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一种主轴轴向窜动的测量方法

阅读:146发布:2020-05-12

专利汇可以提供一种主轴轴向窜动的测量方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及一种 主轴 轴向窜动的测量方法,该方法包括:测量 电机 轴向窜动值a;判断电机轴向窜动值a是否大于一设定值b;当电机轴向窜动值a大于设定值b,对前端盖和/或后端盖施加沿电机 转子 轴向的压 力 ,使得前端盖和/或后端盖向内凹陷发生形变;以及当前端盖和/或后端盖凹陷的总深度大于等于形变量c值时,撤去压力,其中,c=a-b。本发明的有益效果是:由于当检测获得的主轴轴向窜动值大于设定值时,利用端盖具有弹性和塑性 变形 的特性,对前端盖和后端盖中的任意一个或者两个结合而施加沿机器转子轴向的压力,使得端盖向内凹陷发生形变,从而减小主轴向窜动值,直到主轴轴向窜动值小于等于设定值,进而使得机器能够达到使用的标准而可继续使用,从而不用报废 电动机 ,节约资源。,下面是一种主轴轴向窜动的测量方法专利的具体信息内容。

1.一种主轴轴向窜动的测量方法,其特征在于,所述方法包括:
1)测量所述主轴轴向窜动值a;
2)判断所述主轴轴向窜动值a是否大于一设定值b;
3)当所述主轴轴向窜动值a大于所述设定值b,对所述前端盖和/或后端盖施加沿电机
4)转子轴向的压,使得所述前端盖和/或后端盖向内凹陷发生形变;
5)当所述前端盖和/或后端盖凹陷的总深度等于形变量c值时,撤去压力,其中,c=a-b。

说明书全文

一种主轴轴向窜动的测量方法

技术领域

[0001] 本发明涉及检测技术领域,尤其是一种主轴轴向窜动的测量方法。

背景技术

[0002] 在实际使用中,主轴轴向窜动而造成的问题占到相当一部分,主轴轴向窜动值过大或过小往往会直接影响到设备的平稳运行,噪声的产生,特别是在使用精密设备的情况下,影响较为严重,轴向窜动过大,主轴运行时机械振动会变大,噪声变大,还会对其主轴产生不良作用从而降低机器的使用寿命,对于主轴轴向窜动的检测极为重要,必须是全检,而检测效率又是整个生产工艺的瓶颈

发明内容

[0003] 本发明提供一种主轴轴向窜动的测量方法。
[0004] 为实现上述的发明目的,本发明采取的实施方式如下:
[0005] 测量所述电机轴向窜动值a,判断所述主轴轴向窜动值a是否大于一设定值b,当所述主轴向窜动值a大于所述设定值b,对所述前端盖和/或后端盖施加沿电机,转子轴向的压,使得所述前端盖和/或后端盖向内凹陷发生形变,当所述前端盖和/或后端盖凹陷的总深度等于形变量c值时,撤去压力,其中,c=a-b。
[0006] 本发明的有益效果是:
[0007] 由于当检测获得的主轴轴向窜动值大于设定值时,利用端盖具有弹性和塑性变形的特性,对前端盖和后端盖中的任意一个或者两个结合而施加沿机器转子轴向的压力,使得端盖向内凹陷发生形变,从而减小主轴向窜动值,直到主轴轴向窜动值小于等于设定值,进而使得机器能够达到使用的标准而可继续使用,从而不用报废电动机,节约资源。

具体实施方式

[0008] 以下结合实施例,对依据本发明提供的具体实施方式详述如下:
[0009] 实施例1
[0010] 1)测量所述主轴轴向窜动值a;
[0011] 2)判断所述主轴轴向窜动值a是否大于一设定值b;
[0012] 3)当所述主轴轴向窜动值a大于所述设定值b,对所述前端盖和/或后端盖施加沿电机4)转子轴向的压力,使得所述前端盖和/或后端盖向内凹陷发生形变;
[0013] 5)当所述前端盖和/或后端盖凹陷的总深度等于形变量c值时,撤去压力,其中,c=a-b。
[0014] 本发明的有益效果是:
[0015] 由于当检测获得的主轴轴向窜动值大于设定值时,利用端盖具有弹性和塑性变形的特性,对前端盖和后端盖中的任意一个或者两个结合而施加沿机器转子轴向的压力,使得端盖向内凹陷发生形变,从而减小主轴向窜动值,直到主轴轴向窜动值小于等于设定值,进而使得机器能够达到使用的标准而可继续使用,从而不用报废电动机,节约资源。
[0016] 以上对本发明的一个实施例进行了详细说明,但所述内容仅为本发明的较佳实施例,不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等,均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。
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