块相连，用于将所述接收结果反馈信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。这样设置的好处是可以更加直观的将通信质量的测试结果展现出来，便于工作人员对其进行识别和确认。
[0072] 本实用新型实施例所提供的技术方案，协议提供模块，与待测设备连接，用于对所述待测设备提供通信协议；控制模块，与所述协议提供模块相连，用于按照所述通信协议，控制信号发射模块发射第一测试信号；所述信号发射模块，通过开关组件与射频端口连接，并通过所述射频端口发送至所述待测设备；开关控制模块，与所述开关组件连接，用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述射频端口与所述信号发射模块的连接切换至与频谱分析模块连接；所述射频端口，还用于获取所述待测设备的针对所述第一测试信号接收到的接收结果反馈信号，并将所述接收结果反馈信号传输到所述频谱分析模块；所述频谱分析模块，用于对所述接收结果反馈信号进行频谱分析，得到所述接收结果反馈信号频谱分析结果；所述控制模块，与所述频谱分析模块相连，用于将所述接收结果反馈信号频谱分析结果发送给显示器进行显示，可以实现基于嵌入式接口转换，对待测试设备的通信质量进行测试更加快捷，准确，控制性强的效果。
[0073] 在上述技术方案的
基础上，在所述信号发射模块与所述开关控制模块之间，设置隔直器和衰减器，用于对所述信号发射模块发出的信号进行滤除杂波和降低功率处理；在所述频谱分析模块与所述开关控制模块之间，设置隔直器，用于对所述信号发射模块发出的信号进行滤除杂波处理。这样设置的好处是可以提高所发出或者所接收的信号质量，避免杂波干扰，影响测试系统的准确性。其中降低功率处理是为了能够是信号的功率能够在待测设备接受范围内，以及避免功率过高造成的溢出或者过低反映不明显影响测试系统的准确性。
[0074] 在上述技术方案的基础上，可选的，所述系统还用于：所述射频端口，还用于接收所述待测设备发射的第二测试信号；所述频谱分析模块，还用于对所述第二测试信号进行频谱分析，得到第二测试信号频谱分析结果；所述控制模块，还用于将所述第二测试信号频谱分析结果发送给显示器进行显示。
[0075] 其中第二测试信号有待测设备发出，本技术方案可以实现对待测设备所发射的信号质量进行测试。
[0076] 在上述技术方案的基础上，可选的，所述系统还用于：所述开关控制模块，还用于控制所述开关组件的连接状态，以使所述信号发射模块与所述频谱分析模块连接，并均与所述射频端口断开连接；所述控制模块，还用于控制所述信号发射模块发出第三测试信号，并接收所述频谱分析模块对所述第三测试信号频谱分析结果，并发送给显示器进行显示。
[0077] 其中，第三测试信号只是从系统内部进行传输，这样设置可以用来实现对系统自身的信号传输质量进行测试，避免内部由于布线结构以及布线环境，和电气元件之间的相互干扰，导致信号在传输过程中收到干扰的情况出现。这样就可以用于自检，也可以用于与第一个方案进行结合来实现作为对比数据，提高系统测试过程中的准确性。
[0078] 图2是本是本实用新型实施例一提供的开关组件连接关系示意图。如图2 所示，开关组件的连接方式和工作原理包括：
[0079] 所述开关组件包括第一信号切换开关、第二信号切换开关和第三信号切换开关；
[0080] 所述第一信号切换开关的公共端与所述信号发射模块连接；所述第一信号切换开关的第二端与所述第二信号切换开关的第一端连接；所述第二信号切换开关的公共端与所述射频端口连接；
[0081] 所述第二信号切换开关的第二端与所述第三信号切换开关的第一端连接；所述第三信号切换开关的公共端与所述频谱分析模块连接；
[0082] 所述第一信号切换开关的第一端与所述第三信号切换开关的第二端连接；
[0083] 所述开关控制模块具体用于，
[0084] 控制所述第一信号切换开关的公共端与第二端连接，控制所述第二信号切换开关的公共端与第一端连接，以使所述信号发射模块与所述射频端口连接；
[0085] 控制所述第二信号切换开关的公共端与第二端连接，控制所述第三信号切换开关的公共端与第一端连接，以使所述频谱分析模块与所述射频端口连接，并使所述信号发射模块与所述射频端口断开连接；
[0086] 控制所述第一信号切换开关的公共端与第一端连接，控制所述第三信号切换开关的公共端与第二端连接，以使所述信号发射模块与所述频谱分析模块连接，并均与所述射频端口断开连接。
[0087] 其中，每个信号切换开关的公共端为三个接线端的中间一个接线端，第一端为左接线端，第二端为右接线端，由于可以根据文字表述来直接确定，所以没有在图2中进行具体标记。
[0088] 这样设置的好处是测试信号的传输可以实现对用通道进行传输的效果，精简了测试系统内部的布线，简化了系统内部布线方式，更加简便易行。
[0089] 值得说明的是，本实用新型实施例所提供的单刀双掷开关为信号切换开关，如果采用其他类型的单刀双掷开关、单刀多掷开关也可以实现本实施例所提供的技术方案，此处不再赘述。
[0090] 注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的
权利要求范围决定。
