阈值选择方法及设备
阅读：747发布：2020-05-13
专利汇可以提供阈值选择方法及设备专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 阈值 选择方法及设备，包括：获取一组不含金属的产品 采样 数据和至少一组含金属的产品采样数据；根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组；根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。本发明根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，按照误检率、漏检率的要求选择合适的阈值，使阈值的选择得到有效的量化数据 支撑 ，选择的阈值更符合实际使用需求，降低误检率、保证漏检率，提高对产品 质量 的监测。，下面是阈值选择方法及设备专利的具体信息内容。
1.一种阈值选择方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；
S2根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组；
S3根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
2.如权利要求1所述的阈值选择方法，其特征在于，所述的根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
当所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
3.如权利要求2所述的阈值选择方法，其特征在于，所述的根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
根据所述不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；
根据每组所述含金属的产品采样数据，计算每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差；
根据所述产品平均值、所述产品标准差、所述预设界限参数和预设正态公式，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；
根据所述预设界限参数、预设正态公式和每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
4.如权利要求2所述的阈值选择方法，其特征在于，所述预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值。
5.如权利要求1所述的阈值选择方法，其特征在于，所述的根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值设为阈值包括：
根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和所述产品误检率组，绘制对应的曲线图；
根据误检漏检率的要求，从所述曲线图上选择相应的数值作为阈值。
6.如权利要求1-5任一所述的阈值选择方法，其特征在于：
所述步骤S1包括：当达到一定时间间隔时，获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；
所述步骤S2包括：根据一定时间间隔获取的所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
7.如权利要求6所述的阈值选择方法，其特征在于，所述步骤S3进一步包括：
当已设置的阈值符合所述误检漏检率的要求，仍采用此阈值；
当已设置的阈值不符合所述误检漏检率的要求，则根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，重新选择相应的数值更新或提示更新所述阈值。
8.一种阈值选择设备，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；
计算模块，用于根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组；
选择模块，用于根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
9.如权利要求8所述的阈值选择设备，其特征在于，所述计算模块，用于根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
所述计算模块，当所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
10.如权利要求9所述的阈值选择设备，其特征在于，所述计算模块，根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
所述计算模块，根据所述不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；以及，根据每组所述含金属的产品采样数据，计算每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差；以及，根据所述产品平均值、所述产品标准差、所述预设界限参数和预设正态公式，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；以及，根据所述预设界限参数、预设正态公式和每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
11.如权利要求8所述的阈值选择设备，其特征在于，所述选择模块，用于根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：
绘图子模块，用于根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和所述产品误检率组，绘制对应的曲线图；
选择子模块，用于根据误检漏检率要求，从所述曲线图上选择相应的数值作为阈值。
12.如权利要求8所述的阈值选择设备，其特征在于，还包括：
