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液晶显示器临界点不良测试方法

阅读：531发布：2020-05-11

专利汇可以提供液晶显示器临界点不良测试方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本发明涉及一种液晶显示器临界点不良测试方法，包括步骤：向液晶显示器输入不同于正常工作范围的检测用电压；采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述检测图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。本发明通过输入不同于正常工作范围的检测用电压，从而使不易发现的电气性不良和目视性不良得以显现，可以有效检测出液晶显示器的临界点不良。，下面是液晶显示器临界点不良测试方法专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种液晶显示器临界点不良测试方法，其特征在于，包括：
步骤1、向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压V GH，所述检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％；或
向液晶显示器输入检测用栅极负向关断电压V GL，所述检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％；或
向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压V GL，所述检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％，所述检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％；
步骤2、采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述显示图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。

说明书全文

液晶显示器临界点不良测试方法

技术领域

[0001] 本发明涉及一种液晶显示器测试方法，尤其是一种液晶显示器临界点不良测试方法。

背景技术

[0002] 液晶显示器在出厂之前，都需要经过严格的检测，例如在液晶显示器测试阶段需要进行常规电信号图形检测。常规电信号图形检测方法所利用的电信号一般为按照VESA标准设定的常规信号程序，信号的电压值设定以出厂时实际工作电压为基准，所以液晶显示器内液晶分子按照接近设计值的理想工作状态进行偏转。

[0003] 这样虽然可以最大限度的有针对性地模拟实际工作情况，但是对于相当一部分接近临界点的不良不能有效检出，例如液晶分子偏转不良，或者薄膜晶体管(TFT)电特性不良等。由于在临界点范围的电压环境下这种不良现象若隐若现，因此这部分不良可能在最初检测时并不能立即显现，但在一段时间使用后或外界环境发生变化时，这部分不良会出现，会造成后续工序的困难，或给购买者造成损失。

发明内容

[0004] 本发明的目的是提供一种液晶显示器临界点不良测试方法，通过输入不同于正常工作范围的检测用电压，可以有效检测出液晶显示器的临界点不良。

[0005] 为实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示器临界点不良测试方法，包括： [0006] 步骤1、向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH，所述检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％；或

[0007] 向液晶显示器输入检测用栅极负向关断电压VGL，所述检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％；或

[0008] 向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压VGL，所述检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％，所述检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％； [0009] 步骤2、采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述显示图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。

[0010] 本发明液晶显示器临界点不良测试方法通过输入不同于正常工作范围的检测用栅极电压，使不易发现的电气性不良和目视性不良得以显现，可以有效检测出液晶显示器的临界点不良。

[0011] 下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。 [0012] 附图说明

[0013] 图1为本发明液晶显示器临界点不良测试方法的流程图；

[0014] 图2为本发明第一实施例的示意图；

[0015] 图3为本发明第二实施例的示意图

[0016] 图4为本发明第三实施例的示意图。

[0017] 具体实施方式

[0018] 图1为本发明液晶显示器临界点不良测试方法的流程图，具体为： [0019] 步骤1、向液晶显示器输入不同于正常工作范围的检测用电压值； [0020] 步骤2、采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述检测图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。

[0021] 本发明通过输入不同于正常工作范围的检测用电压以有效检测液晶显示器的临界点不良，具体地，输入不同于正常工作范围的检测用电压是向液晶显示器输入检测用栅极电压，通过恶化沟道导通条件，改变载流子电流流量，从而获得液晶显示器临界点不良结果，即向TFT输入检测用栅极正向开启电压VGH，使检测用栅极正向开启电压VGH小于工作用栅极正向完全开启电压VON，或向TFT输入检测用栅极负向关断电压VGL，使检测用栅极负向关断电压VGL大于工作用栅极负向完全关断电压VOFF，或者上述的组合。进一步地，该检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％，该检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％。

