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眼镜框形状测定装置及透镜加工装置

阅读:1027发布:2020-06-25

专利汇可以提供眼镜框形状测定装置及透镜加工装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种测定眼镜 框架 的形状的眼镜框形状测定装置,具备:投光光学系统,具有 光源 ,从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光;受光光学系统,具有检测器,通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光;取得单元,基于由检测器接收到的反射光,取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状;以及 亮度 控制单元,对由检测器接收的反射光的亮度等级进行控制。,下面是眼镜框形状测定装置及透镜加工装置专利的具体信息内容。

1.一种眼镜框形状测定装置,对眼镜框架的形状进行测定,其特征在于,具备:
投光光学系统,具有光源,从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光;
受光光学系统,具有检测器,通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光的反射光;
取得单元,基于由所述检测器接收到的所述反射光,取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状;以及
亮度控制单元,对由所述检测器接收的所述反射光的亮度等级进行控制。
2.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,
所述亮度控制单元基于由所述检测器接收到的所述反射光的所述亮度等级,控制所述亮度等级。
3.根据权利要求2所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,
所述取得单元取得截面图像作为所述截面形状,
所述眼镜框形状测定装置具备亮度解析单元,该亮度解析单元根据所述截面图像检测所述亮度等级,
所述亮度控制单元基于由所述亮度解析单元检测出的所述亮度等级,控制所述亮度等级。
4.根据权利要求2或3所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,
所述眼镜框形状测定装置具备判定单元,该判定单元判定所述亮度等级是否为允许等级,
所述亮度控制单元基于所述判定单元的判定结果,控制所述亮度等级。
5.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,
所述眼镜框形状测定装置具备取得眼镜框架类型信息的眼镜框架类型信息取得单元,所述亮度控制单元基于由所述眼镜框架类型信息取得单元取得的所述眼镜框架类型信息,控制所述亮度等级。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,所述亮度控制单元通过控制来自所述光源的所述测定光的投光光量来控制所述亮度等级。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,所述亮度控制单元通过控制所述检测器的增益来控制所述亮度等级。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,所述取得单元在由所述亮度控制单元控制所述亮度等级而将所述亮度等级变更后,基于由所述检测器接收到的所述反射光,取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,所述眼镜框形状测定装置具备:
第一变更单元,变更所述测定光相对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽的照射位置;以及
第一控制单元,对所述第一变更单元进行控制。
10.根据权利要求9所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,
所述第一控制单元控制所述第一变更单元而对所述眼镜框架的多个矢径位置的所述镜圈的槽照射所述测定光,
所述取得单元分别取得所述眼镜框架的多个矢径角位置的所述镜圈的槽的截面形状,所述眼镜框形状测定装置具备解析单元,该解析单元根据所述眼镜框架的多个矢径角位置的所述镜圈的槽的截面形状,分别检测所述眼镜框架的多个矢径角位置的所述镜圈的槽的底,并基于检测到的检测结果,取得所述眼镜框架的形状。
11.根据权利要求1~10中任一项所述的眼镜框形状测定装置,其特征在于,所述眼镜框形状测定装置具备:
第二变更单元,对所述受光光学系统的所述反射光的受光位置进行变更;以及第二控制单元,对所述第二变更单元进行控制。
12.一种透镜加工装置,对透镜的周缘进行加工,其特征在于,
具备加工控制单元,该加工控制单元基于由权利要求1~11中任一项所述的眼镜框形状测定装置取得的所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状而对透镜的周缘进行加工。

说明书全文

眼镜框形状测定装置及透镜加工装置

技术领域

[0001] 本发明涉及用于得到眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置以及用于使用眼镜框形状测定装置进行透镜的周缘的加工的透镜加工装置。

背景技术

[0002] 已知一种眼镜框形状测定装置,该眼镜框形状测定装置通过向眼镜框架的镜圈插入测定件,并使测定件按压于镜圈而使其移动,从而对镜圈的轮廓进行追踪来测定镜圈的形状(例如,参照专利文献1)。基于由该眼镜框形状测定装置得到的镜圈的测定结果(追踪数据),得到用于将眼镜透镜嵌入镜圈的形状(目标形状)。并且,基于形状决定眼镜透镜的轮廓形状,通过眼镜透镜加工装置加工透镜的周缘。
[0003] 现有技术文献
[0004] 专利文献
[0005] 专利文献1:日本特开2015-007536号公报

发明内容

[0006] 然而,为了将加工后的透镜良好地放入到眼镜框架,认为镜圈的形状和加工后的透镜的轮廓形状越近越优选。然而,在使用测定件的镜圈形状的测定中,虽然容易进行按压测定件的位置处的测定(例如,镜圈的底的部分的测定),但难以得到镜圈的槽的截面形状。
[0007] 鉴于上述现有技术,本公开的技术课题在于提供不论眼镜框架的类型如何,都能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状的眼镜框形状测定装置以及透镜加工装置。
[0008] 为了解决上述课题,本公开的特征在于具备以下的结构。
[0009] (1)本公开的第一方式的眼镜框形状测定装置是测定眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置,其特征在于,具备:投光光学系统,具有光源,从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光;受光光学系统,具有检测器,通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光的反射光;取得单元,基于由所述检测器接收到的所述反射光,取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状;以及亮度控制单元,对由所述检测器接收的所述反射光的亮度等级进行控制。
[0010] (2)本公开的第二方式的透镜加工装置是对透镜的周缘进行加工的透镜加工装置,其特征在于,具备加工控制单元,该加工控制单元基于由(1)的眼镜框形状测定装置取得的所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状而对透镜的周缘进行加工。附图说明
[0011] 图1是眼镜框形状测定装置的外观概略图。
[0012] 图2是保持有眼镜框架的状态下的框架保持单元的俯视图。
[0013] 图3示出从上方观察移动单元的立体图。
[0014] 图4示出从下方观察移动单元的立体图。
[0015] 图5示出Z移动单元和Y移动单元的俯视立体图。
[0016] 图6是对旋转单元进行说明的图。
[0017] 图7是示出眼镜框架测定光学系统的概略结构图。
[0018] 图8是涉及眼镜框形状测定装置的控制框图
[0019] 图9A是对控制旋转单元而以不同的矢径来取得镜圈的截面形状的情况的一例进行说明的图。
[0020] 图9B是对以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况的一例进行说明的图。
[0021] 图10是示出以使测定光照射到眼镜框架的镜圈的槽的方式使保持单元移动之前的受光结果的图。
[0022] 图11是示出以使测定光照射到眼镜框架的镜圈的槽的方式使保持单元移动之后的受光结果的图。
[0023] 图12是对针对截面图像的亮度分布的取得进行说明的图。
[0024] 图13是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。

具体实施方式

[0025] 以下,基于附图对本实施方式进行说明。图1~图13是说明本实施方式的眼镜框形状测定装置的结构的图。此外,在本实施方式中,将眼镜框形状测定装置1的纵深方向(配置有眼镜时的眼镜框架的上下方向)设为Y方向,将与纵深方向垂直(配置有眼镜时的眼镜框架的左右方向)的平面上的平方向设为X方向,将铅垂方向(配置有眼镜时的眼镜框架的前后方向)设为Z方向来进行说明。
[0026] 此外,在本实施方式中的眼镜框形状测定装置1中,以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置。即,在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下,眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向,眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向。当然,在本实施方式的眼镜框形状测定装置1中,以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置的结构为例进行说明,但并不限定于此。例如,也可以是以眼镜框架F的镜圈部分成为上方向且眼镜框架F的镜腿部分成为下方向的状态配置的结构。另外,例如,在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下,也可以是以眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为下方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为上方向的方式配置的结构。另外,例如,在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下,也可以是以眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为上方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为下方向的结构。
[0027] <概要>
