专利汇可以提供变温超高真空扫描隧道显微镜样品台专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本实用新型涉及用于变温超高 真空 扫描隧道 显微镜 样品台,包括基架和样品固定架,所述的样品固定架高度可调的固定在所述的基架上。本实用新型的样品台的结构使用方便,能够利用多种样品传送系统传递样品,如可以利用基架上的突出部分用真空机械手传样,也可以利用基架和样品固定架间的空隙用磁 力 传样杆传样,也适用于绝大多数的商业真空样品 操纵台 。,下面是变温超高真空扫描隧道显微镜样品台专利的具体信息内容。
1.变温超高真空扫描隧道显微镜样品台,其特征在于,包括基架和样品固定架,所述的样品固定架高度可调的固定在所述的基架上。
2.根据权利要求1所述的变温超高真空扫描隧道显微镜样品台,其特征在于,所述的基架包括基底、基底上的固定架、位于固定架上的限位突起,所述的样品固定架通过对称设置的两个螺栓可调节的固定在所述的固定架上、所述限位突起的上方。
3.根据权利要求2所述的变温超高真空扫描隧道显微镜样品台,其特征在于,所述的基底为扁平的长方体结构,所述的固定架呈长条设置于所述基底的中心、并贯穿所述基底,所述的限位突起为位于所述固定架中心且和所述固定架等宽的长条状结构。
4.根据权利要求2所述的变温超高真空扫描隧道显微镜样品台,其特征在于,所述的样品固定架包括基座和固定在基座中心的样品台,所述的基座通过螺栓和所述的固定架固定。
5.根据权利要求4所述的变温超高真空扫描隧道显微镜样品台,其特征在于,所述的基座为圆柱接圆台的一体结构,所述的样品台呈圆柱状设置于所述基座的顶部中心位置。
6.根据权利要求1至5任一所述的变温超高真空扫描隧道显微镜样品台,其特征在于,所述的变温超高真空扫描隧道显微镜样品台的材质采用金属钼。
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