专利汇可以提供一种基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 的技术方案包括一种基于 焊缝 X射线 数字图像的圆形 缺陷 识别方法,该方法包括:S1,采集带有圆形缺陷的焊缝X射线图像;S2,使用总变分模型的显示差分 算法 对所述步骤A采集的焊缝X射线图像进行去噪处理;S3,通过Canny 边缘检测 算子初步确定圆形缺陷的边缘;S4,对所述步骤C得到的图形进行数学形态学处理,进一步确定圆形缺陷的边缘轮廓、质心及面积。本发明的有益效果为:本发明的技术方案提高了对于焊缝X射线圆形缺陷的检测速度与准确性。,下面是一种基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法专利的具体信息内容。
1.一种基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法,其特征在于,该方法包括:
S1,采集带有圆形缺陷的焊缝X射线图像;
S2,使用总变分模型的显式差分算法对所述步骤A采集的焊缝X射线图像进行去噪处理;
S3,通过Canny边缘检测算子初步确定圆形缺陷的边缘;
S4,对所述步骤S3得到的图形进行数学形态学处理,进一步确定圆形缺陷的边缘轮廓、质心及面积。
2.根据权利要求1所述的基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法,其特征在于,所述的步骤S1还包括:
将待检测装置的焊缝部位放置于X射线无损检查器下,并通过X光成像获取焊缝的X射线图像。
3.根据权利要求1或2所述的基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法,其特征在于,所述的步骤S2还包括子步骤:
S301,将视为能量泛函的最小化问题并将含噪声图像模型定义为
Xm=Mu+u(1),
其中公式(1)中的Xm为含噪声的焊缝的X射线图像,u为干净图像;
S302,进一步对含噪图像图模型进行平衡图像去噪和平滑处理,其包括对噪声的去除的能量最小化进行计算,其计算公式为
其中 为保真项, 为正则化项,参数λ为规整参数,进一
步将λ设置为高斯滤波器;
S303,执行对公式(2)的梯度下降流处理,采用总变分模型的显式差分方法恢复干净图像并去除噪声,其中对公式(2)的梯度下降流处理结果的公式为
其中,div为散度算子,▽为梯度算子。
4.根据权利要求3所述的基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法,其特征在于,所述的步骤S3的Canny边缘检测还包括以下子步骤:
S401,对图像使用带有指定标准偏差σ的高斯滤波器来平滑图像;
S402,在图像的每一点计算局部梯度 和边缘方向α(x,y)=arctan
(ly/lx),边缘点为梯度方向上其强度局部最大点,所确定的边缘点会导致梯度幅度图像中出现脊;
S403,执行非最大值抑制处理,包括查找脊的顶部,并将所有不在脊的顶部的像素设为零;
S404,将不连接的弱像素集成到强像素,执行边缘连接。
5.根据权利要求4所述的基于焊缝X射线数字图像的圆形缺陷识别方法,其特征在于,所述的步骤S403还包括:
脊像素使用两个阈值T1和T2做阈值处理,其中T1
S601,将通过Canny边缘检测得到的二值图像矩阵设置为A,膨胀腐蚀模型版设置为B,A首先通过与B进行形态学开运算去除孤立点,然后与B进行形态学闭运算连接非封闭边缘,其运算公式如下所示
S602,设置C为对称结构元素,并对二值图像A的封闭区域进行区域填充,其中C设置为
其中的圆形缺陷填充过程为 其中为X0圆形缺陷内一
点且X0=1,当Xk=Xk-1时则算法在迭代的第k步结束;
S603,对填充后的二值图像进行连通分量的提取标记,其包括设置Y表示为包含于二值图像的连通分量,并且设置X0为Y中的一个已知点,对Y进行迭代生产,其公式为其中k=1,2,3Λ,当Xk=Xk-1时,则对算法进行收敛,并且Y=Xk;
S604,基于标记的连接分量确定图像圆形缺陷的质心以及面积。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
组合共焦X射线荧光和X射线计算机断层扫描的系统和方法 | 2020-05-11 | 589 |
X射线管 | 2020-05-12 | 342 |
X射线管 | 2020-05-12 | 777 |
X射线管 | 2020-05-12 | 217 |
X射线管 | 2020-05-13 | 212 |
用于痕量元素制图的单色x射线微束 | 2020-05-11 | 307 |
X射线管 | 2020-05-11 | 547 |
X射线仪 | 2020-05-11 | 153 |
X射线源 | 2020-05-12 | 513 |
X射线管 | 2020-05-13 | 691 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。