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制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统

阅读:107发布:2022-03-23

专利汇可以提供制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 涉及制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统。一种技术,使用该技术可以制备不需要使用者在测试之前输入任何校准信息的测试条组。具体地讲,在总体上良好控制的测试条 制造过程 中,可生产高百分比的具有相对恒定的批斜率和批截距的测试条组。在第一方面,提供一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:调整工作 电极 面积以输出落在预定目标批斜率范围内的批斜率;和/或调整 试剂 油墨中的介体的量,以输出落在预定目标批截距范围内的批截距。在另一方面,本发明提供了一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:调整 工作电极 面积以输出基本上等于预定的目标批斜率值的批斜率;和/或调整试剂油墨中的介体的量,以输出基本上等于预定的目标批截距值的批截距。在另一方面,本发明提供了一种制备用于这样的方法中的试剂油墨的方法,包括:a)制备试剂油墨;b)如果所述试剂油墨的 密度 没有超过目标 阈值 或在目标范围内,则调整所述试剂油墨的密度。,下面是制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统专利的具体信息内容。

1.一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:
调整工作电极面积,以输出落在预定的目标批斜率范围内的批斜率;
和/或
调整试剂油墨中的介体的量,以输出落在预定的目标批截距范围内的批截距。
2.根据权利要求1所述的方法,所述方法包括:
调整工作电极面积,以输出落在预定的目标批斜率范围内的批斜率;
以及
调整试剂油墨中的介体的量,以输出落在预定的目标批截距范围内的批截距。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其中:
所述调整工作电极面积的步骤包括调整工作电极面积以输出基本上等于预定的目标批斜率值的批斜率值;
和/或
所述调整介体的量的步骤包括调整介体的量以输出基本上等于预定的目标批截距值的批截距值。
4.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述调整介体的量的步骤包括将预定量的介体加到试剂油墨中。
5.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述调整介体的量的步骤包括调整还原介体。
6.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括:
将某个量的还原介体加到多个测试条批中,使得多个批截距具有小于约15%的变化。
7.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括:
计算使所述批斜率基本上等于预定的目标批斜率的工作电极面积。
8.根据权利要求7所述的方法,包括将绝缘油墨转印到导电层上以形成具有算出的工作电极面积的工作电极。
9.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括计算使所述批截距基本上等于预定目标批截距的还原介体量。
10.根据权利要求9所述的方法,包括将所述试剂油墨转印到所述工作电极上,所述试剂油墨包含算出的还原介体量。
11.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括:
制造第一多个测试条,每个测试条包括具有第一面积的工作电极面积;
对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率和第一截距;
基于所述第一斜率和预定的目标斜率计算第二面积;
制造第二多个测试条,每个测试条包括具有算出的第二面积的工作电极。
12.根据权利要求11所述的方法,包括:
对第二多个测试条进行校准,以确定第二斜率和第二截距,其中所述第二斜率基本上等于所述预定的目标斜率,并且所述第二截距基本上等于所述预定的目标截距。
13.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中测试条批具有目标斜率和目标截距,所述方法还包括:
在某一时间段期间制备第一多个测试条批;
对所述第一多个测试条批进行校准,以对每个测试条批确定批斜率和批截距;
基于所述目标斜率和先前批斜率来计算第一工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批;
和/或
基于所述目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第一还原介体添加量;
制备包含所述第一还原介体添加量的第一试剂油墨;
用所述第一算出的工作电极面积和所述第一试剂油墨制备第二多个测试条;
对所述第二多个测试条进行校准,以确定第二批斜率和第二批截距。
14.根据权利要求13所述的方法,而且其中如果所述第二批斜率和/或所述第二批截距基本上等于所述目标斜率和/或所述目标截距,则用所述第一算出的工作电极面积和/或所述第一试剂油墨制备第三多个测试条批。
15.根据权利要求13所述的方法,其中如果所述第二批斜率不是基本上等于所述目标斜率,则基于所述第二批斜率与所述目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备包括所述第二算出的工作电极面积的第四多个测试条。
16.根据权利要求13或权利要求15所述的方法,还包括:如果所述第二批截距不是基本上等于所述目标截距,则基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第二还原介体添加量,然后制备包括所述第二算出的工作电极面积的第四多个测试条。
17.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括:
基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体添加量;以及将所述添加量的还原介体加到所述试剂油墨中。
18.根据权利要求17所述的方法,其中所述计算的步骤包括:基于所述目标截距、所述还原介体杂质百分比、所述背景截距和常量确定所述还原介体添加量。
19.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括添加通过计算所述目标截距和所述背景截距之差,再除以常量,然后减去还原介体杂质量而确定的某个量的还原介体。
20.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述还原介体添加量Fadd大致由关系式
定义,其中Btarget是所述目标截距,B0是所述背景截距,Kint是常量,以及Fimp是与化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
21.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中调整所述介体添加量以顾及经调整的工作电极面积。
22.根据任何权利要求21所述的方法,其中调整所述背景截距和/或所述常量以顾及经调整的工作电极面积。
23.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所添加的介体包括亚氰化物或亚铁氰化
24.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中基于所述第一斜率和所述预定的目标斜率之差乘以与每单位斜率的面积改变有关的值来计算所述第二工作电极面积。
25.根据前述任一项权利要求所述的方法,当所述前述任一项权利要求从属于权利要求13至权利要求24中的任一项时,还包括:还原介体杂质量包括与乘以所述还原介体杂质百分比的所述试剂油墨中的氧化介体量大致相等的量。
26.根据前述任一项权利要求所述的方法,当所述前述任一项权利要求从属于权利要求13至权利要求25中的任一项时,其中所述背景截距包括基于得自先前制备的测试条批的多个批截距的平均值。
27.根据权利要求13或权利要求15所述的方法,包括:如果所述第二批截距不是基本上等于所述目标截距,则基于第二批截距与目标截距之差计算第二还原介体量,并且制备包含第二试剂油墨的第四多个测试条,所述第二试剂油墨具有所述第二介体添加量。
28.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中对于包含至少两个流程的某些流程的循环、某个循环或(一些)流程,预设调整工作电极和调整介体的量的手段中的一者或二者。
29.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述试剂油墨中的所述还原介体不大于所述试剂油墨的重量的0.2%。
30.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述试剂油墨包括还原介体和氧化介体,其中所述还原介体不大于所述还原介体和所述氧化介体的总重量的约0.8%。
31.根据权利要求30所述的方法,其中所述还原介体不大于所述还原介体和所述氧化介体的总重量的约0.6%。
32.根据前述任一项权利要求所述的方法,而且其中通过改变所述工作电极的宽度来调整所述工作电极面积。
33.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述工作电极的所述宽度为约0.6mm至约0.8mm。
2
34.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述工作电极面积为约0.44mm 至约
2
0.68mm。
35.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中至少提供第一工作电极和第二工作电极,并且所述第一工作电极和第二工作电极均具有约0.55mm至约0.85mm的宽度。
36.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述目标截距大于所述第一截距。
37.根据前述任一项权利要求所述的方法,包括:
在所述第二多个测试条的所述工作电极上施加具有大致为矩形或大致为方形的孔的绝缘层,以形成算出的第二面积。
38.根据权利要求37所述的方法,包括:
以约25微米的增量来调整所述形状的宽度;
确定可提供与所述算出的所述第二面积最接近的两个面积值的两个增量;和选择可提供比所述算出的第二面积大的面积的增量。
39.根据权利要求37所述的方法,包括:
以约25微米的增量来调整所述形状的宽度;
确定可提供与所述算出的第二面积最接近的两个面积值的两个增量;和
选择可提供比所述算出的第二面积小的面积的增量。
40.根据前述任一项权利要求所述的方法,当所述前述任一项权利要求从属于权利要求6时,其中所述多个测试条批包括约10批至约100批。
41.根据前述任一项权利要求所述的方法,当所述前述任一项权利要求从属于权利要求6时,其中通过对约500至约600或者更多的测试条进行校准来确定15%或更小的批截距变化。
42.根据前述任一项权利要求所述的制造多个测试条的方法,或者一种制备用于这种方法的配制试剂油墨的方法,包括:
a)制备试剂油墨;
b)如果所述试剂油墨的密度没有超过目标阈值或在目标范围之内,则调整所述试剂油墨的密度。
43.根据权利要求42所述的方法,包括:通过以下步骤调整所述试剂油墨的密度:
将所述试剂油墨或所述试剂油墨的组分混合一段时间,
和/或
将流变控制剂加到所述试剂油墨或所述试剂油墨的组分中;
和/或
使所述试剂油墨或所述试剂油墨的组分经受减小的压
44.根据权利要求42或权利要求43所述的方法,其中如果所述密度不大于阈值或在目标范围内,则继续调整所述密度,使得所述密度约等于或大于所述阈值或在目标范围内。
45.根据权利要求42至权利要求44中任一项所述的方法,包括
i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;
ii)测量所述溶液的密度;
iii)如果所述密度不大于阈值或在目标范围内,则继续再混合所述配制试剂一段预定时间,使得所述密度约等于或大于所述阈值或在目标范围内。
46.根据权利要求45所述的方法,而且其中所述混合步骤包括:将包含流变控制剂、介体和酶的溶液混合一段预定时间。
47.根据前述任一项权利要求所述的制造多个测试条的方法,或者一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:
制造第一多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第一密度的配制试剂;
对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率;
基于所述第一斜率和目标斜率计算第二密度;
制造第二多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第二密度的配制试剂。
48.根据权利要求42至权利要求47中任一项所述的方法,还包括:预先制备给定密度的第一溶液,在使用前制备包含所述第一溶液以及酶和介体的第二溶液。
49.根据权利要求48所述的方法,而且其中所述第二溶液在使用前1至24、1至12、1至6、2至6或2至4小时制备。
50.根据权利要求42至权利要求49中任一项所述的方法,还包括当所述密度约等于或大于阈值或在目标范围内时,将介体和酶与所述第一溶液共混,以形成所述配制试剂。
51.一种根据权利要求42至权利要求50中任一项所述的方法,还包括:
将所述胶态悬浮液的密度调整到目标密度;将介体和酶加到所述胶态悬浮液中,以形成配制试剂;
将所述配制试剂设置在所述多个测试条中的每个测试条的工作电极上;
对所述多个测试条进行校准,以确定批斜率;以及输出基本上等于目标批斜率的批斜率。
52.根据前述任一项权利要求所述的方法,还包括:
制造第一多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第一密度的所述配制试剂;
对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率;
基于所述第一斜率和目标斜率计算第二密度;
制备第二多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第二密度的配制试剂。
53.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述调整步骤包括改变混合时间的持续长度和/或添加额外量的流变控制剂。
54.根据权利要求42至53中任一项所述的方法,其中所述目标密度通过从目标批斜率减去第二常量,然后除以第三常量来计算。
55.根据权利要求54所述的方法,其中所述目标密度ρ通过如下定义的等式来计算其中ρ是所述目标密度,Mcal是所述目标批斜率,k2是第二常量,k3是第三常量。
56.根据权利要求42至权利要求55中任一项所述的方法,其中所述流变控制剂包含羟基乙基纤维素和/或具有亲和疏水基团的二氧化
57.根据权利要求42至权利要求56中任一项所述的方法,其中所述预定的混合时间段为约3至30分钟,和/或为约4分钟或为约16分钟。
58.根据权利要求42至权利要求57中任一项所述的方法,其中所述目标密度具有约
0.87g/cm3的阈值,或者所述目标密度范围为约0.7g/cm3至约1.1g/cm3之间的任何值,或者为约0.92g/cm3至约0.96g/cm3之间的任何值,或者为约1g/cm3至约1.25g/cm3之间的任何值,或者为约1.00g/cm3+/-0.015g/cm3的限度内的任何值。
59.根据权利要求42至权利要求58中任一项所述的方法,其中用搅拌桨以每分钟约
3,000转执行所述混合步骤。
60.根据权利要求42至权利要求59中任一项所述的方法,其中所述目标批斜率Mcal为约16毫微安/毫克/分升至约30毫微安/毫克/分升的任何值,和/或其中所述第二常量k2为约7毫微安/毫克/分升至约10毫微安/毫克/分升之间的任何值,和/或其中所述第三常量k3为约10毫微安/毫克/分升/克/厘米3至约12毫微安/毫克/分升/克/厘米3之间的任何值。
61.根据前述任一项权利要求所述的制造多个测试条的方法,或者一种将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条的方法,所述方法包括:
i)将所述导电油墨分配在金属丝网上,和/或将所述导电油墨分配在丝网上,所述丝网由在经受刮墨刀施加大于4巴的压强时发生不可逆变形的材料制成;
ii)将所述基片靠近所述丝网布置;
iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上。
62.根据权利要求61所述的方法,包括用刮墨刀将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条,所述刮墨刀的硬度大于肖氏A级硬度55。
63.根据前述任一项权利要求所述的方法,还包括将导电油墨分配在金属丝网上。
64.根据权利要求63所述的方法,其中所述刮墨刀包含硬度在肖氏A级硬度约60至约
75的范围内的材料。
65.根据权利要求64所述的方法,其中所述刮墨刀包含硬度为肖氏A级硬度约65或肖氏A级硬度约75的材料。
66.根据权利要求61至权利要求65中任一项所述的方法,其中所述刮墨刀包含聚酯。
67.根据权利要求61至权利要求66中任一项所述的方法,其中转印所述导电油墨的步骤包括将所述刮墨刀以某一压强施加到所述丝网上,所述压强大于约4巴。
68.根据权利要求67所述的方法,其中转印所述导电油墨的步骤包括将某一压强加到所述刮墨刀上,所述压强大于约5巴。
69.根据权利要求61至权利要求68中任一项所述的方法,其中所述刮墨刀包含对所述导电油墨中含有的溶剂具有低吸收率的材料。
70.根据权利要求69所述的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在一小时内约2%的速率或以低于在21小时内约8%的速率吸收所述导电油墨中含有的溶剂的材料。
71.根据权利要求61或权利要求70中任一项所述的方法,其中所述刮墨刀包括不吸收任何材料的材料。
72.根据权利要求61至权利要求71中任一项所述的方法,其中在转印所述导电油墨期间,所述基片和所述丝网的框架被保持在固定距离,所述固定距离的范围为约0.6毫米至约0.75毫米。
73.根据权利要求72所述的方法,其中所述固定距离为约0.7毫米。
74.根据权利要求61至权利要求73中任一项所述的方法,其中所述丝网联接于框架,此时丝网张力的范围为约20N/cm至约30N/cm。
75.根据权利要求61至权利要求74中任一项所述的方法,其中所述丝网的材料在与碳素油墨中的溶剂接触时不发生不可逆变形。
76.根据权利要求61至权利要求75中任一项所述的方法,其中所述金属丝网包括各自具有约0.03毫米直径的多条不锈丝,所述钢丝以约45度的网交织而形成网目,所述网片具有每厘米125的网目数,网目开口为50微米,开口面积为约39%,网片厚度为大约47微米。
77.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中所述长度(Y2)或工作电极为大约0.84毫米,和/或两个或更多个工作电极之间的预定间隙为大约150微米。
78.根据前述任一项权利要求所述的方法,其中一种测试条包括以下部分,或者一种被分析物测试条包括以下部分:
基片;和
碳素油墨,所述碳素油墨通过刮墨刀透过金属丝网而设置在所述基片上,以限定具有各碳电极轨道的若干碳电极轨道,使得一个测试条中的沿着基本上垂直于碳电极轨道的两个侧边(15A或15B)之间的轴线(L1或L2)的虚拟线测量的碳电极轨道的长度(Y2)与所述预定测试条样品中的其他测试条中的碳电极轨道的长度相比的任何变化小于约2.5%。
79.根据权利要求78所述的方法或被分析物测试条,其中所述碳电极轨道是碳工作电极。
80.根据前述任一项权利要求所述的方法或被分析物测试条,而且其中任何两个碳电极轨道之间的任何间隙相对于预定间隙的变化不大于约30%。
81.根据权利要求61至权利要求79中任一项所述的方法或一种被分析物测试条,还包括这样的布置:使得测试条中的沿着垂直于碳电极轨道的两个侧边之间的轴线的虚拟线测量的所述碳电极轨道的长度相对于预定长度的任何变化小于约3.5%或2.5%。
82.根据权利要求61至权利要求81中任一项所述的方法,或者一种将图像印刷到基片上的丝网印刷装置,包括:
金属丝网,所述金属丝网上形成有电极图案的图像掩模;
设置在所述丝网上的碳素油墨,所述油墨的粘度为约10,000厘沲/秒至约40,000厘沲/秒;
刮墨刀,通过向所述刮墨刀施加压强来迫使所述碳素油墨透过所述丝网。
83.根据前述任一项权利要求所述的方法,或者一种执行被分析物测量的方法,所述方法包括:
将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成不接收校准输入,所述测试条根据前述任一项权利要求所述的方法制造,所述测试条具有算出的酶工作面积和/或在所述工作电极的所述试剂层中的还原介体添加量;
将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度。
84.根据权利要求83所述的方法,还包括:
将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成可使用预定校准输入来工作,所述测试条具有暴露于血样的算出的工作电极面积以及加到所述算出的工作电极面积上的所述试剂层的还原介体添加量,使所述测试条被校准成所述预定校准输入;
将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度。
85.一种构造成可测量被分析物的系统,所述系统包括:
测试仪,所述测试仪包括测试条口连接器、处理器和存储器,其中所述处理器连接到所述存储器,测试条根据前述任一项权利要求所述的方法制造并包括基片;
设置在所述基片上的导电层;以及设置在所述导电层上的试剂层,所述试剂层包含某个量的还原介体,使得多个批截距的变化小于约15%。
86.根据权利要求85所述的系统,还包括显示器,并且其中所述处理器连接到所述显示器。
87.根据权利要求83至权利要求86中任一项所述的方法或系统,其中所述校准输入包括校准信息。
88.根据前述任一项权利要求所述的方法、系统或测试条,其中所述基片包含聚合物,所述聚合物选自基本上由聚酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯及其组合组成的组。
89.根据前述任一项权利要求所述的方法、系统或测试条,其中提供基片,所述基片包含聚合物,为卷筒形式,其具有约350微米的厚度,宽约370毫米,长约660米。
90.根据前述任一项权利要求所述的方法、系统或测试条,其中所述测试条的基片具有大致平坦的构造,其具有大约0.35毫米的厚度、约5.5毫米的宽度以及约27.5毫米的长度。
91.根据前述任一项权利要求所述的方法、系统或测试条,其中所述导电油墨包括碳素油墨。
92.根据前述任一项权利要求所述的方法、系统或测试条,其中所述试剂包括葡萄糖氧化酶

说明书全文

制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统

[0001] 相互参照
[0002] 本专利申请涉及以下共同待审的专利申请:美国专利申请No.61/022218[代理人案卷号DDI5156USPSP],其名称为“A Method ofManufacturing Test Strip Lots Having A Predetermined CalibrationCharacteristic”(制造具有预定校准特性的测试条组的方法),提交于2008年1月18日;和美国专利申请No.61/029301[代理人案卷号DDI5159USPSP],其名称为“A Method of Preparing Test Strip LotsHaving A Signal Response With A Reduced Variability”(制备具有变率减小的信号响应的测试条组的方法),提交于2008年2月15日;美国专利申请No.61/043080[代理人案卷号DDI5165USPSP],其名称为“Methodand System of Manufacturing Test Strip Lots Having A PredeterminedCalibration Characteristic”(制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统),提交于2008年4月7日;美国专利申请No.61/043086[代理人案卷号DDI5166USPSP],其名称为“Test Strips Having Low-Variability in Screen-Printing of Electrode Patterns with MethodTherefore”(在电极图案的丝网印刷中具有低变率的测试条及用于其的方法),提交于2008年4月7日;美国专利申请No.61/051285[代理人案卷号DDI5167USPSP],其名称为“Method and System of ManufacturingTest Strip Lots Having a Predetermined CalibrationCharacteristic”(制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统),提交于2008年5月7日;美国专利申请No.61/060353[代理人案卷号DDI5156USPSP1],其名称为“Method and System of Manufacturing TestStrip Lots having a Predetermined Calibration Characteristic”(制造具有预定校准特性的测试条组的方法和系统),提交于2008年6月10日,这些专利申请以引用方式并入本文中。

背景技术

[0003] 电化学葡萄糖测试条(例如用在 全血测试套件(可得自LifeScan公司)中的那些)被设计用于测量患有糖尿病的患者的血样中的葡萄糖浓度。葡萄糖的测量可基于葡萄糖化酶(GO)对葡萄糖的选择性氧化来进行。葡萄糖测试条中可发生的反应由下面的等式1和2概括。
[0004] 等式1葡萄糖+GO(ox)→葡萄糖酸+GO(red)3- 4-
[0005] 等式2GO(red)+2Fe(CN)6 →GO(ox)+2Fe(CN)6
[0006] 如等式1中所示,葡萄糖被葡萄糖氧化酶的氧化形式(GO(ox))氧化成葡萄糖酸。应该指出的是,GO(ox)还可被称为“氧化酶”。在等式1的反应过程中,氧化酶GO(ox)被转化为其还原状态,其被表示为GO(red)(即,“还原酶”)。接着,如等式2中所示,还原酶GO(red)通过3-
与Fe(CN)6 (被称作氧化介体或氰化物)的反应而被再氧化回GO(ox)。在GO(red)重新生成
3- 4-
回其氧化状态GO(ox)的过程中,Fe(CN)6 被还原成Fe(CN)6 (被称作还原介体或亚铁氰化物)。
[0007] 用加于两个电极之间的测试电压进行上述反应时,可通过在电极表面处还原介体的电化学再氧化而生成测试电流。因此,由于在理想环境下,上述化学反应过程中生成的亚铁氰化物的量与布置在电极之间的样品中葡萄糖的量成正比,所以生成的测试电流将与样品的葡萄糖含量成比例。诸如铁氰化物的介体是能够接受来自酶(例如葡萄糖氧化酶)的电子并随后将所述电子供给电极的化合物。随着样品中的葡萄糖浓度增加,所形成的还原介体量也增加;因此,源自还原介体的再氧化的测试电流与葡萄糖浓度之间存在直接关系。具体地讲,电子在整个电界面上的迁移致使测试电流流动(每摩尔被氧化的葡萄糖对应2摩尔的电子)。因此,由于葡萄糖的引入而产生的测试电流可被称为葡萄糖电流。
[0008] 由于获知血液中(尤其是患有糖尿病的人的血液中)的葡萄糖浓度会非常重要,已经利用上述原理开发出测试仪,以使普通人能够在任何给定的时间对其血液进行采样和测试,以便确定其葡萄糖浓度。通过测试仪检测所产生的葡萄糖电流,并利用借助简单的数学公式将测试电流与葡萄糖浓度联系起来的算法将其转换为葡萄糖浓度读数。通常,测试仪与一次性测试条结合起来工作,除了酶(例如,葡萄糖氧化酶)和介体(例如,铁氰化物)之外,所述一次性测试条还可包括样品接纳室以及设置在样品接纳室内的至少两个电极。在使用中,使用者可戳刺其手指或其他方便的部位以引起出血,然后将血样引入样品接纳室中,从而起始上述化学反应。
[0009] 在电化学方面,测试仪的功能有两部分。首先,其提供极化电压(在的情况下为大约400mV),该电压使电界面极化并允许电流在工作电极表面流动。其次,其测量在阳极(工作电极)与阴极(参考电极)之间的外部电路中流动的电流。因此,该测试仪可认为是在双电极模式下工作的简单电化学系统,然而实际上可在测试仪中使用三个、甚至四个电极以便于葡萄糖的测量和/或执行其他功能。
[0010] 如公知的,可用测试条来进行葡萄糖测试,以利用从特定测试条组的制备确定的批(batch)校准信息(例如,批斜率和批截距值)来确定血糖浓度。因此,当使用者利用特定测试条组进行葡萄糖测试时,批斜率和批截距信息必须被输入到测试仪中。在一个方案中,使用者可利用按钮在测试仪上选择校准代码,其中所述校准代码与测试条的批斜率和批截距对应。在另一方案中,使用者可将计算机芯片放入测试仪中,其中所述计算机芯片具有对应的测试条的批斜率和截距。在这两种方案中,使用者均必须记得输入正确的校准信息。如果在使用某一新组的测试条时,使用者忘记更改校准因子,则可能产生不正确的分析物结果。