[0028] 对本公开的实施方式的眼镜框形状测定装置(例如眼镜框形状测定装置1)的概要进行说明。例如,本实施方式的眼镜框形状测定装置测定眼镜框架的形状。例如,眼镜框形状测定装置具备投光光学系统(例如,投光光学系统30a)。例如,眼镜框形状测定装置具备受光光学系统(例如,受光光学系统30b)。例如,眼镜框形状测定装置具备取得单元(例如,控制部50)。
[0029] 例如,投光光学系统具有光源(例如,光源31)。例如,投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光(测定光束)。另外,例如,光源也可以使用至少一个以上的光源。例如,也可以使用一个光源。另外,例如也可以使用多个光源
[0030] 例如,受光光学系统具有检测器(例如检测器37)。例如,受光光学系统通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射并由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光(反射光束)。此外,例如,检测器也可以使用至少一个以上的检测器。例如,也可以使用一个检测器。另外,例如也可以使用多个检测器。
[0031] 例如,取得单元对由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光进行处理,基于由检测器接收到的测定光的反射光,取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。
[0032] 例如,在本实施方式中,眼镜框形状测定装置具备:投光光学系统,从光源朝向眼镜框架的镜圈照射测定光;受光光学系统,通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的所述镜圈照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光;以及取得单元,对反射光进行处理并取得眼镜框架的镜圈的截面形状。由此,例如,能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。另外,例如,由于是基于测定光的测定,因此能够迅速地进行测定。
[0033] <投光光学系统>
[0034] 例如,投光光学系统可以具有光学部件。在该情况下,例如,也可以使从光源射出的测定光经由各光学部件朝向眼镜框架的镜圈的槽照射。例如,作为光学部件,也可以使用透镜、反射镜、光圈等中的至少任一个。例如,通过使用光圈,能够加深焦点深度。当然,作为光学部件,并不限定于上述光学部件,也可以使用不同的光学部件。
[0035] 此外,例如,投光光学系统只要是将从光源射出的测定光朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的结构即可。例如,也可以是至少具有光源的结构。另外,例如,作为投光光学系统,也可以是经由与光学部件不同的部件,而从光源射出的测定光朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的结构。
[0036] 例如,由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的测定光也可以照射点状的测定光。另外,例如,由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的测定光也可以是具有宽度的测定光(例如狭缝状的测定光)。在该情况下,例如,投光光学系统也可以将来自光源的测定光朝向眼镜框架的镜圈的槽照射,在镜圈的槽上形成光断面。例如,受光光学系统也可以由检测器接收通过光断面的镜圈的槽处的反射(例如散射、正反射等)而取得的镜圈的槽的反射光(例如,散射光、正反射光等)。
[0037] 例如,在照射具有宽度的测定光的情况下,也可以使用射出狭缝状的光束的光源。例如,也可以使用点光源。在该情况下,例如,也可以通过排列配置多个点光源,照射具有宽度的测定光。另外,例如,也可以通过使从点光源照射的点状的光束进行扫描,从而照射具有宽度的测定光。另外,例如,也可以通过使从点光源照射的点状的测定光由光学部件扩散,从而照射具有宽度的测定光。当然,例如,作为光源,也可以使用与上述光源不同的各种种类的光源,照射具有宽度的测定光。
[0038] <受光光学系统>
[0039] 例如,受光光学系统可以具有光学部件。在该情况下,例如,也可以使由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光经由各光学部件而由检测器接收。例如,作为光学部件,可以使用透镜、反射镜、光圈等中的至少任一个。当然,作为光学部件,并不限定于上述光学部件,也可以使用不同的光学部件。
[0040] 此外,例如,受光光学系统只要是由检测器接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光的结构即可。例如,也可以是至少具有检测器的结构。另外,例如,作为受光光学系统,也可以是经由与光学部件不同的部件而由检测器接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光的结构。
[0041] <取得单元>
[0042] 例如,取得单元对由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光进行处理,取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。例如,取得单元也可以根据检测器中的反射光的受光位置取得截面形状。例如,截面形状也可以是图像(图像数据)。即,截面形状也可以是截面图像。另外,例如,截面形状也可以是信号(信号数据)。即,截面形状也可以是截面形状的信号数据。
[0043] 例如,作为截面形状,可以列举二维截面形状、三维截面形状等。例如,二维截面形状是通过向一个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光并接收其反射光而取得的截面形状。例如,在本实施方式中,二维截面形状是将镜圈的槽沿与眼镜框架的矢径方向(在本实施方式中为XY方向)垂直的方向(在本实施方式中为Z方向)切断的面的形状。此外,例如,二维截面形状也可以通过使测定光沿着横切位置(在本实施方式中为Z方向)扫描来取得。另外,例如,三维截面形状是通过按各矢径角来取得二维截面形状从而取得的截面形状。例如,三维截面形状也可以通过在眼镜框架的矢径平面方向(在本实施方式中为XY平面方向)上扫描用于取得二维截面形状的测定光而取得。
[0044] 此外,例如,在取得截面形状时,在截面形状的一部分缺损的情况下,也可以根据缺损的位置的周边的位置(例如,相邻的位置)处的反射光的受光结果,对缺损部分进行插补。另外,例如,在取得截面形状时,在截面形状的一部分缺损的情况下,也可以通过对截面形状进行近似来对缺损部分进行插补。另外,例如,在取得截面形状时,在截面形状的一部分缺损的情况下,也可以以取得缺损部分的方式进行截面形状的再取得。
[0045] 例如,对于二维截面形状,也可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角位置形成有镜圈的所有部分)中的至少一个部位(一个矢径角的位置)处的镜圈的槽的二维截面形状。在该情况下,例如,也可以在眼镜框架的镜圈的整周上取得二维截面形状。另外,在该情况下,例如,也可以在眼镜框架的镜圈的整周上,在多个位置(例如,眼镜框架的左端、右端、上端、下端等)取得二维截面形状。另外,在该情况下,例如,也可以在眼镜框架的镜圈的整周上,在一个矢径角的位置取得二维截面形状。
[0046] 例如,在取得三维截面形状的情况下,也可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角位置形成有镜圈的所有部分)中的至少一部分区域中的镜圈的槽的三维截面形状。在该情况下,例如,三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上取得。另外,在该情况下,例如,三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上,在多个区域(例如,眼镜框架的左端区域、右端区域、上端区域、下端区域等)取得。另外,在该情况下,例如,三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上,在一部分区域取得。此外,在不对眼镜框架的镜圈的整周取得三维截面形状的情况下,在想要取得眼镜框架的镜圈的整周的三维截面形状的情况下,也可以基于取得了二维截面形状的部分的二维截面形状(三维截面形状)进行插补,由此取得眼镜框架的镜圈的整周的三维截面形状。
[0047] <第一变更单元及第一控制单元>
[0048] 例如,眼镜框形状测定装置也可以具备第一变更单元(例如,移动单元210、旋转单元260)。例如,第一变更单元变更测定光相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。另外,例如,眼镜框形状测定装置也可以具备控制第一变更单元的第一控制单元(例如,控制部50)。
[0049] 例如,眼镜框形状测定装置具备变更测定光相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置的第一变更单元和控制第一变更单元的第一控制单元。由此,能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光,能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。
[0050] 例如,第一变更单元也可以是变更测定光的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。例如,第一变更单元也可以是变更测定光的照射位置、眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构。在该情况下,例如,第一变更单元也可以是相对于测定光的照射位置变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。即,第一变更单元也可以是相对于测定光的照射位置变更眼镜框架的位置的结构。另外,在该情况下,例如,第一变更单元也可以是相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置变更测定光的照射位置的结构。另外,在该情况下,例如,第一变更单元也可以是变更眼镜框架的镜圈的槽的位置和测定光的照射位置双方的结构。
[0051] 例如,作为第一变更单元变更测定光的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构,也可以是变更投光光学系统与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。例如,投光光学系统的位置也可以是投光光学系统的光轴(例如,光轴L1)的位置。即,例如,也可以是第一变更单元通过变更投光光学系统的光轴的位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置来变更测定光的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。
