专利汇可以提供用于测量吸光度和浊度的测光装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且测光装置(1)用于基于 光源 测量在一单元(2)中安置的样品的吸光度和 浊度 ,所述测光装置(1)包括:位于壳体(13)内的发光 二极管 (3,16)的结构,其中至少一个所述 发光二极管 能够提供紫外光,使得光束朝向包含将被测量的所述样品的所述单元(2)发射。这种装置允许测量色基分子吸收和悬浮物色散或浊度。,下面是用于测量吸光度和浊度的测光装置专利的具体信息内容。
1.一种测光装置(1),用于基于光源测量在一单元(2)中安置的样品的吸光度和浊度,其特征在于以下事实:
所述测光装置(1)包括发光二极管(3,16)的结构,其中至少一个所述发光二极管能够提供紫外光,其中每个所述发光二极管关联到带通滤波器(5)和倾斜的光束分离器,使得光束朝向包含将被测量的所述样品的所述单元(2)发射;
镜(7),其将发射穿过所述单元(2)中的样品的所述光束朝向主光电二极管(8)反射,所述主光电二极管(8)执行光束强度的测量;
第一聚焦镜头(9),其位于所述单元(2)之前的所述光束的路径中;和第二聚焦镜头(10),其位于所述光束朝向所述主光电二极管(8)射出所述单元(2)之外的出口处;
辅助束分离器(11),其位于所述单元(2)之前的所述光束的路径中,使得:所述光的一部分被导向基准光电二极管(12),所述光束的其余部分被导向所述单元(2)中安置的所述样品并由此被导向所述主光电二极管;和
两个管状缝(20),其分别位于所述主光电二极管(8)和所述基准光电二极管(12)上方,使得适合的光束被准直以测量将被测量的所述样品的浊度。
2.如权利要求1所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述发光二极管的结构是行对准结构,提供紫外光的发光二极管被布置在所述第一聚焦镜头(9)之前紧邻处。
3.如权利要求1所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
关联到提供紫外光的发光二极管(16)的所述光束分离器具有二向光性涂层。
4.如权利要求1所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述测光装置(1)包括:壳体(13),所述壳体(13)内装容与产生所述光束相关的所述测光装置的不同部分;所述测光装置(1)还设置有可移除的上盖(14),所述上盖(14)具有供所述单元(2)穿过插入的开口。
5.如权利要求4所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述壳体(13)设置有多个相互分离的独立座,在每个所述独立座中插入带通滤波器(5)和发光二极管。
6.如权利要求4所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述壳体(13)利用螺母和螺栓联结到所述上盖(14)。
7.如权利要求4所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述壳体(13)由可成形的塑性材料制成。
8.如权利要求7所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述壳体(13)由液晶聚合物LCP制成。
9.如权利要求5所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述带通滤波器与联接到所述独立座的支撑元件(6)连带地固定。
10.如权利要求9所述的测光装置(1),其特征在于以下事实:
所述支撑元件(6)具有螺纹区段,所述螺纹区段拧到所述独立座的侧壁上的螺纹部分上。
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