[0011] 另外的背景技术可见 于:PCT公开No.WO2004/040287[代理人案 卷号DDI5019PCT],其 名 称 为“Splicing/Unsplicing Substrate in a Processfor the Manufacture of Electrochemical Sensors”(制造电化学传感器的工艺中的拼合/非拼合基片),提交于2003年10月30日;PCT公开No.WO2004/040948[代理人案卷号DDI5020PCT],其 名 称 为“Apparatus andMethod for Controlling Registration of Print Steps in a ContinuousProcess for the Manufacture of Electrochemical Sensors”(在制造电化学传感器的连续工艺中控制印刷步骤的对准的设备和方法),提交于2003年10月30日;PCT公开No.WO2004/040005[代理人案卷号DDI5021PCT],其名称为“Cooling Stations for Use in a Web Processfor the Manufacture of Electrochemical Sensors”(在制造电化学传感器的幅材工序中使用的冷却工位),提交于2003年10月30日;PCT公开No.WO2004/039600[代理人案卷号DDI5022PCT],其名 称 为“EnzymePrint Humidification in a Continuous Process for Manufacture ofElectrochemical Sensors”(制造电化学传感器的连续工艺中的酶的印刷湿化),提交于2003年10月30日;PCT公开No.WO2004/040290[代理人案卷号DDI5023PCT],其名称为“Moveable Flat Screen Printing forUse in a Web Process for the Manufacture of ElectrochemicalSensors”(在制造电化学传感器的幅材工序中使用的可移动平板丝网印刷),提交于2003年10月30日;PCT公开No.WO2004/040285[代理人案卷号DDI5024PCT],其名称为“Pre-conditioning of a Substrate in aContinuous Process for Manufacture of Electrochemical Sensors”(在制造电化学传感器的连续工艺中基片的预处理),提交于2003年10月30日;PCT公开No.WO2004/039897[代理人案卷号DDI5025PCT],其名称为“Fast Ink Drying in a Continuous Process for Manufacture ofElectrochemical Sensors”(在制造电化学传感器的连续工艺中的快速油墨干燥),提交于2003年10月30日;以及PCT公开No.WO2001/73109[代理人案卷号DDI0010PCT],其名称为“Continuous Process forManufacture of Disposable Electrochemical Sensors”(用于制造一次性电化学传感器的连续工艺),提交于2001年3月28日。
[0012] 提交于2007年10月30日并公布于2008年3月20日的美国专利申请No.US2008/0066305描述了一种经校准调整的传感器以及制作该传感器的方法。提交于
2005年2月4日的美国专利申请No.US2007/0045126描述了一种作为生物传感器的内部基准的可氧化物质及其使用方法。
发明内容
[0013] 申请人已经发现这样一种技术的各种实施例,用该技术可制备不需要使用者在进行测试测量之前输入任何校准信息的测试条组。具体地讲,申请人发现:在总体良好控制的测试条制造过程中,可制造高百分比的具有相对恒定的批斜率和批截距的测试条组。
[0014] 通常,对每一批建立批截距和斜率。如果对某一批建立的批截距和斜率落在与特定校准代码相关的批斜率和截距的范围内,则该校准代码和相关校准信息可被分配给该批。分配给该批的相关校准信息通常包括可用来取代所建立的批斜率和截距的该校准代码的典型批斜率和截距信息。
[0015] 向使用者提供具有基本相同的批斜率和批截距值的测试条将使得使用者无需将校准代码信息输入到测试仪。结果,获得不精确的葡萄糖浓度的险将降低,因为使用者在使用来自某一新组的测试条进行测试时不再须要记住输入正确的校准代码信息。
[0016] 在一个实施例中,按照工艺的测试条具有落在批斜率和批截距的预定目标范围内(例如,落在预定校准代码的批斜率和批截距的的预定目标范围内)的批斜率和批截距值。
[0017] 在另一个实施例中,按照工艺的测试条具有基本上与预定的目标批斜率和预定的目标批截距相同的批斜率和批截距。
[0018] 在一个方面,本发明提供了一种制造测试条的方法。所述方法可通过如下步骤实现:将预定量的还原介体加到试剂油墨中,并将所述试剂油墨设置在工作电极上,以输出落在预定目标批截距范围内的批截距;以及调整工作电极面积,以输出落在预定的目标批斜率范围内的批斜率。
[0019] 在一个方面,本发明提供了一种制造测试条的方法。所述方法可通过如下步骤实现:将预定量的还原介体加到试剂油墨,并将所述试剂油墨设置在工作电极上,以输出基本上等于预定目标批截距的批截距;和/或调整工作电极面积,以输出基本上等于预定的目标批斜率的批斜率。
[0020] 在又一个方面,本发明提供了一种测试条,其包括第一和(在一个示例性实施例中)第二工作电极以及试剂层。第一工作电极和第二工作电极(如果提供的话)均具有约0.55毫米至约0.85毫米或者约0.6mm至约0.8mm的宽度。试剂层邻近工作电极设置。试剂层包括氧化介体、还原介体和酶。还原介体不大于还原介体和氧化介体的总重量的约
0.6%,使得测试条具有预定的目标批斜率和预定的目标批截距。
[0021] 在再一个方面,本发明提供了一种测试条,其包括第一工作电极和(在一个示例性实施例中)第二工作电极以及试剂层。第一工作电极和第二工作电极(如果提供的话)2 2 2 2
均具有约0.44mm 至约0.68mm 或约0.48mm 至约0.64mm 的面积。试剂层邻近工作电极设置。试剂层包括氧化介体、还原介体和酶。还原介体不大于还原介体和氧化介体的总重量的约0.8%,使得测试条具有预定的目标批斜率和预定的目标批截距。
[0022] 在又一个方面,本发明提供了一种制造多个测试条的方法。所述方法可通过如下步骤实现:制造第一多个测试条,每个测试条包括具有第一面积的工作电极;对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率和第一截距;基于所述第一斜率和预定的目标斜率计算第二面积;制造第二多个测试条,每个测试条包括具有算出的第二面积的工作电极。
[0023] 在另一个方面,申请人已经发现一种技术的各种实施例,用该技术可制备具有变率降低的信号响应的测试条组。具体地讲,申请人发现:通过控制配制试剂的密度可制造具有相对恒定的批斜率的高百分比的测试条组。降低批斜率的变率将减少表征测试条组所需的校准代码的数量。
[0024] 在一个实施例中,一种制造配制试剂的方法可通过以下步骤实现:(i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;(ii)测量所述溶液的密度;(iii)如果所述密度不大于阈值,则将所述配制试剂继续混合一段预定时间,使得所述密度约等于或大于所述阈值;以及(iv)当所述密度约等于或大于所述阈值时,将介体和酶与所述溶液共混以形成配制试剂。
[0025] 在又一个实施例中,一种制造多个测试条的方法可通过以下步骤实现:将胶态悬浮液的密度调整到目标密度;将介体和酶加到所述胶态悬浮液中,以形成配制试剂;将所述配制试剂设置在所述多个测试条中的每个测试条的工作电极上;对所述多个测试条进行校准,以确定批斜率;以及输出基本上等于目标批斜率的批斜率。
[0026] 在另一个实施例中,一种制造配制试剂的方法可通过以下步骤实现:(i)将包括流变控制剂、介体和酶的溶液混合一段预定时间;ii)测量所述溶液的密度;以及(iii)如果所述密度不大于阈值,则继续混合所述溶液一段预定时间,使得所述密度约等于或大于所述阈值。
[0027] 在又一个实施例中,一种制造配制试剂的方法可通过以下步骤实现:(i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;(ii)测量所述溶液的密度;(iii)如果所述密度不在目标范围内,则继续混合所述溶液一段预定时间,使得所述密度在所述目标范围内;以及(iv)当所述密度在所述目标范围内时,使介体和酶与所述溶液共混以形成配制试剂。
[0028] 在另一个实施例中,一种制造多个测试条的方法可通过以下步骤实现:制造第一多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第一密度的配制试剂;对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率;基于所述第一斜率和目标斜率计算第二密度;制造第二多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第二密度的配制试剂。
[0029] 在再一个示例性实施例中,可在使用前通过混合或本文所述的其他方式进行调整密度的步骤。另外,在一个示例性实施例中,可就在预期使用配制试剂之前(例如,24小时内,或者优选地12小时内,或者更优选地约4至6小时内)添加介体和酶。因此,申请人已经认识到,主要活性成分(介体和酶)对密度几乎没有影响,从而允许密度调整步骤与成分添加步骤在时间上能够分离。由于一旦添加了活性成分,配制试剂的寿命就成为有限,因此这种将配制试剂制造工序预先进行一半的能有利于制造工序的组织。
[0030] 在另一个方面,申请人已经发现这样一种技术的各种实施例,用该技术可制备具有变率降低的信号响应的测试条组。具体地讲,申请人发现:通过控制与丝网印刷工艺有关的各种参数、测试条的基片上的碳电极的参数和组分,可制造高百分比的具有相对恒定的批斜率的测试条组。降低批斜率的变率将减少表征测试条组所需的校准代码的数量。
[0031] 在一个方面,本发明提供了一种制造测试条的方法。所述方法可通过以下步骤实现:(i)将导电油墨分配在金属丝网上;(ii)将基片邻近金属丝网布置;(iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上;(iv)计算使批斜率基本上等于预定的目标批斜率的工作电极面积;(v)将绝缘油墨转印到导电层上,以形成具有算出的工作电极面积的工作电极。在另一些实施例中,下面的步骤(vi)和(vii)可以作为上面的步骤(iv)和(v)的辅助步骤或者替代步骤;(vi)计算使批截距基本上等于预定的目标批截距的还原介体量;以及(vii)将试剂油墨转印到工作电极上,所述试剂油墨包含算出的还原介体量。
[0032] 在另一个方面,本发明提供了一种制造测试条的方法。所述方法可通过以下步骤实现:(i)将导电油墨分配在丝网上,所述丝网由受到大于4巴的压强(例如从4巴至机器的极限)时不发生不可逆变形的材料制成;(ii)将所述基片靠近所述丝网布置;(iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上。另外的步骤可包括:(iv)计算使批斜率基本上等于预定的目标批斜率的工作电极面积;(v)将绝缘油墨转印到导电层上,以形成具有算出的工作电极面积的工作电极。另外的或可供选择的其他步骤可包括:(vi)计算使批截距基本上等于预定的目标批截距的还原介体量;以及(vii)将试剂油墨转印到工作电极上,所述试剂油墨包含算出的还原介体量。因此,机器可以包括丝网、框架、刮墨刀以及用刮墨刀向丝网施加压强的机械装置。
[0033] 在另一个方面,申请人已经发现这样一种技术的各种实施例,用该技术可制备具有变率降低的信号响应的测试条组。具体地讲,申请人发现:通过控制与丝网印刷工艺有关的各种参数、测试条的基片上的碳电极的参数和组分,可制造高百分比的具有相对恒定的批斜率的测试条组。降低批斜率的变率将减少表征测试条组所需的校准代码的数量。
[0034] 在一个方面,本发明提供了一种将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条的方法。所述方法可通过以下步骤实现:(i)将导电油墨分配在金属丝网上;(ii)将所述基片邻近金属丝网布置;以及(iii)用刮墨刀将导电油墨转印到基片上,所述刮墨刀的硬度大于肖氏A级硬度55。
[0035] 在又一个方面,本发明提供了一种将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条的方法。所述方法可通过以下步骤实现:(i)将导电油墨分配在丝网上,所述丝网由受到大于4巴的压强(例如从4巴至机器的极限)时不发生不可逆变形的材料制成;(ii)将所述基片靠近所述丝网布置;以及(iii)用刮墨刀将导电油墨转印到基片上,所述刮墨刀的硬度大于肖氏A级硬度55。
[0036] 在另一个方面,本发明提供了一种将图像印到基片上的丝网印刷装置。所述装置包括辊、金属丝网、碳素油墨和刮墨刀。所述辊构造成可支承和传送基片。作为另外一种选择,可用平坦压板(platten)来代替辊。金属丝网网片上形成具有电极轨道的图像掩模,所述丝网网片在辊附近与基片接触。优选地,碳素油墨设置在所述网片上,所述油墨的粘度为约10,000厘沲/秒至约40,000厘沲/秒。优选地,刮墨刀包括肖氏A级硬度特性大于55的材料,并且构造成可通过向所述刮墨刀施加大于4巴的压强来迫使所述碳素油墨透过所述丝网网片,以在基片上形成电极轨道的图像。优选地,所述装置构造成可形成电极轨道的图像,使得碳电极轨道的长度相对于预定长度的任何变化小于约3.5%,或者在一个实施例中小于约2.5%。例如,碳工作电极的长度可以是沿着垂直于碳工作电极的两个侧边的虚拟线(virtualline)测量的距离。优选地,作为另外一种选择或作为补充,所述装置构造成可使得任何两个工作电极轨道之间的任何最小间隙相对于预定间隙的变化不大于约30%。
[0037] 在一个示例性实施例中,刮墨刀具有肖氏A级硬度55至95的硬度,在另一个示例性实施例中,刮墨刀具有肖氏A级硬度55至85的硬度,在又一个示例性实施例中,刮墨刀具有肖氏A级硬度60至80的硬度,在再一个示例性实施例中,刮墨刀具有肖氏A级硬度55至75的硬度。
[0038] 在另一个方面,本发明提供了一种被分析物测试条,其包括基片和碳素油墨,所述碳素油墨通过刮墨刀透过金属丝网而设置在所述基片上,以限定碳电极轨道,每个碳电极轨道沿纵轴延伸,使得一个测试条中的沿着垂直于碳电极轨道的两个侧边之间的纵轴的虚拟线测量的碳电极轨道的长度与预定测试条样品中的其他测试条中的碳电极轨道的长度相比的任何变化小于约2.5%
[0039] 在另一个方面,本发明提供了一种被分析物测试条,其包括基片以及多个碳电极轨道,所述碳电极轨道通过用大于肖氏A级硬度55的刮墨刀使碳素油墨透过金属丝网沉积而设置在基片上,使得任何两个工作电极轨道之间的任何最小间隙相对于预定值的变化不大于30%。在再一个方面,本发明提供了一种被分析物测试条,其包括基片和碳素油墨,所述碳素油墨通过刮墨刀透过金属丝网而设置在所述基片上,以限定具有沿着垂直于所述至少一个碳电极轨道的两个侧边之间的纵轴的虚拟线延伸的至少一个碳电极轨道,其中所述长度与至少一个其他测试条的另一印刷碳轨道的另一长度相比的任何变化小于约2.5%。
[0040] 在一个方面,本发明提供了一种制造测试条批的方法。所述方法可通过以下步骤实现:基于目标斜率和先前批斜率算出工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制备的测试条批;将工作电极面积调整到算出的工作电极面积。优选地,所述方法还包括基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体添加量;以及将所述量的还原介体加到试剂油墨。
[0041] 在再一个方面,本发明提供了一种制造多个测试条批的方法,其中每个测试条批具有目标斜率和目标截距。所述方法可通过以下步骤实现:在某一时间段期间制备第一多个测试条批;对所述第一多个测试条批进行校准,以对每个测试条批确定批斜率和批截距;基于目标斜率和先前批斜率来计算第一工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批;基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第一还原介体添加量;制备包含所述第一还原介体添加量的第一试剂油墨;用第一算出的工作电极面积和第一试剂油墨制备第二多个测试条;对所述第二多个测试条进行校准,以确定第二批斜率和第二批截距;如果第二批斜率和第二批截距基本上等于目标斜率和目标截距,则用第一算出的工作电极面积和第一试剂油墨制备第三多个测试条批。在另一个实施例中,如果第二批斜率不是基本上等于目标斜率,则所述方法还包括基于第二批斜率与目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备包含第二算出的工作电极面积的第四多个测试条。在另一个实施例中,如果第二批截距不是基本上等于目标截距,则所述方法还包括基于第二批截距与目标截距之差计算第二还原介体添加量,然后制备包含第二试剂油墨的第四多个测试条,所述第二试剂油墨具有所述第二还原介体添加量。
[0042] 在另一个实施例中,如果第二批截距不是基本上等于目标截距,则所述方法包括(作为替代或辅助)基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第二还原介体量。在另一个实施例中,考虑第二算出的工作电极面积而(如果需要)调整所述背景截距和/或定常系数。
[0043] 在另一个方面,本发明提供了一种制造多个测试条批的方法,其中每个测试条批具有目标斜率。所述方法可通过以下步骤实现:在某一时间段期间制备第一多个测试条批;对所述第一多个测试条批进行校准,以针对每个测试条批确定批斜率;基于目标斜率和先前批斜率来计算第一工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制备的测试条批;制备具有第一算出的工作电极面积的第二多个测试条;对所述第二多个测试条进行校准,以确定第二批斜率;如果第二批斜率基本上等于目标斜率,则用第一算出的工作电极面积制备第三多个测试条批。在另一个实施例中,如果第二批斜率不是基本上等于目标斜率,则所述方法还包括基于第二批斜率与目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备包含第二算出的工作电极面积的第四多个测试条。
[0044] 在另一个方面,本发明提供了一种制造多个测试条批的方法,其中每个测试条批具有目标截距。所述方法可通过以下步骤实现:在某一时间段期间制备第一多个测试条批;对所述第一多个测试条批进行校准,以针对每个测试条批确定批截距;基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第一还原介体添加量;制备包含所述第一还原介体添加量的第一试剂油墨;用第一试剂油墨制备第二多个测试条;对所述第二多个测试条进行校准,以确定第二批截距;如果第二批截距基本上等于目标截距,则用第一试剂油墨制备第三多个测试条批。在另一个实施例中,如果第二批截距不是基本上等于目标截距,则所述方法还包括基于第二批截距与目标截距之差计算第二还原介体添加量,然后制备包含第二试剂油墨的第四多个测试条,所述第二试剂油墨具有所述第二还原介体添加量。
[0045] 在另一个方面,本发明提供了一种制造具有目标斜率和目标截距的测试条批的方法。所述方法可通过以下步骤实现:(i)将导电油墨分配在金属丝网上;(ii)将基片邻近金属丝网布置;(iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上,以形成导电层;(iv)基于目标斜率和先前批斜率算出工作电极面积,使得所得批斜率基本上等于目标斜率,所述先前批斜率得自先前制备的测试条批;(v)将绝缘油墨转印到导电层上,以形成具有算出的工作电极面积的工作电极;(vi)基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体添加量,以使得所得的批截距基本上等于目标截距;(vii)制备包含算出的添加量的还原介体的试剂油墨;(viii)如果试剂油墨不具有目标范围内的密度,则通过将试剂油墨混合一段时间和/或添加流变控制剂来调整试剂的密度;以及(ix)将试剂油墨转印到工作电极上。
[0046] 在另一个方面,本发明提供了一种制造酶油墨的方法。所述方法可通过以下步骤实现:基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体量;以及将所述量的还原介体加到酶油墨中。
[0047] 在另一个方面,本发明提供了多个测试条批,其中每个测试条包括基片、导电层和试剂层。导电层设置在基片上。试剂层设置在导电层上。试剂层包含还原介体添加量Fadd,使得每个测试条批的批截距基本上等于目标截距Btarget,还原介体添加量Fadd通常由关系式[0048]
[0049] 定义,其中B0是背景截距,Kint是常量,Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0050] 在另一个方面,在多个测试条批中,每个测试条包括基片、导电层和试剂层。导电层设置在基片上。试剂层设置在导电层上。试剂层包含还原介体添加量,使得多个测试条批中的每个测试条批的批截距具有小于约+/-15%的变化。
[0051] 在另一个方面,一种系统被构造成用于测量被分析物。所述系统包括测试仪和测试条。测试仪包括测试条口连接器、处理器、存储器和显示器,其中所述处理器连接到所述存储器和显示器。测试条包括基片;设置在基片上的导电层;以及设置在导电层上的试剂层,所述试剂层包含还原介体添加量而使多个批截距具有小于约+/-15%的变化。
[0052] 本发明提供了一种执行被分析物测量的方法。所述方法可通过以下步骤实现:将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成可用至少一个预定校准值来工作,所述测试条具有算出的暴露于血样的酶工作电极面积以及加到该算出的酶工作电极面积上的还原介体添加量,使得所述测试条被校准成所述预定校准值;将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度。优选地,所述方法包括在测试仪的显示器上显示被分析物浓度。
[0053] 本发明提供了一种执行被分析物测量的方法。所述方法可通过以下步骤实现:将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成可用至少一个预定校准输入(例如校准输入值)来工作,所述测试条具有算出的暴露于血样的酶工作电极面积以及加到该算出的酶工作电极面积上的还原介体添加量,使所述测试条被校准成所述预定校准输入;将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度。优选地,所述方法包括在测试仪的显示器上显示被分析物浓度。优选地,在测试仪内预设至少一个校准输入。
[0054] 本发明提供了一种构造成可测量被分析物的系统。所述系统包括测试仪和测试条。所述测试仪构造成可用至少一个预定校准输入来工作。所述测试条具有算出的暴露于血样的酶工作面积以及加到该算出的酶工作面积上的还原介体添加量,使所述测试条被校准成所述预定校准输入;将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度。
[0055] 在结合首先简要描述的附图参照下面对于本发明的更详细描述的情况下,这些以及其他的实施例、特征和优点对于本领域技术人员应变得显而易见。
[0056] 在第一方面,本发明提供了一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:调整工作电极面积以输出落在预定的目标批斜率范围内的批斜率;和/或调整试剂油墨中的介体的量,以输出落在预定的目标批截距内的批截距。
[0057] 在另一个方面,本发明提供了一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:调整工作电极面积以输出基本上等于预定的目标批斜率值的批斜率;和/或调整试剂油墨中的介体的量,以输出基本上等于预定的目标批截距值的批截距。
[0058] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中目标批斜率是目标批斜率值或目标批斜率值的范围。在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中目标批截距是目标批截距值或目标批截距值的范围。
[0059] 在本发明的任一个方面,测试条包括多个层,调整工作电极面积包括对所述多个层中的一个层进行制造过程中的调整。
[0060] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中调整步骤包括将预定量的介体加到试剂油墨。
[0061] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中调整步骤包括调整还原介体。
[0062] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:将某个量的还原介体加到多个测试条批,以使得多个批截距的变化小于约+/-15%。
[0063] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:计算使批斜率基本上等于预定的目标批斜率的工作电极面积。
[0064] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:将绝缘油墨转印到导电层上,以形成具有算出的工作电极面积的工作电极。
[0065] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:计算使批截距基本上等于预定的目标批截距的还原介体量。
[0066] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:将试剂油墨转印到工作电极上,所述试剂油墨包含算出的还原介体量。
[0067] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:制造第一多个测试条,每个测试条包括具有第一面积的工作电极面积;对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率和第一截距;基于第一斜率和预定的目标斜率计算第二面积;制造第二多个测试条,每个测试条包括具有算出的第二面积的工作电极。
[0068] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:对第二多个测试条进行校准,以确定第二斜率和第二截距,其中所述第二斜率基本上等于所述预定的目标斜率,所述第二截距基本上等于所述预定的目标截距。
[0069] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中测试条批具有目标斜率和目标截距,所述方法还包括:在某一时间段期间制备第一多个测试条批;对所述第一多个测试条批进行校准,以针对每个测试条批确定批斜率和批截距;基于目标斜率和先前批斜率来计算第一工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制备的测试条批;和/或基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第一还原介体添加量;制备包含所述第一还原介体添加量的第一试剂油墨;用第一算出的工作电极面积和第一试剂油墨制备第二多个测试条;对所述第二多个测试条进行校准,以确定第二批斜率和第二批截距。
[0070] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中如果第二批斜率和/或第二批截距基本上等于目标斜率和/或目标截距,则用第一算出的工作电极面积和/或第一试剂油墨制备第三多个测试条批。
[0071] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中如果第二批斜率不是基本上等于目标斜率,则基于第二批斜率与目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备包含第二算出的工作电极面积的第四多个测试条。
[0072] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:如果第二批截距不是基本上等于目标截距,则基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第二还原介体添加量,然后制备包含第二算出的工作电极面积的第四多个测试条。
[0073] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体添加量;将所述添加量的还原介体加到试剂油墨中、。
[0074] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中计算步骤包括:基于目标截距还原介体杂质百分比、背景截距和常量来确定还原介体添加量。
[0075] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:添加通过计算目标截距与背景截距之差、再除以常量、然后减去还原介体杂质量而确定的还原介体量。
[0076] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中还原介体添加量Fadd通常由关系式
[0077]
[0078] 定义,其中Btarget是目标截距,B0是背景截距,Kint是常量,Fimp>是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0079] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中调整所述介体添加量以顾及经调整的工作电极面积。
[0080] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中考虑经调整的工作电极面积而调整背景截距和/或常量。
[0081] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中添加的介体包括亚铁氰化物或亚铁氰化