摄像模块，用于实时获取金属探测器的工作状态；
所述获取模块，进一步用于根据实时获取的金属探测器的工作状态，识别出一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
13.如权利要求8-12任一所述的阈值选择设备，其特征在于，所述获取模块，进一步用于当达到一定时间间隔时，获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
14.如权利要求13所述的阈值选择设备，其特征在于，所述选择模块，进一步用于当已设置的阈值符合所述误检漏检率的要求，仍采用此阈值；以及，当已设置的阈值不符合所述误检漏检率的要求，则根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，重新选择相应的数值更新或提示更新所述阈值。
阈值选择方法及设备
技术领域
[0001] 本发明涉及金属探测器领域，尤其涉及一种阈值选择方法及设备。
背景技术
[0002] 现在很多领域(例如：食品、制药、橡胶、化工等)都会监测生产过程中可能混入产品中的金属异物，其原理是：当产品中混有一定尺寸的金属异物时，金属探测器将会产生一个更大的信号，在用户使用时，通过设定不同的信号阈值让该金属探测器来实现对金属异物的监测和判断。
[0003] 例如，正常产品的信号值可能在100以内跳动，当混有一定尺寸的金属异物时(比如1.5mm)，将产生一个更大的可能是300甚至500的信号。此时，如果设定的阈值是300，那么任何信号值超过300的产品，都被认为不合格，即金属探测器判定它有金属；同时，因为各种原因的影响，即使同一个异物重复通过金属探测器，每次产生的信号值也是不同的。
[0004] 现在的阈值设定通常都是根据使用者的经验自行设置，但是这种凭经验选择的阈值在使用过程中因金属探测器的精度不同、使用环境不同以及每个人的感觉不同等各种不确定的、难以量化的因素影响，存在很大的不稳定性，没有明确的、可量化的依据，无法满足低误检率、低漏检率的高品质监测的需求。
发明内容
[0005] 本发明的目的是提供一种阈值选择方法及设备，根据可靠的量化数据选择阈值，既满足低误检率，又实现低漏检率的科学监测的需求。
[0006] 本发明提供的技术方案如下：
[0007] 一种阈值选择方法，包括：获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组；根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
[0008] 在上述技术方案中，根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，按照误检率、漏检率的要求选择合适的阈值，使阈值的选择得到有效的量化数据支撑，选择的阈值更符合实际使用需求，降低误检率、漏检率，提高产品质量的监测效率和品质管理工作的质量。
[0009] 进一步，所述的根据不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：当所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0010] 在上述技术方案中，当符合正态分布规律时，可采用预设正态公式计算漏检率组和误检率组。
[0011] 进一步，所述的根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：根据所述不含金属的产品采样数据，计算对应的产品(信号的)平均值和产品标准差；根据每组所述含金属的产品采样数据，计算每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属(信号的)平均值和金属标准差；根据所述产品平均值、所述产品标准差、所述预设界限参数和预设正态公式，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；根据所述预设界限参数、预设正态公式和每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
[0012] 在上述技术方案中，明确了各采样数据符合正态分布规律时的详细计算方式，保证了数据的精确性，进一步保证了阈值的合理性。
[0013] 进一步，所述预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值。
[0014] 在上述技术方案中，最大/小阈值的设定可以杜绝不必要的数据计算，减少计算量。
[0015] 进一步，所述的根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率要求，选择相应的数值设为阈值包括：根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和所述产品误检率组，绘制对应的曲线图；根据误检漏检率要求，从所述曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0016] 在上述技术方案中，以曲线图的方式呈现，让使用者更直观、清楚地了解阈值选择的原因。
[0017] 进一步，所述步骤S1包括：当达到一定时间间隔时，获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；所述步骤S2包括：根据一定时间间隔获取的所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0018] 在上述技术方案中，周期性地获取采样数据，对阈值进行周期性地监测，使金属探测器的阈值满足实际生产需求。
[0019] 进一步，所述步骤S3进一步包括：当已设置的阈值符合所述误检漏检率的要求，仍采用此阈值；当已设置的阈值不符合所述误检漏检率的要求，则根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，重新选择相应的数值更新或提示更新所述阈值。
[0020] 在上述技术方案中，当已设置的阈值不符合当前的情况时，可进行调整，使金属探测器的检测结果时刻满足生产要求。
