专利汇可以提供一种吸光度测量电路专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供一种吸 光度测量 电路 。所述电路包括:入射光强测量电路,测量光线通过物质前的入射光强 电压 ; 透射光 强测量电路,测量光线通过物质后的透射光强电压;LOG运算电路,转换所述入射光强电压和所述透射光强电压为入射光强 电流 和透射光强电流,计算二者的比值的以10为底的对数,得到物质的第一吸光度;运算放大电路,按照预设的增益对所述物质的第一吸光度进行放大处理得到物质的第二吸光度;低通滤波电路,对所述第二吸光度进行滤波处理,输出第三吸光度。本发明可直接测量物质的吸光度,不需要 软件 开发人员与平台和多路高性能AD电路,响应时间快、线性度高、成本低、精确度高、 信噪比 高、输入电压范围宽、输出阻抗低、实现简单。,下面是一种吸光度测量电路专利的具体信息内容。
1.一种吸光度测量电路,包括:
入射光强测量电路,测量光线通过物质前的入射光强电压;
透射光强测量电路,测量光线通过物质后的透射光强电压;
LOG运算电路,转换所述入射光强电压和所述透射光强电压为入射光强电流和透射光强电流,计算所述入射光强电流和所述透射光强电流的比值的以10为底的对数,得到物质的第一吸光度;
运算放大电路,按照预设的增益对所述物质的第一吸光度进行放大处理得到物质的第二吸光度;
低通滤波电路,对所述第二吸光度进行滤波处理,输出第三吸光度。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,还包括:
电源稳压电路,对系统输入电源进行稳压处理给所述电路提供一个稳定的工作电源。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,所述入射光强测量电路包括:
第一光电检测器,测量光线通过物质前的入射光强度,产生与所述入射光强度成比例的入射光强电流;
第一测量电路,将所述入射光强电流转换为所述入射光强电压。
4.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,所述第一测量电路包括运算放大器U1B、电阻R11、电容C15,其中,
所述运算放大器U1B的5脚与所述第一光电检测器的阳极一起连接到电源地,所述运算放大器U1B的6脚与所述第一光电检测器的阴极、所述电阻R11的一端、所述电容C15的一端连接,所述运算放大器U1B的7脚与所述电阻R11的另一端、所述电容C15的另一端连接。
5.根据权利要求4所述的电路,其特征在于,所述透射光强测量电路包括:
第二光电检测器,测量光线通过物质后的透射光强度,产生与所述透射光强度成比例的透射光强电流;
第二测量电路,将所述透射光强电流转换为所述透射光强电压。
6.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,所述第二测量电路包括运算放大器U1A、电阻R7、电容C7、C9、C13,其中,
所述运算放大器U1A的4脚连接到所述电容C9的一端,所述电容C9的另一端连接到所述电源地,所述运算放大器U1A的8脚连接到所述电容C13的一端,所述电容C13的另一端连接到所述电源地,所述运算放大器U1A的3脚与所述第二光电检测器的阳极一起连接到所述电源地,所述运算放大器U1A的2脚与所述第二光电检测器的阴极、所述电阻R7的一端、所述电容C7的一端连接,所述运算放大器U1A的1脚与电阻R7的另一端、所述电容C7的另一端连接。
7.根据权利要求6所述的电路,其特征在于,所述LOG运算电路包括LOG运算芯片U5、电阻R10、R13、电容C11、C14、C17,其中,
所述电阻R13连接到所述运算放大器U1B的7脚,所述LOG运算芯片U5的1脚连接到所述电阻R13的另一端,所述电阻R10的一端连接到所述运算放大器U1A的1脚,所述LOG运算芯片U5的3脚连接到所述电容C14的一端,所述LOG运算芯片U5的8脚连接到所述电阻R10的另一端和所述电容C14的另一端,所述LOG运算芯片U5的4脚连接所述电容C17的一端,所述电容C17的另一端连接所述电源地,所述LOG运算芯片U5的5脚连接所述电容C11的一端,所述电容C11的另一端连接所述电源地,所述LOG运算芯片U5的6脚连接所述电源地。