[0082] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中基于第一斜率与预定的目标斜率之差乘以与每单位斜率的面积改变有关的值来计算第二工作电极面积。
[0083] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:还原介体杂质量包含与乘以还原介体杂质百分比的试剂油墨中氧化介体的量大致相等的量。
[0084] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中背景截距包含基于得自先前制造的测试条批的多个批截距的平均值。
[0085] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:如果第二批截距不是基本上等于目标截距,则基于第二批截距和目标截距之差计算第二还原介体量,然后制备包含第二试剂油墨的第四多个测试条,所述第二试剂油墨具有第二介体添加量。
[0086] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中对于包含至少两个流程的某些流程的循环、某个循环或(一些)流程,预设调整工作电极和调整介体的量这两个控制手段中的一者或二者。
[0087] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中试剂油墨中的还原介体不大于试剂油墨重量的0.2%。
[0088] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括还原介体和氧化介体,其中还原介体不大于还原介体和氧化介体的总重量的约0.8%。
[0089] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中还原介体不大于还原介体和氧化介体的总重量的约0.6%。
[0090] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中通过改变工作电极的宽度来调整工作电极面积。
[0091] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中工作电极的宽度为约0.6mm至约0.8mm。
[0092] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中工作电极的面积为约0.44mm22 2 2
至约0.68mm 或约0.48mm 至约0.64mm。
[0093] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中提供至少第一工作电极和第二工作电极,并且所述第一工作电极和第二工作电极均具有约0.55mm至约0.85mm或约0.6mm至约0.8mm的宽度。
[0094] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中目标截距大于第一截距。
[0095] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:在所述第二多个测试条的工作电极上施加具有大致为矩形或大致为方形孔的绝缘层,以形成算出的第二面积。
[0096] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:按约25微米的增量调整所述形状的宽度;确定提供与算出的第二面积最接近的两个面积值的两个增量;以及选择提供比算出的第二面积大的面积的增量。
[0097] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:按约25微米的增量调整所述形状的宽度;确定提供与算出的第二面积最接近的两个面积值的增量;以及选择提供比计算的第二面积小的面积的那个增量。
[0098] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述多个测试条批包括约10批至约100批。
[0099] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中通过对约500至约600或者更多的测试条进行校准确定15%或更小的批截距变化。
[0100] 在第一方面,本发明提供了一种制备用于这种方法的配制试剂油墨的方法,包括:a)制备试剂油墨;b)如果试剂油墨的密度没有超过目标阈值或在目标范围之内,则调整试剂油墨的密度。
[0101] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括通过以下步骤调整试剂油墨的密度:将试剂油墨或试剂油墨的组分混合一段时间;和/或将流变控制剂加到试剂油墨中或试剂油墨的组分中;和/或使试剂油墨或试剂油墨的组分经受减小的压力。
[0102] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中如果所述密度不大于阈值或在目标范围内,则继续调整所述密度,使得所述密度约等于或大于所述阈值或在目标范围内。
[0103] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;ii)测量所述溶液的密度;iii)如果所述密度不大于阈值或在目标范围内,则继续再将配制试剂混合一段预定时间,使得所述密度约等于或大于所述阈值或在目标范围内。
[0104] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中混合步骤包括:将包含流变控制剂、介体和酶的溶液混合一段预定时间。
[0105] 在第一方面,本发明提供了一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:制造第一多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第一密度的配制试剂;对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率;基于第一斜率和目标斜率计算第二密度;制造第二多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第二密度的配制试剂。
[0106] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:预先制备给定密度的第一溶液,在使用前制备包含第一溶液以及酶和介体的第二溶液。
[0107] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中第二溶液在使用前的1至24小时、1至12小时、1至6小时、2至6小时或2至4小时制备。
[0108] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:当所述密度约等于或大于阈值或在目标范围内时,将介体和酶与第一溶液混合,以形成配制试剂。
[0109] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:将胶态悬浮液的密度调整到目标密度将介体和酶加到胶态悬浮液中,以形成配制试剂;将配制试剂设置在所述多个测试条中的每个测试条的工作电极上;对所述多个测试条进行校准,以确定批斜率;以及输出基本上等于目标批斜率的批斜率。
[0110] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:制造第一多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第一密度的配制试剂;对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率;基于第一斜率和目标斜率计算第二密度;制备第二多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第二密度的配制试剂。
[0111] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述调整包括改变混合时间的持续长度和/或添加额外量的流变控制剂。
[0112] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中目标密度通过从目标批斜率减去第二常量,然后除以第三常量来计算。
[0113] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中目标密度ρ通过由[0114]
[0115] 定义的等式计算,其中ρ是目标密度,Mcal是目标批斜率,k2是第二常量,k3是第三常量。
[0116] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中流变控制剂包含羟基乙基纤维素和/或具有亲和疏水基团的二氧化
[0117] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述预定的混合时间段为约3至30分钟,和/或为约4分钟或为约16分钟。
[0118] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述目标密度具有约0.87g/3 3 3
cm 的阈值,或者所述目标密度范围为约0.7g/cm 至约1.1g/cm 之间的任何值,或者为约
3 3 3 3
0.92g/cm 至约0.96g/cm 之间的任何值,或者为约1g/cm 至约1.25g/cm 之间的任何值,
3
或者为约1.00+/-约0.015g/cm 的范围内的任何值,或者为目标密度值的+/-约0.015g/
3 3
cm 或更小范围内的任何值,例如约0.7至1.25g/cm 之间的任何值。
[0119] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述混合步骤用搅拌桨以每分钟约3,000转的速度进行。
[0120] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述目标批斜率Mcal为约16毫微安/毫克/分升至约30毫微安/毫克/分升之间的任何值,和/或其中第二常量k2为约7毫微安/毫克/分升至约10毫微安/毫克/分升之间的任何值,和/或其中第三常量3 3
k3为约10毫微安/毫克/分升/克/厘米 至约12毫微安/毫克/分升/克/厘米 之
间的任何值。
[0121] 在第一方面,本发明提供了根据前述任一项权利要求所述的制造多个测试条的方法,或一种将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条的方法,所述方法包括:i)将导电油墨分配在金属丝网上,和/或将导电油墨分配在丝网上,所述丝网由在经受刮墨刀施加的大于4巴的压强时发生不可逆变形的材料制成;ii)将基片靠近所述丝网布置;iii)用刮墨刀将导电油墨转印到基片上。
[0122] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:用刮墨刀将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条,所述刮墨刀的硬度大于肖氏A级硬度55。
[0123] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:将导电油墨分配在金属丝网上。
[0124] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中刮墨刀包含硬度在肖氏A级硬度约60至约75范围内的材料。
[0125] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中刮墨刀包含硬度为肖氏A级硬度约65或肖氏A级硬度约75的材料。
[0126] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中刮墨刀包含聚酯。
[0127] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中转印导电油墨的步骤包括将刮墨刀以某一压强施加到丝网上,所述压强大于约4巴或者大于每米刮墨刀长度270N(例如,对于厚度为约8mm的刮墨刀刀片)。
[0128] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中转印导电油墨的步骤包括以某一压强施加刮墨刀,所述压强大于约5巴。
[0129] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中刮墨刀包括对导电油墨中含有的溶剂具有低吸收率的材料。
[0130] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中刮墨刀包括对导电油墨中含有的溶剂在一个小时内的吸收率小于约2%或在21小时内的吸收率小于约8%的材料。
[0131] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中刮墨刀包括不吸收任何碳材料的材料。
[0132] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中在转印导电油墨期间,基片和丝网的框架被保持在固定距离,所述固定距离的范围从约0.6毫米至约0.75毫米。
[0133] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述固定距离为约0.7毫米。
[0134] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中丝网连接到框架,丝网张力的范围为约20N/cm至约30N/cm。
[0135] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中丝网的材料在与碳素油墨中的溶剂接触时不发生不可逆变形。
[0136] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中金属丝网网片包括多条不锈丝,每条钢丝具有约0.03微米的直径,所述钢丝以约45度的网交织而形成网目,所述网片的网目数为每厘米125,网目开口为50微米,开口面积为约39%,网片厚度为约47微米。
[0137] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中长度(Y2)或工作电极为大约0.84毫米和/或两个或更多个工作电极之间的所述预定间隙为大约150微米。
[0138] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中(或在第一方面)提供了一种测试条或被分析物测试条,包括以下部分:基片;以及碳素油墨,其通过刮墨刀透过金属丝网而设置在基片上,以限定具有各碳电极轨道的若干碳电极轨道,使得一个测试条中的沿着基本上垂直于碳电极轨道的两个侧边(15A或15B)之间的轴线(L1或L2)的虚拟线测量的碳电极轨道的长度(Y2)与所述预定测试条样品中的其他测试条中的碳电极轨道的长度相比的任何变化小于约3.5%或约2.5%。
[0139] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述碳电极轨道是碳工作电极。
[0140] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中任何两个碳电极轨道之间的任何间隙相对于预定间隙的变化不大于约30%。
[0141] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括这样的布置,使得测试条中碳电极轨道的垂直于碳电极轨道的两个侧边之间的轴线的虚拟线测量长度相对于预定长度的任何变化小于约3.5%或小于约2.5%。
[0142] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中(或在第一方面)提供一种将图像印刷到基片上的丝网印刷装置,包括:金属丝网网片,其上形成有电极图案的图像掩模;设置在所述网片上的碳素油墨,所述油墨的粘度为约10,000厘沲/秒至约40,000厘沲/秒;刮墨刀,通过向刮墨刀施加压强来迫使碳素油墨透过丝网网片。
[0143] 在第一方面,本发明提供一种进行被分析物测量的方法,所述方法包括:将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成不接收校准输入,所述测试条根据前述任一项权利要求所述的方法制造,所述测试条具有算出的酶工作面积和/或在工作电极中的试剂层中加有一定量的还原介体;将血样施加到测试条的入口,测量被分析物浓度。
[0144] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成可用预定的校准输入来工作,所述测试条具有暴露于血样的算出的工作电极面积以及加到该算出的工作电极面积上的试剂层上的还原介体添加量,使得测试条被校准成所述预定校准输入;将血样施加到测试条的入口,测量被分析物浓度。
[0145] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括:测试仪,其包括测试条口连接器、处理器和存储器,其中所述处理器连接到存储器,测试条根据前述任一项权利要求所述的方法制造,包括基片;设置在基片上的导电层;以及设置在导电层上的试剂层,所述试剂层包含某个量的还原介体,使得多个批截距的变化小于约15%。
[0146] 在本发明任一方面,一个示例性实施例包括显示器,并且其中所述处理器连接到所述显示器。
[0147] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述校准输入包括校准信息。
[0148] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述基片包含聚合物,所述聚合物选自基本上由聚酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯及其组合组成的组。
[0149] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中提供的基片为卷筒形式的聚合物,其具有约350微米的厚度,约370毫米宽,并且约660米长。
[0150] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述测试条的基片具有大致平坦的构造,其具有大约0.35毫米的厚度、约5.5毫米的宽度以及约27.5毫米的长度。
[0151] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述导电油墨包括碳素油墨。
[0152] 在本发明任一方面,给出了一个示例性实施例,其中所述试剂包括葡萄糖氧化酶。

附图说明

[0153] 并入本文中并且构成本说明书一部分的附图说明当前优选的本发明的实施例,并且与上面所给出的概述和下面所给出的详述一起用于解释本发明的特征(其中相同的标号表示相同的构件),其中:
[0154] 图1是描写幅材印刷工序的八个部分的示意图。
[0155] 图2A是描写幅材印刷工序的第一和第二部分的示意图。
[0156] 图2B是描写幅材印刷工序的第三、第四和第五部分的示意图。
[0157] 图2C是描写幅材印刷工序的第六和第七部分的示意图。
[0158] 图3A是描写覆墨循环的示意图。
[0159] 图3B是描写印刷循环的示意图。
[0160] 图4A是刮墨刀的透视图。
[0161] 图4B是具有原图(artwork)图案的丝网的俯视图。
[0162] 图4C是丝网的放大俯视图。
[0163] 图5是描写2个不同的刮墨刀角度的示意图。
[0164] 图6A是描写2个不同的刮墨刀位置的示意图。
[0165] 图6B是描写丝网离网距离的示意图。
[0166] 图6C说明相对于网片上的原图固定丝网的示例性框架。
[0167] 图7A是具有第一和第二幅材观察导向标记、第一、第二、第三和第四Y对准标记以及X对准标记的传感器片的实例。
[0168] 图7B是具有碳X对准标记的传感器片内一排的分解图。
[0169] 图7C是具有覆盖碳X对准标记的绝缘料X对准标记的传感器片内一排的分解图。
[0170] 图8A示出未组装的测试条的示例性顶部分解透视图。
[0171] 图8B示出图8A的测试条各个层的示例性俯视平面图。
[0172] 图8C示出图8A的测试条的导电层的近侧部分的示例性俯视平面图。
[0173] 图8D示出图8A的测试条的导电层的远侧部分的示例性俯视平面图。
[0174] 图8E示出根据图8A的测试条的导电层和绝缘层的远侧部分的示例性简化俯视平面图。
[0175] 图8F示出根据图8A的测试条的导电层、绝缘层和酶层的远侧部分的示例性简化俯视平面图。
[0176] 图9示出根据图8A的测试条的导电层和绝缘层的远侧部分的示例性简化俯视平面图。
[0177] 图10示出在8卷基片的丝网印刷流程邻近图9的绝缘孔测量的一个工作电极的平均长度(Y2)的变化以及在同一流程批斜率(即,每一卷)的变化。
[0178] 图11示出工作电极的平均长度的变化以及在同一流程期间批斜率的变化,其中前八卷基片利用标准聚酯丝网来丝网印刷,并且在卷8后利用新的聚酯丝网。
[0179] 图12示出使用金属丝网确保了在十卷丝网印刷流程中工作电极的平均长度相对于所需宽度的变化小于2.5%。还示出了在同一流程期间斜率的变化。
[0180] 图13示出由于使用金属丝网引起的潜在问题,发生的图像缺陷使两个工作电极之间的间隙缩小,即工作电极之间的“间隙缩小”。
[0181] 图14示出当采用不同技术时对间隙缩小的各种改变。
[0182] 图15示出通过一系列16000个丝网印刷卡片的电极轨道之间的平均间隙。每当施加于刮墨刀的压强大于4巴,或者对于给定宽度(例如约8mm或更小)的刮墨刀施加大于每米刮墨刀长度约270顿力时,平均间隙不减小。即,每当使用低于4巴的刮墨刀压强时,间隙缩小(即,间隙缩小),每当使用较高的刮墨刀压强时,间隙不减小。
[0183] 图16说明来自实验的数据,这些数据证实为使平均间隙围绕约150微米的预定间隙而集中而允许采用较高的刮墨刀压强和较硬的刮墨刀材料。
[0184] 图17示出用聚酯丝网印刷的碳电极的厚度变化与用不锈钢丝网印刷的碳电极相当。
[0185] 图18A至图18H是说明各种实施例中的样品的印刷质量的显微照片。
[0186] 图19示出在7卷流程收集的数据,其示出用本文所述的技术和部件使工作电极1和工作电极2之间的最小间隙减至最小程度。
[0187] 图20示出利用本文所述的金属丝网和刮墨刀操作参数的工作电极1、工作电极2的长度Y2以及绝缘孔宽度的变化在7卷流程期间非常低。
[0188] 图21是说明工作电极宽度(此处相当于绝缘孔宽度X3)对测试条组的批斜率的影响的示例性曲线图。
[0189] 图22是说明工作电极宽度(此处相当于绝缘孔宽度X3)对测试条组的批截距的影响的示例性曲线图。
[0190] 图23A是描写添加的还原介体对批截距的影响的示例性曲线图。
[0191] 图23B是描写对于给定的工作电极面积(这里,对于固定长度Y2和700微米的绝缘宽度X3),总还原介体(添加的以及来自杂质的)对截距的影响的示例性曲线图,其外推至还原介体为零时以给出基线截距B0。
[0192] 图23C是描写对于4个循环期间的300组的基线截距的散点图。每个点表示7或8卷的1个流程。绝缘窗口宽度和添加的亚铁氰化物在组之间变化。
[0193] 图24是说明添加还原介体基本上不影响批斜率的示例性曲线图。
[0194] 图25是说明第一溶液的密度对批斜率的影响的示例性曲线图。
[0195] 图26A和图26B是说明混合时间对第一溶液密度的影响的示例性曲线图,其中制备包含具有亲水和疏水基团的不同的二氧化硅份的若干第一溶液。图26A示出Cabosil二氧化硅。图26B示出Wacker二氧化硅。
[0196] 图27A是示出制造多个测试条批的方法的示例性流程图
[0197] 图27B是示出制造多个测试条批的可选方法的示例性流程图。
[0198] 图28是测试仪的实施例的示例性平面图。
[0199] 图29是说明测试仪的主要内部构件的示例性框图
[0200] 图30和图31是说明利用某一范围的电极宽度和固定量的添加的还原介体制备的测试条组的多个实际批斜率和截距值(菱形)、与制造测试条组对应的预测的批斜率和截距值(方形)以及参考测试条组的实际批斜率和截距值(三角形)的示例性曲线图。
[0201] 图32示出取决于各种工作电极宽度(等同于绝缘孔宽度X3)加载的亚铁氰化物杂质,达到目标截距所需添加的亚铁氰化物的量。

具体实施方式

[0202] 下面的详细描述应参考附图来阅读,其中不同附图中的相同构件被相同地编号。附图(未必按比例绘制)描写所选择的实施例,不用来限制本发明的范围。详细描述以举例的方式而不是限制性方式说明了本发明的原理。此描述将使得本领域技术人员能够制备和使用本发明,并且描述了本发明的若干实施例、修改、变化、替代形式和用途,包括目前认为的实施本发明的最佳方式。
[0203] 本文所用的针对任何数值或范围的项“约”或“大约”表示允许部件或多个构件的集合可以完成如本文所描述的其想要达到的目的的适当的尺寸公差。此外,本文所用的项“患者”、“宿主”以及“受试者”指任何人或动物受试者,并且不是意在将系统或方法限制为人类用途,但是本发明在人类患者中的用途代表优选实施例。
[0204] 下文中,一“卷”基片是连续的基片,其能够与另一“卷”基片接合而形成连续的基片幅材,该基片幅材稍后可被分割成卡片并再分割成测试条。来自一卷的一套测试条可称为“组”或“批”。工艺条件(诸如设置和/或例如油墨等消耗品)会在幅材印刷工序期间变化,通常是在“流程”(run)之间或者在单次“流程”中的“卷”之间变化。“流程”是幅材印刷工序直至完成的连续操作,而不管该“流程”内的“卷”的数量如何。实际上,通常一次“流程”可有1至16个“卷”,更通常为1至10个卷,更通常为6至8个卷。
[0205] 图1是描写幅材印刷工序的八个部分的示意图。部分1是开卷机单元101。部分2是预处理工位102。部分3是碳印刷工位103。部分4是绝缘料印刷工位104。部分5是第一酶印刷工位105。部分6是第二酶印刷工位106。部分7是复卷机单元107。部分8是冲切机108。本领域技术人员应当理解,以下具体实施方式涉及与这八个部分有关的方法和设备,本发明的方法和设备也可以用更多或更少的部分实施。例如,尽管在本实施例中采用了四个印刷工位,但是在不脱离本发明范围的情况下也可以使用一个或更多个印刷工位。在一个实施例中,最少有两个印刷工位用于印刷电极层和试剂层。
[0206] 在一实施例中,部分1可用基片材料开卷单元101来实现,例如可得自Martin Automatic公司(Rockford,IL)的Martin开卷机/自动接合机(Martin Unwinder/Automatic Splice)。部分2、3、4、5和6可用改进的Kammann印刷机来实现,其可得自Werner Kammann MaschinefabrikGmbh(Bünde,Germany),型号为4.61.35。预处理单元102可用于在印刷之前对基片242进行预处理,部分3、4、5和6可用于将碳、绝缘料、第一酶油墨和第二酶油墨丝网印刷到基片上。部分7可包括复卷机单元107,例如可得自Martin Automatic公司(Rockford,IL)的Martin复卷机。基片卷可在开卷机单元101或复卷机单元107中用粘接带(例如,得自Intertape Polymer Group的PS-1接合平背纸带)接合在一起。部分8可包括冲切机108,例如可得自Preco Press(Lenexa,Kansas)的型号为2024-P-40T XYT CCD CE的Preco冲切机。尽管提及了设备的具体型号,但是本领域技术人员应当理解,在不脱离本发明的范围的情况下,这些设备可改变、替换、省略。
[0207] 图2A、图2B和图2C是说明基片242经过幅材印刷工序的部分1至部分8时基片242的路径的示意图。在一实施例中,用于基片242的材料优选地为卷状聚酯材料(商品名Melinex ST328),其由DuPont Teijin Films制造。基片242以材料卷形式供应,所述材料卷可以(例如)标称350微米厚、370毫米宽并且大约660米长。已发现这些厚度和宽度尺寸特别适用于通过在基片幅材上进行丝网印刷来制备电化学传感器。这是因为要求材料坚固以便于印刷,同时仍可通过设备操纵,并且要求材料具有足够的宽度以容纳合适数量的传感器,以使得工艺更具商业可行性。基片242可包括施加于一侧或两侧的丙烯酸树脂涂层,以改善油墨粘附力。聚酯是优选的材料,因为其在本文所述幅材工序期间所使用的高温和张力下表现得令人满意。尽管在一个实施例中,聚酯(实际上为Melinex)可以是优选材料,但是本领域技术人员可根据本文提供的描述而使用其他材料。实际上,除了别的以外,可以采用不同的材料厚度、宽度和长度,较大的宽度或长度为制备传感器提供额外空间,并且在一些情况下的材料厚度的变化有助于预处理或印刷过程中的对准。
[0208] 图2A是描写幅材印刷工序的部分1和部分2的示意图。部分1是开卷机单元101,其可包括第一开卷心轴200、第二开卷心轴201、第一接合单元202和第一积聚器203。需要注意的是,心轴还可称为柄轴。部分2是预处理工位102,其可包括第一清洁单元204、第二接合单元205(通常不使用)、进站夹紧辊(inbound nip roller)206、第二清洁单元207、测力传感器208、第一印刷辊209、第一驱动辊210和第一干燥机区211。
[0209] 开卷机单元101可以是(例如)Martin开卷机/自动接合机,其用来便于将基片242在大约80N的张力下连续移动到预处理工位102中。第一开卷心轴200保持一卷基片材料242,并将基片242连续地供应到部分2的预处理工位102中。第二开卷心轴201保持基片242的备用卷,所述备用卷可自动接合到来自第一开卷心轴200的基片242的卷末端,从而确保基片242的半连续供应。这一过程从第一开卷心轴200到第二开卷心轴201重复进行。基片材料积聚器203贮存预定长度的基片242,并将贮存的基片242分发到部分2的预处理工位102中,而接合操作发生在第一接合单元202中(在此期间第一开卷心轴200和第二开卷心轴201均静止)。产生的接头可以是在接头处材料的任一侧用一段粘接带接合的对缝接头。为了确保质量,可丢弃在接头处两侧的大约10米的印刷基片。第一开卷心轴200和第二开卷心轴201可包括幅材边缘导向器(未示出),其将基片242引导到第一接合单元202中。幅材边缘导向器构造成可防止基片242在被送进到第一接合单元202中时偏离。