[0021] 本发明还提供一种阈值选择设备，包括：获取模块，用于获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；计算模块，用于根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组；选择模块，用于根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
[0022] 在上述技术方案中，根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，按照误检漏检率要求选择合适的阈值，使阈值的选择得到有效的量化数据支撑，选择的阈值更符合实际使用需求，降低误检率和漏检率，提高产品质量的监测。
[0023] 进一步，所述计算模块，用于根据所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：所述计算模块，当所述不含金属的产品采样数据和所述含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0024] 进一步，所述计算模块，根据预设正态公式、预设界限参数、所述不含金属的产品采样数据和各所述含金属的产品采样数据，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：所述计算模块，根据所述不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；以及，根据每组所述含金属的产品采样数据，计算每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差；以及，根据所述产品平均值、所述产品标准差、所述预设界限参数和预设正态公式，计算得到所述不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；以及，根据所述预设界限参数、预设正态公式和每组所述含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
[0025] 进一步，所述选择模块，用于根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：绘图子模块，用于根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和所述产品误检率组，绘制对应的曲线图；选择子模块，用于根据误检漏检率的要求，从所述曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0026] 进一步，还包括：摄像模块，用于实时获取金属探测器的工作状态；所述获取模块，进一步用于根据实时获取的金属探测器的工作状态，识别出一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0027] 在上述技术方案中，通过摄像模块获取金属探测器的工作状态以获取采样数据，应用范围更广泛，兼容性更高。
[0028] 进一步，所述获取模块，进一步用于当达到一定时间间隔时，获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0029] 进一步，所述选择模块，进一步用于当已设置的阈值符合所述误检漏检率的要求，仍采用此阈值；以及，当已设置的阈值不符合所述误检漏检率的要求，则根据所述产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，重新选择相应的数值更新或提示更新所述阈值。
[0030] 与现有技术相比，本发明的阈值选择方法及设备有益效果在于：
[0031] 本发明根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，按照误检率、漏检率的要求选择合适的阈值，使阈值的选择得到有效的量化数据支撑，选择的阈值更符合实际使用需求，降低误检率、控制漏检率，提高产品质量的监测。附图说明
[0032] 下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种阈值选择方法及设备的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
[0034] 图2是本发明阈值选择方法另一个实施例的流程图；
[0035] 图3是本发明采样数据和预设界限参数一个实施例的界面展示图；
[0036] 图4是本发明根据产品误检率组和三组含金属的产品采样数据对应的漏检率组绘制的曲线图；
[0037] 图5是选择阈值时最低界限值的一个实施例的示意图；
[0038] 图6是图5选择阈值时最高界限值的示意图；
[0039] 图7是本发明阈值选择设备一个实施例的结构示意图；
[0040] 图8是本发明阈值选择设备另一个实施例的结构示意图；
[0041] 图9是本发明阈值选择方法又一个实施例的流程图。
[0042] 附图标号说明：
[0043] 10.获取模块，20.计算模块，30.选择模块，31.绘图子模块，32.选择子模块，40.摄像模块。
具体实施方式
[0044] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
[0045] 为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
[0046] 金属探测器的工作原理是电磁感应技术，金属探测器内部有一个特殊设计的电磁线圈，当金属小球通过时，将引起电磁场的变化，接收电路部分检测这个微弱的信号变化，结合一定的技术手段，通过一定的分析与处理，最终判断产品中是否存在金属异物，而阈值的设定就是金属探测器判断的依据。误检率是指当阈值太低时，将正常产品判定为含金属的比率。漏检率就是当阈值太高时，将含有金属的产品判定为正常产品，从而漏检的比率。因此，阈值的合理设定非常重要。
[0047] 随着灵敏度越来越高的要求，设定的阈值越来越低，这个阈值一直在向产品的正常信号值区域靠近，比如200，190，180，130，120，100，90等等，阈值逐渐降低后，会导致误检增加，过高的误检率会带来较大的经济损失，仅凭经验选择阈值又无法满足生产需求、提高品质质量。