[0052] 例如,作为变更投光光学系统的位置(例如,投光光学系统的光轴的位置)与眼镜框架的镜圈的槽的位置的相对位置的结构,也可以是变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构。在该情况下,例如,作为变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构,也可以是相对于投光光学系统的位置变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。另外,在该情况下,例如,作为变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构,也可以是相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置变更投光光学系统的位置的结构。另外,在该情况下,例如,作为变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构,也可以是变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置双方的位置的结构。
[0053] 此外,例如,作为变更投光光学系统的位置的结构,也可以是变更投光光学系统所包含的至少任意一个部件(例如光源、光学部件、其他部件等)的位置的结构。即,例如,第一变更单元也可以是通过变更投光光学系统的至少一部分(一部分部件)的位置来变更投光光学系统相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。在该情况下,例如,第一控制单元也可以通过控制第一变更单元,变更投光光学系统的至少一部分的位置,从而变更测定光相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。
[0054] 例如,眼镜框形状测定装置的第一变更单元是使投光光学系统的至少一部分移动的第一变更单元,第一控制单元通过控制第一变更单元,使投光光学系统的至少一部分相对于眼镜框架的镜圈的槽移动,从而变更测定光相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。由此,能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光,能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。
[0055] 例如,作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,达)并使投光光学系统的至少一部分的位置沿X方向移动的X方向驱动单元。例如,作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置沿Y方向移动的Y方向驱动单元。例如,作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置沿Z方向移动的Z方向驱动单元。例如,作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置旋转的旋转驱动单元(例如,旋转单元260)。另外,例如,作为变更投光光学系统的至少一部分的位置的结构,也可以是X方向驱动单元、Y方向驱动单元、Z方向驱动单元、旋转驱动单元中的至少任一个。当然,作为变更投光光学系统的至少一部分的位置的结构,并不限定于上述驱动单元,也可以是在与上述方向不同的方向上对投光光学系统的至少一部分的位置使用驱动单元的结构。
[0056] 另外,例如,作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有光扫描器且对光扫描器进行扫描的扫描单元。在该情况下,例如,可以通过变更光扫描器的角度来变更测定光的照射位置。即,例如,也可以通过变更光扫描器的位置来变更测定光的照射位置。
[0057] 例如,作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使眼镜框架沿X方向移动的X方向驱动单元。另外,例如,作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使眼镜框架沿Y方向移动的Y方向驱动单元。另外,例如,作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使眼镜框架沿Z方向移动的Z方向驱动单元。另外,例如,作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使眼镜框架旋转的旋转驱动单元。另外,例如,作为改变眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构,也可以是X方向驱动单元、Y方向驱动单元、Z方向驱动单元、旋转驱动单元中的至少任一个。当然,作为变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构,并不限定于上述驱动单元,也可以是在与上述方向不同的方向上使用驱动单元的结构。
[0058] <第二变更单元及第二控制单元>
[0059] 例如,眼镜框形状测定装置也可以具备第二变更单元(例如,移动单元210、旋转单元260)。例如,第二变更单元变更受光光学系统接收反射光的受光位置。例如,眼镜框形状测定装置也可以具备控制第二变更单元的第二控制单元(例如,控制部50)。
[0060] 例如,在本实施方式中,眼镜框形状测定装置具备对受光光学系统接收反射光的受光位置进行变更的第二变更单元和控制第二变更单元的第二控制单元。由此,能够将受光位置变更为能够良好地取得镜圈的槽的截面形状的位置,能够更高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。
[0061] 例如,第二变更单元也可以是通过变更受光光学系统的位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置来变更受光光学系统接收反射光的受光位置的结构。例如,受光光学系统的位置也可以是受光光学系统的光轴(例如,光轴L2)的位置。即,例如,也可以是通过第二变更单元变更受光光学系统的光轴的位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置来变更测定光的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。
[0062] 例如,第二变更单元也可以是变更受光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构。在该情况下,例如,第二变更单元也可以是相对于受光光学系统的位置来变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。即,第二变更单元也可以是相对于受光光学系统的位置来变更眼镜框架的位置的结构。另外,在该情况下,例如,第二变更单元也可以是相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置来变更受光光学系统的位置的结构。另外,在该情况下,例如,第二变更单元也可以是变更眼镜框架的镜圈的槽的位置和受光光学系统的位置双方的结构。
[0063] 此外,例如,作为变更受光光学系统的位置的结构,也可以是变更受光光学系统所包含的至少任意一个部件(例如检测器、光学部件、其他部件等)的位置的结构。即,例如,第二变更单元也可以是通过变更受光光学系统的至少一部分(一部分部件)的位置来变更受光光学系统相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。在该情况下,例如,第二控制单元也可以通过控制第二变更单元,从而变更受光光学系统的至少一部分的位置,变更受光光学系统接收反射光的受光位置。
[0064] 例如,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置沿X方向移动的X方向驱动单元。例如,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置沿Y方向移动的Y方向驱动单元。例如,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置沿Z方向移动的Z方向驱动单元。例如,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有驱动源(例如,马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置旋转的旋转驱动单元。另外,例如,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是X方向驱动单元、Y方向驱动单元、Z方向驱动单元、旋转驱动单元中的至少任一个。当然,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,并不限定于所述驱动单元,也可以是在与所述方向不同的方向上在受光光学系统的至少一部分的位置使用驱动单元的结构。
[0065] 另外,例如,作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构,也可以是具有光扫描器并对光扫描器进行扫描的扫描单元。在该情况下,例如,也可以通过变更光扫描器的角度来变更受光光学系统接收反射光的受光位置。即,例如,也可以通过变更光扫描器的位置来变更受光光学系统接收反射光的受光位置。
[0066] 例如,作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构,能够使用与所述记载的<第一变更单元及第一控制单元>的结构相同的结构。
[0067] 此外,例如,第一变更单元和第二变更单元的控制也可以分别在不同的定时被控制。另外,例如,第一变更单元和第二变更单元的控制也可以被一体地控制。此外,例如,第一变更单元的结构和第二变更单元的结构也可以兼用作至少一部分的部件。
[0068] <眼镜框架的形状取得>
[0069] 例如,眼镜框形状测定装置也可以取得眼镜框架的形状(形状数据)。在该情况下,例如,眼镜框形状测定装置也可以具备解析单元(例如,控制部50)。例如,第一控制单元也可以控制第一变更单元,对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光。例如,取得单元也可以分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状。例如,解析单元也可以根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底,并基于检测到的检测结果来取得眼镜框架的形状。
[0070] 例如,眼镜框架的形状也可以是二维形状(二维形状数据)。例如,二维形状由眼镜框架的矢径方向(XY方向)的数据表示。另外,例如,眼镜框架的形状也可以是三维形状(三维形状数据)。例如,三维形状用与眼镜框架的矢径方向(XY方向)及矢径方向垂直的方向(Z方向)的数据来表示。此外,例如,在取得二维形状的情况下,解析单元也可以从三维形状检测XY方向的镜圈的槽的位置而取得二维形状。在该情况下,例如,二维形状也可以通过将三维形状投影到XY平面来取得。
[0071] 例如,眼镜框形状测定装置的第一控制单元控制第一变更单元,对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状。眼镜框形状测定装置具备解析单元,该解析单元根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底,并基于检测出的检测结果来取得眼镜框架的形状。由此,如以往那样,根据眼镜框架,能够抑制测定件从透镜框的槽脱落而无法测定,能够容易且高精度地对各种形状的眼镜框架取得眼镜框架的形状。
