放射源定位系统及方法
专利汇可以提供放射源定位系统及方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 放射源 定位 系统及方法，其中，系统包括：探测器，探测器包括薄片闪烁晶体、薄片阻挡片和光电探测器，薄片阻挡片与薄片闪烁晶体的面积最大的两面中任一面贴合，光电探测器与薄片闪烁晶体的面积最大的两面外任一面耦合；旋转 云 台，用于控制探测器根据预设速度旋转；采集及处理中心在探测器通过旋转云台进行360度旋转时用于获取探测器的 角 度-计数率响应曲线，并得到计数率最大时面积最大的两面的法线，以根据薄片阻挡片指向薄片闪烁晶体的法线方向得到放射源方向。该系统可以根据薄片阻挡片指向薄片闪烁晶体的法线方向得到放射源方向，找到发射源，有效提高探测灵敏度，扩大定位 视野 ，避免盲目搜索，提高放射源搜寻的效率。，下面是放射源定位系统及方法专利的具体信息内容。
1.一种放射源定位系统，其特征在于，包括：
探测器，所述探测器包括薄片闪烁晶体、薄片阻挡片和光电探测器，所述薄片阻挡片与所述薄片闪烁晶体的面积最大的两面中任一面贴合，所述光电探测器与所述薄片闪烁晶体的面积最大的两面外任一面耦合；
旋转云台，用于控制所述探测器根据预设速度旋转；以及
采集及处理中心，在所述探测器通过所述旋转云台进行360度旋转时，用于获取所述探测器的角度-计数率响应曲线，并得到计数率最大时所述面积最大的两面的法线，以根据所述薄片阻挡片指向所述薄片闪烁晶体的法线方向得到放射源方向。
2.根据权利要求1所述的放射源定位系统，其特征在于，所述薄片闪烁晶体的厚度小于预设阈值，所述预设阈值根据长和宽得到。
3.根据权利要求1所述的放射源定位系统，其特征在于，所述薄片闪烁晶体的材料包括有机闪烁体和无机闪烁体。
4.根据权利要求1所述的放射源定位系统，其特征在于，所述薄片阻挡片为单个密度大于或等于1g/cm3的材料。
5.根据权利要求1所述的放射源定位系统，其特征在于，所述探测器的角度-计数率响应曲线通过多个角度采集数据拟合方式获取计数率最大点，使旋转角度小于360度。
6.一种放射源定位方法，其特征在于，包括以下步骤：
根据预设速度控制探测器360度旋转；
获取所述探测器的角度-计数率响应曲线；
在计数率最大时，获取薄片闪烁晶体的面积最大的两面的法线；以及
根据薄片阻挡片指向所述薄片闪烁晶体的法线方向得到放射源方向。
7.根据权利要求6所述的放射源定位方法，其特征在于，所述薄片闪烁晶体的厚度小于预设阈值，所述预设阈值根据长和宽得到。
8.根据权利要求6所述的放射源定位方法，其特征在于，所述薄片闪烁晶体的材料包括有机闪烁体和无机闪烁体。
9.根据权利要求6所述的放射源定位方法，其特征在于，所述薄片阻挡片为单个密度大于或等于1g/cm3的材料。
10.根据权利要求6所述的放射源定位方法，其特征在于，所述探测器的角度-计数率响应曲线通过多个角度采集数据拟合方式获取计数率最大点，使旋转角度小于360度。
放射源定位系统及方法
技术领域
背景技术
病变或破坏细胞组织，甚至对人体造成伤害，具有很大的危险性。因此，需要对放射源进行
严格管理和监控，当放射源发生丢失、泄露或被盗事件时，需要对放射源进行快速寻找，以
降低其危害。
方法较为盲目，过程耗时较长，降低放射源搜寻的效率，而且寻源人员容易近距离受到放射
源辐射，造成额外剂量照射。虽然具有成像能力的探测器如编码板成像探测器、用于伽马放
射源定位仪的准直器和康普顿相机也被开发利用，但是这些探测器探测灵敏度较低、成本
高。
发明内容
闪烁晶体的面积最大的两面中任一面贴合，所述光电探测器与所述薄片闪烁晶体的面积最
大的两面外任一面耦合；旋转云台，用于控制所述探测器根据预设速度旋转；采集及处理中
心，在所述探测器通过所述旋转云台进行360度旋转时，用于获取所述探测器的角度-计数
率响应曲线，并得到计数率最大时所述面积最大的两面的法线，以根据所述薄片阻挡片指
向所述薄片闪烁晶体的法线方向得到放射源方向。
方向得到放射源方向，360度寻找放射源，有效提高探测灵敏度，并且定位过程简单，扩大定
位视野，避免盲目搜索，进一步提高放射源搜寻的效率，降低制作成本。
数率最大时，获取薄片闪烁晶体的面积最大的两面的法线；根据薄片阻挡片指向所述薄片
闪烁晶体的法线方向得到放射源方向。
方向得到放射源方向，360度寻找放射源，有效提高探测灵敏度，并且定位过程简单，扩大定
位视野，避免盲目搜索，进一步提高放射源搜寻的效率，降低制作成本。
具体实施方式
述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
晶体101的面积最大的两面外任一面耦合；旋转云台200用于控制探测器100根据预设速度
旋转。采集及处理中心，在探测器100通过旋转云台200进行360度旋转时，用于获取探测器
100的角度-计数率响应曲线，并得到计数率最大时面积最大的两面的法线，以根据薄片阻
挡片102指向薄片闪烁晶体101的法线方向得到放射源方向。本发明实施例的系统10可以根
据薄片阻挡片102指向薄片闪烁晶体101的法线方向得到放射源方向，从而提高探测灵敏
度，扩大定位视野，避免盲目搜索，提高放射源搜寻的效率。
103构成。本发明实施例的定位系统10可以通过旋转云台200进行360度旋转，从而采集及处
理中心根据获取探测器100的角度-计数率响应曲线，探测器的角度-计数率响应曲线可以
通过多个角度采集数据拟合方式，以获取计数率最大点，其中，旋转角度小于360度，角度-
计数率响应曲线如图2所示，从而得到计数率最大时面积最大的两面的法线，以根据薄片阻
挡片102指向薄片闪烁晶体101的法线方向得到放射源方向。本发明实施例的系统10制作简
单，而且成本低廉；定位过程简单快速，有效避免盲目搜索；不仅可以实现较高灵敏度，而且
还可以360度寻找发射源。
且还可以与其它高定位精度、低探测效率的放射源定位系统相结合使用，进一步提高探测
的精确度，提高探测的效率。
体的法线方向得到放射源方向，360度寻找放射源，有效提高探测灵敏度，并且定位过程简
单，扩大定位视野，避免盲目搜索，进一步提高放射源搜寻的效率，降低制作成本。
体的法线方向得到放射源方向，360度寻找放射源，有效提高探测灵敏度，并且定位过程简
单，扩大定位视野，避免盲目搜索，进一步提高放射源搜寻的效率，降低制作成本。
隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三
个等，除非另有明确具体的限定。
部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员
而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示
第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第
一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不
必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任
一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技
术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结
合和组合。
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