专利汇可以提供高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种高 碳 钢 奥氏体晶粒度的测定方法,包括步骤:S1、将试样放置于超高温激光共聚焦 显微镜 的 坩埚 内,抽 真空 后充入惰性气体;S2、对试样进行加热,且在加热至设定 温度 后进行保温,直至保温时间达到设定值;S3、通过超高温激光共聚焦显微镜观察高 碳钢 奥氏体晶粒度,并对高碳钢奥氏体晶粒度的大小进行测量。本发明的高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,通过高温金相的方式,在高温条件下,直接获得并观察高碳钢奥氏体晶粒度,并以此定量评价晶粒尺寸大小,评价结果的准确性高。,下面是高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法专利的具体信息内容。
1.高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,其特征在于,包括步骤:
S1、将试样放置于超高温激光共聚焦显微镜的坩埚内,抽真空后充入惰性气体;
S2、对试样进行加热,且在加热至设定温度后进行保温,直至保温时间达到设定值;
S3、通过超高温激光共聚焦显微镜观察高碳钢奥氏体晶粒度,并对高碳钢奥氏体晶粒度的大小进行测量。
2.根据权利要求1所述的高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,其特征在于,在所述步骤S1中,需先对试样进行抛光,然后将试样放置于超高温激光共聚焦显微镜的坩埚内,坩埚置于超高温激光共聚焦显微镜的加热炉内。
3.根据权利要求1或2所述的高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,其特征在于,在所述步骤S1中,惰性气体为氩气。
4.根据权利要求1至3任一所述的高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,其特征在于,在所述步骤S2中,将试样加热至奥氏体化,所述设定温度为800~900℃。
5.根据权利要求4所述的高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,其特征在于,在所述步骤S2中,所述设定温度为850℃。
6.根据权利要求1至5任一所述的高碳钢奥氏体晶粒度的测定方法,其特征在于,在所述步骤S2中,保温时间的设定值为300~600秒。
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