[0072] 例如,眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角位置形成有镜圈的所有部分)内的至少一部分区域中取得。在该情况下,例如,眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上取得。另外,在该情况下,例如,眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上由多个区域(例如,眼镜框架的左端区域、右端区域、上端区域、下端区域等)取得。另外,在该情况下,例如,眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上在一部分区域取得。此外,在不对眼镜框架的镜圈的整周取得眼镜框架的形状的情况下,在想要取得眼镜框架的镜圈的整周的眼镜框架的形状的情况下,也可以根据取得眼镜框架的形状的部分的形状进行插补,由此取得眼镜框架的镜圈的整周的形状。
[0073] <三维截面形状取得>
[0074] 例如,眼镜框形状测定装置也可以取得三维截面形状。例如,第一控制单元控制第一变更单元,对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光。例如,取得单元也可以通过分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状来取得三维截面形状。
[0075] 例如,在本实施方式中,眼镜框形状测定装置的第一控制单元控制第一变更单元,对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状,取得三维截面形状。由此,能够容易且高精度地取得眼镜框架的三维截面形状。
[0076] <亮度控制单元>
[0077] 在此,发明人等对具有如下结构的眼镜框形状测定装置进行了研究,该眼镜框形状测定装置朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光,接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光,并基于反射光取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。例如,可知在使用这样的眼镜框形状测定装置的情况下,根据眼镜框架的类型,接收的反射光的亮度等级不好,难以高精度地取得镜圈的槽的截面形状。以下,对解决该课题的结构进行说明。
[0078] 例如,眼镜框形状测定装置也可以具备亮度控制单元(例如,控制部50)。例如,亮度控制单元控制(变更)由检测器接收的反射光的亮度等级(亮度值)。这样,例如,在本实施方式中,眼镜框形状测定装置具备:投光光学系统,所述投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈从光源照射测定光;受光光学系统,所述受光光学系统接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈照射并由眼镜框架的镜圈反射的测定光的反射光;以及取得单元,所述取得单元基于由检测器接收到的反射光来取得眼镜框架的镜圈的截面形状。另外,眼镜框形状测定装置具备对由检测器接收的反射光的亮度等级进行控制的亮度控制单元。由此,不论眼镜框架的类型如何,都能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。
[0079] 例如,亮度控制单元也可以通过控制眼镜框形状测定装置所具备的各部件中的至少任一个部件来控制亮度等级。例如,各部件可以是光源、检测器、透镜、反射部件等中的至少任一个。
[0080] 例如,亮度控制单元可以通过控制来自光源的测定光的投光光量来控制由检测器接收的反射光的亮度等级。由此,例如,能够以简单的结构进行亮度等级的控制。
[0081] 另外,例如,亮度控制单元可以通过控制检测器的增益来控制由检测器接收的反射光的亮度等级。由此,例如,能够以简单的结构进行亮度等级的控制。
[0082] 另外,例如,亮度控制单元也可以构成为在从光源到检测器的光路中(投光光学系统和受光光学系统的光路中)设置调整测定光的光量的部件。在该情况下,例如也可以是设置调整光量的专用部件的结构。例如,作为专用的部件,也可以是光量调整滤波器、光衰减器。另外,在该情况下,例如,也可以将投光光学系统和受光光学系统的各部件中的任一个部件用作调整光量的部件。
[0083] 另外,例如,亮度控制单元可以通过控制检测器中的曝光时间来控制由检测器接收的反射光的亮度等级。另外,例如,亮度控制单元可以通过控制光源的发光时间来控制由检测器接收的反射光的亮度等级。
[0084] 此外,例如,亮度控制单元不限于上述结构。例如,亮度控制单元只要是能够控制由检测器接收的反射光的亮度等级的结构即可。
[0085] 此外,例如,亮度控制单元也可以是上述结构中的至少任一个结构。例如,亮度控制单元也可以是具备上述结构中的一个的结构。另外,例如,亮度控制单元也可以组合上述结构中的多个结构。作为一例,亮度控制单元也可以进行来自光源的测定光的投射光量的控制和检测器的增益的调整。
[0086] 例如,作为亮度控制单元控制亮度等级的结构,亮度控制单元可以基于反射光的亮度等级来进行亮度等级的控制。在该情况下,例如,亮度控制单元可以基于由检测器接收的反射光的亮度等级来控制亮度等级。由此,例如,能够根据检测出的亮度等级来控制亮度等级,因此能够容易地进行亮度等级的控制以成为良好的亮度等级。
[0087] 此外,例如,亮度控制单元也可以进行亮度等级的控制,以便能够检测眼镜框架中的镜圈的肩的至少一部分及镜圈的槽的斜面的至少一部分。例如,镜圈的肩也可以是镜圈的前表面的肩和镜圈的后表面的肩。此外,更优选的是,亮度控制单元也可以进行亮度等级的控制,以检测镜圈肩的端部。例如,镜圈的槽的斜面也可以是镜圈的槽的前斜面和镜圈的槽的后斜面。如上所述,通过能够检测镜圈的肩的至少一部分以及镜圈的槽的斜面的至少一部分,能够取得镜圈的截面形状。
[0088] 例如,反射光的亮度等级可以从反射光的信号检测。在该情况下,例如,亮度控制单元可以基于从反射光的信号检测到的亮度等级来控制亮度等级。
[0089] 另外,例如,反射光的亮度等级也可以从反射光的信号取得截面图像,并从截面图像进行检测。在该情况下,例如,取得单元可以取得断面图像作为断面形状。另外,例如,眼镜框形状测定装置也可以具备根据截面图像检测亮度等级的亮度解析单元(例如,控制部50)。例如,亮度控制单元可以基于由亮度解析单元检测到的亮度等级来控制亮度等级。此外,例如,在亮度解析单元根据截面图像检测亮度等级的情况下,也可以从截面图像的至少一部分检测亮度等级。例如,作为一部分,也可以是镜圈的肩的至少一部分以及镜圈的槽的斜面的至少一部分。由此,例如,能够进行基于所取得的截面图像的亮度等级的控制,因此能够高精度且容易地控制亮度等级。当然,反射光的亮度等级也可以通过与上述结构不同的结构来检测。
[0090] 例如,作为基于由检测器接收到的反射光的亮度等级来控制亮度等级的结构,也可以构成为基于由检测器接收到的反射光的亮度等级是否满足允许等级(例如,规定的阈值)来进行控制。在该情况下,例如,亮度控制单元也可以在由检测器接收到的反射光的亮度等级未达到允许等级的情况下,控制亮度等级以使亮度等级满足允许等级。
[0091] 例如,作为基于由检测器接收到的反射光的亮度等级来控制亮度等级的结构,也可以构成为通过判定由检测器接收到的反射光的亮度等级是否满足允许等级(例如,规定的阈值)来进行控制。在该情况下,例如,眼镜框形状测定装置也可以具备判定亮度等级是否为允许等级的判定单元(例如,控制部50),亮度控制单元基于判定单元的判定结果来控制亮度等级。由此,例如,基于反射光的亮度等级是否为能够良好地取得镜圈的槽的截面形状的亮度等级的判定来控制亮度等级,因此能够更准确地进行亮度等级的控制。即,能够更高精度地控制亮度等级。
[0092] 此外,例如,所述允许等级也可以是预先设定的允许等级。例如,也可以预先通过模拟或实验等设定判定为亮度等级良好的允许等级。作为一例,允许等级也可以设定为能够检测眼镜框架中的镜圈的肩的至少一部分以及镜圈的槽的斜面的至少一部分那样的亮度等级。例如,允许等级也可以是检查者能够任意设定的结构。另外,例如,允许等级也可以根据所取得的断面图像来设定。
[0093] 例如,作为亮度控制单元控制亮度等级的结构,亮度控制单元也可以通过操作者对操作部(例如,开关部4)的操作来进行亮度等级的控制。在该情况下,例如,眼镜框形状测定装置也可以具备接收单元,该接收单元从操作部接收变更亮度等级的操作信号,亮度控制单元基于由接收单元接收到的操作信号来控制亮度等级。此外,在由操作者进行亮度等级的操作的情况下,也可以提示用于辅助亮度等级的操作的引导信息。例如,作为引导信息,也可以是表示亮度等级不满足允许等级的警告信息、催促亮度等级的确认的信息、表示亮度等级的信息、表示允许等级的信息等中的至少任一个。当然,作为引导信息,并不限定于上述结构,也可以是能够确认亮度等级是否满足允许等级的信息。
[0094] 例如,作为亮度控制单元控制亮度等级的结构,亮度控制单元也可以基于眼镜框架类型信息进行亮度等级的控制。在该情况下,也可以具备取得眼镜框架类型信息的眼镜框架类型信息取得单元,亮度控制单元基于由眼镜框架类型信息取得单元取得的眼镜框架类型信息,控制亮度等级。即,例如,亮度控制单元可以将由眼镜框架类型信息取得单元取得的眼镜框架类型信息设置为用于控制亮度等级的信息,并且基于所设置的眼镜框架类型信息来控制亮度等级。通过这样的结构,例如,能够进行与眼镜框架类型相应的亮度等级的控制,不进行图像处理等解析处理,不论眼镜框架的类型如何,都能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。
[0095] 例如,作为眼镜框架类型信息中的眼镜框架类型,可以是眼镜框架的形状、眼镜框架的材料、眼镜框架的颜色、眼镜框架的设计、眼镜框架的结构信息等中的至少任一个。例如,作为眼镜框架的形状,也可以是全镜圈(Full lim)、无框(Two point)、半框(Nylor)等中的任一种形状。当然,作为眼镜框架的形状,也可以是与上述不同的形状。另外,例如,作为眼镜框架的材料,可以是金属(Metal)、塑料(Plastic)、环树脂(Optyl)等中的任一种。当然,作为眼镜框架的材料,也可以是与上述不同的材料。另外,例如,作为眼镜框架的颜色,可以是红、蓝、黄、黑、灰等中的至少任一个。当然,作为眼镜框架的颜色,也可以是与上述不同的颜色。例如,作为眼镜框架的设计,可以是点、边框等中的至少任一个。当然,作为眼镜框架的设计,也可以是与上述不同的设计。另外,例如,作为眼镜框架的结构信息,可以是眼镜框架的镜片形状、眼镜框架的翘曲角度、眼镜框架的前倾角度等中的至少任一个。当然,作为眼镜框架的结构信息,也可以是与上述不同的结构信息。
[0096] 此外,例如,作为全镜圈,可以列举整体上具有镜圈(边缘)的类型的眼镜框架。另外,例如,作为无框,可列举镜腿、鼻架直接附着于眼镜透镜那样的、没有镜圈的眼镜框架。另外,例如,作为半框,可举出没有一部分镜圈的类型的眼镜框架。在该情况下,没有镜圈的部分由尼龙线等固定眼镜透镜。
[0097] 此外,眼镜框架类型信息也可以与多个眼镜框架类型信息相关联。在该情况下,例如,在选择规定的眼镜框架类型(例如眼镜框架的形状)时,除了所选择的眼镜框架类型之外,也可以是取得其他项目的眼镜框架类型(例如眼镜框架的材料)的结构。例如,在选择金属、塑料、环氧树脂的任一种眼镜框架的材料的情况下,眼镜框架的形状也可以作为全镜圈而被取得。在该情况下,可以预先建立眼镜框架类型之间的关联。