[0210] 通常,本文所述实施例的机器被设置成任一次加工2至10卷(更通常为6卷)基片。对于连接到连续供应的油墨的那些印刷工位而言,要使用的卷数通常不是问题。然而,对于两个酶印刷工位(被供应限量的油墨)而言,要使用的卷数会是重要的输入参数。实际上,所使用的卷数可决定在印刷工序开始前放置在丝网上的油墨量。例如,对于6卷流程,部分5和部分6在开始印刷前分别有6卷(或者确切地说多于6卷)所需的酶油墨设置在丝网上。因此,酶油墨需要在整个印刷流程保持在准备好印刷的状态,以确保在整个印刷流程对酶进行一致的印刷。在酶印刷工位,在丝网周围设置挡壁以确保足够量的酶油墨可被加到丝网,而不需要在流程期间再添满丝网,并且还可减小酶油墨从丝网溢出到在其下方流程的幅材基片上的风险。
[0211] 在一个方案中,在进入碳印刷工位103之前,基片242可被暴露于热稳定工序,即将基片加热到185℃,而不将其置于有影响的张力下,以尝试和确保基片242在幅材印刷工序期间经历最少的尺寸变形,在所述幅材印刷工序期间可能遇到最多165N的张力下的140℃至160℃的温度。通常,用于制造测试条的张力已为最小,但是足以驱动幅材,并使其通过加热器。然而,已经发现,不管该热稳定工序如何,在印刷步骤与印刷步骤之间都会发生对准变化,从而导致传感器失效。因此,就在印刷之前引入预处理步骤,所述预处理步骤还包括施加有效大小的张力。如将在下面说明的,在预处理步骤(部分1)中,基片被加热到高于其在随后的印刷步骤期间遇到的任何温度的温度(通常为160℃)。在预处理步骤期间,有效大小的张力可以为约165N。实际上,在本实施例中,将提高温度与置于张力下相结合极大地减小了印刷对准中的变化,提高了所得到的成品率。
[0212] 在图2A所示的实施例中,部分2为预处理工位102。预处理工艺可发生在将任何图像印刷到基片上之前。基片242被预处理,以减小在幅材工序的后续部分内发生的延展和拉伸量,并且也有助于在部分3至部分6期间基片242的对准。预处理工位102可将基片242加热某个温度,该温度在后续印刷步骤中不被超过。例如,在预处理区211(如图2A所示)中,基片242可被加热到大约160℃。通常,这发生在150N至180N(更通常为165N左右)的张力下。然而,在另一个实施例中,预处理工位102可将基片242加热至足以从基片242去除不可逆拉伸的温度(还是(可选地)如上述同时在张力下)。
[0213] 在整个工序期间,基片242可被保持在大约165N的张力下,以便保持待印刷的四个层的对准(通常,印刷对准公差为约300微米)。在每个印刷步骤期间,基片242还经受140℃或更低的各种温度,以使印上的油墨干燥。由于该张力和温度,未经预处理工艺处理的基片242在印刷工序期间可能有拉伸或伸展的趋势,并且因此落在对准公差外。实际上,当使用未经预处理的基片时,印刷阶段与印刷阶段之间、印刷流程与印刷流程之间以及印刷流程本身内的图像尺寸变化是不可预测的。
[0214] 在一实施例中,预处理工位102还包括另外的构件,其执行便于正确运行幅材制造工序的功能。在预处理单元102中,存在两个幅材清洁单元,即清洁基片242的上侧和下侧的第一清洁单元204和第二清洁单元207。第一清洁单元204和第二清洁单元207可使用涂覆有粘性粘合剂的辊,以在任何印刷步骤之前从基片242去除颗粒。第一清洁单元204可以是(例如)购自KSM Web Cleaners(Glasgow,United Kingdom)的型号为WASP400的清洁机。第二清洁单元207可以是(例如)购自Teknek的清洁机。预处理工位102还可包括进站夹紧辊206和测力传感器208。进站夹紧辊206可用于控制基片242的张力(特别是进站夹紧辊206与出站夹紧辊238之间的张力)。进站夹紧辊206可经由控制系统(未示出)连接到测力传感器208。由出站夹紧辊238以恒定速率从部分6中的第二酶印刷工位106移出基片242(见图2C)。当基片242在整个幅材工序中移动时,部分2中的测力传感器208测量基片242的张力。进站夹紧辊206可调整速度,以便将张力控制在预定设置点。幅材制造工序中的基片张力通常可在约150N至约180N的范围内,优选地在约160N至约170N的范围内,更优选地为约165N。
[0215] 图2B是描写幅材印刷工序的部分3、部分4和部分5的示意图。部分3是碳印刷工位103。在印刷以前,可使用清洁系统(可得自Meech),其利用一种真空及刷帚系统来清洁基片的上侧(印刷侧)和下侧。上刷帚及真空工位251和下刷帚及真空工位250可彼此相对偏移,如图2B所示。上刷帚及真空工位250可就在冷却辊212和积聚器213之前与基片接触,并且是碳印刷之前的最临近可触及点。下刷帚及真空工位251可在基片离开预处理单元102后即与基片接触。碳印刷工位103可包括第一冷却辊212、第二积聚器213、第二印刷辊214、第一视觉传感器215、第二驱动辊216、第一干燥机区217和第二冷却辊218。在图2B中,部分4是绝缘料印刷工位104。绝缘料印刷工位104可包括第三冷却辊219、第三积聚器220、第三印刷辊221、第二视觉传感器222、位置237A处的第一Y对准系统(未示出)、第三驱动辊223和第二干燥机区224。在图2B中,部分5是第一酶印刷工位105。第一酶印刷工位105可包括第四冷却辊225、第四积聚器226、第四印刷辊227、第三视觉传感器228、237b处的第二Y对准系统(未示出)、第四驱动辊229和第三干燥机区230。
[0216] 在根据一实施例的方法中,在幅材制造工序的部分3中进行碳印刷。当然,本领域技术人员应当理解,在不脱离本发明的范围的情况下,印刷工序的数量和类型可变化。例如,可提供两次碳印刷,或者可利用在一个或多个印刷步骤中具有金属颗粒的碳、/氯化银油墨或者金或钯基油墨或其任意组合的一次或多次印刷来获得电化学传感器中的电极层。根据本文所述的实施例,对于本领域技术人员而言明显的是,绝缘层和试剂层的组成、沉积次序、沉积厚度和布局以及其他参数也可变化。在部分3中,可利用丝网印刷法来印刷用于电化学传感器的碳原图。碳印刷工位103的基本部件如图3A和图3B所示。具体地讲,根据一实施例的合适的印刷工位包括丝网301、下印刷辊303、印刷辊600、覆墨刀片(flood blade)603、刮墨刀(squeegee)夹持器605和刮墨刀606。在碳印刷工位103中,印刷辊600是第二印刷辊214。丝网301具有大致平坦的构造,并且通常包括布置成可形成所需原图的负像的网片。在印刷过程中,碳素油墨被施加到网片上并且被挤过所述网片。在这一阶段,平坦的丝网可能由于油墨的重量(对于酶印刷步骤而言尤其如此,在所述酶印刷步骤中,通常在印刷流程的开始就将整个印刷流程将使用的所有油墨都沉积在丝网上)以及来自将油墨挤过网片模版的刮墨刀的压力而略微变形,脱离平坦形状。
[0217] 在覆墨循环工序中,通过沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303来将丝网301装满油墨604。对于将油墨604装载到丝网301上的覆墨循环,丝网301沿着与基片242的第一方向608相反的第二方向607移动。如本文所用,项“刮墨刀”和“刀片”可互换,用来表示与油墨和目筛网接触的部件。
[0218] 如图3B所示,在后续的印刷循环工序中,刮墨刀606将油墨604透过丝网301转印到基片242上。在该印刷循环期间,刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303全部沿着与基片242的幅材移动相反的第二方向607移动。对于油墨604被挤过丝网301并沉积在基片242上的印刷循环,丝网301沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动。因此,在印刷循环期间,丝网301以与基片相同或近乎相同的速度沿着与幅材基片相同的方向移动。丝网301在静止时基本上平坦,但是在使用时,丝网301被刮墨刀606朝着幅材推,当发生这个现象时,丝网301变得略微变形,而一旦移除刮墨刀606就基本上返回其初始形状。然后,当丝网301再次加载油墨604以准备下一印刷循环时,其沿着与基片相反的方向移动。当油墨被加载到丝网301上时,油墨的重量会使丝网非常轻微地弯曲。当丝网301离开印刷工位时,其与幅材的行进方向608成一角度。这种布置(所述角度通常为10至30度左右,更具体地为15度左右)促进油墨从丝网剥离而到达基片上,从而改善印刷清晰度和可重复性。丝网与基片的角度、刮墨刀角度、丝网到刮墨刀的距离、刮墨刀到印刷辊的位置、离网(snap-off)距离、基片和丝网的相对速度以及刮墨刀压力全部可以用于控制和优化整个卡片上所得的印刷清晰度和一致性。丝网印刷机构的一个实施例在公布的美国专利4,245,554中有更详细的描述,该专利以引用方式并入本文。
[0219] 在一具体实施例中,在碳印刷工位103中,所考虑的油墨是碳素油墨。合适的碳素油墨的实例在下文中示出。在本发明的此实施例中,在用刮墨刀606将油墨604透过丝网转印到基片242上之前,丝网301由油墨604覆满。然后,在第一干燥机区217(如图2B所示)内用(例如)140℃的热空气来干燥沉积在基片242上的印刷碳原图,所述热空气用四个单独的干燥机单元(drying bank)引导到基片的印刷表面上。
[0220] 碳印刷工位中使用的合适的油墨包括(但不限于)具有金属颗粒的碳、银/氯化银、金基和钯基导电可印刷油墨。在一个实施例中,在碳印刷工序之前并且就在干燥之后,基片242经过第一冷却辊212,所述第一冷却辊设计成可将基片242快速冷却到预定温度,通常为室温(18-21℃左右,并且通常为19.5℃+/-0.5℃)。在根据一实施例的幅材制造工序的一个实施例中,第一冷却辊212的表面大约为18℃。可利用(例如)7℃左右的工厂冷冻水将第一冷却辊212冷却到适当的温度。可通过控制工厂冷冻水的流量和/或温度来控制该辊的温度。在印刷工序中沉积了印刷的碳图案之后,基片242通过第二冷却辊218。降低基片242的温度并保持基片242的温度是有益的,因为较凉的温度可降低印刷过程中油墨干在丝网上并在网孔中形成的可能性。在根据一实施例的幅材制造工序中使用冷却辊也是有益的,因为其可减小基片242中的拉伸量,减少对准问题,并且减少匆忙中修改工艺来为这类问题进行补偿的需要。
[0221] 在一个实施例中,通过测量冷却辊的温度并控制水流温度的反馈回路来动态控制冷却辊的温度。根据本文所述的实施例,本领域的技术人员也可采用其他的辊冷却方法,例如可利用电动制冷单元。
[0222] 在根据一实施例的方法中,在幅材制造工序的部分4中进行绝缘料印刷。在部分4中,使用大致平坦的丝网利用丝网印刷法来印刷用于电化学传感器的绝缘原图。绝缘料印刷工位104的基本部件如图3A和图3B所示。具体地讲,根据一实施例的合适的印刷工位包括丝网301、下印刷辊303、印刷辊600、覆墨刀片603、刮墨刀夹持器605和刮墨刀606。在绝缘料印刷工位104中,印刷辊600是第三印刷辊221。
[0223] 在覆墨循环工序中,通过沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303来将丝网301装满油墨604。对于将油墨604装载到丝网301上的覆墨循环,丝网301沿着与基片242的第一方向608相反的第二方向607移动。
[0224] 在图3B所示的后续印刷循环工序中,刮墨刀606将油墨604透过丝网301转印到基片242上在该印刷循环期间,刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303全部沿着与基片242的幅材移动相反的第二方向607移动。对于油墨604被挤过丝网301并沉积在基片242上的印刷循环,丝网301沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动。丝网印刷机构的一个实施例在公布的美国专利4,245,554中有更详细的描述,该专利以引用方式并入本文。
[0225] 如本文所用,项“刮墨刀”和“刀片”可互换,用来表示刮墨材料的夹持器和与油墨接触的刮墨部件这两者,或者表示与油墨接触的刮墨部件。
[0226] 在可移动平坦丝网印刷中,在印刷过程中基本平坦的丝网具有其运动分量,该运动分量的方向与基片相同,速度与基片大约相同。通常,在每一印刷工位中,当丝网和基片远离印刷位置移动时,基本平坦的丝网与基片成锐角。改变基片与丝网的相对速度可改变沿基片行进方向(即,X方向)的印刷图像的尺寸。
[0227] 每个印刷工位中使用的模版丝网通常由拉伸并连接到刚性框架(例如,如图6C在此示出的框架)的弹性可变形的聚酯或钢网片组成。一个实施例使用由DEK Machinery(Weymouth,UK)提供的聚酯丝网。所述网片涂覆有紫外光敏感涂层并与膜正像结合,丝网暴露于紫外光源,被显影并干燥,从而涂层干燥在丝网上,形成所需原图图像的负像。借助于刮墨刀,油墨透过模版的开孔区域到达基片上(在基片上获得由油墨形成的正像)。框架用于安放网片并抵抗拉伸的网片所施加的力,使得变形最少并且抵御印刷期间产生的额外力。
[0228] 在一具体实施例中,对于绝缘料印刷工位104,所考虑的油墨为绝缘油墨。合适的绝缘油墨的实例在下文中示出。在本发明的此实施例中,在用刮墨刀606将油墨604透过丝网转印到基片242上之前,丝网301被油墨604覆满。然后,在第二干燥机区224(如图2B所示)内用(例如)140℃的热空气来干燥沉积在基片242上的印刷绝缘原图,所述热空气用四个单独的干燥机单元引导到基片的印刷表面上。在根据一实施例的幅材制造工序中的绝缘料印刷工位中使用的合适的油墨的实例为Ercon E6110-116 Jet BlackInsulayer油墨,其可购自Ercon公司。在一个实施例中,利用本文所述的技术在X方向(沿着机器)和Y方向(横跨机器)上将绝缘原图与碳原图对准。根据本文的描述,本领域的技术人员显然明白也可使用其他类型的绝缘油墨。
[0229] 此外,可使用不同的层或者不同次序的层来获得不同的层次序,从而获得所制造的电化学传感器中不同的构造。在一个实施例中,在绝缘料印刷工序之前并且就在干燥之后,基片242(包括印刷的碳和绝缘图案)经过第三冷却辊219,所述第三冷却辊设计成可将基片242快速冷却到预定温度,通常为室温(17-21℃左右,并且通常为19.5℃+/-0.5℃)。在幅材制造工序的一个实施例中,第三冷却辊的表面温度大约为18℃。可利用(例如)7℃左右的工厂冷冻水将第三冷却辊219冷却到适当的温度。降低基片242的温度并保持基片
242的温度是有益的,因为较凉的温度可降低油墨干在丝网上并在网孔中形成块的可能性。
在根据一实施例的幅材制造工序中使用冷却辊也是有益的,因为其减小了基片242中的拉伸量,减少了对准问题,并且减少了匆忙中修改工艺来为这类问题进行补偿的需要。
[0230] 在根据一实施例的方法中,在幅材的部分5中进行第一酶印刷。在部分5中,如本文中此前所述利用丝网印刷法和可移动的基本平坦的丝网来印刷用于电化学传感器的酶油墨原图。第一酶印刷工位105的基本部件如图3A和图3B所示。具体地讲,根据实施例的合适的印刷工位包括丝网301、下印刷辊303、印刷辊600、覆墨刀片603、刮墨刀夹持器605和刮墨刀606。在第一酶印刷工位105中,印刷辊600是第四印刷辊227。
[0231] 在覆墨循环工序中,通过沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303来将丝网301装满油墨604。对于将油墨604装载到丝网301上的覆墨循环,丝网301沿着与基片242的第一方向608相反的第二方向607移动。
[0232] 在后续的印刷循环工序中,如图3B所示,刮墨刀606将油墨604透过丝网301转印到基片242上。在该印刷循环期间,刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303全部沿着与基片242的幅材移动相反的第二方向607移动。对于油墨604被挤过丝网301并沉积在基片242上的印刷循环,丝网301沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动。丝网印刷机构的一个实施例在公布的美国专利4,245,554中有更详细的描述,该专利以引用方式并入本文。
[0233] 在一具体实施例中,对于第一酶印刷工位105,所考虑的油墨是酶油墨。合适的酶油墨的实例在下文中示出。在本实施例中,在使用刮墨刀606将油墨604透过丝网转印到基片242上之前,丝网301被油墨604覆满。然后,在第三干燥机区230(如图2B所示)内利用(例如)50℃的热空气来干燥沉积在基片242上的印刷酶原图,热空气用两个单独的干燥机单元引导到基片的印刷表面上。
[0234] 在一个实施例中,在第一酶印刷工序后并且就在干燥后,基片242(包括印刷的碳和绝缘图案)通过第四冷却辊225,所述第四冷却辊设计成可将基片242快速冷却到预定温度,通常为室温(17-21℃左右,并且通常为19.5℃+/-0.5℃)。在幅材制造工序的一个实施例中,第四冷却辊225的表面大约为18℃。可利用(例如)7℃左右的工厂冷冻水将第四冷却辊225冷却到适当的温度。降低基片242的温度并保持基片242的温度是有益的,因为较凉的温度可降低油墨干在丝网上并在网孔中形成块的可能性。在根据一实施例的幅材制造工序中使用冷却辊也是有益的,因为其减小了基片242中的拉伸量,减少了对准问题,并且减少了匆忙中修改工艺来为这类问题进行补偿的需要。另外,由于酶油墨的高含水量以及由于丝网的移动所引起的气流,确保酶油墨在丝网中没有变干是至关重要的。由于移动的丝网遇到的空气相对流动而在丝网上干燥油墨,这种方式在平板丝网印刷机(例如Thieme平板印刷机)中通常观察不到,因为与本文所述的各种实施例不同,在该机器内丝网本身并不移动。除了通过确保基片在经受酶丝网印刷步骤之前被冷却到18℃左右来减轻这一问题的冷却辊之外,在印刷期间加载有酶油墨的丝网被湿化。在一个实施例中,湿化是基本上连续的。可以有上侧湿化、下侧湿化和/或侧面丝网湿化这三种湿化,并且实际上可以所有这三种湿化都提供。管路布置分别给丝网的上方、下方和侧方提供基本上恒定的湿化空气流,从而确保油墨的含水量保持在恒定水平。除了别的以外,湿化装置(通常为携带湿化空气的配管)的量和排列还将取决于所需的湿化量、油墨的含水量、周围空气的湿度和温度、基片接近酶印刷工位时的温度、印刷辊的温度、丝网的尺寸以及丝网暴露于周围环境(非湿化空气)的程度。在一个实施例中,在丝网来回的一个行程期间,具有一排或多排孔的配管在整个丝网的下侧输送湿化空气。上方的和机器的操作者一侧的配管(未示出)输送湿化的气流。
[0235] 通常,在印刷流程开始时或之前,印刷流程所需的所有酶油墨被放置在丝网上。作为另外一种选择,还可以从贮存器以连续方式供应酶油墨。由于酶油墨大部分由水组成(通常在55重量%至65重量%之间,更通常在60重量%左右),因此在整个流程酶油墨易于变干。可通过在加载有酶油墨的丝网周围进行湿化来缓和此风险。作为另外一种选择或者作为更通常的方式,另外基片可在进入酶印刷工位(或者实际上,任何印刷工位)之前利用本文所述的冷却辊来冷却。通常,基片的温度被控制为低于或等于室温。然而,基片的温度被保持在室内大气环境的露点之上。如果室内湿度为60%,则露点可以为15℃。
[0236] 如果基片的温度落在该温度以下,则在基片上会发生冷凝,这可能损害任何后续的印刷流程,特别是具有水溶性油墨(例如,酶油墨)的任何后续印刷流程。因此,对基片温度的控制(例如,控制在室温和露点之间的范围内)对于成功的印刷流程而言会是重要的。在控制基片温度的过程中,对冷却辊212、219、225和231的温度和/或通过这些冷却辊的时间的控制是重要的。反馈控制回路可用于测量基片温度,例如相对于室温和/或露点(给定室内湿度)的基片温度,以控制冷却辊的温度以及基片在离开辊并接近下一印刷工位时的温度。
[0237] 图2C是描写根据实施例的幅材印刷工序的部分6和部分7的示意图。在图2C中,部分6是第二酶印刷工位106。第二酶印刷工位106包括第五冷却辊231、第五积聚器232、第五印刷辊233、第四视觉传感器234、第五驱动辊235、第五干燥机区236、Y对准系统237和出站夹紧辊238。在图2C所示的本发明的实施例中,部分7是复卷机单元107。
[0238] 复卷机单元107包括转向机构239、第一复卷心轴240和第二复卷心轴241。在根据本发明的一个实施例的方法中,在幅材制造工序的部分6中进行第二酶印刷。在部分6中,根据本发明制造的用于电化学传感器的酶油墨原图利用丝网印刷法来印刷。施加两个酶油墨涂层的目的在于确保碳电极被完全覆盖,并且使得电极基本上平坦且无空隙。第二酶印刷工位106的基本部件如图3A和图3B所示。具体地讲,根据本发明的合适的印刷工位包括丝网301、下印刷辊303、印刷辊600、覆墨刀片603、刮墨刀夹持器605和刮墨刀606。在第二酶印刷工位106中,印刷辊600是第五印刷辊233。
[0239] 如图3B所示,在后续的印刷循环工序中,刮墨刀606将油墨604透过丝网301转印到基片242上。在印刷循环期间,刮墨刀606、覆墨刀片603、印刷辊600和下印刷辊303全部沿着与基片242的幅材移动相反的第二方向607移动。对于将油墨604挤过丝网301而沉积在基片242上的印刷循环,丝网301沿着与基片242的幅材移动对应的第一方向608移动。丝网印刷机构的一个实施例在公布的美国专利No.4,245,554中有更详细的描述,该专利以引用方式并入本文。
[0240] 具体地讲,在第二酶印刷工位106,所考虑的油墨是酶油墨。在本发明的此实施例中,在用刮墨刀606将油墨604透过丝网转印到基片242上之前,丝网301被用油墨604覆满。然后,在第四干燥机区236(如图2C所示)内用(例如)50℃的热空气来干燥沉积在基片242上的印刷酶原图,所述热空气利用两个单独的干燥机单元引导到基片的印刷表面上。用于第二酶印刷工位106的合适的油墨的实例与第一酶印刷工位中使用的酶油墨相同,其在WO 2004/040285的第21页的表中有所描述,该专利以引用方式并入本文。
[0241] 第二酶印刷工位106可包括出站夹紧辊238、用于检验对准的检验系统237、237C处的第三Y对准系统(未示出)以及条形码工位(未示出)。出站夹紧辊238帮助控制基片242的张力(尤其是进站夹紧辊206与出站夹紧辊238之间的张力)。通过出站夹紧辊238以恒定速率将基片242移出第二酶印刷工位106。在印刷过程中,位置237A、237B和
237C处的Y对准系统(未示出)利用第一Y对准标记2101、第二Y对准标记2102、第三Y对准标记2103、第四Y对准标记2104(如图7A所示)来控制每个印刷循环的Y对准(即,横跨幅材)。在本发明的一个实施例中,第一Y对准标记2101、第二Y对准标记2102、第三Y对准标记2103、第四Y对准标记2104可分别对应于碳印刷工位103、绝缘料印刷工位104、第一酶印刷工位105和第二酶印刷工位106的Y对准。每个Y对准标记包括2个三角形,这两个三角形以逼近构成矩形的取向并置。在一个实施例中,位于位置237A、237B和237C处的Y对准系统可以通过来自Eltromat Gmbh( ,Germany)的Eltromat
DGC650实现。
[0242] Y维度上的对准问题(其可在印刷过程中由位于237A、237B和237C处的对准系统(未示出)来更改和/或在所有印刷阶段都完成之后由检验系统237来检验)可归于幅材张力的变化或基片242的不均匀变形。在本发明的一实施例中,条形码工位包括以下商购部件:条形码印刷机(型号为A400,得自Domino UK有限公司(Cambridge,United Kingdom))、条形码横线系统(Scottish Robotic Systems(Perthshire,Scotland)以及条形码读出器(RVSI Acuity CiMatrix(Canton,MA))。条形码工位(未示出)用二维条形码来标记每一排传感器片2106。这为每一排传感器提供了独特的识别码、批/组号标识、传感器片号和排号。条形码工位还在印刷后立即读出条形码,以验证条形码是否正确印刷并且为机器操作者提供视觉指示标记。条形码以及部分2至6的工序信息被存储在数据库中并在稍后使用,以针对以后的处理识别并进而拒绝/接受卡片。复卷机单元107由(例如)Martin自动复卷系统组成,如图2C中以示意方式的部分7所示。
[0243] 图5是描写2个不同的刮墨刀角度的示意图,其包括基片242、印刷辊600和刮墨刀606。刮墨刀角度800可变化以优化印刷区域的清晰度。在本发明的一实施例中,刮墨刀角度可以为15+/-5度,优选地为15+/-1至2度。需要注意的是,对于每个刮墨刀角度800,刮墨刀606与印刷辊600的接触点相同。
[0244] 图6A是描写2个不同的刮墨刀位置的示意图,其包括基片242、印刷辊600、下印刷辊303、刮墨刀606、第一刮墨刀位置900和第二刮墨刀位置901。刮墨刀位置是刮墨刀相对于印刷辊600的中心的位置。刮墨刀位置可对印刷的油墨厚度有重大影响。刮墨刀位置可变化,以优化印刷区域的清晰度。
[0245] 图6B是描写离网距离(1000)的示意图,其包括基片242、印刷辊600、下印刷辊303和丝网301。在本发明的一个实施例中,离网距离(1000)是丝网301与基片242之间的最近距离。在本发明的一个优选实施例中,离网设置(1000)可为大约0.7mm。如果离网设置(1000)设得太高,则刮墨刀606无法使丝网301充分地挠曲以将油墨604以足够的印刷清晰度转印到基片242上。如果离网设置(1000)设得太低,则丝网301将涂抹来自先前印刷循环的油墨604,从而导致不足的印刷清晰度。示例性模版丝网和网片在图6C中示出。
[0246] 图7A是具有第一观察导向标记2100和第二观察导向标记2002、第一Y对准标记2101、第二Y对准标记2102、第三Y对准标记2103和第四Y对准标记2104以及X对准标记2105的传感器片的实例。需要注意的是,X对准标记2105包括碳X对准标记2107和绝缘料X对准标记2108。图7B是具有碳X对准标记2107和第二观察导向标记2002的传感器片2106内的一排的分解图。图7C是具有绝缘料X对准标记2108和第二观察导向标记
2002的传感器片2106内的一排的分解图。如图7C所示,绝缘X标记2108整个覆盖碳X对准标记2107,这样可以提供在初始碳标记2107的触发点之前的触发点(比如说标记2108的左手边缘)。这意味着任何后续层均相对于第二印刷层(在这种情况下,绝缘料层)来印刷,而非相对于碳层来印刷。这在比如说第二和后续丝网原图在X方向上(沿着幅材)的尺寸大于第一丝网原图在X方向上的尺寸时可以是有效的。
[0247] 如图1和图2所示,在工序的终端,其上印刷有传感器的基片242通过复卷机单元107而复卷,然后被供应到冲切机108中,所述冲切机可以是(例如)处于低湿度环境下的Preco冲切机。Preco冲切机可以是CCD X,Y,Theta浮动摇枕冲切机(Floating Bolster Punch)。Preco冲切机对准系统使用CCD视觉系统来查看在碳印刷工位上印刷的“Preco点”,这些点让冲切机能够调整至碳印刷并使冲切机能够将卡片冲压成方形。冲切机108输出的是一组冲切的卡片,例如图7A所示的那些。冲切出的卡片从冲切机108排出到传送带上,该传送带在条形码读出器下方传送卡片,所述条形码读出器读出每个卡片上的两个条形码,以根据幅材数据库来识别接受还是拒绝卡片。可以自动或手动地取出被拒的卡片。然后,将卡片一个在另一个上地叠堆,以为下一制造步骤做准备。
[0248] 在碳印刷工位103、绝缘料印刷工位104、第一酶印刷工位105和第二酶印刷工位106处均具有这样的机构,所述机构分别利用第一视觉传感器215、第二视觉传感器222、第三视觉传感器228、第四视觉传感器234在印刷工序步骤之后立即在视觉上检查对准。
[0249] 对于幅材印刷制造工序中的每个部分(部分3、4、5和6),紧接在印刷加工步骤之后的幅材观察器相机系统,如图2B和图2C所示。
[0250] 印刷导向标记如图7A中所示。对于碳印刷对齐,第二观察导向标记2100用于在基片242经过碳印刷工位103时相对于基片242的边缘指示碳印刷位置。如图7A所示,存在前导线和后随线。调整碳印刷,直至所述线指示印刷与基片边缘成直角。单独印刷的层需要在X方向(沿着机器的长度)和Y方向(横跨机器的宽度)上对准,见图7A。通过机器的内部对准系统来控制X方向的对准。这利用了图7A、B和C上所指示的印刷区域。关于碳印刷循环,碳X对准标记2107被印刷在该区域中。使用利用碳X对准标记2107的传感器将绝缘料印刷循环对准到碳印刷,以能够调整绝缘料丝网,以将绝缘油墨印刷在正确位置。然后,在用于这一目的的碳X对准标记2107上方印刷绝缘料X对准标记2108,以相同的方式使用该标记以将第一酶层2000和第二酶层2001与绝缘料印刷正确对准。Y方向对准通过位于位置237A、237B和237C处的Y对准系统(未示出)来控制,在本发明的一个实施例中,所述Y对准系统可以是来自 ,Germany的型号为DGC650的Eltromat对
准系统。这利用了图7A中所示的印刷区域2101至2104。对于每个印刷循环(碳、绝缘料、酶1和酶2),印刷这些标记以便后续印刷可通过传感器沿Y方向对准。幅材数据库记录印刷期间的工序信息。可借助条形码为各个卡片查找出记录在数据库中的信息,在一个实施例中使用二维条形码。
[0251] 在一个实施例中,幅材制造工序输出印有原图的卡片,所述原图包括彼此对准印刷的碳、绝缘料和两个相同的酶层以形成测试条,每个测试条包含电化学传感器及相关的接触电极,用于检测血样中的葡萄糖。测试条用于结合测试仪对血糖进行自监测。这样的测试条的替代用途可被认为在本发明的范围之内,例如用于检测任何体液或衍生物(例如血液、间质液、血浆、尿液等)中的、葡萄糖、胆固醇、果糖胺和其他被分析物或指示物。目前,幅材被设计成可制造用在One Touch Ultra测试仪中的“One TouchUltra”测试条,其可得自LifeScan公司。图7A中为生成的原图的示意图样品。该图示出了一个完整的印刷卡片,所述卡片包含10“排”,每排50个“测试条”。每个卡片共有500个“测试条”。图上还指示了印刷取向。通过平行于印刷方向印刷0至9排(每排50个测试条),所述工序可以容易地扩展成包括将一排与另一排分离的切割步骤。此外,这意味着由于印刷质量在幅材横向上的变化(垂直于印刷方向)而产生的任何缺陷排可容易地被识别。每一排分配有号(通过条形码来识别),因此幅材上来自特定片的特定排可稍后参照数据库来识别,并且可被除去而不需要废弃整个片。这增加了工序的可用产品合格率,并使得整个工序更有效率。
