专利汇可以提供适合白天目标观测的地基高分辨力红外成像望远镜专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且适合白天目标观测的地基高分辨 力 红外成像望远镜,属于地基望远镜红外成像探测技术,为有效抑制白天高 亮度 天空背景及克服强 湍流 大气扰动对获取目标形态特征的影响,本 发明 结构:从目标来的光经过主成像望远镜、库德光路系统、缩束系统和能动光学系统;光从能动光学系统出射后进入自适应波前探测系统,光在自适应波前探测系统中首先经过分色镜,光经过分色镜后 近红外 光反射到缩束系统再被哈特曼 传感器 接收;光经过分色镜后短波红外与中波红外光透射到达分色镜,光经过分色镜后短波红外部分光反射进入短波红外成像物镜组以及短波红外成像探测器;中波红外光透过分色镜到达反射镜,中波红外光经过反射进入中波红外成像物镜组以及中波红外成像探测器。,下面是适合白天目标观测的地基高分辨力红外成像望远镜专利的具体信息内容。
1.适合白天目标观测的地基高分辨力红外成像望远镜,由主成像望远镜(4)、库德光路系统(9)、缩束系统Ⅰ(10)、能动光学系统(13)、自适应波前探测系统(17)和红外成像系统(24)组成;其特征是,从目标发射的光经过主成像望远镜(4)、库德光路系统(9)、缩束系统Ⅰ(10)和能动光学系统(13);
光从能动光学系统(13)出射后进入自适应波前探测系统(17),光在自适应波前探测系统(17)中首先经过分色镜(14),光经过分色镜(14)后近红外光反射到缩束系统Ⅱ(15)再被哈特曼传感器(16)接收,探测波前整体倾斜误差以及波前的低阶像差,用于控制能动光学系统(13),实现对整体倾斜误差的校正与波前误差的部分校正;
光经过分色镜(14)后短波红外与中波红外光透射到达分色镜(18),光经过分色镜(18)后短波红外部分光反射进入短波红外成像物镜组(19)以及短波红外成像探测器(20),实现白天时段的短波红外成像;中波红外光透过分色镜(18)到达反射镜(21),中波红外光经过反射进入中波红外成像物镜组(22)以及中波红外成像探测器(23),实现白天时段的中波红外成像。
2.根据权利要求1所述的适合白天目标观测的地基高分辨力红外成像望远镜,其特征在于,从目标发射的光经过主成像望远镜(4)的主镜(1)、次镜(2)、反射镜(3),光经反射镜(3)反射后入射到库德光路系统(9)中的第一反射镜(5)上,光又经第二反射镜(6)、第三反射镜(7)和第四反射镜(8);光经第四反射镜(8)反射后进入缩束系统Ⅰ(10),光经过缩束系统Ⅰ(10)后入射到能动光学系统(13)中的倾斜反射镜(11),光经过倾斜反射镜(11)后再经波前校正器(12)出射。
3.根据权利要求1所述的适合白天目标观测的地基高分辨力红外成像望远镜,其特征在于,中波红外成像探测器(23)采用定制型大F数红外相机,保证红外长焦距成像时的冷阑匹配,降低光机系统自身的热背景噪声。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
天文光学望远镜偏振滤波方法与装置 | 2020-05-12 | 583 |
月基光学望远镜科学数据处理方法 | 2020-05-13 | 356 |
基于望远镜的三维光学扫描仪校准 | 2020-05-13 | 571 |
基于望远镜的三维光学扫描仪校准 | 2020-05-13 | 1023 |
基于望远镜的三维光学扫描仪校准 | 2020-05-13 | 663 |
衍射复眼望远镜光学系统 | 2020-05-13 | 411 |
一种激光测距望远镜光学分束系统 | 2020-05-12 | 328 |
折反射式双波段成像望远镜光学系统 | 2020-05-12 | 961 |
折反射式宽波段成像望远镜光学系统 | 2020-05-13 | 372 |
一种光学望远镜 | 2020-05-11 | 579 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。