[0098] 此外,作为眼镜框架类型,并不限定于这些类型,能够设定各种类型的眼镜框架。当然,眼镜框架类型也可以是能够由检查者任意地追加或删除的结构。
[0099] 例如,作为眼镜框架类型信息取得单元,可列举通过检查者的操作而输入的结构。例如,作为检查者的输入,可列举检查者对操作部进行操作而直接输入眼镜框架类型信息的结构、检查者根据存储于眼镜框形状测定装置的存储器中的眼镜框架类型信息对操作部进行操作来选择眼镜框架类型信息的结构。另外,例如,作为眼镜框架类型信息取得单元,也可以是在眼镜框形状测定装置中设置检测眼镜框架的框架检测单元并基于框架检测单元的检测结果(例如眼镜框架的厚度等)取得眼镜框架类型信息的结构。另外,例如,作为取得眼镜框架类型信息的结构,可列举通过接收单元接收由与眼镜框形状测定装置不同的装置输入的眼镜框架类型信息的结构。
[0100] 例如,作为亮度控制单元控制亮度等级的结构,亮度控制单元也可以基于眼镜框架中的测定位置来进行亮度等级的控制。在该情况下,例如,亮度控制单元也可以检测测定光的照射位置,并根据测定光的照射位置(例如,鼻架周边位置、镜腿周边位置等)来进行亮度等级的控制。
[0101] 例如,在控制亮度等级的情况下,亮度控制单元也可以在开始测定之前实施。在该情况下,例如,取得单元在由亮度控制单元控制亮度等级而变更后,基于由检测器接收到的反射光,取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。作为一例,例如,预先在眼镜框架中的至少一个以上的测定位置处进行照射测定光并接收其反射光的预测定。例如,亮度控制单元基于通过预测定而取得的反射光的亮度等级,进行亮度等级的控制。例如,取得单元在控制亮度等级而变更后,基于由检测器接收到的反射光,取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。由此,例如能够取得进行亮度等级的变更后的截面形状,因此能够取得良好的截面形状。此外,在预测定中,也可以以与正式测定同样的测定位置(点数)进行测定。在该情况下,例如也可以根据预测定的结果,预先检测亮度等级不良好的测定位置,在正式测定时,在亮度等级不良好的测定位置控制亮度等级。
[0102] 另外,例如,在控制亮度等级的情况下,亮度控制单元也可以在开始测定后实施。例如,在开始眼镜框架的正式测定之后,基于通过测定而取得的反射光的亮度等级,进行亮度等级的控制。例如,在正式测定中,在进行亮度等级的控制的情况下,也可以基于至少一个以上的测定位置处的反射光的亮度等级来进行亮度等级的控制。作为一例,也可以检测至少一个以上的测定位置处的反射光的亮度等级,并基于检测出的亮度等级来控制亮度等级。在该情况下,例如,可以仅控制检测到亮度等级的测定位置处的亮度等级,或者可以控制正式测定的整个测定位置处的亮度等级。此外,在检测亮度等级且亮度等级不良好的情况下,进行亮度等级的控制。在该情况下,也可以在亮度等级的控制后,再次进行测定,将亮度等级控制前的测定结果置换为亮度等级控制后的测定结果。作为一例,例如也可以在实施测定的整个测定位置进行亮度等级的控制的情况下,在各测定位置检测亮度等级,在亮度等级不良好的位置再次进行测定,将测定结果置换为亮度等级控制后的测定结果。当然,也可以在亮度等级不良好的位置的其他位置也再次进行测定的情况下置换测定结果。
[0103] 此外,作为亮度控制单元控制亮度等级的定时,并不限定于上述定时。例如,可以在与上述不同的定时控制亮度等级。作为一例,在控制亮度等级的情况下,亮度控制单元也可以在开始测定前及开始测定后的双方,控制亮度等级。
[0104] 此外,例如也可以是兼用取得单元、第一控制单元、第二控制单元、解析单元、亮度控制单元、亮度解析单元、判定单元中的至少任一方的结构。另外,例如也可以是另行分别设置取得单元、第一控制单元、第二控制单元、解析单元的结构。
[0105] <透镜加工>
[0106] 例如,也可以将由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状用于透镜的加工。例如,对透镜的周缘进行加工的透镜加工装置(例如透镜加工装置300)取得由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。
[0107] 例如,眼镜框形状测定装置也可以具有发送单元,通过发送单元向透镜加工装置发送眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。在该情况下,例如,透镜加工装置也可以具有接收单元,接收从眼镜框形状测定装置发送来的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。
[0108] 此外,例如,也可以是在透镜加工装置具备眼镜框形状测定装置的结构。另外,例如透镜加工装置和眼镜框形状测定装置也可以另行分别为不同的装置。在该情况下,也可以通过有线和无线中的至少任一方将眼镜框架的镜圈的槽的截面形状从眼镜框形状测定装置发送到透镜加工装置。
[0109] 例如,透镜加工装置也可以具备加工控制单元(例如,控制部310)。例如,加工控制单元也可以基于由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状来加工透镜的周缘。例如,加工控制单元也可以控制保持透镜的透镜保持单元及加工件,基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状来加工透镜的周缘。
[0110] 例如,在本实施方式中,透镜加工装置具备加工控制单元,该加工控制单元基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状对透镜的周缘进行加工。由此,在将加工后的透镜良好地放入到眼镜框架时,成为镜圈的槽的形状和加工后的透镜的轮廓形状接近的形状,因此能够良好地进行放入。
[0111] <实施例>
[0112] 参照附图对本公开的典型的实施例之一进行说明。图1是眼镜框形状测定装置的外观概略图。例如,图2是保持有眼镜框架的状态的框架保持单元的俯视图。例如,在本实施例中,眼镜框形状测定装置1具备框保持单元10和测定单元20。例如,框架保持单元10将眼镜框架F保持在所期望的状态。例如,测定单元20用于向保持于框架保持单元10的眼镜框架F的镜圈(例如,左侧镜圈FL、右侧镜圈FRs)的槽照射测定光,并接收该反射光,由此取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。例如,测定单元20配置在框架保持单元10之下。
[0113] 例如,在眼镜框形状测定装置1的框体的前侧配置有具有测定开始用的开关等的开关部4。例如,在眼镜框形状测定装置1的框体的后侧配置有触摸面板式的显示器3。例如,在透镜的周缘加工时,通过面板部3输入透镜相对于镜片数据的布局数据、透镜的加工条件等。例如,由眼镜框形状测定装置1得到的取得结果(镜圈的槽的截面形状、眼镜框架形状等)以及显示器3所输入的数据被发送到透镜加工装置。此外,眼镜框形状测定装置1也可以是与日本特开2000-314617号公报等相同的、组装于透镜加工装置的结果。
[0114] <框架保持单元>
[0115] 例如,在框架保持单元10的下侧具备测定单元20。例如,在保持部基座101上载置有用于水平地保持眼镜框架F的前滑102和后滑块103。此外,例如,水平也可以是大致水平。例如,前滑块102和后滑块103被配置为能够以其中心线CL为中心在两个轨道111上相向地滑动,并且通过弹簧113始终被向朝向两者的中心线CL的方向拉伸。
[0116] 例如,在前滑块102上,分别在两处配置有用于从其厚度方向夹紧眼镜框架F的镜圈的夹紧销130a、130b。例如,在后滑块103上,在两个部位分别配置有用于从其厚度方向夹紧眼镜框架F的镜圈的夹紧销131a、131b。另外,例如,在测定模板时,前滑块102及后滑块103开放,公知的模板保持夹具配置在规定的安装位置140来进行使用。该框架保持单元10的结构例如能够使用日本特开2000-314617号公报等所记载的公知的结构。
[0117] 例如,眼镜框架F的眼镜佩戴时的镜圈的下侧位于前滑块102侧,镜圈的上侧位于后滑块103侧。例如,通过位于左右镜圈各自的下侧及上侧的夹紧销,眼镜框架F被保持为规定的测定状态。
[0118] 此外,在本实施例中,作为限制镜圈的前后方向的位置的结构,列举所述夹紧销130a、130b及夹紧销131a、131b的结构为例进行了说明,但并不限定于此。也可以使用公知的机构。例如,作为固定左右镜圈的前后方向的机构,也可以是将具有V字状的槽的抵接部件(限制部件)分别设置于左右镜圈用的结构。
[0119] <测定单元>
[0120] 以下,对测定单元20的结构进行说明。例如,测定单元20具备眼镜框架测定光学系统30。例如,眼镜框架测定光学系统30由投光光学系统30a和受光光学系统30b构成。例如,投光光学系统30a及受光光学系统30b用于取得眼镜框架的形状及眼镜框架的镜圈的槽的截面形状(详情后述)。
[0121] 例如,测定单元20具备保持投光光学系统30a和受光光学系统30b的保持单元25。例如,测定单元20具备使保持单元25沿XYZ方向移动的移动单元210(例如,参照图3~图5)。
另外,例如,测定单元20具备以旋转轴L0为中心使保持单元25旋转的旋转单元260(例如,参照图6)。此外,例如,在本实施例中,XY方向与由框架保持单元10保持的眼镜框架F的测定平面(镜圈的矢径方向)平行,Z方向是与测定平面垂直的方向。
[0122] <移动单元>
[0123] 以下,对移动单元210进行说明。例如,图3~图5是说明移动单元210的结构的图。例如,图3示出从上方观察移动单元210的立体图。例如,图4示出从下方观察移动单元210的立体图。例如,图5示出Z移动单元220和Y移动单元230的俯视立体图(将X移动单元240和基座部211拆下后的状态的立体图)。
[0124] 例如,移动单元210大致具备Z移动单元(Z方向驱动单元)220、Y移动单元(Y方向驱动单元)230、X移动单元(X方向驱动单元)240。例如,Z移动单元(Z方向驱动单元)220使保持单元25沿Z方向移动。例如,Y移动单元230保持保持单元25及Z移动单元220,使其向Y方向移动。例如,X移动单元240使保持单元25与Z移动单元220及Y移动单元230一起沿X方向移动。
[0125] 例如,X移动单元240大致如下构成。例如,X移动单元240在具有沿水平方向(XY方向)伸展的方形状的框的基座部211的下方,具备沿X方向延伸的导轨241。例如,Y移动单元230的Y基座230a以能够沿着导轨241在X方向上移动的方式安装。例如,在基座部211安装有马达(驱动源)245。例如,在马达245的旋转轴上安装有沿X方向延伸的进给丝杠242。例如,固定于Y基座230a的螺母部246与进给丝杠242螺合。由此,当马达245旋转时,Y基座230a在X方向上移动。此外,例如,X移动单元240的X方向的移动范围为了能够测定眼镜框架的左右透镜框,也可以使搭载有保持单元25的Y基座230a具有能够移动到眼镜框架的左右宽度以上的长度。
[0126] 例如,Y移动单元230大致如下构成。例如,在Y基座230a上安装有沿Y方向延伸的导轨231。例如,Z基座220a被安装成能够沿着导轨231在Y方向上移动。例如,在Y基座230a上,以能够旋转的方式安装有Y移动用的马达(驱动源)235和沿Y方向延伸的进给丝杠232。例如,马达235的旋转经由齿轮等旋转传递机构传递给进给丝杠232。例如,在进给丝杠232上螺合有安装于Z基座220a的螺母227。根据这些结构,当马达235旋转时,Z基座220a沿Y方向移动。