[0048] 阈值选择方法相当于一个运算的程序，其可以安装于金属探测器上，也可以安装于另一台独立的设备上为各金属探测器服务。
[0049] 图1示出了本发明的一个实施例，一种阈值选择方法，包括：
[0050] S101获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0051] 具体的，不含金属的产品采样数据是指产品本身过金属探测器得到的数据。
[0052] 阈值的选择与应用场合密切相关，因此，含金属的产品采样数据的组数根据想要检测的金属数量而定。含金属的产品采样数据是指产品中包含了相关金属过金属探测器得到的数据。
[0053] 例如：想检测产品中是否会存在铁，则可获取一组含铁的产品采样数据，具体方式为产品中含有铁球过金属探测器获取；或者，想检测产品中是否会存在铁、非铁的金属、不锈钢，则需要获取三组含金属的产品采样数据，分别为铁、非铁的金属和不锈钢，实现方式为分别将三种不同的金属放到产品中测试得到对应的各组含金属的产品采样数据。
[0054] 每组的采样数据个数根据实际精度设置，可以为任意个数。例如：如图3所示，有4组采样数据，其中一组为不含金属的产品采样数据，另外三组为含金属的产品采样数据，每组有100个数据。
[0055] 一般测试含金属的产品采样数据时，是将金属小球(例如：1.5mm直径的铁珠、2.0mm的非铁质金属珠、2.5mm的不锈钢珠)放入产品中，当它们通过金属探测器时，由于各种复杂的、不可避免的客观因素的影响，如通过时的速度、相对机器的位置、运行轨迹、输送带、震动、产品温度、环境温度、供电电压、大气压、静电、车间复杂的电磁环境等等，导致金属小球每次通过时，信号几乎不可能每次都相同，因此，采样数据的数量尽可能多一点，例如：每组设置200个，150个等，以提高精确度。
[0056] 需要注意的是，考虑到金属探测器因为现在的技术原因在检测时会因为金属异物的形状不同而使结果存在区别，例如：直径1mm，长度为10mm的金属丝，可能在一个角度能检测到，但旋转一定角度后(例如：90度)可能无法检测到，因此，建议使用球形作为标准。
[0057] 采样数据通过金属探测器得到，当阈值选择方法对应的程序运行于金属探测器上时，直接调用即可；当此程序运行于金属探测器以外的设备上时，可由金属探测器发送得到，也可通过摄像模块监测金属探测器的测试过程自行识别得到等。在此不限制采样数据的具体获取方式。
[0058] S102根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0059] 具体的，当得到不含金属的产品采样数据和各组含金属的产品采样数据后，分析确定采样数据的分布规律，再选择合适的公式计算产品误检率组和漏检率组，为后续选择合适的阈值打下基础。
[0060] 产品误检率组是由不含金属的产品采样数据在不同阈值时对应的产品误检率组成；一组漏检率组是指一组含金属的产品采样数据在不同阈值时对应的漏检率组成。
[0061] S103根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和实际的误检漏检率要求，选择相应的数值作为阈值。
[0062] 具体的，误检漏检率要求根据实际情况决定，例如：误检率要求低于0.1％，同时漏检率也要低于0.1％，则从产品误检率组和各组漏检率组中选择同时满足低于0.1％的数值作为阈值。
[0063] 大多数时候满足误检率、漏检率要求的是一个数值范围，这个时候可任意选择此数值范围中的一个数值作为阈值。
[0064] 优选地，S103根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0065] 根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和产品误检率组，绘制对应的曲线图；根据误检漏检率要求，从曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0066] 具体的，将计算得到的各漏检率组和产品误检率组绘制成对应的曲线图，让使用者直观地了解各数值对应的误检率、漏检率，方便、快速地理解阈值的选择原因。
[0067] 如图5、6所示，产品误检率组绘制成了左边的曲线，三组含金属的产品采样数据对应的漏检率组绘制成了右边三条曲线，当误检率要求为1‰以下时，从图5、6可看出只要确保将t值设置在233-327之间时，将可以同时确保低于1‰的产品误检率、以及金属的漏检率，保证良好生产。在以质量为第一因素考虑时，应尽量靠近233，这样不仅保证了产品误检率不会高于1‰，同时保证金属探测器的最大检出能力；当生产中由于干扰、温度、现场电磁环境开始缓慢影响设备导致信号增大时，可以适当增加阈值同时保证满足金属的安全检出率，因为只要不超过327即可，即现场的可调节范围允许在233-327，而不是靠人的感觉，量化数值范围提高了品控标准和质量。
[0068] 本实施例中根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，按照误检率、漏检率的要求选择合适的阈值，使阈值的选择得到有效的量化数据支撑，选择的阈值更符合实际使用需求，降低误检率、漏检率，提高对产品质量的更准确监测。
[0069] 图2示出了本发明的另一个实施例，一种阈值选择方法，包括：
[0070] S201获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0071] S202根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0072] S212当不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数(预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值)、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0073] 具体的，预设界限参数是指金属探测器的阈值范围，根据实际检测需求设置合适的最小阈值、最大阈值和阈值间隔值。
