1.一种用于光谱仪的样品引入系统，其包含：
去溶剂化区，其配置成从溶剂基质接收或产生样品离子，并且从所述样品离子去除至少一部分所述溶剂基质；
位于所述去溶剂化区下游并且具有与所述去溶剂化区流体联通的分离室入口的分离室，其用于接收所述去溶剂化样品离子以及包含非离子化溶剂和溶剂离子的溶剂蒸气，所述分离室具有用于在所述分离室内产生电场的电极，其在所述分离室入口与分离室出口之间界定样品离子的第一流动路径，但这导致引导非所需溶剂离子和非所需非离子化溶剂蒸气从所述分离室出口离开；以及
入口与所述分离室出口流体联通的反应室，其用于从所述分离室接收所述样品离子并且用于将所述接收的离子分解成较小产物。
2.根据权利要求1所述的样品引入系统，其中离子和非离子化溶剂通过所述分离室入口在界定第一轴的第一方向进入所述分离室，并且其中遵循所述第一流动路径的样品离子通过所述分离室出口在界定第二轴的第二方向离开所述分离室，且其中所述第一和第二轴不重合。
3.根据权利要求1或2所述的样品引入系统，其中所述分离室进一步包含用于在与离子通过所述分离室入口进入所述分离室的行进方向横断或逆向的方向供应气体流的气体供应源，从而引导具有第一离子迁移率或离子迁移率范围的样品离子沿所述第一流动路径朝向所述分离室出口，但引导具有与所述第一离子迁移率或迁移率范围不同的第二离子迁移率或离子迁移率范围的非所需溶剂离子，和非所需非离子化溶剂沿一个或多个其它流动路径从所述分离室出口离开。
4.根据权利要求2或权利要求3所述的样品引入系统，其中所述第一和第二轴大体上平行但彼此偏离。
5.根据权利要求1或2所述的样品引入系统，其中所述分离室的所述电极包含第一电极布置，其配置成产生DC和/或AC电场，从而引导具有第一质荷比或质荷比范围的样品离子沿所述第一流动路径朝向所述分离室出口，但引导具有与所述第一质荷比或质荷比范围不同的第二质荷比或质荷比范围的非所需溶剂离子，和非所需非离子化溶剂从所述分离室出口离开。
6.根据权利要求5所述的样品引入系统，其中所述溶剂离子具有比所述样品离子高或低的质荷比或质荷比范围，所述第一电极布置的所述DC和/或AC分量导引所述样品离子朝向所述分离室出口，同时分散所述相对较重或较轻的溶剂离子。
7.根据权利要求5或权利要求6所述的样品引入系统，其中所述分离室的所述第一电极布置导引所述样品离子沿界定所述第一流动路径的弯曲流动路径，并且进一步其中所述第一轴与所述第二轴大体上垂直。
8.根据权利要求5或权利要求6所述的样品引入系统，其中所述第一电极布置配置成产生不对称AC电场，从而使非所需溶剂离子在所述分离室内分散，同时引导样品离子朝向所述分离室出口。
9.根据权利要求2所述的样品引入系统，其中所述分离区的所述电极包含配置成产生DC和AC电场两个的第一电极布置，并且进一步包含配置成产生DC电场的第二电极布置，其在具有与界定所述第一轴的所述第一方向垂直的分量的方向加速离子从而经所述第一电极布置引导沿所述第一流动路径朝向所述分离室出口，但引导具有与所述第一质荷比或质荷比范围不同的第二质荷比或质荷比范围的非所需溶剂离子，和非所需非离子化溶剂从所述分离室出口离开。
10.根据权利要求5到9中任一项所述的样品引入系统，其进一步包含配置成向所述电极供应AC和/或DC电压的电源。
11.根据依附于权利要求9的权利要求10所述的样品引入系统，其中所述电源配置成向所述第二电极布置供应第一DC电压从而使样品离子偏斜离开界定所述第一轴的所述第一方向，其中所述电源配置成向所述第一电极布置供应第二DC电压从而在具有与所述第一轴垂直的分量的方向加速样品离子，且进一步其中所述电源配置成以导引所述样品离子进入所述分离室出口的频率向所述第一电极布置施加AC电压。
12.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其进一步包含在所述去溶剂化区上游用于分离所述溶剂基质中的所述样品的一种或多种组分的液体分离器，以及用于从所述液体分离器接收所述经分离的样品并且将其电离从而在所述溶剂基质中产生所述样品离子的电离源。