[0127] 例如,由X移动单元240及Y移动单元230构成XY移动单元。例如,使保持单元25在XY方向上移动的范围大于能够测定的镜圈的矢径。另外,例如,保持单元25的XY方向的移动位置由通过后述的控制部50驱动马达245及235的脉冲数来检测,对保持单元25的XY方向的位置进行检测的第一XY位置检测单元由马达245、235及控制部50构成。例如,作为保持单元25的XY位置检测单元,除了通过马达245及235的脉冲控制进行检测之外,也可以是使用安装于马达245及235各自的旋转轴的编码器传感器的结构。
[0128] 例如,Z移动单元220大致如下构成。例如,在Z基座220a上形成有沿Z方向延伸的导轨221,沿着该导轨221安装有保持单元25的移动基座250a被保持为能够在Z方向上移动。例如,在Z基座220a上安装有Z移动用的脉冲马达225,并且以能够旋转的方式安装有沿Z方向延伸的进给丝杠(省略图示)。例如,与安装于保持单元25的基座250a的螺母螺合。例如,马达225的旋转经由齿轮等旋转传递机构传递给进给丝杠222,通过进给丝杠222的旋转使保持单元25沿Z方向移动。保持单元25的Z方向的移动位置由通过后述的控制部50驱动马达225的脉冲数来检测,检测保持单元25的Z方向的位置的Z位置检测单元由马达225及控制部
50构成。例如,作为保持单元25的Z位置检测单元,除了通过马达225的脉冲控制进行检测之外,也可以是使用安装于马达225的旋转轴的编码器等传感器的结构。
[0129] 此外,以上那样的X方向、Y方向以及Z方向的各移动机构不限于实施例,能够采用公知的机构。例如,也可以代替使保持单元25直线移动,而采用相对于旋转基座的中心以圆弧起动进行移动的结构(例如,参照日本特开2006-350264号公报等)。
[0130] <旋转单元>
[0131] 接着,对旋转单元260进行说明。例如,图6是对旋转单元260进行说明的图。
[0132] 例如,在保持单元25设置有开口部26。例如,开口部26使来自投光光学系统30a的测定光通过,并且使被眼镜框架F反射的反射光通过。例如,也可以在开口部26设置覆盖开口部26的透明面板。例如,开口部26将来自投光光学系统30a的测定光从保持单元25的内部朝向外部射出。即,来自投光光学系统30a的测定光通过开口部26朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射。例如,开口部26使被眼镜框架F的镜圈的槽反射的反射光从保持单元25的外部朝向保持单元25的内部的受光光学系统30b通过。即,被眼镜框架F的镜圈的槽反射的反射光通过开口部26而被受光光学系统30b接收。
[0133] 例如,旋转单元260通过以在Z方向上延伸的旋转轴LO为中心使保持单元25旋转,从而变更开口部26朝向的XY方向。例如,旋转单元260具备旋转基座261。例如,保持单元25安装于旋转基座261。例如,旋转基座261被保持为能够以在Z方向上延伸的旋转轴LO为中心旋转。例如,在旋转基座261的下部的外周形成有大径齿轮262。例如,旋转单元260具有安装板252。例如,在安装板252上安装有马达(驱动源)265。例如,小齿轮266固定于马达265的旋转轴,小齿轮266的旋转经由以能够旋转的方式设置于安装板252的齿轮263传递至大径齿轮262。因此,通过马达265的旋转,旋转基座261绕旋转轴LO的轴旋转。例如,马达265的旋转由一体地安装于马达265的编码器(传感器)265a检测,根据编码器265a的输出来检测旋转基座261(即,保持单元25)的旋转角。旋转基座261的旋转的原点位置由省略图示的原点位置传感器检测。此外,以上那样的旋转单元260的各移动机构不限于实施例,能够采用公知的机构。
[0134] 此外,在本实施例中,旋转单元260的旋转轴LO设定为通过后述的投光光学系统30a的光源31的轴。即,旋转单元260以投光光学系统30a的光源31为中心旋转。当然,旋转单元260的旋转轴也可以将不同的位置作为旋转轴。例如,也可以将旋转单元260的旋转轴LO设定为通过后述的受光光学系统30b的检测器37的轴。
[0135] <眼镜框架测定光学系统>
[0136] 接着,对保持单元25所保持的眼镜框架测定光学系统30进行说明。例如,图7是示出眼镜框架测定光学系统30的概略结构图。例如,眼镜框架测定光学系统30用于取得眼镜框架F。例如,在本实施例中,眼镜框架测定光学系统30用于取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。另外,例如,在本实施例中,眼镜框架测定光学系统30用于测定眼镜框架F的形状。
[0137] 例如,在本实施例中,眼镜框架测定光学系统30配置在保持单元25的内部。例如,眼镜框架测定光学系统30由投光光学系统30a和受光光学系统30b构成。例如,投光光学系统30a具有光源,从光源朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射测定光。例如,受光光学系统30b具有检测器,并由检测器接收由投光光学系统30a朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射并由眼镜框架F的镜圈的槽反射的测定光的反射光。
[0138] 例如,在本实施例中,眼镜框架测定光学系统30是基于分流的原理来取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状的结构。例如,投光光学系统30a向眼镜框架的镜圈的槽照射狭缝光。例如,受光光学系统30b具有相对于照射有狭缝光的光轴L1倾斜的光轴L2,具备基于分流的原理配置的透镜和检测器。当然,眼镜框架测定光学系统30也可以不使用基于分流的原理的光学系统,而使用不同结构的光学系统。眼镜框架测定光学系统30只要是取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状的光学系统即可。
[0139] 此外,在实施例中,以投光光学系统30a和受光光学系统30b一体地移动的结构为例进行了说明,但并不限定于此。例如,也可以是在X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220以及旋转单元260中的至少任一个驱动单元中另外分别移动投光光学系统30a和受光光学系统30b的结构。
[0140] <投光光学系统>
[0141] 例如,投光光学系统30a具备光源31、透镜32以及狭缝板33。例如,从光源31射出的测定光通过透镜32聚光而对狭缝板33进行照明。例如,对狭缝板33进行照明的测定光成为被狭缝板33限制成细的狭缝状的测定光,照射到眼镜框架F的镜圈的槽FA。即,例如,狭缝光照射到眼镜框架F的镜圈的槽FA。由此,眼镜框架F的镜圈的槽FA以被狭缝光切断光的形式被照明。
[0142] <受光光学系统>
[0143] 例如,受光光学系统30b具备透镜36和检测器(例如受光元件)37。例如,受光光学系统30b是相对于眼镜框架F的镜圈的槽FA从斜向取得截面形状的结构。例如,受光光学系统30b是基于分流的原理取得眼镜框架F的镜圈的槽FA的截面形状的结构。
[0144] 例如,透镜36将由镜圈的槽FA处的反射而取得的镜圈的槽FA的反射光(例如,镜圈的槽FA的散射光、镜圈的槽FA的正反射光等)引导至检测器37。例如,检测器37具有配置在与眼镜框架F的镜圈的槽FA大致共轭的位置的受光面。例如,受光光学系统30b具有相对于投光光学系统30a的投光光轴L1倾斜的摄像光轴L2,具有基于分流的原理配置的透镜36和检测器37。受光光学系统30b配置成其光轴(摄像光轴)L2与投光光学系统30a的光轴L1以规定的角度相交。例如,通过投光光学系统30a向眼镜框架F的镜圈的槽FA照射的光断面、包括眼镜框架F的镜圈的槽FA的透镜系统(眼镜框架F的镜圈的槽FA及透镜36)与检测器37的受光面(受光位置)以分流的关系配置。
[0145] <控制单元>
[0146] 图8是与眼镜框形状测定装置1相关的控制框图。在控制部50连接有非易失性存储器(存储单元)52、显示器3、开关部4等。
[0147] 例如,控制部50具备CPU(处理器)、RAM、ROM等。控制部50的CPU负责各部分(例如,光源31、检测器37、编码器265a)以及各单元的驱动单元(例如,框架保持单元100的驱动源、各马达225、235、245、265)等装置整体的控制。另外,例如,控制部50作为进行各种运算(例如,基于来自各传感器的输出信号等进行眼镜框架的形状的运算等)的运算单元(解析单元)发挥功能。RAM暂时存储各种信息。在控制部50的ROM中存储有用于控制装置整体的动作的各种程序、初始值等。此外,控制部50也可以由多个控制部(即,多个处理器)构成。非易失性存储器(存储单元)52是即使切断电源的供给也能够保持存储内容的非易失性的存储介质。例如,能够将硬盘驱动器、闪速ROM、以能够装卸的方式安装于眼镜框形状测定装置1的USB存储器等用作非易失性存储器(存储器)52。
[0148] 例如,控制部50与对透镜的周缘进行加工的透镜加工装置300连接。例如,由眼镜框形状测定装置1取得的各种数据被发送到透镜加工装置300的控制部310。透镜加工装置300的控制部310基于接收到的各种数据控制透镜加工装置300的各部分及各单元的驱动单元,进行透镜的加工。当然,透镜加工装置300和眼镜框形状测定装置1也可以是一体构成的装置。
[0149] 例如,在本实施例中,显示器3使用触摸面板式的显示器。即,在本实施例中,显示器3是触摸面板,因此显示器3作为操作部(操作单元)发挥功能。在该情况下,控制部50通过显示器3所具有的触摸面板功能接收输入信号,控制显示器3的图形以及信息的显示等。当然,也可以构成为在眼镜框形状测定装置1另行设置操作部。在该情况下,例如,操作部例如使用鼠标、操纵杆、键盘、触摸面板等中的至少任一个即可。当然,也可以是使用显示器60和操作部双方来操作眼镜框形状测定装置1的结构。此外,在本实施例中,以显示器60作为操作部而发挥功能并且另外具备开关部(操作部)4的结构为例进行说明。
[0150] <控制动作>
[0151] 对具有以上那样的结构的装置的动作进行说明。例如,操作者使镜架保持单元100保持眼镜框架F。例如,操作者使镜框保持单元100保持眼镜框架F,以使眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向且眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向。
[0152] 例如,当眼镜框架F被保持于框架保持单元100时,操作者操作开关部4,开始测定。例如,当输出测定开始的触发信号时,控制部50通过驱动X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220以及旋转单元260中的至少任一个,使保持单元25(投光光学系统30a以及受光光学系统30b)移动来开始眼镜框架F的镜圈的测定。例如,在本实施例中,镜圈的测定从右镜圈FR开始测定。当然,也可以是从左镜圈FL开始测定的结构。
[0153] 例如,控制部50通过使保持单元25移动,对眼镜框架测定光学系统30(投光光学系统30a及受光光学系统30b)测定眼镜框架的镜圈轮廓,由此取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。此外,在本实施例中,投光光学系统30a以及受光光学系统30b在维持分流的关系的状态下相对于眼镜框架F移动。即,通过使眼镜框架测定光学系统30以相对于眼镜框架F的镜圈的槽成为一定的位置关系的方式移动,能够取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。