8.根据权利要求7所述的电路,其特征在于,所述运算放大电路包括运算放大器U2B、电阻R12、R14,其中,
所述运算放大器U2B的5脚连接所述LOG运算芯片U5的3脚,所述运算放大器U2B的6脚与所述电阻R12、R14的一端连接,所述电阻R14的另一端连接所述电源地,所述运算放大器U2B的7脚连接所述电阻R12的另一端。
9.根据权利要求8所述的电路,其特征在于,所述低通滤波电路包括运算放大器U2A、电阻R8、R9、电容C8、C10、C12、C16,其中,
所述运算放大器U2A的4脚与所述电容C16的一端连接,所述电容C16的另一端连接所述电源地,所述运算放大器U2A的8脚与所述电容C12的一端连接,所述电容C12的另一端连接所述电源地,所述运算放大器U2A的3脚与所述电阻R8、电容C10的一端连接,所述电阻R9的一端连接所述U2B的7脚,所述电容C10的另一端连接所述电源地,所述电阻R8的另一端与所述电阻R9的另一端、所述电容C8的一端连接,所述运算放大器U2A的1脚、2脚与所述电容C8的另一端连接。
10.根据权利要求9所述的电路,其特征在于,所述电源稳压电路包括稳压芯片U3、稳压芯片U4、电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、电容C1、C2、C3、C4、C5、C6,其中,所述稳压芯片U3的5脚连接所述电阻R1、电容C1的一端,所述电阻R1的另一端连接输入电源的负端,所述电容C1的另一端连接所述电源地,所述稳压芯片U3的6脚通过所述电容C2连接所述电源地,所述稳压芯片U3的8脚连接所述输入电源的负端,所述稳压芯片U3的4脚连接所述电源地,所述稳压芯片U3的2脚连接所述电阻R3、R5的一端,所述稳压芯片U3的1脚连接所述运算放大器U1的8脚、所述运算放大器U2的8脚、所述LOG运算芯片U5的5脚、所述电阻R3的另一端和所述电容C5的一端,所述电容C5的另一端和所述电阻R5的另一端连接所述电源地;
所述稳压芯片U4的5脚连接所述电阻R2、电容C3的一端,所述电阻R2的另一端连接所述输入电源的正端,所述电容C3的另一端连接所述电源地,所述稳压芯片U4的6脚通过所述电容C4连接所述电源地,所述稳压芯片U4的8脚连接所述输入电源的正端,所述稳压芯片U4的
4脚连接所述电源地,所述稳压芯片U4的2脚连接所述电阻R4、R6的一端,所述稳压芯片U4的
1脚连接所述运算放大器U1的4脚、所述运算放大器U2的4脚、所述LOG运算芯片U5的4脚、所述电阻R4的另一端和所述电容C6的一端,所述电容C6的另一端和所述电阻R6的另一端连接所述电源地。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
一种光度信息测量装置及其测量方法 | 2020-05-12 | 50 |
人眼屈光度旋转楔形镜测量装置 | 2020-05-13 | 676 |
一种柱面光度测量装置 | 2020-05-11 | 682 |
一种灯具快速安装的光度测量积分球 | 2020-05-14 | 860 |
人眼屈光度旋转楔形镜测量装置 | 2020-05-13 | 545 |
一种光度测量方法及可旋转的光度测量积分球装置 | 2020-05-12 | 349 |
分光光度计中的积分球测量装置 | 2020-05-13 | 252 |
一次性光度测量端头 | 2020-05-11 | 289 |
一种光度信息测量装置及其测量方法 | 2020-05-12 | 236 |
一种中间视觉光度计及其测量方法 | 2020-05-13 | 96 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。