[0074] 例如：若需要检测的金属为不锈钢和铁，如图3所示，可以将最大阈值设为1500，最小阈值为5，阈值间隔值为1。当然，这些数据可以灵活变动，例如：最大阈值设为1400，最小阈值为10，阈值间隔值为3等。最大阈值若超出最大的金属块对应的值就失去意义，只是做无用多余的计算而已，因此，可根据实际金属的检测需求设置相应的预设界限参数。
[0075] 正态分布规律有其对应的统计公式，可将其设置为预设正态公式供后续的计算使用。
[0076] 优选地，S212根据预设正态公式、预设界限参数(预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值)、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0077] S2121根据不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；
[0078] S2122根据每组含金属的产品采样数据，计算每组金属采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差。
[0079] 具体的，平均值就是采样数据的总和除以总个数。
[0080] 例如：一组不含金属的产品采样数据中有200个数据，则将这200个数据相加后，除以200，得到产品平均值。同理为每组含金属的产品采样数据对应的金属平均值。
[0081] 标准差则根据如下公式计算得到：
[0082]
[0083] σ为标准差，μ为平均值，μi为一组产品采样数据中第i个数据，N为一组产品采样数据的总个数。
[0084] S2123根据产品平均值、产品标准差、预设界限参数和预设正态公式，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；
[0085] S2124根据预设界限参数、预设正态公式和每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
[0086] 具体的，预设正态公式为：
[0087]
[0088] σ为标准差，μ为平均值，x则为阈值，最小阈值≤x≤最大阈值，以阈值间隔值进行递增计算，F为计算得到的概率。
[0089] 将不同的x值代入上述公式，可计算得到小于等于x值的概率总和，对于产品来说，低于x值是正常情况，高于x值属于误检情况；对于金属来说，高于x值属于检出，低于x值属于漏检。
[0090] 假设有3组含金属的产品采样数据(a、b、c组)和一组不含金属的产品采样数据(d组)，将不含金属的产品采样数据、产品标准差、产品平均值和预设界限参数逐个代入上述公式计算出来的产品概率总和的数据组为Fd[x]，则产品误检率组为1-Fd[x]。例如：计算出来当x＝500时，Fd[x]＝0.9代表了产品的正常通过概率，而其对应的产品误检率则为1-0.9＝0.1；当x＝1000时，Fd[x]＝0.98，其对应的产品误检率则为1-0.98＝0.02……[0091] 将a组含金属的产品采样数据、金属标准差、金属平均值和预设界限参数逐个代入上述公式计算出来的概率总和的数据组为Fa[x]，即a组含金属的产品采样数据对应的漏检率组，同理得到b组和c组含金属的产品采样数据对应的漏检率组Fb[x]和Fc[x]，根据1-Fd[x]、Fa[x]、Fb[x]和Fc[x]绘制的曲线图如图4所示。
[0092] 需要注意的是，虽然本实施例说了S2121-S2124的先后顺序，但是并不限制一定是这个顺序，只要能够计算得到产品误检率组和每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组即可。
[0093] S203根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和实际的误检漏检率要求，选择相应的数值作为阈值。
[0094] 优选地，S203根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0095] S213根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和产品误检率组，绘制对应的曲线图；S223根据误检漏检率的要求，从曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0096] 具体的解释与上述实施例相同，在此不再赘述。
[0097] 本实施例中针对符合正态分布规律的采样数据给出了具体的概率计算方式，得到了量化的数据支撑，使挑选的作为阈值的数值更符合实际监测需求。
[0098] 在本发明的又一个实施例中，如图9所示，一种阈值选择方法，包括：
[0099] S301当达到一定时间间隔时，获取(优选地，距离当前时间最近的)一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0100] S302根据一定时间间隔获取的不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0101] S303根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
[0102] 具体的，本实施例的阈值选择在实际使用时可周期性地进行，当一定时间间隔设置的足够小时，可实现实时监测。
[0103] 当相应程序运行于金属探测器上，金属探测器根据实时获取的各采样数据，选择一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据，进行实时/周期性地计算，选择合理的数据作为阈值。
[0104] 当采用其他设备来监测金属探测器的阈值时，其可实时监测金属探测器，实时获取各采样数据，选择一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据，进行实时/周期性地计算，为金属探测器选择合理的数据作为阈值。
[0105] 优选地，当各采样数据的数量更新时，取距离当前时间最近的一定数量的数据进行分析，使计算结果更符合当前情况。
[0106] S303根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0107] S313当已设置的阈值符合误检漏检率的要求，仍采用此阈值；