13.根据权利要求12所述的样品引入系统，其中所述电离源位于所述去溶剂化区中，在所述分离区入口的上游并且与所述分离区入口空间上分隔开。
14.根据权利要求12或权利要求13所述的样品引入系统，其中所述液体分离器为高效液相色谱(HPLC)分离器、超高效液相色谱(UHPLC)分离器、毛细管区带电泳(CZE)分离器或尺寸排阻色谱(SEC)分离器。
15.根据权利要求12、权利要求13或权利要求14所述的样品引入系统，其中所述电离源为电喷雾(ESI)、纳米喷雾(nESI)、热喷雾、大气压化学电离(APCI)、常压光电离(APPI)、基质辅助激光解吸和电离(MALDI)、直接电喷雾(DESI)或实时直接分析(DART)源。
16.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其中所述去溶剂化区进一步包括位于其中、在所述分离室入口处或在所述分离室入口附近的加热过的通道。
16a.根据权利要求16所述的样品引入系统，其中所述加热过的通道在一个维度中延伸以提高传播的离子电流而不损害去溶剂化。
16b.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其中单个电离源或电离源阵列沿所述加热过的通道的延伸部分延伸。
17.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其中所述去溶剂化区形成于去溶剂化室内，所述样品引入系统进一步包含连接到所述去溶剂化室以向其中供应加热过的气体的加热过的气体供应源。
18.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其中所述去溶剂化区形成于去溶剂化室内，所述样品引入系统进一步包含连接到所述去溶剂化室用于调整所述去溶剂化室内的压力的泵送布置。
19.根据权利要求18所述的样品引入系统，其中所述泵送布置进一步连接到所述分离室用于调整其中的压力。
20.根据权利要求19所述的样品引入系统，其进一步包含泵送控制器用于控制所述泵送布置从而使得所述去溶剂化室内的压力P取样是所述分离室中的压力P分离的至少两倍。
21.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其中所述反应室使用时处于常压下。
22.根据权利要求18所述的样品引入系统，其中所述泵送布置进一步连接到所述反应室，所述系统进一步包含泵送控制器用于控制所述泵送布置从而维持所述反应室中的所述压力介于约50kPa(0.5Atm)与200kPa(2Atm)之间。
23.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其进一步包含逆向气体供应源用于向所述分离室出口供应逆向气体，所述逆向气体在一般与所述样品离子在其中入射的方向相反的方向流动。
24.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其进一步包含在所述反应室下游的CO2分离单元。
25.根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统，其中所述反应室包含燃烧室。
26.根据权利要求1到24中任一项所述的样品引入系统，其中所述反应室包含氧化或热解室。
27.根据权利要求25所述的样品引入系统，其进一步包含氧化或热解室。
28.根据权利要求27所述的样品引入系统，其中所述氧化或热解室位于所述燃烧室的上游或下游。
29.根据权利要求27所述的样品引入系统，其进一步包含位于所述分离室出口下游的阀，所述阀可配置，在第一阀位置引导样品离子离开所述分离室出口朝向所述燃烧室，以及在第二阀位置引导样品离子离开所述分离室出口朝向所述氧化或热解室。