[0022] 本实施例液晶显示器临界点不良测试方法的工作原理为：在对液晶面板施加正常检测电信号时，检测图形为0辉阶至255辉阶、红/绿/蓝的单色、及由红/绿/蓝三色混色而成的灰色构成的检测图形组。其中主要包括：L0辉阶全黑画面，L63辉阶深灰画面，L127辉阶中灰画面，L255辉阶白色画面，L127辉阶红色画面，L127辉阶绿色画面，L127辉阶蓝色画面等。在输入正常检测信号时，由于输入的是栅极完全开启和完全关断信号，这样只在最优条件下测试了TFT器件性能，而一些性能不佳的显示屏没有异常表现，因而很容易造成漏判，给下一工序及最终用户带来隐患和损失。本发明通过降低栅极开启电压、提高栅极关断电压，改变了电场条件，使得开启和关断功能并不理想的TFT器件在改变后的电场条件发生异常开启及关断。由于信号电压Vd仅在栅极电压开启时才能正常传输，液晶分子在信号电压Vd与公共极电压Vcom电压之间形成的电场控制下进行偏转。当栅极开启电压降低或栅极关断电压提高到不能正常开启及关断时，该区域的信号电压Vd不能正常传输，因而造成信号电压Vd与公共极电压Vcom电压之间形成的电场电压异常，使得该区域的液晶分子偏转异常，从而造成正常偏转液晶分子和偏转异常的液晶分子之间的反转节拍不一致。对液晶面板而言，原本应为同一均一度的液晶面板透射光在液晶分子偏转正常区域和液晶分子偏转异常区域间的差异明显显现，因而锐化了液晶分子偏转正常区域和液晶分子偏转异常区域间的透光差异，最终会使液晶显示灰度均一度锐化变化，使本发明实现对临界点不良的检测。

[0023] 第一实施例

[0024] 图2为本发明第一实施例的示意图。本实施例液晶显示器临界点不良测试方法具体为：向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压VGL，其中检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％，检测用栅极负向关断电压VGL等于工作用栅极完全负向关断电压VOFF；采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述检测图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。 [0025] 具体地，本实施例测试前，需要对液晶显示器面板信号输入源印刷电路板(PCB)进行改造，切断PCB原有的栅极正向完全开启电压VON和栅极负向完全关断电压VOFF输入信号端点，用引线将该二信号输入端点引出，连接至信号发生器的相应的输出端点，设定信号发生器检测用栅极正向开启电压VGH，使检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％，并输入PCB板，从而改变液晶显示器面板信号；之后采集液晶显示器输出的显示图形，判断该检测图形的均一度锐化程度，在正常(工作)电压输入情况下，液晶显示器面板的显示均一度锐化程度在1％-3.5％之间(50％灰度条件)，在本实施例输入的检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％情况下，液晶显示器面板的显示均一度会明显锐化，当液晶显示器存在临界点不良时，该检测图形的均一度锐化程度会大于3.5％。因此，本实施例通过判断检测图形的均一度锐化程度可以获得液晶显示器临界点不良结果。图形均一度锐化程度检测采用现有的检测手段和方法，不再赘述。

[0026] 正常检测时，栅源电压差VGS与阈值电压VTH之差VGS-VTH、栅源电压差VDS 均工作在线形放大区，成正相关系。沟道本身改变导致液晶面板电器件、电性能改变，进一步引起液晶分子偏转正常区域和液晶分子偏转异常区域间的透光差异。本实施例通过施加检测用栅极正向开启电压VGH可以改变栅源电压差VGS，而栅源电压差VGS的改变将改变沟道的状态。当栅源电压差VGS与阈值电压VTH之差大于漏源电压差VDS时(VGS-VTH＞VDS)，沟道处于开启状态，载流子电流量水平正常，整个电路处于正常工作状态；当栅源电压差VGS与阈值电压VTH之差等于漏源电压差VDS时(VGS-VTH＝VDS)，沟道处于临界状态，载流子电流量水平发生改变但仍有电流流动，电路处于不稳定状态；当栅源电压差VGS与阈值电压VTH之差小于漏源电压差VDS时(VGS-VTH＜VDS)，电路关断。