[0108] S323当已设置的阈值不符合误检漏检率的要求，则根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，重新选择相应的数值更新或提示更新阈值。
[0109] 具体的，实时/周期性监测的话，说明金属探测器已经被设置了一个阈值(可能为根据经验设置一个值，也可能为根据实时计算出来的结果选择的一个值)，投入到实际产品监测中，实际使用过程中由于干扰、温度、现场电磁环境可能会缓慢影响金属探测器导致信号增大时，当前设置的阈值可能无法满足金属的漏检率和产品的低误检率。
[0110] 因此，可根据最新计算出来的产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求来确认已设置的阈值是否需要调整，若其符合误检漏检率的要求，则不需要调整，若其不符合，则需要重新选择一个数据作为新的阈值(具体的实现过程可自动选择一个新的阈值，或者，发出提示，让工作人员知道需要调整)，满足生产要求。
[0111] 可选地，根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0112] 当不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0113] 可选地，根据预设正态公式、预设界限参数、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0114] 根据不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；
[0115] 根据每组含金属的产品采样数据，计算每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差；
[0116] 根据产品平均值、产品标准差、预设界限参数(预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值)和预设正态公式，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；
[0117] 根据预设界限参数、预设正态公式和每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
[0118] 可选地，根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值设为阈值包括：
[0119] 根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和产品误检率组，绘制对应的曲线图；
[0120] 根据误检漏检率的要求，从曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0121] 本实施与上述各方法实施例相同的解释部分在此不再赘述，请参见上述各方法实施例。
[0122] 本实施例中，对阈值的选择进行周期性/实时的监测，时刻保证金属探测器设置的阈值能够满足实际生产的需求。
[0123] 图7示出了本发明的一个阈值选择设备的实施例，包括：
[0124] 获取模块10，用于获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0125] 具体的，不含金属的产品采样数据是指产品本身过金属探测器得到的数据。
[0126] 阈值的选择与应用场合密切相关，因此，含金属的产品采样数据的组数根据想要检测的金属数量而定。含金属的产品采样数据是指产品中包含了相关金属过金属探测器得到的数据。
[0127] 例如：想检测产品中是否会存在铁，则可获取一组含铁的产品采样数据，具体方式为产品中含有铁球过金属探测器获取；或者，想检测产品中是否会存在铁、非铁的金属、不锈钢，则需要获取三组含金属的产品采样数据，分别为铁、非铁的金属和不锈钢，实现方式为分别将三种不同的金属放到产品中测试得到对应的各组含金属的产品采样数据。
[0128] 每组的采样数据个数根据实际精度设置，可以为任意个数。例如：如图3所示，有4组采样数据，其中一组为不含金属的产品采样数据，另外三组为含金属的产品采样数据，每组有100个数据。
[0129] 一般测试含金属的产品采样数据时，是将金属小球(例如：1.5mm直径的铁珠、2.0mm的非铁质金属珠、2.5mm的不锈钢珠。)放入产品，让它们通过金属探测器获取。由于各种复杂的、不可避免的客观因素的影响，如通过时的速度、相对机器的位置、运行轨迹、输送带、震动、产品温度、环境温度、供电电压、大气压、静电、车间复杂的电磁环境等等，导致金属小球每次通过时，信号几乎不可能每次都相同，因此，采样数据的数量尽可能多一点，例如：每组设置200个，150个等，以提高精确度。
[0130] 需要注意的是，考虑到金属探测器因为现在的技术原因在检测时会因为金属异物的形状不同而使结果存在区别，例如：直径1mm，长度为10mm的金属丝，可能在一个角度能检测到，但旋转一定角度后(例如：90度)可能无法检测到，因此，建议使用球形作为标准。
[0131] 采样数据通过金属探测器监测得到，当阈值选择方法对应的程序运行于金属探测器上时，直接调用即可；当此程序运行于金属探测器以外的设备上时，可由金属探测器发送得到，也可通过摄像模块监测金属探测器的测试过程自行识别得到等。在此不限制采样数据的具体获取方式。
[0132] 当阈值选择方法对应的程序不运行于金属探测器上时，可选地，阈值选择设备还包括：摄像模块，用于实时获取金属探测器的工作状态；获取模块10，进一步用于根据实时获取的金属探测器的工作状态，识别出一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0133] 具体的，摄像模块由若干个摄像装置组成，每个摄像装置用于监测一个或多个金属探测器，其拍摄金属探测器的工作状态(例如：测试产品、包含金属的产品时的测试结果)，由获取模块10进行识别和解读(例如：根据摄像的图片进行图片到数值的转换)，得到一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0134] 而获取模块10、计算模块20和选择模块30的功能可由一台计算机/服务器完成。摄像装置与计算机/服务器通信连接(例如：每个摄像头通过高速数据通信线经网络设备将拍摄的视频信号传输到计算机/服务器，高速数据通信线可以是以太网，企业局域网，也可以是国际互联网，还可以是包括USB在内的各种高速通信线)，保证两者之间的数据传输。当然，摄像装置也可独立工作，发现金属探测器的误检率、漏检率需要调整时，自动发出提醒。
