专利汇可以提供一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种 石英 晶片( 块 )非 接触 式检测正负极性的工具,涉及石英晶片正负极性检测工具技术领域,它包括底座(1)、用于 支撑 水 晶片的 支架 (2)、支座(3)、 激光器 支架(4)、 转轴 (5)、激光发射器芯片(9)和显示屏(10),所述支架(2)的顶部设有用于放置石英晶片的凹槽,所述凹槽内设有用于透过 激光束 的通孔,支架(2)和支座(3)分别固定安装在底座(1)上,所述支座(3)上设有转轴安装孔;本 发明 具有体积小、方便灵活、易于操作可靠耐用,非接触式有效的解决了晶片(块)快速极性判断要求,保证了产品的生产效率及合格率,具有很好的实用推广价值。(6)、激 光接收器 (7)、模拟量输入模块(8)、微型,下面是一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具专利的具体信息内容。
1.一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于它包括底座(1)、用于支撑水晶片的支架(2)、支座(3)、激光器支架(4)、转轴(5)、激光发射器(6)、激光接收器(7)、模拟量输入模块(8)、微型芯片(9)和显示屏(10),所述支架(2)的顶部设有用于放置石英晶片的凹槽,所述凹槽内设有用于透过激光束的通孔,支架(2)和支座(3)分别固定安装在底座(1)上,所述支座(3)上设有转轴安装孔,所述激光器支架(4)为U型,激光器支架(4)通过转轴(5)可转动安装子支座(3)的转轴安装孔处,所述激光发射器(6)和激光接收器(7)分别安装在激光器支架(4)的两边上,所述激光接收器(7)通过模拟量输入模块(8)与微型芯片(9)通信相连,所述显示屏(10)与微型芯片(9)通信相连。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述底座(1)上设有显示屏安装槽,所述显示屏(10)安装在底座(1)上的显示屏安装槽处。
3.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述支架(2)为“几”字型。
4.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述微型芯片(9)是单片机。
5.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述激光发射器(6)是激光二极管。
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。