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一种石英晶片()非接触式检测正负极性的工具

阅读:66发布:2023-02-19

专利汇可以提供一种石英晶片()非接触式检测正负极性的工具专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种 石英 晶片( 块 )非 接触 式检测正负极性的工具,涉及石英晶片正负极性检测工具技术领域,它包括底座(1)、用于 支撑 水 晶片的 支架 (2)、支座(3)、 激光器 支架(4)、 转轴 (5)、激光发射器芯片(9)和显示屏(10),所述支架(2)的顶部设有用于放置石英晶片的凹槽,所述凹槽内设有用于透过 激光束 的通孔,支架(2)和支座(3)分别固定安装在底座(1)上,所述支座(3)上设有转轴安装孔;本 发明 具有体积小、方便灵活、易于操作可靠耐用,非接触式有效的解决了晶片(块)快速极性判断要求,保证了产品的生产效率及合格率,具有很好的实用推广价值。(6)、激 光接收器 (7)、模拟量输入模块(8)、微型,下面是一种石英晶片()非接触式检测正负极性的工具专利的具体信息内容。

1.一种石英晶片()非接触式检测正负极性的工具,其特征在于它包括底座(1)、用于支撑晶片的支架(2)、支座(3)、激光器支架(4)、转轴(5)、激光发射器(6)、激光接收器(7)、模拟量输入模块(8)、微型芯片(9)和显示屏(10),所述支架(2)的顶部设有用于放置石英晶片的凹槽,所述凹槽内设有用于透过激光束的通孔,支架(2)和支座(3)分别固定安装在底座(1)上,所述支座(3)上设有转轴安装孔,所述激光器支架(4)为U型,激光器支架(4)通过转轴(5)可转动安装子支座(3)的转轴安装孔处,所述激光发射器(6)和激光接收器(7)分别安装在激光器支架(4)的两边上,所述激光接收器(7)通过模拟量输入模块(8)与微型芯片(9)通信相连,所述显示屏(10)与微型芯片(9)通信相连。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述底座(1)上设有显示屏安装槽,所述显示屏(10)安装在底座(1)上的显示屏安装槽处。
3.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述支架(2)为“几”字型。
4.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述微型芯片(9)是单片机
5.根据权利要求1所述的一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具,其特征在于所述激光发射器(6)是激光二极管

说明书全文

一种石英晶片()非接触式检测正负极性的工具

技术领域

[0001] 本发明涉及石英晶片正负极性检测工具技术领域,具体涉及一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具。

背景技术

[0002] 石英晶片(块)在生产加工中要对晶片(块)的极性进行判断,传统操作方式有两种:第一种方法是将晶片(块)进行物理加压促使晶片(块)释放电荷,再通过电路放大器进行识别检测来判断极性,这种方式效率低而且容易将晶片(块)损伤。第二种方法是使用X射线照射产生衍射来判断极性,这种方式效率也很低。于是希望设计一种易于操作检测效率高并且不会对晶片(块)造成损伤的一种极性检测工具。

发明内容

[0003] 本发明的目的就是为了解决上述技术问题,而提供一种石英晶片(块)非接触式检测正负极性的工具。
[0004] 本发明包括底座、用于支撑晶片的支架、支座、激光器支架、转轴、激光发射器、激光接收器、模拟量输入模块、微型芯片和显示屏,所述支架的顶部设有用于放置石英晶片的凹槽,所述凹槽内设有用于透过激光束的通孔,支架和支座分别固定安装在底座上,所述支座上设有转轴安装孔,所述激光器支架为U型,激光器支架通过转轴可转动安装子支座的转轴安装孔处,所述激光发射器和激光接收器分别安装在激光器支架的两边上,所述激光接收器通过模拟量输入模块与微型芯片通信相连,所述显示屏与微型芯片通信相连。
[0005] 所述底座上设有显示屏安装槽,所述显示屏安装在底座上的显示屏安装槽处。
[0006] 所述支架为“几”字型。
[0007] 所述微型芯片是单片机
[0008] 所述激光发射器是激光二极管
[0009] 本发明具有以下优点:本发明采用将检测台与支架配合,通过激光束照射放于检测台的晶片(块)片来检测晶片的极性。激光器采用小型激光二极管作为发射源,具有体积小、方便灵活、易于操作可靠耐用,非接触式有效的解决了晶片(块)快速极性判断要求,保证了产品的生产效率及合格率,具有很好的实用推广价值。附图说明
[0010] 图1是本发明结构示意图。
[0011] 图2是本发明电气原理图。
[0012] 图中:1、底座;2、支架;3、支座、4、激光器支架;5、转轴;6、激光发射器;7、激光接收器;8、模拟量输入模块;9、微型芯片;10、显示屏。

具体实施方式

[0013] 下面结合附图对本发明做进一步说明。
[0014] 如图1、2所示,本发明包括底座1、用于支撑水晶片的支架2、支座3、激光器支架4、转轴5、激光发射器6、激光接收器7、模拟量输入模块8、微型芯片9和显示屏10,所述支架2的顶部设有用于放置石英晶片的凹槽,所述凹槽内设有用于透过激光束的通孔,支架2和支座3分别固定安装在底座1上,所述支座3上设有转轴安装孔,所述激光器支架4为U型,激光器支架4通过转轴5可转动安装子支座3的转轴安装孔处,所述激光发射器6和激光接收器7分别安装在激光器支架4的两边上,所述激光接收器7通过模拟量输入模块8与微型芯片9通信相连,所述显示屏10与微型芯片9通信相连。
[0015] 所述底座1上设有显示屏安装槽,所述显示屏10安装在底座1上的显示屏安装槽处。
[0016] 所述支架2为“几”字型。
[0017] 所述微型芯片9是单片机。
[0018] 所述激光发射器6是激光二极管。
[0019] 工作方式及原理:支架固定于底座上,激光二极管固定于支架上,检测时,转动激光器支架,使激光二极管发射的激光束相对于石英晶片(块)成一定度照射,激光束通过石英晶片(块)和用于透过激光束的通孔,激光接收器将激光的强弱变化进行检测,并将检测值传输给单片机处理,最后将单片机将判断结果输出至显示屏;操作员通过显示的值即可得知石英晶片(块)的极性。
[0020] 以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
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