30.一种组合，其包含用于提供液体样品的液体样品制备布置、从所述液体样品产生样品离子的第一电离源和根据前述权利要求中任一项所述的样品引入系统。
31.一种同位素比质谱仪(IRMS)，其包括根据权利要求1到29中任一项所述的样品引入系统。
32.一种同位素比质谱仪(IRMS)，其包括根据权利要求30所述的组合。
33.根据权利要求32所述的IRMS，其进一步包含第二电离源用于从所述样品引入系统的所述反应室接收产物，并且产生供引入到所述IRMS中的产物离子。
33a.根据权利要求33所述的IRMS，其中第二电离源为以下中的一个：电感耦合等离子体源、微波诱导的等离子体源、电子冲击源、激光电离源。
34.根据权利要求31、权利要求32或权利要求33所述的IRMS，其包含以下各者中的一个或多个：扇形磁场质量分析器和一个或多个检测通道；飞行时间(TOF)质量分析器；四极杆质量分析器；射频(RF)离子阱质量分析器；静电阱质量分析器；轨道阱质量分析器；或傅里叶变换离子回旋共振(FT_ICR)质量分析器。
35.一种同位素比光谱仪(IROS)，其包括根据权利要求1到24中任一项所述的样品引入系统，任选地具有激光。
36.一种将样品引入到同位素比光谱仪中的方法，其包含以下步骤
(a)在溶剂基质中产生样品离子；
(b)在去溶剂化室中从所述样品离子去除至少一部分所述溶剂基质，从而产生样品离子以及非离子化溶剂和溶剂离子的流体；
(c)在分离室中，向所述离子以及溶剂蒸气的流体施加电场，使得引导所需样品离子朝向所述分离室的出口，同时引导非所需溶剂离子和非离子化溶剂从所述分离室出口离开；
以及
(d)当所述样品离子穿过所述分离室的所述出口时将所述样品离子分解成分子产物。
37.根据权利要求36所述的方法，其中所述步骤(b)进一步包含将所述离子和非离子化溶剂蒸气流引导到分离室入口，从而使所述离子和溶剂蒸气通过所述分离室入口在界定第一轴的第一方向进入所述分离室，所述方法进一步包含引导所述所需样品离子朝向所述分离室出口离开，从而使其在界定第二轴的第二方向离开所述分离室，且其中所述第一和第二轴不重合。
38.根据权利要求37所述的方法，其中所述步骤(c)进一步包含在与所述第一轴横断或逆向的方向供应干燥气体流从而根据迁移率分离所述分离室内的离子。
39.根据权利要求37所述的方法，其进一步包含在所述分离室内产生AC和/或DC电场两个，使得引导具有第一质荷比或质荷比范围的所述所需样品离子沿第一流动路径朝向所述分离室出口，但引导具有与所述第一质荷比或质荷比范围不同的第二质荷比或质荷比范围的所述非所需溶剂离子从所述分离室出口离开。
40.根据权利要求39所述的方法，其中所述溶剂离子具有比所述样品离子高或低的质荷比或质荷比范围，所述方法进一步包含使用所述AC电场导引所述样品离子朝向所述分离室出口，同时使用所述AC电场分散所述相对较重的溶剂离子。
41.根据权利要求39或权利要求40所述的方法，其中所述第一轴与所述第二轴大体上垂直，所述方法进一步包含使用所述AC和/或DC电场沿界定所述第一流动路径的弯曲流动路径导引所述样品离子。
42.根据权利要求39或权利要求40所述的方法，其进一步包含产生不对称AC电场使得非所需溶剂离子在所述分离室内分散，同时引导样品离子朝向所述分离室出口。
43.根据权利要求37所述的方法，其进一步包含使用第二电极布置产生DC电场，所述DC电场在具有与界定所述第一轴的所述第一方向垂直的分量的方向加速离子，且用第一电极布置产生DC和AC电场，从而使得样品离子由所述第一电极布置引导沿所述第一流动路径朝向所述分离室出口，但其中所述第一电极布置产生的所述电场引导具有与所述第一质荷比或质荷比范围不同的第二质荷比或质荷比范围的非所需溶剂离子，和非所需非离子化溶剂从所述分离室出口离开。