[0252] 可移动的基本平坦的丝网可良好地应对电化学传感器的印刷过程中使用的多种类型的油墨(固体/液体组合)。与轮转凹版或滚筒丝网印刷所允许的相比,使用可移动平坦丝网能够更好地控制印刷清晰度并且沉积电化学传感器中所需的更厚的油墨层。多种类型的丝网(具有不同的网片、网片中线的直径、线间距、厚度、网目数)可易于商购,以应对连续幅材印刷工序中的不同类型的油墨(碳、绝缘料、酶)的不同需求。
[0253] 由于平坦丝网印刷辊、基片和将丝网推向基片的刮墨刀的布置方式,有多种参数(丝网与基片的角度、刮墨刀角度、丝网到刮墨刀位置、刮墨刀到印刷辊位置、离网距离、基片与丝网和刮墨刀的相对速度等)可被操控来以优化电化学传感器的印刷工序。
[0254] 总之(图3至图6),提供丝网印刷装置103以用碳素油墨604将图像从丝网掩模转印或印刷到基片242上。装置103包括辊303和600、金属丝网301、碳素油墨604和刮墨刀606。辊303和600被构造成可支承并传送基片242,同时丝网网片上形成具有电极轨道的图像掩模,所述丝网网片在辊附近与基片接触。碳素油墨被设置在网片301上,然后通过刮墨刀606迫使其透过丝网301。碳素油墨可包括炭黑石墨的混合物,其粘度为约每秒10,000厘沲至每秒40,000厘沲。具有变化的物理特性的碳素油墨可购自DuPont UK LTD(位于Wedgwood Way,Stevenage,Hertfordshire,England)、LRH LTD(位于Monmouth House,Mamhilad Park,Pontypool,UK)或Fujifilm-Sericol UK LTD(Pysons Road,Broadstairs,UK)。
[0255] 如图4A在此所示,刮墨刀片606包括具有肖氏硬度A大于55的特性的合适材料。刀片606安装在夹持器605上。刀片具有两部分,即下侧较宽部分606-1和上侧基本平面部分606-2,部分606-2的上部配装在夹持器605的凹槽中。下侧较宽部分606-1通常为约6至10mm宽(更通常为约8mm宽)±0.6mm。上侧平面部分通常为约1.7mm宽。刀片606构造成可大致平面构型,以通过向刮墨刀606施加大于4巴压强的压强(最多至机器极限,或者在大于4巴至约6.5巴的范围内或在约4巴至约6巴的范围内)来迫使碳素油墨604透过丝网301,其中1巴大约等于在示例性刮墨刀片上施加的每平方英寸14.5磅。此处的机器包括丝网、框架、刮墨刀和用于通过刮墨刀向丝网施加压强的机械装置。在一个示例性实施例中,对于宽度为约8mm的刮墨刀,使用大于270N/米(刮墨刀长度)的压强。所述压强被施加到长度为约370mm的刮墨刀片。换句话讲,施加到刮墨刀片的力大于270牛顿/米。
刀片606使得油墨604流动而透过丝网301(图4C),以在基片242上形成电极轨道的图像(例如,图9),使得测试条中碳工作电极轨道12和14的长度Y2-12或Y2-14(分别在碳工作电极轨道12或14的两个侧边12E1和12E2或14E1和14E2之间沿垂直于纵向轴线L1或L2的虚拟线测量)相对于预定长度的任何变化小于约3.5%或小于约2.5%,并且任何两个工作电极轨道12和14之间的任何最小间隙G相对于预定间隙的变化不大于约30%。
在优选实施例中,所述预定长度大约为0.80、0.82、0.84或0.86毫米,所述预定间隙大约为
150、200、250或300微米。需要注意的是,给出的值是示例性的,因为可使用任何值,只要值的改变幅度不大于各自的百分比改变。
[0256] 参照图4B和图4C,在丝网301的一部分上可看到碳电极10、12和14的图像。具体地讲,暗区D阻止碳素油墨流过网片,而亮区10L、12L和14L允许碳素油墨流过,从而形成碳导电材料的电极轨道10、12和14。金属丝网301的特写部分在图4C中示出,其示出了在一个实施例中,直径优选地为0.03mm的各条线按约45度的网角交织,从而得到每厘米125的网目数,网目开口为约50微米,开孔面积为约39%,网片厚度为约47微米。根据本文描述和示出的用于制造电化学传感器的部件和系统,在工序期间被加热并承受张力时幅材会延展或拉伸。印刷工位(例如,碳、绝缘料、两种酶)之后通常各自跟随有干燥工位。为了有效地干燥油墨,干燥机工位在相当高的温度(50-140摄氏度)下工作。此外,为了帮助幅材在每个印刷工位过程中对准,幅材被置于张力下。
[0257] 基片须一直被保持在张力下以控制工序期间的对准,结果,无论基片何时被加热(例如)以在印刷后使油墨干燥,基片将不可预测地拉伸,从而导致后续印刷中发生图像尺寸变化。每一印刷工位处印刷的图像的尺寸由若干因素(模版尺寸、油墨粘度、幅材与模版/丝网的相对速度以及该点处的基片拉伸(可逆和不可逆拉伸)等)决定。当在工序的终端观察时,发现图像尺寸变化(不同印刷步骤之间)呈现不同。
[0258] 这是不可预测的并且高于预期,从而显著降低了合格率。如果沿着幅材(x方向),层之间的图像尺寸失配大于300微米,则产品将不能用。过量的图像尺寸变化被认为是由于幅材基片的过量且不可预测的拉伸(由受热和张力引起)和收缩而引起的。
[0259] 拉伸和张力不会在平板印刷中引起相同的问题。为了解决幅材工序中的问题,尝试了预收缩的基片。基片在被用于幅材工序之前被加热到185摄氏度左右。然而,图像尺寸变化问题仍然存在,导致合格率降低。对于幅材工序而言,目前的建议是在第一干燥机中使用高温,或者说在足够高的温度下进行预处理,以使得在一个实例中,在图像被印刷到基片上之前,从基片基本上去除不可逆拉伸。
[0260] 在幅材机的第一加工工位,干燥机单元将基片加热到160摄氏度。基片稍后在工序中遇到的温度通常不会超过140度。在图2A中,未印刷的基片遇到的第一加热器单元是热板。这可以是特氟隆(Teflon)涂敷的板,其在幅材移动过程中抬升并接触基片。热量被引入到基片的背面。目前,这在160℃(规格为+/-4℃)的设定点下进行。从统计学上讲,160℃设定点提供最佳的尺寸控制。算出的平均值为约161℃。在加热器单元2中,在160℃(规格为+/-4℃)的设定点下从基片的正面引入热空气。算出的平均值为约161.3℃。在加热器单元3中,在160℃(规格为+/-4℃)的设定点下从基片的正面引入热空气。算出的平均值为约161.2℃。在加热器单元4中,在160℃(规格为+/-4℃)的设定点下从基片的正面引入热空气。算出的平均值为约160.1℃。
[0261] 由于在干燥机中引入的幅材张力和热,导致对于每个原图复制幅材基片拉伸大约0.7mm。这是利用工位1作为预处理单元以在后续印刷工位之前稳定基片的主因之一。使用工位1来对基片进行预处理提高了碳和绝缘料排长度的稳定性,这是因为在印刷之前已从基片去除了大量的材料拉伸。
[0262] 在一个实施例中,在第一干燥机中使用的高温为足够高的温度,以使得在任何图像被印刷到基片上之前(即,在基片到达任何印刷工位之前)已从基片上基本上去除了不可逆拉伸。在第一加工工位,干燥机单元将基片加热到第一温度,该温度基本上高于基片在印刷工序期间将遇到的任何温度。例如,如果基片在印刷工序期间将遇到的最高温度大约为140摄氏度,则第一温度可以接近大约160摄氏度。
[0263] 由于在干燥机中引入的幅材张力和热,幅材基片被预处理,从而减少了在连续的制造过程中后续加工步骤中的拉伸。
[0264] 图8A是测试条100的示例性分解透视图,其可包括设置在基片5上的七个层。图8B是图8A的各个层的示例性俯视平面图。设置在基片5上的七个层可以是导电层50(也可称为电极层50)、绝缘层16、两个重叠的试剂层22a和22b、粘合剂层60、亲水层70和顶层80。测试条100可以通过一系列步骤制造,其中利用(例如)丝网印刷工艺将导电层50、绝缘层16、试剂层22、粘合剂层60依次沉积在基片5上。亲水层70和顶层80可以从卷料(roll stock)设置并层合到基片5上,作为一体的层合物或者作为单独的层。如图8A所示,测试条100具有远侧部分3和近侧部分4。
[0265] 测试条100可包括样品接纳室92,血样可通过所述样品接纳室抽取。样品接纳室92可包括在近端的入口和在测试条100侧边的出口,如图8A所示。血样94可加到入口来冲注样品接纳室92,以能够测量葡萄糖。邻接试剂层22布置的第一粘结垫24和第二粘结垫26的侧边缘分别限定样品接纳室92的壁,如图8A所示。样品接纳室92的底部或者“地面”可包括基片5、导电层50和绝缘层16的一部分,如图8A和图8B所示。样品接纳室92的顶部或者“室顶”可包括远侧亲水部分32,如图8A和图8B所示。
[0266] 对于测试条100,如图8A和图8B所示,基片5可用作基底,以帮助支撑随后施加的层。基片5可采取聚酯薄片的形式,所述聚酯薄片(例如)是聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)材料(由Mitsubishi供应的HostaphanPET)。基片5可以为卷筒形式,标称350微米厚,370毫米宽,大约60米长。
[0267] 导电层被用来形成电极,所述电极可用于对葡萄糖的电化学测定。导电层50可由丝网印刷到基片5上的碳素油墨制成。在丝网印刷工艺中,碳素油墨被加载到丝网上,然后利用刮墨刀使油墨透过丝网转印。可利用约140℃的热空气来干燥印刷的碳素油墨。碳素油墨可包括VAGH树脂、碳黑、石墨(KS15)和用于所述树脂、碳和石墨的混合物的一种或多种溶剂。更具体地讲,碳素油墨可包含在碳素油墨中比率为约2.90∶1的碳黑∶VAGH树脂和比率为约2.62∶1的石墨∶碳黑。
[0268] 如图8A、图8B和图8C所示,对于测试条100,导电层50可包括参考电极10、第一工作电极12、第二工作电极14、第一接触片13、第二接触片15、参考接触片11、第一工作电极轨道8、第二工作电极轨道9、参考电极轨道7和测试条测棒17。导电层可由碳素油墨形成。第一接触片13、第二接触片15和参考接触片11可适于电连接到测试仪。第一工作电极轨道8提供从第一工作电极12至第一接触片13的电连续通道。类似地,第二工作电极轨道9提供从第二工作电极14至第二接触片15的电连续通道。类似地,参考电极轨道7提供从参考电极10至参考接触片11的电连续通道。测试条测棒17电连接到参考接触片11。测试仪可通过测量参考接触片11和测试条测棒17之间的连续性来检测测试条100之正确插入,如图8A、图8B和图8C所示。
[0269] 图8D示出了在测试条100的近侧部分4的导电层50的示例性部分。在X方向上,参考电极10分别与第一工作电极12和第二工作电极14以间隙距离X1分离,如图8D所示。此外,第一工作电极12与第二工作电极14沿着X方向以间隙距离X11分离,如图8D所示。间隙距离X1和X11可为约300微米,并且可以相等或可以不相等。在Y方向上,参考电极10与第一工作电极12以间隙距离Y1分离,如图8D所示。此外,第一工作电极12与第二工作电极14沿着Y方向以间隙距离Y11分离,如图8D所示。间隙距离Y1和Y11可为约100-300微米,或更优选地为125-200微米,或更优选地为约180微米,并且可以相等或可以不相等。通常,在网片上的间隙Y11(在随后的实施例中被称作间隙G)的标称尺寸可在200微米左右,而实际印刷尺寸接近150微米。本领域技术人员应当理解,参考电极与第一工作电极的分离以及工作电极(沿着Y方向)彼此的分离可以基本相等(例如,Y1=Y11),然而不必一定如此。第一工作电极12和第二工作电极14可各自具有约0.8毫米的长度Y2,如图8D所示。通常,工作电极的长度将基本相等,然而不必一定如此(例如,电极12的Y2=电极14的Y2)。参考电极10可具有约1.6毫米的长度Y3,如图8D所示。
[0270] 间隙距离X1和/或X11可设计成足够大以减小涂抹导电材料而导致电极桥接的可能性。应当指出,间隙距离X1和/或X11的增大不会增大测试条100的样品接纳室92的容积。在一个实施例中,间隙距离Y1和/或Y11可设计成比间隙距离X1和/或X11小。由于更大的间隙距离Y1和/或Y11将增大样品接纳室的容积,进而增大所需体液的体积,因此这会有好处。
[0271] 如图8E、8F和图9所示,绝缘层16可包括例如矩形孔18的孔,将参考电极10、第一工作电极12和第二工作电极14的一部分露出,以限定可通过例如通过绝缘孔18暴露到液体样品中而被湿润的第一工作电极和第二工作电极的酶工作面积。取决于所需的校准输入的酶工作面积可以具有或可以不具有如本文所述的算出的还原介体量。第一工作电极12的长度Y2-12和第二工作电极14的长度Y2-14优选地根据该工作面积确定。矩形孔18的宽度是X3。在本发明的范围内设想的孔的其他形状例如有:方形、长菱形、三角形、圆形、卵形、多边形等。在本示例性实施例中,工作电极面积的确定较为简单,即:(X3×Y2-12)或者(X3×Y2-14)。
[0272] 第一工作电极12的下边缘与第二工作电极14的上边缘之间以距离G(在图8D中标记为Y11)间隔。除了限定电极面积之外,绝缘层16还可阻止液体样品接触电极轨道7、8和9。据信,重要的是精确限定工作电极的功能面积,因为测试电流的大小与电极的有效TM
面积成正比。例如,绝缘层16可以是Ercon E6110-116Jet Black Insulayer 油墨,其可购自Ercon公司(Waltham,Massachusetts)。
[0273] 测试条100通常是细长的,在本示例性实施例中,其大体为矩形且平坦。可设想测试条的其他大小和形状,例如圆形、方形、非平面的等。为了简单起见,就细长的测试条的情况而言,将沿着测试条的尺寸称作长度,横跨测试条的尺寸称作宽度。这无意进行限制,除非由语境规定。此外,如已述,测试条可为任何形状,且尽管通常适于一次使用(换句话说,是一次性的),例如用于自我血糖监测(SMBG),但连续的测试条也可在本发明的语境中被设想为用于两次、多次或真正的连续使用。
[0274] 试剂层22设置在导电层50、基片5和绝缘层16的一部分上,如图8A和图8B所述。试剂层22可包括与葡萄糖反应的例如酶和氧化介体之类的化学品。酶的实例可为葡萄糖氧化酶,并且介体的实例可为铁氰化物。在一个实施例中,试剂层22可包括葡萄糖氧化酶(Biozyme Laboratories)、三柠檬酸钠、柠檬酸、聚(乙烯醇)(Sigma Aldrich)、羟基乙基纤维素(Natrosol 250G)、铁氰化钾、DC 1500(Antifoam BDH/Merck有限公司)、Cabosil TS 610(Cabot公司,Billerica,Massachusetts,01821-7001,U.S.A.)、聚(乙烯基吡咯烷酮)乙酸乙烯酯(PVP-VA S-630,ISP有限公司)和高纯水(BDH/Merck有限公司)。Cabosil TS-610是具有亲水和疏水基团的经表面处理热解法二氧化硅。据信,Cabosil的替代品是类似的二氧化硅,其商标名为Wacker HDK15(可购自Wacker Chemie股份公司(81737Munchen,Germany))。
[0275] 适用的酶的实例可以包括葡萄糖氧化酶或葡萄糖脱氢酶。更具体地讲,葡萄糖脱氢酶可具有吡咯并喹啉醌辅因子(缩写为PQQ或可用其常用名methoxatin来表示)或黄素腺嘌呤二核苷酸辅因子(缩写为FAD)。适用的氧化介体的实例可包括铁氰化物或三氯化III钌合六氨([Ru (NH3)6]Cl3并且也可以简称为钌六氨)。成比例量的还原介体可通过包括酶、介体和基片的反应而产生,其随后被电化学测量以计算葡萄糖浓度。
[0276] 试剂层22可由试剂油墨形成,其设置在导电层50上,通常还覆盖绝缘层16并被干燥。注意的是,试剂油墨也可被称作酶油墨或配制试剂。试剂油墨通常含有液体(例如缓冲液),以分散和/或溶解用于对例如葡萄糖的被分析物进行电化学检测的材料。在一个实施例中,两个连续的试剂层22a和22b可被丝网印刷到导电层50上,通常还稍微覆盖绝缘层16。试剂油墨可被装载到丝网上,直到丝网被覆墨。接着,可用刮墨刀将试剂油墨穿过丝网转印到导电层50上。沉积之后,试剂油墨可用约50℃的热空气干燥。
[0277] 试剂层22的面积可足够大以覆盖矩形孔18的整个面积(即,酶工作面积)。试剂层22的宽度和长度足够大以至少占据测试条100中可用的最大电极面积。试剂层22的宽度可为约2毫米,其大于矩形孔18的最大宽度X3的2倍。宽度X3示于图9中,并将在以下讨论。
[0278] 现在参照图9,工作电极12和14的侧边15A(在完整的测试条中)由绝缘层16覆盖。工作电极12和14的外露面积具有侧边15B。两个轴线L1和L2可相对于侧边15A或15B限定。在方形或矩形工作电极的情况下,侧边15A和15B基本平行。沿着基本垂直于轴线L1和L2的方向,工作电极12和14的长度Y2-12和Y2-14可分别限定为各工作电极的长度。在端注测试条(end fill strip)的情况下,血液的流动方向可为从工作电极12的边缘12E1流至边缘12E2,然后流至工作电极14的边缘14E1和边缘14E2。在本示例性实施例中,绝缘孔宽度X3为工作电极12和14的外露面积的两侧边15B之间在轴线L1和L2的方向上的距离。
[0279] 对于测试条100,粘合剂层60可包括第一粘合垫24、第二粘合垫26和第三粘合垫28,如图8A至8F和图9所示。在试剂层22沉积之后,粘合剂层60可设置在测试条100上。
第一粘合垫24和第二粘合垫26可对齐,以直接邻接、接触或部分覆盖试剂层22。粘合剂层60可以包括水基丙烯酸类共聚物压敏粘合剂,其可购自位于英国赫特福德郡(Herts)的Tring的Tape Specialties LTD(部件号:A6435)。粘合剂层60设置在绝缘层16、导电层
50和基板5的一部分上。粘合剂层60将亲水层70粘结到测试条100上。
[0280] 亲水层70可包括远侧亲水部分32和近侧亲水部分34,如图8A和图8B所示。亲水层70可为具有一个亲水表面(诸如防雾涂层)的聚酯,其可购自3M。
[0281] 加到测试条100上的最终层是顶层80,如图8A和图8B所示。顶层80可包括透明部分36和不透明部分38,如图8A和图8B所示。顶层80被设置在亲水层70上并粘合到亲水层70。顶层80可为聚酯,其在一侧具有粘合剂涂层。应该指出的是,透明部分36基本上覆盖远侧亲水部分32,让使用者可视觉上确认样品接纳室92可能已充分地注满。不透明部分38帮助使用者观察样品接纳室92中的有色流体(诸如血液)和不透明部分38之间的高度对比。
[0282] 在进行到讨论本发明的各种其他方面的详细实施例之前,对校准进行简短描述是合适的。一组测试条(通常来自一个流程的为一卷卡片或批被分割、打孔或切割成测试条)被如下进行校准。通常从所述组或批中随机选择1500个左右的测试条。来自供体的体液被分类为各种被分析物水平,通常六种葡萄糖浓度。通常,来自12个不同的供体的血液被分类为所述六个水平中的每一个。八个测试条被给予来自同一供体和水平的血液,使得针对该组总共进行12×6×8=576个测试。这些是通过利用标准实验室分析机(例如,Yellow Springs Instrument(YSI))进行测量而确定的对于实际被分析物水平(例如,血液葡糖糖浓度)的基准。测量出的葡萄糖浓度的曲线图相对于实际葡萄糖浓度(或测量出的电流与YSI电流)描绘,按等式y=mx+c最小二乘拟合成所述曲线图,以针对所述组或批中剩余的测试条赋值给批斜率m和批截距c。
[0283] 现在已经描述了测试条100,以下将示出用于制备具有预定目标斜率和预定目标截距值的测试条的实施例,可包括使用至少一个变量并且优选地使用两个变量。第一变量是对工作电极面积的调整,使得所述测试条组具有基本上等于预定目标批斜率的批斜率。第二变量是将预定量的还原介体加到试剂油墨中使得所述测试条组具有基本上等于预定目标批截距的批截距。因此,利用调整工作电极面积和/或将还原介体加到试剂油墨中的以下方法,可制备具有预定的目标批斜率和截距的测试条组。
[0284] 在一个实施例中,可通过改变矩形孔18的面积来调整工作电极面积,所述面积可2 2
在从约0.48mm 至约0.64mm 的范围内。或者,用于限定工作电极宽度的矩形孔18的宽度X3可在约0.6mm至约0.8mm的范围内变化。按比例调整工作电极面积可改变批斜率和批截距,这是因为测量的测试电流的大小与工作电极面积成正比。由工作电极面积的改变所导致的测试电流的成比例改变归因于法拉第和电容通道这二者。
[0285] 法拉第电流是起因于还原介体氧化的电流,而电容电流起因于电极上的电荷积累。工作电极面积的增大导致法拉第电流成比例增加,继而导致批斜率成比例增加,这是因为更多的还原介体可被氧化,每单位葡萄糖浓度对应更大的电极面积。图21确认随着绝缘层16的矩形孔18的宽度X3增大成比例增大的批斜率Mcal.因为宽度X3与电极面积成比例,所以批斜率Mcal与电极面积Aelec之间的比例关系可通过等式3定义。在等式3和以下等式以及讨论中,项“Aelec”以及短语“电极面积”可包括被试剂覆盖并暴露于测试流体(例如血液)的工作电极的面积。当提供了两个或更多个工作电极时,在一个示例性实施例中,项Aelec可为包括每个工作电极的组成的所述测试条的总工作电极面积,并且应当相应地阅读以下的描述。
[0286] 等式3Mcal=mslope×Aelec
[0287] 项mslope是针对给定试剂层的每单位面积的葡萄糖敏感度,其是与根据葡萄糖浓度的还原介体产生速率成比例的值。每单位面积的葡萄糖敏感度mslope可作为基于在多个电极面积测量的多个批斜率的斜率算出。可影响葡萄糖敏感度的因素包括试剂层厚度、酶活性、被氧化的介体量、试剂层组分的分布和界面电子交换速率。在某些条件下,优选的配制试剂的组分(例如,铁氰化物、经表面处理的热解法二氧化硅(例如,Cabosil TS 610或Wacker H15)、PVP-VA S-630和葡萄糖氧化酶)会干燥成可影响亚铁氰化物的产生速率的异质层。界面电子交换速率指碳电极在特定的活化能下快速氧化亚铁氰化物的能力。使用等式3时,就响应葡萄糖而产生还原介体而言,假设各批电极上印刷的所有试剂层都使用相同材料,且将具有相同性能特性(即,葡萄糖敏感度)。发明人意识到,当制造过程被充分良好地控制以致其他因素相对较稳定时,等式3变得特别有用,从而面积被调整时能够产生可再现的结果。例如,可使用某一普通碳和/或普通试剂份,并且/或者试剂油墨的密度可保持相对恒定。后文将更加详细地讨论这些方面。每单位面积的葡萄糖敏感度可从约2 2
15nA/mg/dL/mm 至约45nA/mg/dL/mm。在一个实施例中,每单位面积的葡萄糖敏感度为约
2
25nA/mg/dL/mm。
[0288] 工作电极面积的增大还导致电容电流成比例地增加。应该指出的是,电容电流随着时间快速衰减,因此约5秒时测出的电流应当具有与法拉第电流的大小相比相对小的电容电流。图22确认了批截距Bcal随着矩形孔18的宽度X3增大成比例地增加。申请人认识到,因为宽度X3与电极面积成比例,所以批截距Bcal和电极面积Aelec的比例关系可通过等式4定义。
[0289] 等式4Bcal=k1×C×Aelec
[0290] 项k1是单位为mm nA/mole的常量,C是在一批测试条中的试剂层中的以mole/mm32
为单位的还原介体的摩尔密度,并且Aelec是一批测试条中的工作电极的以mm 为单位的电极面积。因此,测试条中的试剂层中的还原介体的摩尔密度和工作电极面积直接影响截距。
项k1的大小取决于可在电极表面氧化的还原介体的分数通量,并且还原介体的扩散系数一开始存储在酶层中。项C的大小是在添加葡萄糖之前在一批测试条中的试剂层中的每单位体积的还原介体量。在一个例子中,C可用来说明作为试剂层中的杂质存在的还原介体的摩尔密度。集合项k1×C可作为基于在多个电极面积测量的多个批截距的斜率而。集合
2 2 2
项k1×C可在从约100nA/mm 至约1000nA/mm 的范围内,并且优选地在从约400nA/mm 至约
2
1000nA/mm 的范围内。
[0291] 还原介体可被加到试剂油墨中,以增加批截距。还原介体可为亚铁氰化物、二茂(络)铁及其衍生物、对苯二酚、六胺合钌、锇二吡啶配合物的形式。当试剂油墨中的还原介体为铁氰化钾时,还原介体可少于试剂油墨的约0.2重量%。或者,铁氰化钾的百分比可小于试剂油墨中存在的介体的总量的约0.8重量%。试剂层中存在的介体的总量可为亚铁氰化钾和铁氰化钾的合计重量。基于化学计量百分比,相对于试剂油墨中存在的介体的总摩尔量,试剂油墨可少于亚铁氰化物的约0.5摩尔%。
[0292] 如等式4所示,批截距Bcal与试剂层中的还原介体的摩尔密度C成正比。从而,批截距Bcal可通过用更多的还原介体来强化试剂层而增加。图23A示出了随着所添加亚铁氰化物的量增加而按线性方式增加的批截距。为了说明还原介体的来源,等式4可修改地更具特定性,如等式5所示。
[0293] 等式5 Bcal=k1×Aelec×Cmat+k1×Aelec×Cadd
[0294] 项Cmat代表试剂层中存在的还原介体的摩尔密度,该摩尔密度归因于来自氧化介体初始源材料中存在的杂质和来自由于后续处理产生的杂质的氧化介体中的杂质。项Cadd代表作试剂层中存在的还原介体的摩尔密度,该摩尔密度归因于还原介体的增加。图23A中的线的斜率对应于集合项k1×Aelec,其可基于通过还原介体的增加量范围来测量的多个批截距加以确定。应该指出的是,集合项k1×Aelec×Cmat是代表所述杂质对未添加还原介体的原始批截距的贡献的值。由于存在杂质,导致还原介体的摩尔密度Cmat可被进一步划分为来自表现为用于形成试剂油墨的原始源材料中的杂质的还原介体的贡献Cimp,(例如,诸如存在于氧化介体材料(例如铁氰化物)中的亚铁氰化物的还原介体),以及由于因为工艺变化而在处理过程中形成的杂质导致变化的贡献Cvar等,如在以下更加详细的描述。因此,实际的截距还可包括来自另一背景截距B0、来自被包含在Cvar中的还原介体的贡献,所述贡献可关于基础值随机改变,并且与还原介体在原始材料中作为杂质存在无关。申请人已经理解背景截距B0也随工作电极面积而改变。
[0295] 图23B示出了从用某一普通材料份制造的多个测试条组获得的批截距Bcal,这里普通铁氰化物份...28作为总亚铁氰化物装载量的函数。总的亚铁氰化物装载量包括表现为铁氰化物份中的杂质的亚铁氰化物Cimp、添加的亚铁氰化物Cadd和作为处理的结果出现的亚铁氰化物Cvar。这些点是添加了0.2g的69个组,添加了1.2g的61个组以及添加了3.3g的52个组的平均值。当应用时,在进行平均前,批截距被针对绝缘窗宽度标准化。
[0296] 如图23B所示,集合项k1×Aelec可作为基于每单位体积的多个还原介体量的斜率算出。油墨的重量与油墨的单位体积成正比,见图23B的x轴单位。在图23B中,电极为固定面积,所述固定面积具有固定长度Y2和固定宽度X3=700微米。沿着x轴将所述曲线外推到零(零加还原介体和零加杂质)使得针对给定面积(或者绝缘窗宽度,假设电极面积固定)确定基线截距B0。这里,基线截距B0为258nA。因此,基线截距B0代表在处理阶段油墨中设置的亚铁氰化物的量的改变导致产生的截距,所述改变导致中试剂层中来自该源的还原介体杂质的可变的摩尔密度Cvar,如上所述。
[0297] 还原介体的添加导致测试电流中的恒定偏置,该恒定偏置不取决于葡萄糖浓度。因此,还原介体添加量造成不随着葡萄糖浓度的增加而增加的相对恒定的偏移量。图24确认了大致不受添加的还原介体量的增加影响的批斜率。
[0298] 现在已经描述了用于调整批斜率和批截距的两个变量,以下将描述怎样确定电极面积和/或后续的测试条组中使用的还原介体量,以提供相对高百分比的落入预定目标斜率和截距范围内或具有预定目标斜率和截距值的测试条组。在一实施例中,预定的目标斜率范围可为从约18nA/mg/dL至约21nA/mg/dL,或者预定的目标斜率值可落入该范围内,并且预定的目标截距范围可为从约430nA至约510nA或者预定的目标截距值可落入该范围内。在一优选实施例中,预定的目标斜率可为约20.25nA/mg/dL,而预定的目标截距可为约436nA、487nA或505nA。然而,在某些情况下,可能会有不多的测试条组具有不同于预定目标值的批斜率和批截距。对于这种测试条组被制造成不在所需规格内的情况,应当采用一些步骤来确保下一测试条组将具有充分接近预定目标值的批斜率和截距值。
[0299] 例如,第一测试条组可被制造为使得每个测试条包含具有第一面积的工作电极。应当注意的是,为了简化目的,在此仅描述一个工作电极,这不应被理解为是排他性的限制。如本发明所准备的,可提供一个或一个以上的工作电极,以及经适当调整的(一种或多种)方法。接着,第一测试条组可被校准为得到第一批斜率和第一批截距值。如果由于任何原因,第一批斜率基本不同于预定的目标批斜率,则在开始制造第二测试条组之前可采取一些步骤来调整制造过程。
[0300] 在一个实施例中,可基于第一批斜率和预定目标斜率值来计算第二面积。更具体地讲,可基于第一批斜率和预定目标斜率值之差来计算第二面积。更具体地讲,可基于预定目标斜率Mtarget和第一批斜率Mcal值之差除以每单位面积的葡萄糖敏感度值mslope来计算第二面积,如等式6所示。
[0301] 等式6ΔAelec=(Mtarget-Mcal)/mslope
[0302] 项ΔAelec表示电极面积的改变。
[0303] 实例1
[0304] 第一测试条组被校准为具有约18nA/mg/dL的批斜率和约320nA的批截距,如图30和31中的三角形所示。第一测试条组具有约0.7mm的电极宽度X3(由绝缘孔宽度限定),并且没有对试剂层添加亚铁氰化物。接着,制备七个测试条组,其中每个测试条组具有不同的电极宽度X3。采用的电极宽度X3为0.56、0.62、0.66、0.70和0.84mm。七个测试条组中的每个组有约一克的亚铁氰化物添加到试剂油墨(例如,含有标称1.4kg(1.365、
1.375、1.385或1.395kg)的铁氰化物的标称6kg(例如,6.004、6.017、6.024、6.027、6.034或6.037kg)份的油墨)中。通过用具有已知葡萄糖浓度的血样校准来确定实际批斜率和批截距。在图30和图31中,用菱形示出具有某一范围的电极宽度的测试条组的实际批斜率和批截距值。此外,预计的批斜率和批截距用等式5和6来计算,如图30和31中的方形所示。在图30和图31这两个图中,预计的批斜率和批截距相对接近于估算的批斜率和批截距值。
[0305] 因此,在此示例性实施例的本发明的一个方面,发明人已经认识到,以绝缘层中的孔来限定工作电极的宽度使得通过调整绝缘层中的孔来容易地调整工作电极宽度成为可能。
[0306] 或者(对于等式6),可通过将预定目标斜率乘以第一面积然后除以批斜率来计算第二面积,如等式7所示。
[0307] 等式7 Aelec2=Aelec1×(Mtarget/Mcal)
[0308] 项Aelec1和Aelec2分别表示工作电极的第一工作面积和第二工作面积。通常,Aelec1表示第一批工作电极的平均工作面积。仅作为例子,该尺寸(实际上对于本文所描述的任何其他尺寸也如此)可通过测量在流程的每一卷中的多个卡片(例如,10个卡片)中的每个卡片上的多个测试条(例如,10个测试条)的工作电极的工作面积并取平均来确定。在一个示例性实施例中,如在下文中将描述的,可使用基于多个第一批斜率的平均值的平均第一批斜率。例如,这可通过测量流程的每一卷上的10个卡片的每个卡片上的10个测试条的斜率并取平均来确定。