[0135] 计算模块20，用于根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0136] 具体的，当得到不含金属的产品采样数据和各组含金属的产品采样数据后，分析确定采样数据的分布规律，再选择合适的公式计算产品误检率组和漏检率组，为后续选择合适的阈值打下基础。
[0137] 选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和实际的误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
[0138] 具体的，误检漏检率要求根据实际情况决定，例如：误检率要求低于0.1％，同时漏检率也要低于0.1％，则从产品误检率组和各组漏检率组中选择同时满足低于0.1％的数值作为阈值。
[0139] 大多数时候满足误检率、漏检率要求的是一个数值范围，则可任意选择此数值范围中的一个数值作为阈值。
[0140] 优选地，选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和实际的误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0141] 绘图子模块31，用于根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和产品误检率组，绘制对应的曲线图；
[0142] 选择子模块32，用于根据误检漏检率要求，从曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0143] 具体的，将计算得到的各漏检率组和产品误检率组绘制成对应的曲线图，让使用者直观地了解各数值对应的误检率、漏检率，方便、快速地理解阈值的选择原因。具体的例子可参见对应的方法实施例，在此不再赘述。
[0144] 本实施例中根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，按照误检率、漏检率的要求选择合适的阈值，使阈值的选择得到有效的量化数据支撑，选择的阈值更符合实际使用需求，降低误检率和漏检率，提高产品质量的监测。
[0145] 图8示出了另一个阈值选择设备的实施例，包括：
[0146] 获取模块10，用于获取一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0147] 可选地，当阈值选择方法对应的程序不运行于金属探测器上时，可选地，阈值选择设备还包括：摄像模块40，用于实时获取金属探测器的工作状态；获取模块10，进一步用于根据实时获取的金属探测器的工作状态，识别出一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0148] 具体的解释与上述设备实施例相同，在此不再赘述。
[0149] 计算模块20，用于根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0150] 计算模块20，当不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数(预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值)、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0151] 具体的，预设界限参数是指金属探测器的阈值范围，根据实际检测需求设置合适的最小阈值、最大阈值和阈值间隔值。
[0152] 例如：若需要检测的金属为不锈钢和铁，如图3所示，可以将最大阈值设为1500，最小阈值为5，阈值间隔值为1。当然，这些数据可以灵活变动，例如：最大阈值设为1400，最小阈值为10，阈值间隔值为3等。
[0153] 正态分布规律有其对应的统计公式，可将其设置为预设正态公式供后续的计算使用。
[0154] 优选地，计算模块20，根据预设正态公式、预设界限参数、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0155] 计算模块20，根据不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；以及，根据每组含金属的产品采样数据，计算每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差；以及，根据产品平均值、产品标准差、预设界限参数和预设正态公式，计算得到产品采样数据对应的产品误检率组；以及，根据预设界限参数、预设正态公式和每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
[0156] 具体的，平均值就是采样数据的总和除以总个数。例如：一组产品采样数据中有150个数据，则将这150个数据相加后，除以150，得到产品平均值。同理为每组金属采样数据对应的金属平均值。
[0157] 标准差则根据上述对应方法实施例中的公式计算得到，请参见对应的方法实施例，在此不再赘述。
[0158] 预设正态公式请参见对应的方法实施例，将不同的x值代入预设正态公式，可计算得到小于等于x值的概率总和，对于产品来说，低于x值是正常情况，高于x值属于误检情况；对于金属来说，高于x值属于检出，低于x值属于漏检。具体的例子可参见对应的方法实施例，在此不再赘述。
[0159] 选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率要求，选择相应的数值作为阈值。
[0160] 优选地，选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0161] 绘图子模块31，用于根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和产品误检率组，绘制对应的曲线图；
