专利汇可以提供光学岩组仪专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 的光学岩组仪由费氏台、彩色摄像机、视频板、电视监测器、微机和输出设备组成。在费氏台物台上装有薄片平移器,在费氏台 显微镜 试板孔中插有一 块 万能试板。本发明采用定量晶体光学理论计算和最小二乘法拟合,提高了岩组测量 精度 和速度,一般可在20—60分种内自动绘出岩组图。另外,还可进行矿物粒度测量和百分含量统计。,下面是光学岩组仪专利的具体信息内容。
1、一种光学岩组仪,由费氏台(1)、彩色摄像机(2)、视频板(3)、电视监测器(4)、微机(5)和输出设备(6)组成,费氏台(1)镜头顶部口上接彩色摄像机(2),彩色摄像机视频输出口(17)接视频板视频输入口(18),视频板视频输出口(19)接在电视监测器上,视频板(3)整体插入微机(5)总线槽中,微机(5)连接输出设备(6),其特征是在费氏台(1)压片孔螺丝上安装有薄片平移器(7),费氏台(1)显微镜试板孔中插有一块万能试板(13)。
2、按权利要求1所述的光学岩组仪,其特征在于薄片平移器(7)由环形薄板(8)和U型框架(9)组成,环形薄板(8)上安有二根固定针(10)和平移螺丝(11),并开有二个固定孔(12),环形薄板(8)和U型框架(9)可由金属或有机材料一次压成。
3、按权利要求1所述的光学岩组仪,其特征在于万能试板(13)上有三个试板,第一试板(14)选用石英和石膏制成,光程差550毫微米左右;第二试板(15)选用石膏或白云母制成,光程差1100毫微米左右;第二试板(16)选用方解石制成,光程差2500~3000毫微米左右,万能试板框架(20)由金属或有机材料一次压成。
现有测定岩组的一般方法是显微镜测量、费氏台测量和X光-岩组仪测量。显微镜测岩组,需要两块互相垂直的定向薄片,恢复空间优选方位,用肉眼逐粒测定,测定一块岩石薄片需用10小时左右,只能手工成图,测定速度慢。费氏台测岩组,需前一块定向岩石薄片,只能逐一测量每个颗粒的空间角度,由于靠肉眼测量,手工成图,速度慢,且技术要求高。X光-岩组仪测岩组需要一至三块定向薄片,需要二至三小时,可以手工成图和计算机成图,仪器价格昂贵。成都地质学院李之权等研制成功的JGT型计算机光笔式图象分析仪(见成都地质学院学报1982年第四期)由摄像机、显微镜、视频箱和微机组成,其动能是进行矿物粒度测量和百分含量统计,但不能测量岩组。
设计一种能快速测定岩组,操作简单,测量精度高能计算机成图的光学岩组仪是本发明的目的。
本发明的光学岩组仪由费氏台(1)、彩色摄像机(2)、视频板(3)、电视监测器(4)、微机(5)和输出设备(6)连接组成。在费氏台(1)压片孔螺丝上安装有薄片平移器(7),费氏台(1)显微镜试板孔中插有一块万能试板。其组合关系是:费氏台(1)镜筒顶部口上接彩色摄像机(2),彩色摄像机(2)视频输出口(17)接视频板视频输入口(18),视频板(3)视频输出口(19)接在电视监测器(4)上,视频板(3)整体插入微机(5)总接线槽中,微机(5)连接输出设备(6)。其原理是根据定量晶体光学理论把视域内的图象分解成上万个象素,每个象素当做一个颗粒,经过彩色摄像机(2)转变成电视讯号,由视频板(3)将电视讯号转变成数字,再由微机(5)对数字进行处理,然后由输出设备(6)自动绘出岩组图。
薄片平移器(7)由环形薄板(8)和U形框架(9)组成,环形薄板(8)上安有二根固定针(10)和平移螺丝(11),并开有二个固定孔(12),环形薄板(8)和U形框架(9)可由金属或有机材料一次压成。万能试板(13)上有三块试板,第一试板(14)选用石英或石膏材料制成,光程差为550毫微米左右,第二试板(15)选用石膏或白云母材料制成,光程差为1100毫微米左右;第三试板选用方解石材料制成,光程差为2500~3000毫微米左右,上述三个试板厚度在0.02-0.07毫米之间,万能试板(13)框架可由金属或有机材料一次压成。
附图1.光学岩组仪组合示意图。
附图2.薄片平移器平面图。
附图3.万能试板平面图。
附图说明:
1.费氏台
2.彩色摄像机
3.视频板
4.电视监视器
5.微机
6.输出设备
7.薄片平移器
8.环形薄板
9.U形框架
10.固定针
11.平移螺丝
12.固定孔
13.万能试板
14.第一试板
15.第二试板
16.第三试板
17.彩色摄像机视频输出口
18.视频板视频输入口
19.视频板视频输出口
实施例1
将待测岩石薄片置于费氏台薄片平移器(7)上,插入万能试板第一试板(14),将费氏台I轴置于0°位,转动物台至0°位,敲微机(5)任意一键,再转动物台2n°,敲微机(5)任意一键,然后将费氏台I轴顺时针旋转20°,重新将物台置于0°位,重复上述步骤,获得数据,微机(5)按程序计算,经输出设备(6)自动绘出一轴晶岩组图。
实施例2
按实施例1各操作步骤完成操作,然后将费氏台I轴归0°位,并逆时针旋转20°,重新将物台置于0°位,敲微机(5)任意一键,转动物台2n°,敲微机(5)任意一键,再转动物台2n°,敲微机(5)任意一键,获得数据,微机(5)按程序计算,经输出设备(6)自动绘出二轴晶岩组图。
本发明采用定量晶体光学理论计算和最小二乘法拟合,提高了岩组的测量精度和速度,一般可在20~60分钟内自动绘出岩组图。另外,使用本发明的光学岩组仪,还可进行矿物粒度测量和百分含量统计。
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