[0309] 在以下描述中以及各处,为了简明起见,将提及目标斜率和截距值。应当理解,在以下讨论中提及目标斜率或截距值的地方,这些值可以各自为具有与之相关的误差棒的值或者具有与其每个端值相关的误差棒的某一范围的值。
[0310] 一旦计算出第二面积,就可制造第二测试条组,其中每个测试条可包括具有算出的第二面积的工作电极。接着,第二测试条组可被校准为得到第二批斜率和第二批截距,其基本上等于预定的目标斜率和预定的目标截距值。
[0311] 在某些情况下,其中第一测试条组的第一批截距B1显著地小于预定目标截距,调整工作电极面积可能不足以得到具有预定目标截距值的测试条。例如,可用等式8计算出*预期的原始批截距B1 的估计值,该值为使用第二面积Aelec2进行调整。注意的是,等式8可*
用于确定是否可单独调整所述面积来使B1 基本上等于预定目标截距。如果发生这种情况,则无须进行其他操作(除了例如通过改变绝缘孔X3将Aelec1调整至Aelec2之外)。
[0312] 等式8B1*=B1×[Aelec2/Aelec1]
[0313] 因此,B1*是预计批截距的估计值,如果电极的工作面积从Aelec1变为Aelec2的话。如*果B1 明显小于预定的目标批截距,则可采取一些步骤来增加预计批截距。
[0314] 可通过丝网印刷工艺来制备矩形孔18。在能够丝网印刷具有经调整的电极面积的绝缘层16丝网之前,必须选择具有合适几何形状的丝网。丝网印刷工艺具有基于丝网开口尺寸的受限的分辨率。因此,在一个实施例中,当利用丝网印刷工艺时,宽度X3可以按约25微米或更大尺寸的增量进行改变。在许多情况下,算出的第二面积将不精确对应于通过具有基于25微米的电极宽度改变而递增的离散面积值的丝网之一提供的面积。当没有精确匹配时,将有两个丝网尺寸上的增量可提供与算出的第二面积最接近的面积值。在一个实施例中,可以选择得到较大面积的增量,因为面积较大,提供的测试电流就越大。通常,较大的测试电流具有更好的信噪比并且在存在内因干扰的情况下可更准确。然而,在另一个实施例中,可以选择得到较小面积的增量,这是因为面积越小导致批截距越小。通常,较小的截距会是优选的,这是因为可通过添加还原介体来增加批截距。
[0315] 在另一个方面,增大批截距的一种解决方案是将预定量的还原介质加入试剂层中。例如,如果第一测试条组被制造为具有基本不同于预定目标斜率和预定目标截距值的第一批斜率和第一批截距值,则第二测试条组可被制备为利用具有增加量的还原介体的算出的第二面积。
[0316] 本公开中,此前已相对于试剂层中的现存的还原介体的摩尔密度讨论了介体的量(由于杂质导致的Cmat=Cimp+Cvar和由于特意添加的还原介体导致的Cadd)。
[0317] 以下的讨论将干燥的试剂层中的还原介体的摩尔密度与在制造过程中需要添加的介体量(例如,预定量的试剂油墨)相关联,以使得在一批测试条中的干燥试剂层中能够实现所需的摩尔密度。
[0318] 在一个实施例中,第二面积可基于目标斜率和先前批斜率进行计算,如之前用等式6或7所描述的。先前制造的测试条批可被校准以提供先前批斜率。在一个实施例中,先前制造的测试条批可以是最近制造的一批或者是与将要制造测试条批至少在同一时期制造。
[0319] 作为调整电极面积的可选方案或者辅助方案,还原介体添加量可基于以下因素进行计算:(1)目标截距、(2)百分比减小的介体杂质和(3)背景截距。在一示例性实施例中,还原介体添加量可在不考虑以下因素的情况下进行计算:因素(2)百分比减小的介体杂质,换句话说,假设没有杂质和/或因素(3)零背景截距B0。
[0320] 现在参照图23C,该图示出了在四个循环期间的300批的基线截距B0。每个循环代表多个流程,每个流程的碳份是相同的。每个点代表具有(大约)7卷或8卷的一个流程。X轴示出了顺序组数。Y轴示出了以nA为单位的基线截距B0。菱形表示循环11,其中绝缘孔宽度X3被设定为725nm,并且Fadd被设定为每油墨批1.2g。方形表示循环12,其中X3被设定为750微米,并且Fadd为每油墨份0.9g然后为1.2g。圆形表示循环14,其中X3被设定为725微米,并且Fadd为每油墨份1.2g。每个点代表包括7卷或8卷流程的批,其中通过将批截距调整至标准工作电极面积,再减去添加的亚铁氰化物的量和作为铁氰化物材料份中的杂质存在的亚铁氰化物的量(通过测量确定)推导出基线截距B0。基线截距B0大范围地改变并且显然在225nA左右和临近400nA之间随机改变。然而,基线截距的分布中心位于300nA处。
[0321] 等式5可重写为:
[0322] 等式5A Bcal=k1Aelec×(Cimp+Cadd+Cvar)
[0323] 出于实际原因,在最终测试条中,与在试剂层中的亚铁氰化物的摩尔密度C相比,在某一试剂油墨份中用亚铁氰化物的克数处理更方便。这些量是相关的。发明人已经认识到,加到试剂油墨成分中以使得能够形成适合印刷的液体的水份随后被完全去除,并因此可被忽略。插入一句,涉及水的处理步骤会对Cvar有贡献,尽管这可以通过另一种方式计入,即利用历史数据估计对应的相关基线截距B0并将其减去,如在本文别处所述的那样。因此,经干燥的试剂层中的还原介体的摩尔密度C与该份试剂油墨中的还原介体(这里,为亚铁氰化物)的量F相关,它们的关系如下:
[0324] 等式5B C=Kink F
[0325] 其中,C是以moles/mm3为单位的摩尔密度,F是每份油墨中亚铁氰化物的克数的3
量,Kink是使每份油墨的克数与在最终测试条中的以moles/mm 为单位的摩尔密度相关联的常量。等式5可重写为如下:
[0326] 等式5C Btarget=k2AelecFimp+k2AelecFadd+k2AelecFvar
[0327] 其中,k2=k1×Kink,Btarget是目标批截距,Fimp为在组分材料铁氰化物中存在的杂质,其单位为每油墨份的克数。项k2AelecFvar代表基线截距B0,即由于在处理过程中改变大量铁氰化物转化为亚铁氰化物的过程而对截距的贡献。因此,等式5C可重排如下:
[0328] 等式5D Btarget-B0=k2Aelec(Fimp+Fadd)
[0329] 已经表明B0可源自历史数据(与图23B有关的少量的先前批,或图23C中的较大量的批)。Fimp可如本文别处所述的那样进行测量。
[0330] 因此,在一优选实施例中,还原介体添加量可通过计算目标截距和背景截距之差并除以常量然后减去还原介体杂质量来确定。从制造的观点看,这是非常实际的方法,这是因为其给出了要加到某一份油墨中的还原介体量,而不是在一批测试条中的干燥试剂层中需要的还原介体的摩尔密度。
[0331] 介体的添加量不一定取决于第一批截距B1。意想不到的是,已表明该方法得到约±15%的低变化的多个批截距值。因此,在一更优选实施例中,还原介体添加量Fadd大体由等式9A定义。
[0332] 等式9
[0333] 项Btarget表示目标截距,B0表示背景截距,Kint=k2Aelec表示用于将电流转化为还原介体量的常量,且Fimp表示作为杂质的与氧化介体相关的还原介体量。项Fadd和Fimp可以以一份试剂油墨中的亚铁氰化物的克数为单位。一份试剂油墨中的还原介体的总量可包括Fadd和Fimp这二者。
[0334] 常量Kint可为凭经验得出的常量,其用于将试剂油墨中的总亚铁氰化物的含量转化为批截距的改变。例如,对于具有约700微米的工作电极宽度的测试条批,Kint可为约65.5nA克的亚铁氰化物。常量Kint应当被标准化为用于将要制造的下一测试条批的电极宽度。例如,所述下一测试条批可被制造成具有约725微米宽度(具有不变的电极长度)的电极。在这种情况下,对于具有约725微米的电极宽度的测试条批,Kint可乘以725/700之比以得到标准化的Kint。
[0335] 确定还原介体(例如,亚铁氰化物)的合适添加量的可选方法为基于与等式9相同的原理使用图32中的曲线。这里,图线由对于多个不同的工作电极面积的以每油墨份的克数为单位的需要添加的亚铁氰化物的量与作为铁氰化物中的杂质存在的亚铁氰化物的量的关系曲线组成。通常,标称6kg的油墨份中存在标称1.4kg的铁氰化物。通过测量铁氰化物中亚铁氰化物杂质的量,可确认x轴上的位置。一旦绝缘孔宽度被选定(基于目标斜率),就可确定图32上的线条之一并且可确定目标所需添加的亚铁氰化物的量(以每油墨份的克数为单位)。这里,假设工作电极具有相同的长度Y2,并且仅调整绝缘孔宽度X3来改变面积。这里,目标截距是487nA。包括(但不限于)436nA或505nA的其他目标截距也被设想为在本发明的范围内。另外,图32还示出了基于制造商技术规格的预期的亚铁氰化物杂质水平范围Q和所使用原材料的实际的亚铁氰化物杂质范围(通过测量得出)。
[0336] 作为氧化介体的杂质加入的还原介体量Fimp与还原介体杂质百分比成比例。例如,亚铁氰化物是还原介体并且可作为例如铁氰化物的氧化介体中的杂质相关联。铁氰化物是可用于试剂油墨中的氧化介体的实例。根据铁氰化物试剂份的来源、质量和贮存条件的不同,在铁氰化物试剂份中可作为杂质存在某个量的亚铁氰化物。应该指出的是,作为杂质存在的还原介体量等于还原介体杂质百分比乘以试剂油墨份中的氧化介体量。可利用多种分析技术测量亚铁氰化物杂质百分比,所述技术(例如)是紫外可见光分光光度计或氧化还原滴定法。用于确定亚铁氰化物杂质的合适的分析技术可见于
[0337] “AnalaR Standards for Laboratory Chemicals”(BDH,1984,ISBN0-9500439-4-X),其通过引用被并入本文。
[0338] 背景截距B0代表除了还原介体添加量Fadd和作为杂质的还原介体量Fimp之外的若干因素的集合。除了添加的还原介体Fadd和作为杂质的还原介体量Fimp的因素之外,对背景截距有贡献的因素包括(例如)在试剂油墨混合过程中可能产生的还原介体、试剂油墨制备和印刷工序之间的贮存时间、试剂油墨印刷工序和试剂油墨干燥工序以及工作电极面积。除了在处理步骤中还原介体的产生之外,可影响背景截距B0的其他因素为在测试条校准过程中试剂酶层厚度和血液中可氧化物质的存在。通常,与将具有较少还原介体的较薄的试剂层相比,较厚的试剂层将总体上具有更多的还原介体。存在于血液中的可氧化物质(例如,抗坏血酸盐、尿酸盐和对乙酰氨基酚)可在工作电极上被直接氧化或间接氧化。当可氧化物质将氧化介体还原为还原介体时,发生间接氧化,所述还原介体随后可在工作电极上被氧化。
[0339] 如本文所讨论的,有大量因素可影响背景基线截距B0的大小。因此,当计算背景截距B0时,应当使用足够大量的代表上述因素的测试条批。在一实施例中,当例如,利用诸如图32所示的数据计算背景截距B0时,可将约200个或更多个测试条批求平均。应当在制造过程相对稳定的合适的时间段内制造约200个或更多个测试条批。应将可利用统计学方法被指定为异常值和/或可归因于特殊原因变异的批截距值排除在背景截距B0的计算之外。当一起对批截距值求平均以计算可代表一般背景信号的背景批截距B0时,每个批截距值应当被标准化,以对应于由于工作电极面积、还原介体添加量以及还原介体杂质的百分比(其可针对每个测试条批改变)的贡献。也可使用更大量的历史数据,例如图23C中所示的那些。
[0340] 通过与电极面积之比的乘积,批截距值可对电极面积标准化。例如,如果对具有725微米宽的工作电极的测试条批获得批截距并且批截距需要对700微米宽的工作电极(假设两个电极具有相同的长度)进行标准化,则批截距应当乘以比值700/725。
[0341] 批截距值也可通过从批截距中减去还原介体添加量的贡献来针对还原介体添加量进行标准化。例如,如果针对具有添加的0.2克亚铁氰化物的测试条批获得批截距,则将0.2克乘以Kint(在该情况下为65.5nA/克的亚铁氰化物)得出13.1nA。因此,为了针对还原介体添加量的影响标准化批截距,应当从批截距中减去13.1nA。
[0342] 批截距值也可通过从批截距的大小中减去杂质的贡献而针对测试条批的还原介体杂质百分比进行标准化。例如,可针对具有0.1%的还原介体百分比杂质的测试条批获得批截距。作为第一步骤,还原介体杂质百分比可被转化为还原介体杂质量。如果还原介体杂质百分比为约0.1%,而试剂油墨可用约1385克的铁氰化物进行制备,因此会具有约1.385克的亚铁氰化物。接着,大约1.385克的亚铁氰化物可乘以Kint(在该情况下,为约65.5nA/克的亚铁氰化物)得出约90.7nA。因此,为了针对还原介体杂质的影响标准化批截距,应当从批截距中减去约90.7nA。
[0343] 现在,已经描述了利用等式9A计算还原介体添加量的方法,第二试剂层(这里,“第二”指第二测试条组)可被制备为包含算出的还原介体量、预定量的氧化介体和预定量的酶。第二测试条组可随后被制造为具有第二试剂层,并且其中每个测试条包括具有算出的第二面积的工作电极。在校准之后,所得的第二测试条组将具有接近于并且在某些情况下基本上等于预定目标斜率和预定目标截距值的批斜率和批截距。意想不到的是,使用目标截距、还原介体杂质百分比和背景基线截距B0以计算还原介体添加量,使得所得的多个批截距值具有约15%或约+/-70nA的低变动(针对约490nA的目标截距)。在一实施例中,可需要约10批至约100批来证实批截距的低变动。对于每一批,可能需要约600个测试条来执行校准过程,以确定批截距。应该指出的是,还原介体的添加对于将批截距增大到预定的目标值来说是有效的,但是不适合于减小批截距。
[0344] 以下,将描述用于确定对具有约487nA的目标截距Btarget和约18.4nA/mg/dL的目标斜率Mtarget的测试条批制备试剂油墨所需添加的亚铁氰化物的量的计算实例。利用等式6或7,发现算出的电极面积具有约700微米的宽度。对于该试剂油墨,使用具有约0.105重量%的亚铁氰化物杂质百分比的铁氰化钾份。另外,该试剂油墨份包括约1385克的铁氰化钾。因此,与铁氰化物份相关的亚铁氰化物杂质的量为Fimp=0.105重量%×1385g的铁氰化物=约1.45g的亚铁氰化物。在一段时间期间收集约244个批截距值,其中测试条批包括某一范围的电极面积和某一范围的亚铁氰化物添加量。通过对所有批截距值一起求平均并且对约700微米的电极宽度进行标准化,确定了所得到的约298nA的背景截距B0。如前文所述,基于约700微米的电极宽度,凭经验得出的值Kint为约65.5nA/克的亚铁氰化物。
因为Btarget、B0、Kint和Fimp现已被定量地限定,所以可用等式9A计算Fadd。
[0345]
[0346] 因此,在印刷到工作电极上之前,约1.43克的亚铁氰化物应当与一份试剂油墨中的试剂油墨共混。
[0347] 实例2
[0348] 但是,如果利用要求约700微米之外的电极宽度的等式6或7进行确定,则一定要将背景截距B0以及凭经验得出的常量Kint标准化为另一电极宽度。以下实例描述了当电极宽度为约725微米时怎样计算Fadd。等式10和11示出了怎样标准化B0和Kint以对应于约725微米的电极宽度。
[0349] 等式10B0(725)=298nA×(725/700)=约309nA
[0350] 等式11Kint(725)=65.5nA/g(每份油墨)×(725/700)=约
[0351] 67.8nA/克的亚铁氰化物
[0352] 用B0和Kint的标准化值来对应于725微米的电极宽度,就可利用等式9A计算Fadd.[0353]
[0354] 因此,当制造具有约725微米电极宽度的测试条批时,约1.17克的亚铁氰化物可与试剂油墨共混。在一示例实施例中,可将1克至9克的亚铁氰化物加到含有1.4kg标称量的亚铁氰化物的标称6kg的一份试剂油墨中。
[0355] 现已描述了用于制造多个测试条的方法,以下将描述用于制造具有经调整的电极面积和/或添加量的还原介体的多个测试条批的反馈过程,从而使得制造大量具有足够远离目标值的批斜率或批截距的测试条批的可能性降低。
[0356] 图27A和图27B示出了用于制造多个测试条批的方法2700和2701的流程图。在一个实施例中,方法2701一开始包括可并行地执行以确定电极面积和所添加还原介体量的两个路径。在具有两个控制手段的实施例中,这两个控制手段也可依次序执行(方法2700,图27A)。在用于确定电极面积的方法2700中,所述方法包括预筛分相对小的测试条批,从而得到先前批斜率(步骤2704)并通过利用先前批斜率执行计算来设定对第一电极面积的控制手段(步骤2708)。对于确定所添加的还原介体量,所述方法包括测量原材料份中的亚铁氰化物杂质百分比(步骤2702),同时根据第一多个测试条批估算背景截距(步骤
2703),并且通过计算第一添加还原介体针量来设定截距调整手段(步骤2709)。步骤2709利用杂质水平、背景基线截距B0和选定的工作电极面积(从步骤2708开始),用等式9A设定截距调整手段。因此,在步骤2709中,用新工作电极面积调整基线截距B0(通常通过从步骤2708开始对新绝缘窗宽度进行调整)。另外,在步骤2709中,用工作电极面积(通常是绝缘孔窗宽度)调整常量Kint(见等式9A)。另外,在步骤2709中,选定目标截距Btarget并用B0、Kint和Btarget计算要添加的还原介体量(Fadd)。
[0357] 既然已设定了影响截距和斜率的因素或控制手段,现在可执行验证流程(步骤2710)。可在验证流程期间制备第二多个测试条批,所述验证流程用于验证控制手段设定提供了基本上等于目标值的批斜率和批截距。应该指出的是,该预筛分批可包括约150,000个测试条,并且验证流程可包括约7,000,000个测试条。第二多个测试条可被校准为提供多个第二批斜率和多个第二批截距。
[0358] 通过确定第二批斜率和第二批截距是否基本上等于目标值,可确认控制手段设定(步骤2712)。如果第二批斜率和第二批截距基本上等于目标值,则这些方法可向前推进并制备大规模生产批(步骤2714)。利用第一算出的工作电极面积和第一还原介体添加量,可在大规模生产批中制备第三多个测试条批。
[0359] 但是,如果第二批斜率不是基本上等于目标斜率,则可基于第二批斜率和目标斜率之差计算第二工作电极面积。如果第二批截距不是基本上等于目标截距,则可利用等式8基于第二批截距和目标截距之差或利用等式9A或图33或利用第二工作电极面积基于再计算将要添加的亚铁氰化物的量来计算第二还原介体添加量(步骤2711)。第二算出的工作电极面积和/或第二还原介体添加量可在步骤2708、2709、2710中执行,以制备第四多个测试条批,以验证经修改的控制手段设定提供的批斜率和批截距基本上等于目标值。若有必要可重复此过程。为了确保几乎总是存在通过添加还原介体而朝着所述目标改变截距的能力,选择高的目标截距可以是有效的。
[0360] 方法2701(图27B)与方法2700(图27A)相似,不同之处在于,设定了截距调整手段2706而没有涉及斜率调整手段2708。另一替代方法是基于等式8的方法来以某个截距为目标,而不是根据背景基线截距B0和测出的杂质水平(例如,依据等式9A)。
[0361] 在一实施例中,如果批斜率和批截距不是基本上等于目标值,则可执行预先测试条筛分过程以减少会浪费的测试条数量。可在验证流程的过程中制备测试条的局部装配件,然后是卡片或卷筒形式的大规模生产批。一旦制成局部装配件,它们中的一部分就可转换为完全装配的测试条,然后被校准以确认控制手段设定是否正确。通常,在步骤2710中,该步骤在验证流程后发生。然而,在预筛分批步骤2704或生产批步骤2714中,该方法可选择使用或另外使用。如果控制手段设定是正确的,则剩余的局部装配件可转换为完全装配的测试条。如果控制手段设定不正确,则剩余的局部装配件可被丢弃并且可制造具有经修改的控制手段设定的新的一批局部装配件。
[0362] 在一个实施例中,局部装配件可以是预制测试条卡片的形式。该预制测试条卡片可包括涂覆有导电层、绝缘层和试剂层的基片,但是不包括粘合剂层、亲水层和顶层。幅材或卷筒形式的局部装配件可被切割成具有多个测试条(例如,约500个测试条)的卡片。例如,在验证流程过程中制造的7,000,000个测试条可首先按预制测试条卡片的形式制造。接着,施加粘合剂层、亲水层和顶层,然后将卡片切割成单个的测试条,从而从多个测试条卡片中抽取一小部分样品可被转换为约600个完全装配的测试条。可对多个(通常为600个)测试条执行校准工序,以确定批斜率和批截距是否基本上等于目标值。如果批斜率和批截距基本上等于目标值,则剩余的预制测试条卡片可被转换为完全装配的测试条。如果批斜率和批截距不是基本上等于目标值,则剩余的预制测试条卡片可被丢弃。丢弃不具有基本上等于目标值的批斜率和批截距的预制测试条卡片节约时间和材料,因为如层合粘合剂层、亲水层和顶层以及分离为测试条等多个步骤被取消了。
[0363] 在一可选实施例中,不是丢弃不具有基本上等于目标值的批斜率和批截距的预制测试条卡片,而是将这些预制测试条卡片完全组装以用于需要输入校准码的测试仪。具有基本上等于目标值的批斜率和批截距的测试条批可用于不需要输入校准码的测试仪。
[0364] 应该指出的是,大规模生产批可包括约100,000,000个或更多个测试条,其显著地大于验证流程中使用的约7,000,000个测试条。因此,最好在进入大规模生产批之前用验证流程确认那些控制手段设定可实现目标斜率和目标截距值。总之,在涉及确认控制手段设定的方法2700和2701中使用反馈过程可使地产生不具有基本上等于目标值的批斜率和批截距的大量测试条的可能性降低。
[0365] 影响斜率和/或截距的其他因素(包括但不限于实例),例如导电(例如碳)油墨份、氧化介体份、酶油墨的密度、混合时间、混合工艺、静置时间、刮墨刀硬度、刮墨刀压强、基片的预处理、网片类型、网片变形能力、工作电极长度、工作电极分离和离网距离,可作为如本文所示和所述的工艺的一部分被调整。或者,可控制这些因素,使其在每个流程中充分一致,以致这些因素不显著影响斜率和/或截距,以让对斜率和截距的控制手段能够按需进行调整。在一个示例性实施例中,例如,可采用本文概述的方法来使用普通的导电(例如碳)油墨份和/或控制酶油墨的密度。这使得控制手段能够更加有效地用于瞄准所需的斜率和/或截距。通常,在截距调整手段之前设定斜率调整手段。这是因为当调整面积来影响斜率时,也会影响到截距,然而在某一油墨份中添加还原介体仅影响截距而不影响斜率。
[0366] 在另一个方面,下文将示出用于制备具有目标密度的配制试剂的实施例。在用于制备配制试剂的一个实施例中,可制备包括至少一个流变控制剂的第一溶液。接着,第一溶液可被补充介体和酶以形成配制试剂或酶油墨。
[0367] 流变控制剂是一般用来增加配制试剂的粘度和/或改变配制试剂的流动特性的材料。当使用丝网印刷工艺或其他沉积技术(例如,非接触印刷(例如喷墨印刷))时,配制试剂的流变性可影响印刷的试剂层的厚度。此外,配制试剂的流变性可影响干燥试剂层的形态(例如,干燥试剂层的孔隙率)。
[0368] 实例3
[0369] 可通过将缓冲聚合物溶液与具有亲水和疏水基团的二氧化硅混合在一起来制备第一溶液。更具体地讲,大约675克的Cabosil TS-610(具有亲水和疏水基团的经表面处理的热解法二氧化硅)或Wacker H15二氧化硅可与大约9000克的缓冲聚合物溶液混合。所述缓冲聚合物溶液含有以下成分(重量%):大约0.46%的DC 1500消泡剂、大约0.91%的PVP-VA S-630、大约0.83%的柠檬酸、大约2.74%的三柠檬酸钠、大约0.91%的PVP-VA S-630、大约4.62%的Natrosol 250G和大约89.52%的水。可利用Dispermat混合器以大约3000转/分钟的速度持续约16分钟的混合时间将CabosilTS-610分散在所述缓冲聚合物溶液中。注意的是,本文描述的各个实施例不限于用螺旋桨叶进行混合,并且其他形式的混合(例如,均化、分散和共混)可被用于掺混配制试剂的组分。例如,声波混合或超声波混合可用作本文描述的混合技术的替代方案。
[0370] 申请人已发现第一溶液的密度可具有大的变动量。第一溶液可表现出变化的密度3 3
值,其范围从约0.8g/cm 至约0.95g/cm。据信,密度变化的原因在于,在含有二氧化硅和缓冲聚合物溶液的分散体中的空气含量是变化的。此外,当测量被分析物时,发现第一溶液的密度对测试条响应电流产生影响。图25是说明第一溶液对批斜率的影响的示例性曲线图。应该指出的是,配制试剂的密度大小与第一溶液近似。在没有酶和介体的情况下设定第一溶液的密度,从而减少了与酶和介体的混合时间。通常,酶和介体被混合时在化学上不稳定。图25中的曲线图示出了在批斜率和配制试剂的密度之间的线性关系,其可由等式12定量地描述。
[0371] 等式12
[0372] 项ρ为目标密度,Mcal为批斜率,k2为第二常量,并且k3为第三常量。应注意的是,项ρ以每单位体积的重量为单位,这与本发明别处提到的摩尔密度C不同(其以每单3 3
位体积的摩尔量为单位)。第一溶液的目标密度的范围可为从约0.7g/cm 至约1.1g/cm,
3 3 3
并且优选地为从约0.92g/cm 至约0.96g/cm’或者更优选地在约1.00+或-约0.015g/cm
3
或更小的范围内,或者更优选地在+/-0.015g/cm 或更小的目标密度值的范围内,例如为约
3 3
0.7g/cm 和1.1g/cm 之间的任意值。批斜率的范围可为从约16毫微安/毫克/分升至约
30毫微安/毫克/分升。第二常量k2的范围可为从约7毫微安/毫克/分升至约10毫微
3
安/毫克/分升。第三常量k3的范围可为从约10毫微安/毫克/分升/克/厘米 至约
3
12毫微安/毫克/分升/克/厘米 。
[0373] 实例4
[0374] 图26是描写混合时间对第一溶液密度的影响的示例性曲线图,其中制备含有不同的Cabosil TS-610份的若干第一溶液。在从约10分钟至约30分钟的时间段期间,第一溶液的密度随着混合时间变化表现出大致线性的增加。图26B是说明混合时间对一份第一溶液的密度的影响的示例性曲线图,所述第一溶液是用替代级的经表面处理的热解法二氧化硅(Wacker H15)制备的。三角形表示平均密度,圆形表示最小密度,方形表示最大密度,3
单位为g/cm。上下规格单位的推荐值以水平线表示。
[0375] 作为实验,用约16分钟的固定混合时间制备多个第一溶液。当利用固定混合时间3 3
时,第一溶液的密度为从约0.83g/cm 至约0.95g/cm 之间的任意值。在另一个实施例中,
3 3
用可变混合时间制备多个第一溶液,使得第一溶液可实现从约0.92g/cm 至约0.96g/cm 之间的任意值的目标密度。当用可变混合时间时,混合时间是从约4分钟至约30分钟或更优选地从约16分钟至约30分钟的任何时长。因此,使用可变混合时间可明显减少所得的第一溶液密度的变率。
[0376] 在一个实施例中,一种制备配制试剂的方法包括将含有合适的流变组分的第一溶液混合预定的时间量。流变控制剂可包括具有亲水和疏水基团的二氧化硅、羟基乙基纤维素或其组合。可用搅拌桨以约3000转/分钟的速度来执行混合步骤。预定的混合时间量可为约16分钟。混合步骤可使得流变组分与水进行水合以改变第一溶液的粘度和流体性质。
[0377] 接着,可取出第一溶液的等分试样以测量其密度。可利用Cole Parmer11.5ml Grease Pycnometer(Cole Parmer Instrument有限公司)密度分析仪测量密度。基本上,可取出固定体积的第一溶液然后称重以确定质量,这样就能计算出密度。如果密度不大于阈值,则第一溶液可被混合另一个时间段,所述时间段足以将密度增加到约等于或大于所3
述阈值。所述阈值可为约0.87g/cm。第一溶液的进一步混合可促进流变组分与水的平衡。
此外,所述混合可使得被捕获的空气从第一溶液中去除,从而使密度增加。进一步混合的预定时间量可为约4分钟。应该指出的是,静态贮存时第一溶液的密度不发生显著程度的改变。因此,在不混合的情况下,第一溶液的密度在一个延长的时间段内(例如,约一星期)为相对恒定的值。密度约等于或大于所述阈值时,介体和酶可与第一溶液共混以形成配制试剂。
[0378] 在一可选实施例中,混合步骤可包括使第一溶液经受减小的压强以促进混合过程并去除空气。
[0379] 在另一个实施例中,制造多个测试条的方法可包括将胶态悬浮液的密度调整到目标密度。目标密度可根据目标批斜率计算。例如,等式12和相关的常量可用于计算目标密度。可通过改变混合的持续时间来调整所述密度。例如,混合的持续时间可在从约10分钟至约30分钟的范围内。或者,可通过添加某一添加量的合适的流变控制剂(例如,具有亲水和疏水基团的二氧化硅)来调整所述密度。胶态悬浮液可为在缓冲液中的流变控制剂的分散体。
[0380] 目标密度可为从约0.7g/cm3至约1.1g/cm3的任何值,优选地为从约0.92g/cm3至3
约0.96g/cm 的任何值。接着,介体和酶可被加到胶态悬浮液中,以形成配制试剂。通过如前所述的合适的沉积技术,配制试剂随后可针对所述多个测试条中的每个测试条设置在工作电极上。可利用具有已知葡萄糖浓度的多个样品来校准测试条以确定批斜率。作为调整胶态悬浮液的密度的结果,所得的批斜率基本上等于目标批斜率。除了本文所述和所示的调整批斜率的其他方法或作为其替代,还可使用调整或控制密度以使其恒定的方法。
[0381] 在另一个实施例中,采用通过达到具有某个目标范围的密度来获得配制试剂的制造方法,而不是达到大于或等于阈值的密度。在该方法中,密度由密度的下限和上限界定。该方法包括将含有流变控制剂的溶液混合预定的时间量。接着,测量溶液的密度。如果密度不在目标范围内,则溶液被进一步混合预定的时间量,使得密度在目标范围内。一旦密度在目标范围内,介体和酶就可随后与溶液共混以形成配制试剂。例如,目标密度范围可为从
3 3 3 3
约0.7g/cm 至约1.1g/cm 的任意值,优选地为从约0.92g/cm 至约0.96g/cm 的任意值。
[0382] 在一示例性实施例中,第一溶液可被制备为具有目标密度(如本文所述),然后放置一旁到需要时使用。临使用前,例如可在试用前约4至约6小时(或者甚至提早到使用前12或24小时)添加介体和酶以制成备用的配制试剂。
[0383] 另一方面,在某些情况下,当制造大量的测试条(例如一个流程的一卷或多卷基片)时,可观察到测试条组之间的变化。在这些流程的制造过程中,刮墨刀在网片丝网上的每一次刮动产生一组大约500个图像,从而得到一个“卡片”的测试条,并且每一卷基片可用于印刷出1800至2000个卡片或大约一百万个电极图像以形成大致相同数量的测试条。申请人已观察到,在用同一份碳素油墨和酶油墨制造电流测试条的过程中(即,6-10卷基片的制造流程),在图像转印到基片上的许多次期间每个工作电极的长度会改变。如图10所示,在八卷丝网印刷流程的全程期间第一工作电极或Y2-12的平均长度从0.835毫米变为约0.815mm。平均长度Y2的改变还反映在斜率响应以及所得的测试条的截距的改变,这导致所得测试条的校准改变。也已观察到第二工作电极Y2-14的平均长度的类似变化,与Y2-12的变化相对应。