[0154] 例如,当输出测定开始的触发信号时,控制部50控制移动单元210(X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少一个)以及旋转单元260的驱动,使放置于退避位置的保持单元25移动至测定开始的初始位置。此外,例如,测定开始的初始位置被设定在保持单元25位于右镜圈FR的下端侧的夹紧销130a、130b与夹紧销131a、131b的中央位置。当然,测定开始的初始位置能够设定在任意的位置。
[0155] 例如,当保持单元25移动至测定开始的初始位置时,控制部50使光源31点亮。并且,在光源31点亮的同时,控制部50为了向眼镜框架F的规定位置的镜圈的槽照射测定光,控制移动单元210及旋转单元260中的至少任一个的驱动。
[0156] 例如,在本实施例中,在设定取得镜圈的槽的截面形状的位置的情况下,控制部50控制旋转单元260,设定取得位置。图9A、图9B是对控制旋转单元260而以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况进行说明的图。图9A和图9B以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状。
[0157] 例如,控制部50控制旋转单元260,使投光光学系统30a的光轴L1在XY平面上旋转,使投光光学系统30a的光轴L1沿镜圈的周向移动。即,控制部50控制X旋转单元260,变更取得镜圈的槽的截面形状的矢径角。例如,通过控制旋转单元260,将投光光学系统30a的照射位置T1变更为投光光学系统30a的照射位置T2。
[0158] 例如,在本实施例中,设定取得镜圈的槽的截面形状的位置,在变更测定光相对于镜圈的槽的照射位置的情况下,控制移动单元210(X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个),以使测定光照射于镜圈的槽的方式变更测定光的照射位置。
[0159] 此外,在本实施例中,也可以同时实施取得镜圈的槽的截面形状的位置的设定和测定光相对于镜圈的槽的照射位置的变更。另外,例如,取得镜圈的槽的截面形状的位置的设定不仅可以使用旋转单元260,也可以使用X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个。另外,取得镜圈的槽的截面形状的位置的设定也可以通过X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个来进行。另外,例如,测定光相对于镜圈的槽的照射位置的变更可以是不仅使用X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个也使用旋转单元260的结构。另外,例如,测定光相对于镜圈的槽的照射位置的变更也可以是仅使用旋转单元260的结构。
[0160] 例如,通过光源31的点亮,眼镜框架F的镜圈的槽被狭缝光进行光切断。从被狭缝光进行了光切断的眼镜框架F的镜圈的槽的反射光朝向受光光学系统30b,被检测器37接收。例如,控制部50基于由检测器37接收到的反射光,取得眼镜框架的镜圈的槽的二维截面形状。此外,在本实施例中,作为截面形状,取得截面图像。当然,截面形状也可以是作为信号而取得的结构。
[0161] 在此,在没有向眼镜框架F的镜圈的槽照射测定光的情况下,无法取得截面形状(在本实施例中为截面图像)。因此,控制部50在未对眼镜框架F的镜圈的槽照射测定光的情况下,进行用于向眼镜框架F的镜圈的槽照射测定光的驱动控制。以下,对用于向眼镜框架F的镜圈的槽照射测定光的驱动控制进行说明。
[0162] 例如,图10是示出以使测定光照射到眼镜框架F的镜圈的槽的方式使保持单元25移动之前的受光结果的图。例如,图11是示出以使测定光照射到眼镜框架F的镜圈的槽的方式使保持单元25移动之后的受光结果的图。
[0163] 例如,在图10中,投光光学系统30a的照射位置T3不位于镜圈的槽。因此,无法接收来自眼镜框架F的镜圈的槽的反射光。例如,在未接收反射光的状态下,在控制部50取得截面图像的情况下,在表示取得结果的图像40上不显示截面图像。另一方面,在图11中,投光光学系统30a的照射位置T4位于镜圈的槽。因此,能够接收来自眼镜框架F的镜圈的槽的反射光。例如,在能够接收反射光的状态下,在控制部50取得截面图像的情况下,在表示取得结果的图像40上显示截面图像41。
[0164] 例如,在本实施例中,控制部50在以使测定光照射到眼镜框架F的镜圈的槽的方式使保持单元25移动时,基于受光结果来控制移动单元210。例如,控制部50基于是否能够取得截面图像来控制移动单元210。例如,控制部50对移动单元210进行控制,以对所取得的图像40进行解析,在无法检测出截面图像的情况下检测出截面图像。
[0165] 例如,控制部50通过检测亮度值的变化,能够检测是否取得截面图像。例如,在取得截面图像的情况下,检测出一定的亮度值。即,反射光能够由检测器检测,因此亮度值上升。图12是对亮度值的检测进行说明的图。例如,控制部50对所取得的截面图像按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、…扫描线Sn的顺序进行亮度值的检测,得到亮度分布。即,控制部50通过检测亮度值,能够从图像上提取镜圈的截面图像。
[0166] 在此,根据眼镜框架F的类型,有时接收的反射光的亮度等级不良好,难以高精度地取得镜圈的槽的截面形状。因此,控制部50控制亮度等级。由此,能够高精度地取得镜圈的槽的截面形状。以下,对亮度等级的控制进行说明。此外,在本实施例中,作为进行亮度等级的控制的结构,以控制光源31的投光光量的结构为例进行说明。当然,作为进行亮度等级的控制的结构,并不限定于上述结构。
[0167] 另外,例如,作为进行亮度等级的控制的结构,可以是控制检测器37的增益的结构、在从光源31到检测器37的光路中设置调整测定光的光量的部件的结构、控制检测器37中的曝光时间的结构、控制光源31的发光时间的结构等中的至少任一个。
[0168] 在本实施例中,例如,控制部50在进行控制以能够检测截面图像之后,进行预测定(正式测定的前测定)。例如,控制部50在测定开始的初始位置进行预测定,取得截面图像。例如,控制部50根据截面图像检测亮度等级(亮度值),基于检测出的亮度等级来控制亮度等级。例如,控制部50判定亮度等级是否为允许等级,在得到亮度等级不满足允许等级这样的判定结果的情况下,控制亮度等级。
[0169] 此外,进行预测定的位置并不限定于初始位置。例如,也可以由操作者选择任意的位置,设定为进行预测定的位置。另外,例如,预测定也可以在多个位置进行。在该情况下,例如,也可以是,在得到在进行预测定的多个位置处至少一个以上的位置处预测定亮度等级不满足允许等级这样的判定结果的情况下,控制亮度等级。此外,也可以是,在得到在所有位置处预测定亮度等级不满足允许等级这样的判定结果的情况下,控制亮度等级。
[0170] 更详细地进行说明。在本实施例中,例如,控制部50根据截面图像检测亮度值,使用规定的评价值作为表示亮度等级的指标。例如,评价值可以通过评价值=((图像的平均最大亮度值)-(图像的背景区域的平均亮度值))/(背景区域的亮度值的标准偏差)的式子求出。例如,控制部50对所取得的截面图像按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、…扫描线Sn的顺序进行亮度值的检测,得到亮度分布。
[0171] 在此,例如,控制部70根据与各扫描线对应的亮度分布算出亮度值的最大值(以下,省略最大亮度值)。并且,控制部70算出各扫描线中的最大亮度值的平均值作为截面图像中的最大亮度值。并且,控制部70算出各扫描线中的背景区域的亮度值的平均值作为截面图像中的背景区域的平均亮度值。
[0172] 例如,控制部50判定如上述那样取得的截面图像的评价值是否满足规定的阈值。此外,规定的阈值也可以是预先设定的阈值。例如,也可以预先通过模拟或实验等设定判定为亮度等级良好的阈值。例如,阈值也可以是检查者能够任意设定的结构。另外,例如,阈值也可以基于所取得的截面图像来设定。
[0173] 例如,控制部50基于该判定结果,控制(变更)光源76的投光光量。例如,控制部50在判定为截面图像的评价值不满足规定的阈值(例如,小于规定的阈值)的情况下,进行控制以使亮度等级变高。例如,控制部50在判定为截面图像的评价值不满足规定的阈值的情况下,使光源31的投光光量增加,以使截面图像的评价值满足规定的阈值。
[0174] 另外,例如,控制部50在判定为截面图像的评价值满足规定的阈值(例如,为规定的阈值以上)的情况下,不进行亮度等级的控制,维持光源31的投光光量。当然,控制部50也可以在判定为截面图像的评价值满足规定的阈值的情况下,也以成为更适当的亮度等级的方式进行亮度等级的控制。例如,由于截面图像的亮度等级过高,有时难以检测眼镜框架的镜圈的截面形状。因此,也可以在评价值满足规定的阈值并且评价值与阈值之差大于规定值的情况下,控制亮度等级,使得差成为规定值以下。
[0175] 此外,作为控制亮度等级时的判定方法,不限于上述方法。例如,作为判定方法,也可以在截面图像中判定对各像素的亮度值进行累计而得到的累计值(各像素的亮度值的总和)是否满足允许等级。另外,例如,作为判定方法,也可以判定截面图像中的各像素的亮度值的总和除以像素数时的平均值(总亮度的加权平均)是否满足允许等级。即,只要是能够基于截面图像中的亮度分布来判定亮度等级是否对镜圈的截面形状的检测产生影响的判定方法即可。
[0176] 例如,若进行预测定,亮度等级的控制完成,则控制部50开始正式测定。如以上那样,能够取得规定的位置处的镜圈的槽的截面图像。例如,控制部50控制旋转单元260,一边以旋转轴(在本实施例中,通过光源31的轴)LO为中心变更矢径角,一边变更取得镜圈的槽的截面图像的位置。由此,取得镜圈的截面图像的位置在镜圈的周向上移动。例如,每当变更取得镜圈的截面图像的位置时,控制部50控制移动单元210,以使测定光照射到镜圈的槽的方式进行照射位置的变更。
[0177] 例如,控制部50在各矢径角位置取得镜圈的槽的截面图像时,每隔规定的旋转角度将截面图像存储于存储器52。另外,根据马达225的脉冲数、马达235的脉冲数、马达245的脉冲数、编码器265a的检测结果中的至少任一个来运算取得各截面图像的位置,并存储于存储器52。即,通过取得马达225的脉冲数、马达235的脉冲数、马达245的脉冲数、编码器265a的检测结果中的至少任一个,能够确定取得镜圈的截面图像的位置。这样,例如,控制部50能够取得取得了镜圈的槽的断层图像的位置(取得位置信息)。例如,取得位置信息能够在取得镜圈的槽的三维截面图像、眼镜框架的形状等时使用。
[0178] 例如,控制部50通过对取得的截面图像进行解析处理,能够取得与镜圈的槽相关的各种参数。图13是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。例如,控制部50通过图像处理取得截面图像的亮度分布,从而能够取得镜圈的槽的参数。例如,作为镜圈的槽的参数,控制部50能够得到到镜圈的槽的底为止的距离K1、镜圈的槽的左右的斜面角度θ1、θ2、镜圈的槽的左右的斜面长度K2、K3、左右的镜圈肩的长度K4、K5等。
[0179] 例如,控制部50通过遍及镜圈的整周地反复进行所述控制,能够取得镜圈的整周上的镜圈的槽的截面图像。例如,若镜圈整周上的镜圈的槽的截面图像的取得完成,则控制部50调出存储于存储器52的镜圈整周的截面图像及其取得位置信息,进行运算处理,取得三维截面图像。例如,控制部50将所取得的三维截面图像存储于存储器52。此外,在本实施例中,以镜圈整周上的截面图像的取得完成之后取得三维截面图像的结构为例进行了说明,但并不限定于此。也可以构成为,每当在镜圈的槽的截面图像的各取得位置取得截面图像时,进行运算处理。