44.根据权利要求43所述的方法，其进一步包含向第二电极布置供应第一DC电压，使得样品离子偏斜离开界定所述第一轴的所述第一方向，向第一电极布置供应第二DC电压使得样品离子在具有与所述第一轴平行垂直的分量的方向中加速，并且进一步包含以导引所述样品离子进入所述分离室出口的频率向所述第一电极布置施加AC电压。
45.根据权利要求36到44中任一项所述的方法，其进一步包含产生含有所述溶剂基质中的所述样品离子的溶液，并且电离所述溶液从而在所述溶剂基质中产生所述样品离子。
46.根据权利要求36到44中任一项所述的方法，其中从所述样品离子去除至少一部分所述溶剂基质的所述步骤(b)包括在所述去溶剂化室中加热所述溶剂基质中的所述样品离子。
47.根据权利要求46所述的方法，其中从所述样品离子去除至少一部分所述溶剂基质的所述步骤(b)包括向所述去溶剂化室供应加热过的气体。
48.根据依附于权利要求44的权利要求46所述的方法，其中从所述样品离子去除至少一部分所述溶剂基质的所述步骤(b)包括向所述去溶剂化室供应加热过的气体，且其中所述加热过的气体从所述去溶剂化室进入所述分离室。
49.根据权利要求36到46所述的方法，其中施加于所述第一电极布置的所述AC电压的所述频率高于所述分离室中所述加热过的气体的碰撞频率的10％，和/或施加于所述第一电极布置的所述AC电压的幅值小于所述分离室中所述加热过的气体的击穿电压的一半。
50.根据权利要求36到49中任一项所述的方法，其进一步包含调整所述去溶剂化室内的所述压力。
51.根据权利要求36到50中任一项所述的方法，其进一步包含调整所述分离室内的所述压力。
52.根据权利要求36到49中任一项所述的方法，其进一步包含控制所述去溶剂化室内的压力P取样，使其是所述分离室中的压力P分离的至少两倍。
53.根据权利要求36到49中任一项所述的方法，其进一步包含控制所述分离室中的压力P分离，使其不超过所述去溶剂化室中的压力P取样的一半。
54.根据权利要求49或权利要求52所述的方法，其中所述分离室内的所述压力大体上为常压，所述方法进一步包含将所述去溶剂化室内的所述压力控制为至少200-300kPa。
55.根据权利要求50或权利要求53所述的方法，其中所述去溶剂化室内的所述压力大体上为常压，所述方法进一步包含将所述分离室内的所述压力控制为不超过10-30kPa。
56.根据权利要求36到55中任一项所述的方法，其进一步包含在一般与所述样品离子在其中入射的方向相反的方向向所述分离室出口供应逆向气体。
57.根据权利要求28到49中任一项所述的方法，其中分解所述样品离子的所述步骤(d)包含热解或氧化或还原所述样品离子。
58.根据权利要求57所述的方法，其中所述步骤(d)包含将所述样品离子的第一部分引导到燃烧室并且氧化所述样品离子的第一部分；以及将所述样品离子的第二部分引导到还原室并且在此处还原所述样品离子的第二部分。
59.根据权利要求36到58中任一项所述的方法，其进一步包含步骤(e)：将所述分解的样品离子的分子产物提供到同位素比质谱仪IRMS，(f)电离那些分子产物；(g)在所述IRMS中分离所述分子产物的离子以及(h)检测所述分子产物的所述经分离的离子。
60.根据权利要求36到58中任一项所述的方法，其进一步包含将已穿过所述分离室的所述出口的所述样品离子的第一部分引导到第一质量分析器，例如飞行时间(TOF)质量分析器；四极杆质量分析器；射频(RF)离子阱质量分析器；静电阱质量分析仪；轨道阱质量分析器；或傅里叶变换离子回旋共振(FT_ICR)质量分析器；以及将已穿过所述分离室的所述出口的所述样品离子的第二部分引导到所述反应室，使所述样品离子的第二部分在所述反应室中反应形成反应产物，电离所述反应产物产生反应产物离子，并且将所述产物离子引导到第二不同质量分析器，例如IRMS或IROS。
61.根据权利要求59所述的方法，其进一步包含步骤(i)从所检测的分子产物测定元素的同位素比。