[0027] 本实施例通过输入检测用栅极正向开启电压VGH，改变了栅源电压差VGS 与阈值电压VTH之差，恶化沟道导通条件，改变沟道区的宽窄，改变载流子电流流量从而更为容易检测出潜在临界不良。

[0028] 对于15英寸～201英寸液晶显示器，正常的工作用栅极正向完全开启电压VON为22V～26V，本实施例中，优选的向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH为10V～
21V，可有效检测出液晶显示器临界点不良。

[0029] 第二实施例

[0030] 图3为本发明第二实施例的示意图。本实施例液晶显示器临界点不良测试方法具体为：向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压VGL，其中检测用栅极正向开启电压VGH等于工作用栅极正向完全开启电压VON，检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF 高20％～50％；采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述检测图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。 [0031] 本实施例测试具体过程和工作原理与第一实施例相同，在本实施例输入的检测用栅极负向关断电压VCL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％情况下，液晶显示器面板的显示均一度会明显锐化，当液晶显示器存在临界点不良时，该检测图形的均一度锐化程度会大于3.5％。因此，本实施例通过判断检测图形的均一度锐化程度可以获得液晶显示器临界点不良结果。同样的，本实施例施加的检测用栅极负向关断电压VGL可以改变栅源电压差VGS，而栅源电压差VGS的改变将改变沟道的状态。本实施例通过输入检测用栅极负向关断电压VGL，改变了栅源电压差VGS与阈值电压VTH之差，恶化沟道导通条件，改变沟道区的宽窄，改变载流子电流流量从而更为容易检测出潜在临界不良。 [0032] 对于15英寸～201英寸液晶显示器，正常的工作用栅极负向完全关断电压VOFF为-6.5V～-8.5V，本实施例中，优选的向液晶显示器输入检测用栅极负向关断电压VGL为-6V～0V，可有效检测出液晶显示器临界点不良。

[0033] 第三实施例

[0034] 图4为本发明第三实施例的示意图。本实施例液晶显示器临界点不良测试方法具体为：向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压VGL，其中检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON低20％～50％，检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％；采集液晶显示器输出的显示图形，通过判断所述检测图形的均一度锐化程度获得液晶显示器临界点不良结果。

[0035] 本实施例测试具体过程和工作原理与第一实施例相同，不再赘述。在本实施例输入的检测用栅极正向开启电压VGH较工作用栅极正向完全开启电压VON 低20％～50％和检测用栅极负向关断电压VGL较工作用栅极负向完全关断电压VOFF高20％～50％情况下，液晶显示器面板的显示均一度会明显锐化，当液晶显示器存在临界点不良时，该检测图形的均一度锐化程度会大于3.5％。因此，本实施例通过判断检测图形的均一度锐化程度可以获得液晶显示器临界点不良结果。同样的，本实施例施加的检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压VGL可以改变栅源电压差VGS，而栅源电压差VGS的改变将改变沟道的状态。本实施例通过输入检测用栅极正向开启电压VGH和检测用栅极负向关断电压VGL，改变了栅源电压差VGS与阈值电压VTH之差，恶化沟道导通条件，改变沟道区的宽窄，改变载流子电流流量从而更为容易检测出潜在临界不良。

[0036] 对于15英寸～201英寸液晶显示器，正常的工作用栅极正向完全开启电压VON为22V～26V，正常的工作用栅极负向完全关断电压VOFF为-6.5V～-8.5V，本实施例中，优选的向液晶显示器输入检测用栅极正向开启电压VGH为10V～21V，向液晶显示器输入检测用栅极负向关断电压VGL为-6V～0V，可有效检测出液晶显示器临界点不良。 [0037] 最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

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