专利汇可以提供一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 提供了一种可以快速检查大面积Low-E 镀 膜 玻璃膜层 缺陷 的方法。其特征在于,在密闭环境中采用 腐蚀 性 蒸汽 侵蚀膜层,膜层中缺陷部位和其它部位侵蚀速度不同而显现出不同的外观形貌,从而快速直观判定缺陷的 位置 和类型。本方法尤其适用于异地可 钢 产品的缺陷检查,可以省却钢化处理的过程,大大节省缺陷检查的时间。,下面是一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法专利的具体信息内容。
1.一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,采用具有弱腐蚀性的蒸汽侵蚀玻璃镀膜层,膜层中缺陷部位和其它部位侵蚀速度不一样而显现出不同的外观形貌,从而快速直观判定缺陷的位置以及类型。
2.根据权利要求1所述的一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,具有腐蚀性的蒸汽是由易挥发的液体加热而得到,蒸汽能够腐蚀玻璃膜层,但对环境的污染非常小,常用材料有柠檬酸、84消毒液等。
3.根据权利要求1所述的一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,腐蚀的过程是在密闭的箱体中进行,箱体由入水、出水、加热、控制系统、排气系统及玻璃架组成,玻璃架用于摆放待检测玻璃。
4.根据权利要求1所述的一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,此方法能够检测出所有的膜层缺陷,包括膜面划伤、水滴、风刀印迹、刷毛印迹、吸盘印迹等。
5.根据权利要求1所述的一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,此方法检查缺陷速度非常快,尤其适用于异地可钢膜层,无需进行钢化就可以直接看到缺陷。
6.根据权利要求1所述的一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,待检测玻璃经过腐蚀后,在厂房内使用色温约2700K的光源照射检查,无需搬离厂房。
7.根据权利要求1所述的一种快速检查大面积Low-E镀膜玻璃膜层缺陷的方法,其特征在于,工艺流程为:
玻璃大板切割成统一尺寸的小片,按照顺序依次放入玻璃架上,玻璃膜面朝下,与竖直方向夹角15~20°;
将玻璃架推入箱体,箱体底部放置定量的柠檬酸或84消毒液,关闭箱门;
向箱体中喷淋一定量的温度为60~70℃的热水,静置10~15分钟;
将热水排出,向箱体中喷淋去离子水5~10分钟;
将水排干,取出玻璃检查缺陷情况。
【技术领域】
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