[0384] 为了简明起见,下文的讨论将限于一个工作电极,但是应当理解,所述讨论等同地适用于第二工作电极或多个电极。多个测试条样品的第一工作电极的平均长度Y2可通过从同一卷基片中标示五个不同的卡片来获得,并对每个卡片的大约150个图像测量长度Y2。也就是说,对于每一卷,大约测量750个测试条。每个卡片的平均长度Y2随后被加到所取样的多个卡片,并对该特定卷的基片确定最终的平均长度Y2。随后用相同的工序操作程序测量后续的卷,并且如图10所示绘出平均长度Y2。
[0385] 实例5
[0386] 为了确定长度Y2的改变是否由于使用标准聚酯丝网所导致,进行了实验。图10示出了10卷流程的图线,其中可看出在使用标准聚酯丝网的情况下,从卷1至卷8,平均长度Y2的量值平稳地减小。此后,在第八卷之后,用新的聚酯丝网更换该聚酯丝网。可以看出,平均长度Y2立即返回到其初始值(大约0.837mm)。对于第十卷,新装的丝网随后被换回先前使用的聚酯丝网。虽然平均长度Y2没有返回到其第八卷时的值,但是第十卷的平均长度Y2确实表现出陡降,这往往会使人相信申请人的假设,即平均长度的改变按某种方式与聚酯网片丝网相关。在确定平均长度时,从可能的7,000,000个测试条中总共取样出5250个测试条用于实验。
[0387] 申请人已发现,通过用具有不同参数的金属丝网替换聚酯丝网,在7-10卷的制造流程中,申请人能够显著缓解平均长度Y2-12和Y2-14的这种减小。表I是现有的聚酯丝网和金属丝网之间的差别的列表。
[0388] 表I
[0389]参数 现有丝网 新丝网
材料 聚酯 金属-例如,不锈钢
每厘米的网目数 95 125
每英寸的网目数 240 325
线(网丝)直径(mm) 0.048 0.030
开口区域(%) 22.5 39
网片厚度(mm) 81±4 47±2
[0390] 通过申请人对新丝网的物理参数的特定选择,申请人能够控制每个碳轨道的趋势以将制造流程期间的宽度减小倾向控制为小于2.5%,并且在许多情况下,控制到1%或更小。例如,如图12所示,在10卷流程期间,平均长度Y2被限定在从大约0.84mm的优选长度开始的5.9微米的范围内,如通过实心三角形符号“▲”连接的线指示。控制碳轨道的长度减小带来的一个意想不到的益处是在整个10卷流程(或一千万测试条)期间取样的7500个完成的测试条的斜率改变被限定为单一校准代码,如实心方形符号“■”连接的线所示。因此,可采用通过提供金属丝网(例如,不锈钢丝网)来控制批截距和/或斜率的方法,作为本文所述和所示的调整批斜率和/或截距的任何其他方法的附加或替代。虽然优选实施例包括金属丝网(例如,不锈钢的不锈钢丝网304),但是也可利用其他类型的不锈钢,例如型号316、316L、409、411或416。或者,也可利用在刮墨刀压强下不发生不可逆变形的其他材料。此外,尽管使用的优选长度为约0.84mm,但是可结合本发明的各个方面而对于一个或多个工作电极使用任意长度(甚至每个工作电极的长度都不同),以缓和在丝网印刷流程期间长度减小的趋势。
[0391] 然而,用金属丝网印刷所得的测试条开始显示出不规则的印刷缺陷,如这里由图13的显微照片例证,如朝向两个工作电极之间的窄间隙G的箭头所指示。再有,所述印刷缺陷往往出现在基片上靠近刮墨刀在基片上印刷来往行程的端部。因此,该变窄的间隙将大约150微米的所需间隙缩小到不太理想的值。印刷缺陷是令人担忧的原因,因为这种窄间隙会导致碳电极的桥接,从而造成非功能性测试条。
[0392] 实例6
[0393] 进行了几个实验,以确定印刷缺陷的来源。如图14所示,在一个卡片的范围内表现出平均间隙缩小,所述平均减小由通过从约150微米的所需间隙中减去实际测量出的间隙并将结果除以所需间隙的间隙缩小百分比指示(即,((150-实际间隙)/150*100)),其中每个卡片由刮墨刀在基片上的每个印刷行程产生。基于制造的观点,间隙缩小应当不大于10%以确保不会发生间隙桥接。如图14所示,在现有刮墨刀和4巴压强的标准设定下,电极之间的最小间隙相当显著,从30%开始并且变得越来越近,在所印刷的多个卡片范围内间隙缩小百分比从30%增大至约45%即是证明。由于间隙缩小主要在20%至65%的范围内,因此清洁金属丝网不起作用。应注意的是,具有印刷缺陷的这些测试条是用现有的刮墨刀在大约4巴压强下(通常不高于这个限度)制造的。已知的是,刮墨刀压强过大(例如,超过4巴)会导致以下问题:(1)刮墨刀会弯曲并改变刮墨刀角度;(2)导致掩模或模版过早损坏;(3)拉伸网片而导致图像尺寸增加;(4)过早磨损刮墨刀同时还在刮墨刀的尖端改变刮墨刀角度;(5)由于刮墨刀尖端的过早磨损而油墨流增大。如所预期,增加现有刮墨刀的压强不能减轻该印刷缺陷,这可在图14中的9000至12000的卡片范围看到。
[0394] 然而,意想不到的是,已经发现通过替换具有不同物理参数的现有刮墨刀,并且结合高于4巴的可接受值的刮墨刀压强,申请人能够显著地并且在大多数情况下消除该印刷缺陷。具体地讲,现有的刮墨刀被用具有不同物理参数的新刮墨刀替代,如以下表II所示。
[0395] 表II
[0396]
[0397] 实例7
[0398] 具体地讲,申请人用新的刮墨刀结合对于金属丝网的更大的刮墨刀压强得以形成该实例,平均间隙的大小可被控制。例如,如图15所示,刮墨刀压强在刮墨刀的大约16,000次刮动的流程中发生变化。当施加到刮墨刀上的压强保持在4巴,则间隙缩小为约30%(卡片1000至2000),而当压强增大到5巴(卡片3000至6000)时,则可看出明确的趋势,即间隙缩小从约20%最小化至小于10%。将刮墨刀压强减小至小于3巴以确定对间隙缩小的影响,表明有至约30%和更高的突然跳跃,这是不理想的。一旦再施加5巴的较高压强,可从卡片9000至140000看出间隙缩小的明确减少。也就是说,与当使用较低的刮墨刀压强时相比,在更高的压强下,间隙减小的趋势(即,间隙缩小)更弱。因此,优选的压强范围大于约4巴直至设备极限。另一个优选的范围为高于约4巴至约7巴。另一个优选的范围为高于约4巴至低于约6.5巴。
[0399] 后续的实验证实了申请人确认的这种意想不到的现象。
[0400] 实例8
[0401] 在一些实验中,以每个份额(split)2000个卡片的量用8个不同批或份额的卡片来制成总共16,000个卡片。使用两个新的刮墨刀。一个为肖氏A级硬度65,另一个为肖氏A级硬度75。如这里图16中示出,实验的结果与平均间隙、压强和硬度相关。数据点16A表示在5巴的压强下对于肖氏A级硬度65的刮墨刀,所述间隙从约150微米的预期设计的间隙显著减小,平均间隙在从约140至约110的范围内广泛分布,这是不理想的。另一个方面,当刮墨刀的压强增加到6巴时,改进是显著的,所印刷的卡片的平均间隙集中在145微米左右,在设计间隙附近。在5巴时增加刮墨刀的硬度表现出少许改进,数据点16C集中在150微米的设计间隙附近。压强进一步增加到6巴时,再次表现出更多改进,数据点16D仍集中在约150微米的设计间隙附近。
[0402] 实例9
[0403] 为了确保通过增加刮墨刀压强来改进间隙最小化没有以牺牲基片上沉积的碳的厚度为代价,对8个16,000卡片的份额中的每一份额测量所沉积油墨的平均厚度,对其进行绘图,并与在约4巴的标准压强下的现有聚酯丝网的数据进行比较。如图7所示,用于金属丝网(在这种情况下,为不锈钢丝网)的数据表示沉积的油墨厚度正好在8-16微米的预期范围内。
[0404] 在实施例中,刮墨刀刀片606可由不明显吸收导电油墨中所含溶剂的材料制成。如果不止可测的溶剂被吸入到刮墨刀中,则认为在印刷过程中刮墨刀的硬度减小。据信,刮墨刀的硬度取决于时间的改变可导致印刷质量不期望地变化。可进行实验来确定在暴露于导电油墨中约1小时至21小时之后刮墨刀硬度是否减小。一般而言,当使用硬度为肖氏A级硬度65的刮墨刀(PolyurethaneVulkollan 18/40)来替代硬度为肖氏A级硬度55的刮墨刀(PolyurethanePlei-Tech 22)时,据信暴露于导电油墨中的刮墨刀硬度可更稳定。
[0405] 实例10
[0406] 进行实验以测量由于在导电油墨中的溶剂吸收导致的刮墨刀的重量增加。硬度为肖氏A级硬度55的刮墨刀(PolyurethanePlei-Tech 22)经过一小时的时间段表现出约3%的重量增加并在警告21小时的时间段表现出约13%的重量增加。硬度为肖氏A级硬度
65的刮墨刀(Polyure thaneVulkollan 18/40)经过一小时的时间段表现出约2%的重量增加并在经过21小时的时间段表现出约8%的重量增加。因此,与硬度为肖氏A级硬度55的刮墨刀(PolyurethanePlei-Tech 22)相比,硬度为肖氏A级硬度65的刮墨刀(Polyure thaneVulkollan 18/40)以更低的速率和更低的可测量从导电油墨中吸收溶剂。在一示例性实施例中,可进行实验以确认在刮墨刀中使用的材料经过24小时有小于约10%的重量增加。
[0407] 对图像的视觉检测显示了仅有两例缺陷的令人满意的印刷清晰度。申请人认为图18A-18D中的肖氏A级硬度65的刮墨刀的印刷质量或清晰度很好,同时认为在图18E-18H中的在5巴或6巴下的肖氏A级硬度75的刮墨刀的印刷清晰度是优秀的。虽然难以在图
18A至图18H的复制品看清,然而用肉眼在原始图中观看时可看到在图18E-18H中碳区域的边缘清晰度要显然好于18A-18D中。如图16所示,边缘清晰度可通过平均间隙距离的变化来查明。
[0408] 实例11
[0409] 进行附加的实验以进一步确认新发现的印刷技术和组件的可行性。在这些实验中,基片被利用新技术印刷上碳素油墨并且被制造为完成状态而不是仅到碳素油墨阶段。具体地讲,用一个7卷的流程,其中仅最后的卡片卷1、3和7印有碳,从而得到15,700个完成的测试条用于校准。
[0410] 如图19所示,从仅印刷到卷1、3和7的碳收集的数据示出了平均间隙在140微米和145微米之间,或者间隙缩小的范围从约7%至约3%。如图20所示,对于长度Y2-12、Y2-14和绝缘孔宽度X3,7卷流程的变化范围为大约6微米。
[0411] 表III表明7卷中有6卷的在全部经历过的这一系列实验中产生的测试条校准码为单个校准码,即码38。每个校准码对应于特定的斜率和截距。
[0412] 表III
[0413] 对在7卷流程验证中印刷的批的校准测试结果
[0414]组 在组精度内 分配的校准码 批状态
----058 1.66 38 通过
----059 1.53 38 通过
----060 2.13 33 通过
----061 1.69 38 通过
----062 1.86 38 通过
----064 1.78 38 通过
----065 1.87 38 通过
[0415] 表IV表明落在范围内的测试条的百分比非常高,6组为100%,一个组为99%。
[0416] 表IV
[0417] 对在7卷验证流程中印刷的批的范围设置结果
[0418]组 校准码 控制溶液水平 落在范围内的百分比 最终结果
----058 38 中 100 通过
----059 38 中 100 通过
----060 33 中 99 通过
----061 38 中 100 通过
----062 38 中 100 通过
----064 38 中 100 通过
----065 38 中 100 通过
[0419] 实例12
[0420] 进行了另一个实验以确定例如在人工流程设置和刮墨刀压强变化过程中,离网距离和卷位置对碳素油墨沉积的影响。离网距离被定义为基片的表面和网片丝网的表面之间的距离。如果对于给定的刮墨刀压强离网被设置得过高,则刮墨刀将力图使丝网挠曲,并且原图的外端(往往每隔一次印刷)会消失。如果离网被设置得过低,则会使先前的印刷脏污(这还取决于油墨装载和刮墨刀印刷行程的长度)。随着离网高度增加,丝网挠曲量也增大,并且这直接导致横过丝网和丝网下方的印刷均多少有所增加。表V表明尽管各组的校准码不再集中于单一码,但校准还是分布于一个或两个校准码内,这取决于刮墨刀位置、离网和压强等设定。
[0421] 表V
[0422]
[0423]
[0424] 图19和图20以及表III、IV和V证明了新技术和组件在控制碳电极轨道变化方面的可行性,这些技术和组件被认为可导致对测试条校准码的更严格控制。
[0425] 图28示出了用通过本文所示和所述的方法和技术生产的测试条来测试个体的血液中葡萄糖水平的测试仪2800。测试仪2800可包括用户界面输入键(2806、2808、2810),其可采取按钮的形式,用于输入数据、菜单导航和执行命令。数据可包括代表被分析物浓度的值和/或与个体的日常生活方式相关的信息。与日常生活方式相关的信息可包括个体摄入的食物、使用的药、健康检查的发生率、一般的健康状态和运动水平。测试仪2800还可包括显示器2804,其可用于报告测量出的葡萄糖水平,且便于输入生活方式相关信息。
[0426] 测试仪2800可包括第一用户界面输入键2806、第二用户界面输入键2808和第三用户界面输入键2810。用户界面输入键2806、2808和2810方便输入和分析存储在测试装置中的数据,使用户能通过显示器2804上显示的用户界面进行导航。用户界面输入键2806、2808和2810包括第一标记2807、第二标记2809和第三标记2811,其帮助将用户界面输入键与显示器2804上的字符相关联。
[0427] 测试仪2800可通过将测试条100插入到测试条口连接器2812中,通过按压并短暂地保持第一用户界面输入键2806或者通过检测整个数据端口2813上的数据流量而开启。测试仪2800可通过取出测试条100、按压并短暂地保持第一用户界面输入键2806、导航到主菜单屏幕并从主菜单屏幕选择测试仪关闭选项或者通过在预定时间内不按压任何按钮而关闭。显示器104可以可选择地包括背光
[0428] 在一实施例中,测试仪2800可构造成可在(例如)从第一测试条批转换到第二测试条批时不从任何外部源接收校准输入。因此,在一个示例性实施例中,测试仪构造成可不从外部源接收校准输入,所述外部源(例如)是用户界面(例如,输入键2806、2808、2810)、插入的测试条、分离的代码键或代码条、数据端口2813。当所有的测试条批具有基本一致的校准特性时,这种校准输入不是必要的。校准输入可以是归于特定测试条批的一组值。例如,校准输入可包括特定测试条批的批斜率和批截距值。校准输入(例如,批斜率和截距值)可预设在测试仪中,这将在以下进行描述。
[0429] 参照图29,示出了测试仪2800的示例性内部配置。测试仪2800可包括处理器2900,其在本文所述和所示的一些实施例中为32位的RISC微控制器。在本文所述和所示的优选实施例中,处理器2900优选地选自由Texas Instruments(Dallas,Texas)制造的MSP
430系列的超低功率微处理器。处理器可以经I/O端口2914与存储器2902双向连接,存储器2902在本文所述和所示的一些实施例中为EEPROM。另外经I/O端口2914与处理器2900连接的是数据端口2813、用户界面输入键2806、2808和2810以及显示驱动器2936。数据端口2813可连接到处理器2900,从而使得数据能够在存储器2902和外部装置(例如,个人计算机)之间传输。用户界面输入键2806、2808和2810直接连接到处理器2900。处理器
2900借助显示驱动器2936控制显示器2804。在测试仪2800的制造期间,存储器2902可预装上校准信息,例如批斜率和批截距值。一旦通过测试条口连接器2812从测试条接收到合适的信号(例如电流),该预装的校准信息就可以由处理器2900访问和使用,从而利用信号和校准信息计算出对应的被分析物水平(例如血糖浓度),而不用从任何外部源接收校准输入。
[0430] 在本文所述和所示的实施例中,测试仪2800可包括专用集成电路(ASIC)2904,以提供在对施加在插入测试条口连接器2812的测试条100上的血液中的葡萄糖水平的测量过程中使用的电子电路。模拟电压可经由模拟接口2905传递到或传递出ASIC 2904。来自模拟接口2905的模拟信号可通过A/D转换器2916转换为数字信号。处理器2900还包括核2908、ROM2910(含有计算机代码)、RAM 2912和时钟2918。在一个实施例中,处理器2900配置成(或编程为):例如在被分析物测量后的一段时间期间使所有的用户界面输入均无效,在显示单元作出被分析物值显示后即进行的信号输入除外。在一可选实施例中,处理器2900配置成(或编程为):忽略来自所有用户界面输入键的任何输入,在显示单元作出被分析物值显示后即进行的单个输入除外。
[0431] 以下是受权利要求书保护或可受权利要求书保护的实施例的不完全列表。
[0432] 1.一种制造测试条的方法,所述方法包括:
[0433] 调整试剂油墨中的还原介体量以输出落入预定目标批截距范围内的批截距,所述试剂油墨设置在工作电极上;以及
[0434] 调整工作电极面积,以输出落入预定目标批斜率范围内的批斜率。
[0435] 2.一种制造测试条的方法,所述方法包括:
[0436] 将预定量的还原介体加到试剂油墨中,以输出落入预定目标批截距范围内的批截距,所述试剂油墨设置在工作电极上;以及
[0437] 调整工作电极面积,以输出落入预定目标批斜率范围内的批斜率。
[0438] 3.一种制造测试条的方法,所述方法包括:
[0439] 将预定量的还原介体加到试剂油墨中,以输出基本上等于预定目标批截距值的批截距值,所述试剂油墨设置在工作电极上;以及
[0440] 调整工作电极面积,以输出基本上等于预定目标批斜率值的批斜率值。
[0441] 4.实施例1的方法,其中所述工作电极的面积通过改变所述工作电极的宽度调整。
[0442] 5.实施例1的方法,其中所述试剂油墨中的所述还原介体不大于所述试剂油墨的重量的0.2%。
[0443] 6.实施例1的方法,其中所述试剂油墨包含所述还原介体和氧化介体,其中所述还原介体不大于所述还原介体和所述氧化介体的总重量的约0.6%。
[0444] 7实施例1的方法,其中所述工作电极的宽度为从约0.6毫米至约0.8毫米。
[0445] 8.实施例1的方法,其中所述工作电极的面积为从约0.48mm2至约0.64mm2。
[0446] 9.一种测试条,所述测试条包括:
[0447] 第一工作电极和第二工作电极,二者均具有约0.55毫米至约0.85毫米的宽度;和[0448] 试剂层,所述试剂层靠近所述工作电极而设置,所述试剂层包含氧化介体、还原介体和酶,其中所述还原介体不大于所述还原介体和所述氧化介体的总重量的约0.6%,使得所述测试条具有预定目标批斜率和预定目标批截距。
[0449] 10.一种测试条,所述测试条包括:
[0450] 第一工作电极和第二工作电极,二者均具有从约0.48mm2至约0.64mm2的面积;和[0451] 试剂层,所述试剂层靠近所述工作电极而设置,所述试剂层包含氧化介体、还原介体和酶,其中所述还原介体不大于所述还原介体和所述氧化介体的总重量的0.8%,使得所述测试条具有预定目标批斜率和预定目标批截距。
[0452] 11.一种制造测试条批的方法,每个测试条包括多个层,所述方法包括:
[0453] 基于目标斜率和先前批斜率算出工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批;
[0454] 通过对所述多个层中的一层进行制造过程中的调整,将所述工作电极面积调整为算出的工作电极面积。
[0455] 12.一种制造测试条批的方法,所述方法包括:
[0456] 基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算出所述还原介体添加量;和[0457] 将所述量的还原介体加到试剂油墨中。
[0458] 13.一种制造测试条批的方法,所述方法包括:
[0459] 基于目标斜率和先前批斜率算出工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批;
[0460] 将所述工作电极面积调整为算出的工作电极面积;
[0461] 基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距来计算还原介体添加量;以及[0462] 将所述量的还原介体加到试剂油墨中。
[0463] 14.实施例12或13的方法,其中所述背景截距包括基于得自先前制造的测试条批的多个批截距的平均值。
[0464] 15.实施例11或13的方法,其中通过将绝缘层印刷到工作电极上来调整所述工作电极面积,以形成经调整的工作电极面积。
[0465] 16.实施例13的方法,其中所述计算包括基于所述目标截距、所述还原介体杂质百分比、所述背景截距和算出的工作电极面积来确定所述还原介体的添加量。
[0466] 17.实施例13的方法,还包括校准所述测试条批,其中所得的批斜率基本上等于所述目标斜率,且所得的批截距基本上等于所述目标截距。
[0467] 18.实施例13的方法,其中所述还原介体的添加量通过计算所述目标截距和所述背景截距之差,再除以某个常量,然后减去所述还原介体杂质量来确定。
[0468] 19.实施例13的方法,其中所述还原介体杂质量包括大致等于所述试剂油墨中的氧化介体量乘以所述还原介体杂质百分比的量。
[0469] 20.实施例13的方法,其中所述还原介体的添加量Fadd大致由关系式[0470]
[0471] 定义,其中Btarget是目标截距,B0是背景截距,Kint是常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0472] 21.实施例18或实施例20中任一例的方法,其中所述还原介体的添加量同样说明了归因于算出的工作电极面积的偏移的原因。
[0473] 22.一种制造多个测试条的方法,每个测试条包括多个层,所述方法包括:
[0474] 制造第一多个测试条,每个测试条包括具有第一面积的工作电极;
[0475] 校准所述第一多个测试条,以确定第一斜率和第一截距;
[0476] 基于所述第一斜率和预定目标斜率来计算第二面积;
[0477] 制造第二多个测试条,每个测试条包括通过对所述多个层中的一层进行制造过程中的调整而具有算出的所述第二面积的工作电极。
[0478] 23.实施例22的方法,其中所述第一多个测试条中的每个测试条还包括:
[0479] 第一试剂层,所述第一试剂层靠近所述工作电极而设置,所述第一试剂层包含预定量的氧化介体和预定量的酶,所述方法还包括:
[0480] 基于第一截距和预定目标截距算出还原介体量。
[0481] 制备第二试剂层,所述第二试剂层包含算出的还原介体量、所述预定量的氧化介体和所述预定量的酶;
[0482] 其中所述第二多个测试条中的每个测试条还包括第二试剂层,所述第二试剂层靠近具有算出的所述第二面积的所述工作电极而设置。
[0483] 24.实施例23的方法,其中计算所述还原介体量的步骤还基于算出的第二面积。
[0484] 25.实施例1、2、3、12、13和23中任一例的方法,其中所述目标截距大于第一截距。
[0485] 26.实施例23的方法,还包括:
[0486] 校准所述第二多个测试条,以确定第二斜率和第二截距,
[0487] 其中所述第二斜率基本上等于所述预定目标斜率,且所述第二截距基本上等于所述预定目标截距。
[0488] 27.实施例22和23中任一例的方法,其中所述第二面积基于所述第一斜率和所述预定目标斜率之差计算。
[0489] 28.根据实施例22和23中的任一者所述的方法,其中所述第二面积基于所述第一斜率和所述预定目标斜率之差乘以与每单位斜率的面积改变相关的值而算出。
[0490] 29.实施例22和23中任一例的方法,还包括:
[0491] 在所述第二多个测试条的所述工作电极上施加具有孔的绝缘层以形成算出的第二面积,所述孔具有选自由矩形和方形组成的组中的近似形状。
[0492] 30.实施例29的方法,还包括:
[0493] 按约二十五微米的增量调整所述孔的形状的宽度;
[0494] 确定可提供与算出的第二面积最接近的两个面积值的两个增量;以及[0495] 选择可给出较大面积作为算出的第二面积的增量。
[0496] 31.实施例29的方法,还包括:
[0497] 按约二十五微米的增量调整矩形形状的宽度;
[0498] 确定可提供与算出的第二面积最接近的两个面积值的两个增量;和
[0499] 选择可给出较小面积作为算出的第二面积的增量。
[0500] 32.一种制造多个测试条批的方法,每个测试条批具有目标斜率和目标截距,所述方法包括:
[0501] 在某一时间段期间制备第一多个测试条批;
[0502] 校准所述第一多个测试条批,以确定所述第一多个测试条批中的每个测试条批的批斜率和批截距;
[0503] 基于所述目标斜率和先前批斜率计算第一工作电极面积,所述先前批斜率得自所述第一多个测试条批中的测试条批;
[0504] 基于所述目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第一还原介体添加量;
[0505] 制备包含所述第一还原介体添加量的第一试剂油墨;
[0506] 制备具有第一算出的工作电极面积和所述第一试剂油墨的第二多个测试条;
[0507] 校准所述第二多个测试条,以确定第二批斜率和第二批截距;
[0508] 如果所述第二批斜率和所述第二批截距基本上等于所述目标斜率和所述目标截距,则用所述第一算出的工作电极面积和所述第一试剂油墨制备第三多个测试条批。
[0509] 33.实施例32的方法,还包括以下步骤中的至少一个步骤:
[0510] 如果所述第二批斜率不是基本上等于所述目标斜率,则基于所述第二批斜率和所述目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备第四多个测试条以使其包括所述第二算出的工作电极面积;以及
[0511] 如果所述批截距不是基本上等于所述目标截距,则计算第二还原介体添加量。
[0512] 34.实施例32的方法,还包括:
[0513] 如果所述第二批斜率不是基本上等于所述目标斜率,则基于所述第二批斜率和所述目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备第四多个测试条以使其包括所述第二算出的工作电极面积;和
[0514] 如果所述第二批截距不是基本上等于所述目标截距,则基于所述第二批截距和所述目标截距之差计算第二还原介体添加量,然后制备第四多个测试条以使其包含具有所述第二还原介体添加量的第二试剂油墨。
[0515] 35.实施例32的方法,还包括:
[0516] 如果所述第二批斜率不是基本上等于所述目标斜率,则基于所述第二批斜率和所述目标斜率之差计算第二工作电极面积,然后制备第四多个测试条以使其包括所述第二算出的工作电极面积;和
[0517] 如果所述第二批截距不是基本上等于所述目标截距率,则基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算第二还原介体添加量,然后制备第四多个测试条以使其包含具有所述第二还原介体添加量的第二试剂油墨。
[0518] 36.实施例35中任一例的方法,其中所述第一还原介体添加量和所述第二还原介体添加量Fadd中的至少一个大致由关系式
[0519]
[0520] 定义,其中Btarget是目标截距,B0是背景截距,Kint是常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0521] 37.实施例32、34、35和36中任一例的方法,其中计算第二还原介体添加量的步骤包括基于所述第二算出的工作面积调整所述背景截距。
[0522] 38.实施例18或20的方法,其中调整所述背景截距和定常系数来顾及所述第二工作电极面积。
[0523] 39.实施例32至36中任一例的方法,其中计算第一还原介体添加量的步骤包括调整所述背景截距来顾及所述第一算出的工作电极面积。
[0524] 40.实施例39的方法,其中计算第一还原介体添加量的步骤包括调整所述背景截距和定常系数来顾及所述第一工作电极面积。
[0525] 41.一种制造具有目标斜率和目标截距的测试条批的方法,所述方法包括:
[0526] (i)将导电油墨分配在金属丝网上;
[0527] (ii)将基片靠近所述金属丝网放置;
[0528] (iii)用刮墨刀将导电油墨转印到所述基片上,以形成导电层;
[0529] (iv)基于所述目标斜率和先前批斜率算出工作电极面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批,使得所得的批斜率基本上等于所述目标斜率;
[0530] (v)将绝缘油墨转印到所述导电层上,以形成具有所述算出的工作电极面积的工作电极;
[0531] (vi)基于所述目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体添加量,使得所得的批截距基本上等于所述目标截距;
[0532] (vii)制备包含算出的还原介体添加量的试剂油墨;
[0533] (viii)如果所述试剂油墨不具有处于目标范围内的密度,则通过将所述试剂油墨混合一段时间或者添加流变控制剂来调整所述试剂的密度;以及
[0534] (ix)将所述试剂油墨转印到所述工作电极上。
[0535] 42.一种制造酶油墨的方法,所述方法包括:
[0536] 基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距计算还原介体量;以及[0537] 将所述量的所述还原介体加到所述酶油墨中。
[0538] 43.多个测试条批,每个测试条包括:
[0539] 基片;
[0540] 导电层,所述导电层设置在所述基片上;和
[0541] 试剂层,所述试剂层设置在所述导电层上,所述试剂层包含还原介体添加量Fadd,使得每个测试条批的批截距基本上等于目标截距Btarget,所述还原介体添加量Fadd大致由关系式
[0542]
[0543] 定义,其中B0为背景截距,Kint为常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0544] 44.多个测试条批,其中每个测试条包括:
[0545] 基片;
[0546] 导电层,所述导电层设置在所述基片上;和
[0547] 试剂层,所述试剂层设置在所述导电层上,所述试剂层包含还原介体添加量,使得所述多个测试条批中的每个测试条批的批截距的变化小于约15%。
[0548] 45.实施例44的多个测试条批,其中所述还原介体添加量基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距。
[0549] 46.实施例45的多个测试条批,其中所述背景截距是基于来自先前制造的测试条批的多个批截距的平均值。
[0550] 47.实施例45的多个测试条批,其中所述还原介体杂质百分比是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的比例量,其中所述试剂层包含某个氧化介体量。