[0162] 选择子模块32，用于根据误检漏检率要求，从曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0163] 具体实施过程与上述设备实施例中的具体实施过程相同，在此不再详细描述。
[0164] 本实施例中针对符合正态分布规律的采样数据给出了具体的概率计算方式，得到了量化的数据支撑，使挑选的作为阈值的数值更符合实际监测需求。
[0165] 当阈值的选择方法对应的程序由非金属探测器设备执行时，可通过摄像头等设备监测金属探测器以获取采样数据，实现方式多样化，满足不同场合的应用需求。
[0166] 在本发明的又一个设备实施例中，一种阈值选择设备包括：
[0167] 获取模块10，用于当达到一定时间间隔时，获取(优选地，距离当前时间最近的)一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据；
[0168] 计算模块20，用于根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组；
[0169] 选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值。
[0170] 具体的，本实施例的阈值选择在实际使用时可周期性地进行，当一定时间间隔设置的足够小时，可实现实时监测。
[0171] 当相应程序运行于金属探测器上，金属探测器根据实时获取的各采样数据，选择一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据，进行实时/周期性地计算，选择合理的数据作为阈值。
[0172] 当采用其他设备来监测金属探测器的阈值时，其可实时监测金属探测器，实时获取各采样数据，选择一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据，进行实时/周期性地计算，为金属探测器给出合理的数据作为阈值的建议。
[0173] 优选地，当各采样数据的数量更新时，取距离当前时间最近的一定数量的数据进行分析，使计算结果更符合当前情况。
[0174] 选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0175] 选择模块30，用于当已设置的阈值符合误检漏检率的要求，仍采用此阈值；以及，当已设置的阈值不符合误检漏检率的要求，则根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，重新选择相应的数值更新或提示更新阈值。
[0176] 具体的，实时/周期性监测的话，说明金属探测器已经被设置了一个阈值(可能为根据经验设置一个值，也可能为根据实时计算出来的结果选择的一个值)，投入到实际产品监测中，实际使用过程中由于干扰、温度、现场电磁环境可能会缓慢影响金属探测器导致信号增大时，当前设置的阈值可能无法满足金属的漏检率和产品的低误检率。
[0177] 因此，可根据最新计算出来的产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求来确认已设置的阈值是否需要调整，若其符合误检漏检率的要求，则不需要调整，若其不符合，则需要重新选择一个数据作为新的阈值(具体的实现过程可自动选择一个新的阈值，或者，发出提示，让工作人员知道需要调整)，满足生产要求。
[0178] 可选地，计算模块20，用于根据不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据的分布规律，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0179] 计算模块20，当不含金属的产品采样数据和含金属的产品采样数据符合正态分布规律时，根据预设正态公式、预设界限参数、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组。
[0180] 可选地，计算模块20，根据预设正态公式、预设界限参数、不含金属的产品采样数据和各含金属的产品采样数据，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组和每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组包括：
[0181] 计算模块20，根据不含金属的产品采样数据，计算对应的产品平均值和产品标准差；以及，根据每组含金属的产品采样数据，计算每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差；以及，根据产品平均值、产品标准差、预设界限参数(预设界限参数包括：最小阈值、最大阈值和阈值间隔值)和预设正态公式，计算得到不含金属的产品采样数据对应的产品误检率组；以及，根据预设界限参数、预设正态公式和每组含金属的产品采样数据各自对应的金属平均值和金属标准差，分别计算得到每组含金属的产品采样数据对应的漏检率组。
[0182] 可选地，选择模块30，用于根据产品误检率组、每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和误检漏检率的要求，选择相应的数值作为阈值包括：
[0183] 绘图子模块31，用于根据每组含金属的产品采样数据各自对应的漏检率组和产品误检率组，绘制对应的曲线图；
[0184] 选择子模块32，用于根据误检漏检率要求，从曲线图上选择相应的数值作为阈值。
[0185] 可选地，当阈值选择设备为非金属探测器的设备时，阈值选择设备还可包括：摄像模块40，用于实时获取金属探测器的工作状态；获取模块10，进一步用于根据实时获取的金属探测器的工作状态，识别出一组不含金属的产品采样数据和至少一组含金属的产品采样数据。
[0186] 本实施与上述各设备实施例相同的解释部分在此不再赘述，请参见上述各方法实施例。
[0187] 本实施例中，对阈值的选择进行周期性/实时的监测，时刻保证金属探测器设置的阈值能够满足实际生产的需求。
[0188] 应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
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