[0180] 此外,例如,控制部50能够从所取得的截面图像取得眼镜框架的形状(形状数据)。例如,控制部50根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面图像分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底,并基于检测到的检测结果,取得眼镜框架的形状。
[0181] 例如,控制部50通过图像处理取得截面图像的亮度分布,由此检测镜圈的槽的底的位置。如图12所示,例如,控制部50对所取得的截面图像按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、…扫描线Sn的顺序进行亮度值的检测,得到亮度分布。例如,控制部50也可以在所得到的亮度分布中将在最下侧的位置进行亮度值的检测的位置检测为镜圈的槽的底。
[0182] 例如,控制部50分别对按各矢径角取得的截面图像进行处理,分别检测图像上的镜圈的槽的底的位置。例如,控制部50根据根据截面图像检测出的图像上的镜圈的槽的底的位置和取得该截面图像的取得位置信息,取得镜圈的槽的底的位置信息。例如,控制部50从在各矢径角位置分别取得的截面图像检测图像上的镜圈的槽的底的位置,根据检测出的图像上的镜圈的槽的底的位置和取得该截面图像的取得位置信息,分别取得各矢径角的镜圈的槽的底的位置信息。由此,例如,控制部50取得眼镜框架F的三维形状(rn、zn、θn)(n=1、2、3、…、N)。例如,眼镜框架Fn的三维形状可以遍及镜圈的整周而取得,也可以在镜圈的整周中的一部分区域中取得。如上所述,能够取得眼镜框架F的形状。
[0183] 此外,在本实施例中,以通过按各矢径角来取得镜圈的槽的底的位置信息来取得眼镜框架的三维形状的结构为例进行了说明,但并不限定于此。例如,在取得眼镜框架的三维形状时,对于在各矢径角未取得镜圈的槽的底的位置信息的位置,也可以基于周边的矢径角位置的镜圈的槽的底的位置信息进行插补,由此取得镜圈的槽的底的位置信息。另外,例如,在取得眼镜框架的三维形状时,也可以在各矢径角位置,对于未取得镜圈的槽的底的位置信息的位置,根据周边的矢径角位置的镜圈的槽的底的位置信息的近似的结果进行插补。
[0184] 例如,当右镜圈FR的测定结束时,控制部50控制X移动单元240的驱动,使保持单元25移动到左镜圈FL的测定用的规定位置。与上述测定控制同样地,取得右镜圈FR的截面形状的取得和眼镜框架的形状。右镜圈FR及左镜圈FL的截面图像和形状存储于存储器52。
[0185] 此外,例如,也可以基于所取得的眼镜框架的三维形状来取得各种参数。例如,也可以从眼镜框架的三维形状取得二维形状。例如,二维形状可以通过将三维形状投影到眼镜框架F的正面方向的XY平面上的形状来取得。此外,以从三维形状取得二维形状的结构为例进行了说明,但并不限定于此。在基于各矢径角位置的镜圈的截面图像来取得镜圈的槽的底的位置信息时,也可以通过仅检测XY平面上的镜圈的槽的底的位置信息来取得。
[0186] 如以上那样,由眼镜框形状测定装置1取得的镜圈的槽的截面形状、眼镜框架的形状等由控制部50发送到透镜加工装置300。例如,透镜加工装置300的控制部310接收由眼镜框形状测定装置1取得的镜圈的槽的截面形状、眼镜框架的形状等。
[0187] 例如,作为透镜加工装置300,具备将透镜保持于透镜卡盘轴而旋转的透镜旋转单元和使安装于加工件旋转轴的加工件旋转的加工件旋转单元。例如,在透镜加工装置300中,透镜加工装置的控制部310基于由眼镜框形状测定装置1取得的取得信息(例如眼镜框架的镜圈的槽的截面形状、眼镜框架的形状等),控制透镜旋转单元和加工件旋转单元,进行透镜的周缘加工。此外,作为透镜加工装置的控制部310,可以是兼用作眼镜框形状测定装置1的控制部的结构,也可以是另行设置用于进行透镜加工装置的各种控制的控制部310的结构。
[0188] 例如,在本实施例中,眼镜框形状测定装置具备:投光光学系统,所述投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈从光源照射测定光;受光光学系统,所述受光光学系统由检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈照射并由眼镜框架的镜圈反射的测定光的反射光;以及取得单元,所述取得单元基于由检测器接收到的反射光来取得眼镜框架的镜圈的截面形状。由此,例如,能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。另外,例如,由于是基于测定光的测定,因此能够迅速地进行测定。
[0189] 另外,例如,在本实施例中,眼镜框形状测定装置具备变更测定光相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置的第一变更单元和控制第一变更单元的第一控制单元。由此,能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光,能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。
[0190] 另外,例如,在本实施例中,在眼镜框形状测定装置中,第一变更单元是使投光光学系统的至少一部分的位置移动的变更单元,第一控制单元通过控制第一变更单元,使投光光学系统的至少一部分的位置相对于眼镜框架的镜圈的槽进行变更,变更测定光相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。由此,能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光,能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。
[0191] 另外,例如,在本实施例中,眼镜框形状测定装置具备变更受光光学系统接收反射光的受光位置的第二变更单元和控制第二变更单元的第二控制单元。由此,能够在能够良好地取得镜圈的槽的截面形状的位置变更受光位置,能够更高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。
[0192] 另外,例如,在本实施例中,在眼镜框形状测定装置中,第一控制单元控制第一变更单元,对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状。眼镜框形状测定装置具备解析单元,所述解析单元根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底,并基于检测出的检测结果来取得眼镜框架的形状。由此,如以往那样,根据眼镜框架,能够抑制测定件从透镜框的槽脱落而无法测定的情况,能够容易且高精度地对各种形状的眼镜框架取得眼镜框架的形状。
[0193] 另外,例如,在本实施例中,在眼镜框形状测定装置中,第一控制单元控制第一变更单元,对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状,取得三维截面形状。由此,能够容易且高精度地取得眼镜框架的三维截面形状。
[0194] 另外,例如,在本实施例中,透镜加工装置具备加工控制单元,该加工控制单元基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状对透镜的周缘进行加工。由此,在将加工后的透镜良好地放入眼镜框架时,成为镜圈的槽的形状和加工后的透镜的轮廓形状接近的形状,因此能够良好地进行放入。
[0195] 此外,在本实施例中,截面形状和眼镜框架的形状中的至少任一个可以显示在显示器3上。当然,也可以显示在透镜加工装置300的未图示的显示器上。例如,截面形状和眼镜框架的形状也可以在显示器3上在不同的画面上显示。在该情况下,也可以通过切换画面来切换显示截面形状和眼镜框架的形状。另外,例如,截面形状和眼镜框架的形状也可以显示在同一画面上。在该情况下,例如,截面形状和眼镜框架的形状也可以排列配置在同一画面上。此时,例如,在眼镜框架的形状中,也可以进行表示能够识别截面形状的取得位置那样的截面形状的取得位置的显示。另外,在该情况下,例如也可以重叠显示截面形状和眼镜框架的形状。在进行重叠显示的情况下,也可以基于截面形状的取得位置信息和镜圈槽的截面形状的取得位置,使截面形状与眼镜框架的形状对位。
[0196] 此外,在本实施例中,以根据截面图像检测亮度等级来进行亮度等级的控制的结构为例进行了说明,但并不限定于此。例如,可以基于眼镜框架类型信息来控制亮度等级。例如,也可以是预先按照每个眼镜框架类型设定用于控制亮度等级的设定的结构。在该情况下,例如,当操作者选择眼镜框架类型时,控制部50进行与所选择的眼镜框架类型对应的亮度等级的控制设定。例如,控制部50将光源31的投光光量设定为与所选择的眼镜框架类型对应的投光光量。
[0197] 此外,基于眼镜框架类型信息的亮度等级的控制并不限定于光源的投光光量的控制。例如,可以是基于眼镜框架类型信息来控制检测器37的增益的结构、在从光源31到检测器37的光路中设置调整测定光的光量的部件的结构、控制检测器37中的曝光时间的结构、控制光源31的发光时间的结构等中的至少任一个。当然,作为基于眼镜框架类型信息来控制亮度等级的结构,只要是能够控制亮度等级的结构,也可以是与上述结构不同的结构。
[0198] 此外,作为眼镜框架类型,只要是设定眼镜框架的形状、眼镜框架的材料、眼镜框架的颜色、眼镜框架的设计等中的至少一个的结构即可。例如,也可以按各项目设定眼镜框架类型。在该情况下,也可以是,进行如下设定等:作为眼镜框形状,设定为半框,作为眼镜框架材料,设定为金属,作为眼镜框架的颜色,设定为灰色(灰色)。
[0199] 另外,在选择规定的眼镜框架类型时,除了所选择的眼镜框架类型以外,也可以构成为设定其他项目的眼镜框架类型。例如,在选择金属、塑料、环氧树脂的任一种眼镜框架的材料的情况下,眼镜框架的形状也可以被设定为全镜圈。在该情况下,预先进行眼镜框架类型间的对应即可。
[0200] 此外,作为眼镜框架类型,并不限定于这些类型,能够设定各种类型的眼镜框架。当然,眼镜框架类型也可以是能够由检查者任意地追加或删除的结构。
[0201] 作为一例,例如,在用塑料设定眼镜框架的材料的情况下,控制部50也可以进行控制以使亮度等级比眼镜框架的材料为金属的情况下的亮度等级高。例如,在用塑料设定眼镜框架的材料的情况下,控制部50也可以进行控制,以使光源31的投光光量比用于测定金属的光源31的投光光量增加。另外,例如,在用塑料设定眼镜框架的材料的情况下,控制部50也可以进行控制,以使检测器37的增益比用于测定金属的检测器37的增益高。
[0202] 标号说明
[0203] 1眼镜框形状测定装置
[0204] 3显示器
[0205] 4开关部
[0206] 10框架保持单元
[0207] 20测定单元
[0208] 25保持单元
[0209] 30眼镜框架测定光学系统
[0210] 30a投光光学系统
[0211] 30b受光光学系统
[0212] 31光源
[0213] 37检测器
[0214] 50控制部
[0215] 52存储器
[0216] 210移动单元
[0217] 220Z移动单元
[0218] 230Y移动单元
[0219] 240X移动单元
[0220] 260旋转单元
[0221] 300透镜加工装置
[0222] 310控制部
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