[0551] 48.实施例45的多个测试条批,其中所述还原介体添加量通过计算所述目标截距与所述背景截距之差,再除以常量,然后减去某个还原介体杂质量来确定。
[0552] 49.实施例45的多个测试条批,其中所述还原介体添加量Fadd大致由关系式[0553]
[0554] 定义,其中Btarget是所述目标截距,B0是所述背景截距,Kint是常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0555] 50.实施例44的多个测试条批,还包括工作电极,所述工作电极具有基于目标斜率和先前批斜率的算出的面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批。
[0556] 51.实施例50的多个测试条批,其中所述还原介体添加量基于目标截距、还原介体杂质百分比、背景截距和所述算出的面积。
[0557] 52.实施例51的多个测试条批,其中所述还原介体添加量Fadd大致由关系式[0558]
[0559] 定义,其中Btarget是所述目标截距,B0是所述背景截距,Kint是常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量,并且调整所述背景截距和常量Kint来顾及算出的面积。
[0560] 53.实施例44的多个测试条批,其中所述多个测试条批包括从约10批至约100批。
[0561] 54.实施例53的多个测试条批,其中通过校准约600个或更多个测试条来确定批截距的15%或更小的变动。
[0562] 55.多个测试条批,其中每个测试条包括:
[0563] 基片;和
[0564] 碳素油墨,其通过刮墨刀透过金属丝网设置在所述基片上,以限定至少一个碳电极轨道,所述碳电极轨道具有沿着垂直于所述至少一个轨道的两个侧边之间的轴线的虚拟线测量的长度,其中所述长度与所述多个测试条批中的至少一个其他测试条的印刷的另一个碳轨道的另一长度相比的任何变化小于约3.5%。
[0565] 56.多个测试条批,其中每个测试条包括:
[0566] 基片;和
[0567] 碳素油墨,其通过刮墨刀透过金属丝网设置在基片上,以限定至少一个碳电极轨道,所述碳电极轨道具有沿着垂直于所述至少一个轨道的两个侧边之间的轴线的虚拟线测量的长度,其中所述长度与所述多个测试条批中的至少一个其他测试条的印刷的另一个碳轨道的另一长度相比的任何变化小于约2.5%。
[0568] 57.一种制造配制试剂的方法,所述方法包括:
[0569] (i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;
[0570] (ii)测量所述溶液的密度;
[0571] (iii)如果所述密度不大于阈值,则将所述配制试剂继续混合一段预定时间,使得所述密度约等于或大于所述阈值;
[0572] 和
[0573] (iv)当所述密度约等于或大于所述阈值时,使介体和酶与所述溶液共混以形成所述配制试剂。
[0574] 58.实施例57的方法,其中所述流变控制剂包含羟基乙基纤维素。
[0575] 59.实施例57的方法,其中所述流变控制剂包含具有亲水和疏水基团的二氧化硅。
[0576] 60.实施例57的方法,其中所述流变控制剂包含羟基乙基纤维素和具有亲水和疏水基团的二氧化硅。
[0577] 61.实施例57的方法,其中所述混合步骤包括使溶液受到减小的压力。
[0578] 62.实施例57的方法,其中所述一段预定时间的范围从约4分钟至约30分钟。
[0579] 63.实施例61的方法,其中所述一段预定时间的范围从约16分钟至约30分钟。
[0580] 64.实施例57的方法,其中所述混合步骤首先发生,所述共混步骤在基本临近使用印刷所述配制试剂之前发生。
[0581] 65.实施例57的方法,其中所述阈值为约0.87g/cm3。
[0582] 66.实施例57的方法,其中所述混合步骤用搅拌桨以每分钟约3000转的速度执行。
[0583] 67.一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:
[0584] 将胶态悬浮液的密度调整到目标密度;
[0585] 将介体和酶加到所述胶态悬浮液中,以形成配制试剂;
[0586] 将所述配制试剂设置在所述多个测试条中的每个测试条的工作电极上;
[0587] 对所述多个测试条进行校准,以确定批斜率;以及
[0588] 输出基本上等于目标批斜率的批斜率。
[0589] 68.实施例67的方法,其中基于所述目标批斜率计算所述目标密度。
[0590] 69.实施例67的方法,其中通过从所述目标批斜率中减去第二常量,然后除以第三常量来计算出所述目标密度。
[0591] 70.实施例67的方法,其中所述目标密度ρ的计算通过由
[0592]
[0593] 定义的等式进行,其中ρ是所述目标密度,Mcal是所述目标批斜率,k2是第二常量,且k3是第三常量。
[0594] 71.实施例70的方法,其中所述目标密度是选自以下范围中的一个范围的任意3 3 3 3
值:ρ从约0.7g/cm 至约1.1g/cm 和从约0.985g/cm 至约1.015g/cm。
[0595] 72.实施例67至71中任一例的方法,其中所述目标密度是在目标密度±0.015g/3
cm 的范围内的任意值。
[0596] 73.实施例70的方法,其中所述目标批斜率Mcal是从约16毫微安/毫克/分升至约30毫微安/毫克/分升之间的任意值。
[0597] 74.实施例70的方法,其中所述第二常量k2是从约7毫微安/毫克/分升至约10毫微安/毫克/分升之间的任意值。
[0598] 75.实施例70的方法,其中所述第三常量k3是从约10毫微安/毫克/分升/克3 3
/厘米 至约12毫微安/毫克/分升/克/厘米 之间的任意值。
[0599] 76.实施例67的方法,其中所述调整步骤包括改变混合时间的持续长度。
[0600] 77.实施例67的方法,其中所述调整步骤包括添加额外量的流变控制剂。
[0601] 78.实施例76的方法,其中所述混合时间的持续长度是从约10分钟至约30分钟之间的任意值。
[0602] 79.一种制造配制试剂的方法,所述方法包括:
[0603] (i)将包括流变控制剂、介体和酶的溶液混合一段预定时间;
[0604] (ii)测量所述溶液的密度;以及
[0605] (iii)如果所述密度不大于阈值,则继续混合所述溶液一段预定时间,使得所述密度约等于或大于所述阈值。
[0606] 80.实施例79的方法,其中所述目标密度是从约1g/cm3至约1.25g/cm3之间的任意值。
[0607] 81.一种用于涂覆在测试条的工作电极上的配制试剂,所述配制试剂包括:
[0608] (i)流变控制剂;
[0609] (ii)介体;和
[0610] (iii)酶,所述酶与所述流变控制剂和所述介体混合,以总体上形成密度为从约3 3
1g/cm 至约1.25g/cm 之间的任意值的试剂。
[0611] 82.一种制造配制试剂的方法,所述方法包括:
[0612] (i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;
[0613] (ii)测量所述溶液的密度;
[0614] (iii)如果所述密度不在目标范围内,则继续混合所述溶液一段预定时间,使得所述密度在所述目标范围内;以及
[0615] (i v)当所述密度在所述目标范围内时,使介体和酶与所述溶液共混以形成所述配制试剂。
[0616] 83.一种制造多个测试条的方法,所述方法包括:
[0617] 制造第一多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有第一密度的配制试剂;
[0618] 对所述第一多个测试条进行校准,以确定第一斜率;
[0619] 基于所述第一斜率和目标斜率计算第二密度;
[0620] 制造第二多个测试条,每个测试条包括工作电极,所述工作电极上涂覆具有所述第二密度的配制试剂。
[0621] 84.实施例83的方法,还包括:
[0622] 对所述第二多个测试条进行校准以确定第二斜率,其中所述第二斜率基本上等于预定的目标斜率。
[0623] 85.一种将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条的方法,所述方法包括:
[0624] (i)将所述导电油墨分配在金属丝网上;
[0625] (ii)将所述基片靠近所述金属丝网设置;以及
[0626] (iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上,所述刮墨刀的硬度大于肖氏A级硬度55。
[0627] 86.实施例85的方法,其中所述硬度包括大于或等于约肖氏A级硬度65±5的硬度。
[0628] 87.实施例85的方法,其中所述硬度包括范围为从肖氏A级硬度约60至约75的硬度。
[0629] 88.实施例85的方法,其中所述转印导电油墨的步骤包括将所述刮墨刀以某一压强施加到所述金属丝网上,所述压强大于约5巴和约4巴中的至少一者。
[0630] 89.实施例85或实施例86的方法,其中所述转印导电油墨的步骤包括将所述刮墨刀以某一压强施加到所述金属丝网上,所述压强大于每米刮墨刀长度270N的力。
[0631] 90.实施例85的方法,其中所述刮墨刀包含对所述导电油墨中含有的溶剂具有低吸收率的材料。
[0632] 91.实施例85的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在一小时内约2%的速率对所述导电油墨中含有的溶剂进行吸收的材料。
[0633] 92.实施例85的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在约二十一小时内约8%的速率对所述导电油墨中含有的溶剂进行吸收的材料。
[0634] 93.实施例85的方法,其中所述刮墨刀包含基本不吸收任何碳材料的材料。
[0635] 94.实施例85的方法,其中所述刮墨刀的材料包括材料硬度为肖氏A级硬度65的聚氨酯。
[0636] 95.实施例85的方法,其中所述刮墨刀的材料包括材料硬度为肖氏A级硬度75的聚氨酯。
[0637] 96.实施例85的方法,其中所述基片和所述金属丝网的框架在转印所述导电油墨的过程中被保持在固定距离,所述固定距离的范围从约0.65毫米至约0.75毫米。
[0638] 97.实施例85的方法,其中所述金属丝网联接于框架,此时丝网张力的范围从约20N/cm至约30N/cm。
[0639] 98.一种将导电油墨丝网印刷到基片上以形成测试条的方法,所述方法包括:
[0640] (i)将所述导电油墨分配在丝网上,所述丝网由在经受刮墨刀施加的大于4巴的压强时不发生不可逆变形的材料制成;
[0641] (ii)将所述基片靠近所述丝网布置;以及
[0642] (iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上,所述刮墨刀的硬度大于肖氏A级硬度55。
[0643] 99.实施例98的方法,其中当与所述碳素油墨中的溶剂接触时,所述丝网的材料不发生不可逆变形。
[0644] 100.实施例99的方法,其中所述刮墨刀包含材料硬度为肖氏A级硬度65的聚合物。
[0645] 101.实施例99的方法,其中所述刮墨刀包含材料硬度为肖氏A级硬度75的聚氨酯。
[0646] 102.一种将图像印刷到基片上的丝网印刷装置,所述装置包括:
[0647] 辊,所述辊构造成可支承和传送所述基片;
[0648] 金属丝网网片,所述金属丝网网片上形成具有电极轨道的图像掩模,所述丝网网片在所述辊附近与所述基片接触;
[0649] 碳素油墨,所述碳素油墨设置在所述网片上,所述油墨的粘度为约10,000厘沲/秒至约40,000厘沲/秒;以及
[0650] 刮墨刀,所述刮墨刀包括肖氏A级硬度特性大于55的材料,并且构造成可通过向所述刮墨刀施加大于4巴的压强来迫使所述碳素油墨透过所述丝网网片,以在所述基片上形成所述电极轨道的图像,使得沿着垂直于测试条中的碳电极轨道的两个侧边之间轴线的虚拟线测量的碳电极轨道的长度相对于预定长度的变化小于约3.5%,并且任何两个工作电极轨道之间的任何间隙相对于预定间隙的变化不大于约30%。
[0651] 103.一种将图像印刷到基片上的丝网印刷装置,所述装置包括:
[0652] 辊,所述辊构造成可支承和传送所述基片;
[0653] 金属丝网网片,所述金属丝网网片上形成具有电极轨道的图像掩模,所述丝网网片在所述辊附近与所述基片接触;
[0654] 碳素油墨,所述碳素油墨设置在所述网片上,所述油墨的粘度为约10,000厘沲/秒至约40,000厘沲/秒;和
[0655] 刮墨刀,所述刮墨刀包括肖氏A级硬度特性大于55的材料,并且构造成可通过向所述刮墨刀施加大于4巴的压强来迫使所述碳素油墨透过所述丝网网片,以在所述基片上形成所述电极轨道的图像,使得沿着垂直于测试条中的碳电极轨道的两个侧边之间轴线的虚拟线测量的碳电极轨道的长度相对于预定长度的变化小于约2.5%,并且任何两个工作电极轨道之间的任何间隙相对于预定间隙的变化不大于约30%。
[0656] 104.实施例103的装置,其中所述基片包含卷筒形式的聚合物,其具有约350微米的厚度,约370毫米宽,并且约660米长。
[0657] 105.实施例104的装置,其中所述聚合物包括聚酯。
[0658] 106.实施例102至105中任一例的装置,其中所述金属丝网网片包括多个各自具有约0.03mm直径的不锈钢丝,按约45度的网角交织,从而得到每厘米125的网目数,网目开口为约50微米,开孔面积为约39%,网片厚度为大约47微米。
[0659] 107.实施例102至105中任一例的装置,其中所述预定长度包括大约0.84毫米,所述预定间隙包括大约150微米。
[0660] 108.一种被分析物测试条,所述测试条包括:
[0661] 基片;和
[0662] 碳素油墨,所述碳素油墨通过刮墨刀透过金属丝网设置在所述基片上以限定碳电极轨道,每个碳电极轨道沿着纵轴延伸,使得一个测试条中的沿着垂直于碳电极轨道的两个侧边之间轴线的虚拟线测量的所述碳电极轨道长度与预定测试条样品的其他测试条中的碳轨道的长度相比的任何变化小于约3.5%。
[0663] 109.一种被分析物测试条,所述测试条包括:
[0664] 基片;和
[0665] 多个碳电极轨道,所述碳电极轨道通过用大于肖氏A级硬度55的刮墨刀使碳素油墨透过金属丝网沉积而设置在所述基片上,使得任何两个碳电极轨道之间的任何最小间隙相对于预定值的变化不大于30%。
[0666] 110.一种被分析物测试条,所述测试条包括:
[0667] 基片;和
[0668] 碳素油墨,所述碳素油墨通过刮墨刀透过金属丝网而设置在所述基片上,以限定至少一个碳电极轨道,所述碳电极轨道具有沿着垂直于所述至少一个轨道的两个侧边之间轴线的虚拟线测量的长度,其中所述长度与至少一个其他测试条的印刷的另一个碳轨道的另一长度相比的任何变化小于约3.5%。
[0669] 111.一种被分析物测试条,所述测试条包括:
[0670] 基片;和
[0671] 碳素油墨,所述碳素油墨通过刮墨刀透过金属丝网而设置在所述基片上,以限定至少一个碳电极轨道,所述碳电极轨道具有沿着垂直于所述至少一个轨道的两个侧边之间轴线的虚拟线测量的长度,其中所述长度与至少一个其他测试条的印刷的另一个碳轨道的另一长度相比的任何变化小于约2.5%。
[0672] 112.实施例108至111中任一例的测试条,其中所述至少一个轨道包括印刷在基片上的两个碳轨道,以限定在所述轨道之间具有间隙的测试条,其中所述间隙相对于预定值的变化不超过30%。
[0673] 113.实施例108至111中任一例的测试条,其中所述基片包括聚合物基片。
[0674] 114.实施例113的测试条,其中所述聚合物基片包含选自基本上由聚酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯及其组合组成的组中的聚合物。
[0675] 115.实施例114的测试条,其中所述基片具有大致平坦的构造,其具有大约0.35毫米的厚度、约5.5毫米的宽度以及约27.5毫米的长度。
[0676] 116.实施例112的测试条,其中所述预定值包括大约150微米。
[0677] 117.一种制造测试条的方法,所述方法包括:
[0678] (i)将导电油墨分配在金属丝网上;
[0679] (ii)将所述基片靠近所述金属丝网设置;
[0680] (iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上;
[0681] (iv)计算使批斜率基本上等于预定的目标批斜率的工作电极面积;
[0682] (v)将绝缘油墨转印到导电层上,以形成具有算出的工作电极面积的工作电极;
[0683] (vi)计算使批截距基本上等于预定的目标批截距的还原介体量;和
[0684] (vii)将试剂油墨转印到所述工作电极上,所述试剂油墨包含算出的还原介体量。
[0685] 118.实施例117的方法,还包括制备所述试剂油墨,制备所述试剂油墨的方法包括:
[0686] (i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;
[0687] (ii)测量所述溶液的密度;
[0688] (iii)如果所述密度不在目标范围内,则继续混合直至所述密度在所述目标范围内;以及
[0689] (iv)当所述密度在所述目标范围内时,将介体和酶与所述溶液共混以形成所述试剂油墨。
[0690] 119.实施例117的方法,其中所述导电油墨包括碳素油墨。
[0691] 120.实施例117的方法,其中所述刮墨刀包括硬度大于肖氏A级硬度约55的材料。
[0692] 121.实施例117的方法,其中所述刮墨刀的硬度大于或等于肖氏A级硬度约65。
[0693] 122.实施例117的方法,其中所述刮墨刀的硬度在肖氏A级硬度约60至肖氏A级硬度约75的范围内。
[0694] 123.实施例117的方法,其中所述转印导电油墨的步骤包括以某一压强将所述刮墨刀施加到所述金属丝网上,所述压强大于约5巴。
[0695] 124.实施例120或实施例121的方法,其中所述转印导电油墨的步骤包括以某一压强将所述刮墨刀施加到所述金属丝网上,所述压强大于4巴。
[0696] 125.实施例117的方法,其中所述刮墨刀包含对所述导电油墨中含有的溶剂具有低吸收率的材料。
[0697] 126.实施例117的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在一小时内约2%的速率对所述导电油墨中含有的溶剂进行吸收的材料。
[0698] 127.实施例117的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在约二十一小时内约8%的速率对所述导电油墨中含有的溶剂进行吸收的材料。
[0699] 128.实施例125至127中任一例的方法,其中所述材料包含材料硬度为肖氏A级硬度65的聚氨酯。
[0700] 129.实施例125至127中任一例的方法,其中所述材料包含材料硬度为肖氏A级硬度75的聚氨酯。
[0701] 130.实施例117的方法,其中所述金属丝网联接于框架,其中所述基片和所述框架在转印导电油墨的过程中保持固定距离,所述固定距离的范围为从约0.65毫米至约0.75毫米。
[0702] 131.实施例117的方法,其中所述金属丝网联接于框架,此时丝网张力的范围从约20N/cm至约30N/cm。
[0703] 132.一种制造测试条的方法,所述方法包括:
[0704] (i)将导电油墨分配在丝网上,所述丝网由受到大于4巴的压强时不发生不可逆变形的材料制成;
[0705] (ii)将基片靠近所述丝网布置;
[0706] (iii)用刮墨刀将所述导电油墨转印到所述基片上;
[0707] (iv)计算使批斜率基本上等于预定的目标批斜率的工作电极面积;
[0708] (v)将绝缘油墨转印到所述导电层上,以形成具有算出的工作电极面积的工作电极;
[0709] (vi)计算使批截距基本上等于预定的目标批截距的还原介体量;以及[0710] (vii)将试剂油墨转印到所述工作电极上,所述试剂油墨包含算出的还原介体量。
[0711] 133.实施例132的方法,其中当与所述导电油墨中的溶剂接触时,所述丝网的材料不发生不可逆变形。
[0712] 134.实施例132的方法,还包括制备试剂油墨,所述制备试剂油墨的方法包括:
[0713] (i)将包含流变控制剂的溶液混合一段预定时间;
[0714] (ii)测量所述溶液的密度;
[0715] (iii)如果所述密度不在目标范围内,则继续混合直至所述密度在所述目标范围内;和
[0716] (iv)当所述密度在所述目标范围内时,将介体和酶与所述溶液共混以形成所述试剂油墨。
[0717] 135.实施例132的方法,其中所述导电油墨是碳素油墨。
[0718] 136.实施例132的方法,其中所述刮墨刀的硬度大于约肖氏A级硬度55。
[0719] 137.实施例132的方法,其中所述刮墨刀的硬度大于或等于约肖氏A级硬度65。
[0720] 138.实施例132的方法,其中所述刮墨刀的硬度在肖氏A级硬度约60至约75的范围内。
[0721] 139.实施例132的方法,其中所述转印导电油墨的步骤包括以某一压强将所述刮墨刀施加到所述丝网上,所述压强大于约5巴和约4巴中的至少一者。
[0722] 140.实施例132的方法,其中所述转印导电油墨的步骤包括将所述刮墨刀以某一压强施加到所述丝网上,所述压强为每米刮墨刀270N的力。
[0723] 141.实施例132的方法,其中所述刮墨刀包含对所述导电油墨中含有的溶剂具有低吸收率的材料。
[0724] 142.实施例132的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在一小时内约2%的速率对所述导电油墨中含有的溶剂进行吸收的材料。
[0725] 143.实施例132的方法,其中所述刮墨刀包含以低于在约二十一小时内约8%的速率对所述导电油墨中含有的溶剂进行吸收的材料。
[0726] 144.实施例141至143中任一例的方法,其中所述材料包括材料硬度为肖氏A级硬度65的聚氨酯。
[0727] 145.实施例141至143中任一例的方法,其中所述材料包括材料硬度为肖氏A级硬度75的聚氨酯。
[0728] 146.实施例132的方法,其中所述金属丝网联接于框架,其中所述基片和所述框架在转印导电油墨的过程中保持固定距离,所述固定距离的范围为从约0.65毫米至约0.75毫米。
[0729] 147.实施例132的方法,其中所述金属丝网联接于框架,此时丝网张力的范围从约20N/cm至约30N/cm。
[0730] 148.一种构造成可测量被分析物的系统,所述系统包括:
[0731] 测试仪,其包括:
[0732] 测试条口连接器、
[0733] 处理器、
[0734] 存储器和
[0735] 显示器,其中所述处理器连接到所述存储器和所述显示器;和
[0736] 测试条,其包括:
[0737] 基片;
[0738] 设置在所述基片上的导电层;和
[0739] 设置在所述导电层上的试剂层,所述试剂层包含添还原介体添加量,使得多个批截距的变化小于约15%。
[0740] 149.实施例148的系统,其中所述测试仪构造成在从第一测试条批转换为第二测试条批时不接收校准输入。
[0741] 150.实施例148的系统,其中所述测试仪还包括用户界面输入键,并且所述处理器构造成可使所有用户界面输入键无效,在所述显示器进行被分析物值显示时的单个用户界面输入键除外。
[0742] 151.实施例148的系统,其中所述测试仪还包括用户界面输入键,并且所述处理器构造成可忽略所有用户界面输入键的任何输入,在所述显示器进行被分析物值显示时的单个用户界面输入键除外。
[0743] 152.实施例148的系统,其中所述还原介体添加量基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距。
[0744] 153.实施例152的系统,其中所述背景截距包括基于得自先前制造的测试条批的多个批截距的平均值。
[0745] 154.实施例152的系统,其中所述还原介体杂质百分比是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的比例量,其中所述试剂层包含某个量的氧化介体。
[0746] 155.实施例152的系统,其中所述还原介体添加量通过计算所述目标截距和所述背景截距之差,再除以常量,然后减去还原介体杂质量来确定。
[0747] 156.实施例152的系统,其中所述还原介体添加量Fadd大致由关系式[0748]
[0749] 定义,其中Btarget是所述目标截距,B0是所述背景截距,Kint是常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0750] 157.实施例152的系统,其中所述测试条还包括工作电极,所述工作电极具有基于目标斜率和先前批斜率算出的面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批。
[0751] 158.实施例152至157中任一例的系统,其中所述测试条还包括工作电极,所述工作电极具有基于目标斜率和先前批斜率算出的面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批;并且其中通过考虑到算出的面积来确定所述还原介体添加量。
[0752] 159.实施例157的系统,其中所述先前批斜率不基于两个或更多个批斜率。
[0753] 160.实施例152至156中任一例的系统,其中所述测试条还包括工作电极,所述工作电极具有基于目标斜率和先前批斜率算出的面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批,并且其中通过调整所述背景截距和所述常量来确定所述还原介体添加量以顾及算出的面积。
[0754] 161.实施例148的系统,其中用来提供所述多个批截距的所述多个测试条批包括约10批至约100批。
[0755] 162.实施例161的系统,其中具有15%或更小批截距变化的所述多个测试条批是通过校准每个测试条批的约600个或更多个测试条来确定的。
[0756] 163.实施例148的系统,其中添加的介体包括还原介体。
[0757] 164.根据实施例148所述的系统,其中添加的介体包括亚铁氰化物。
[0758] 165.实施例148的系统,其中添加的介体包括亚铁氰化钾。
[0759] 166.一种执行被分析物测量的方法,所述方法包括:
[0760] 将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成不接收校准输入,所述测试条具有算出的酶工作面积以及所述酶工作面积上的某一添加量的还原介体;
[0761] 将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度;以及
[0762] 在所述测试仪的显示器上显示所述血样的被分析物浓度。
[0763] 167.一种执行被分析物测量的方法,所述方法包括:
[0764] 将测试条插入测试仪中,所述测试仪构造成可预定校准输入,所述测试条具有暴露于血样的算出的酶工作面积以及在所述算出的酶工作面积上的某一添加量的还原介体,使所述测试条被校准到所述预定校准输入;
[0765] 将血样施加到所述测试条的入口,测量被分析物浓度;以及
[0766] 在所述测试仪的显示器上显示所述血样的被分析物浓度。
[0767] 168.实施例166或167中任一例的方法,还包括:询问用户以选择标记,使所述标记与所述被分析物浓度相关。
[0768] 169.实施例166或167中任一例的方法,还包括:除了单个用户界面输入键之外,使所有多个用户界面输入键均无效,所述单个用户界面输入键构造成可让用户选择所述标记。
[0769] 170.实施例166或167中任一例的方法,其中校准输入是归属于特定测试条批的一组值。
[0770] 171.实施例166或167中任一例的方法,其中校准输入包括批截距和批斜率。
[0771] 172.实施例166或167中任一例的方法,其中所述还原介体添加量基于目标截距、还原介体杂质百分比和背景截距。
[0772] 173.实施例166或167中任一例的方法,其中所述背景截距包括基于得自先前制造的测试条批的多个批截距的平均值。
[0773] 174.实施例166或167中任一例的方法,其中所述还原介体杂质百分比是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的比例量,其中所述试剂层包含某个量的氧化介体。
[0774] 175.实施例166或167中任一例的方法,其中所述还原介体添加量是通过计算所述目标截距和所述背景截距之差,再除以常量,然后减去还原介体杂质量来确定的。
[0775] 176.实施例166或167中任一例的方法,其中所述还原介体添加量Fadd大致由关系式
[0776]
[0777] 定义,其中Btarget是所述目标截距,B0是所述背景截距,Kint是常量,且Fimp是与氧化介体相关的作为杂质的还原介体的量。
[0778] 177.实施例166或167中任一例的方法,其中所述测试条还包括工作电极,所述工作电极具有基于目标斜率和先前批斜率算出的面积,所述先前批斜率得自先前制造的测试条批。
[0779] 178.实施例166或167中任一例的方法,其中所述先前批斜率不基于两个或更多个批斜率。
[0780] 179.实施例166或167中任一例的方法,其中用来提供所述多个批截距的所述多个测试条批包括约10批至约100批。
[0781] 180.实施例179所述的方法,还包括在每个测试条批中校准约600或更多个测试条,以确定所述600或更多个测试条的批截距的变化是否都为15%或更小。
[0782] 181.实施例166或167中任一例的方法,其中所述添加的还原介体包括亚铁氰化钾。
[0783] 182.根据实施例166或167中任一例的方法,还包括:促使用户选择标记,使所述标记与所述被分析物浓度相关。
[0784] 虽然已经就特定的变型和示例性附图描述了本发明,但是本领域普通技术人员将认识到本发明不限于所描述的变型或附图。此外,其中上述的方法和步骤表示按特定次序发生的特定事件,本文之意是某些特定步骤不必一定按所描述的次序执行,而是可以按任意次序执行,只要所述步骤允许实施例能够用作它们所需的目的。因此,本发明意在覆盖本发明的变型,只要这些变型处于在权利要求中出现的本发明公开的精神的范围内或与本发明等同。
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