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介电层抛光

阅读:737发布:2020-05-13

专利汇可以提供介电层抛光专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 半导体 产业的介电层 抛光 液 ,其技术方案为: 二 氧 化 硅 磨料 2-50%;pH调节剂0.2-10%;螯合剂0.1-5%;铵盐0.1-5%; 表面活性剂 0.01-5%;其余为去离子 水 ,混合,搅拌而形成,采用本技术方案能提供不含 金属离子 而且不具有臭味的弱 碱 性介电层抛光液,使用后不但不会污染介电层,并没有令人讨厌的臭味。,下面是介电层抛光专利的具体信息内容。

1.一种介电层抛光液,其特征在于抛光液的组分及重量百份比如下:磨料
2-50;PH调节剂0.2-10;螯合剂0.1-5;铵盐0.1-5;表面活性剂0.01-5;余量为去离子
2.根据权利要求1所述的一种介电层抛光液,其特征在于,PH调节剂为性有机胺,如三乙胺和二异丁基胺中至少一种。
3.根据权利要求1所述的一种介电层抛光液,其特征在于,螯合剂为乙二胺四乙酸柠檬酸及其盐中的至少一种。
4.根据权利要求1所述的一种介电层抛光液,其特征在于,表面活性剂为醇醚类非离子类表面活性剂,如OP-10和TX-10中的至少一种。
5.根据权利要求1所述的一种介电层抛光液,其特征在于,铵盐为硝酸铵、硫酸铵中至少一种。
6.根据权利要求2所述的一种介电层抛光液,其特征在于,所述抛光液的PH值范围为
10-11,粒径范围为40-60nm。
7.根据权利要求2所述的一种介电层抛光液,其特征在于,所述抛光液的Na离子含量范围<0.07%。
8.根据权利要求3所述的一种介电层抛光液,其特征在于,所述抛光液对于介电层抛光速率为0.1-0.2um/min。

说明书全文

介电层抛光

技术领域

[0001] 本发明涉及一种半导体产业的介电层抛光液。

背景技术

[0002] 现今半导体产业已进入ULSI(超大规模集成电路)时代,聚焦深度的问题愈来愈显现,因此平坦化的技术愈加重要。而在众多平坦化技术中,唯有CMP(化学机械抛光)可以同时满足低温且全域性的平坦化。
[0003] 对于传统的介电层CMP抛光液,其组成主要是以分散在氢化钠、氢氧化溶液中的二氧化抛光粉。其中,二氧化硅用以提供机械研磨时的磨料,而性氢氧化钾及氨水则提供OH离子,用以腐蚀介电层的表面,而平坦化的程度通常会随着抛光粉的固含量和碱性氢氧化钾及氨水添加量的增加而增加。然而,钠、钾离子具有很大的扩散系数,少量残留会对电性有巨大威胁。另外,由于氨水是一弱碱,为了达到要求的PH值,须添加很多才能满足。但是高浓度的氨水对眼睛的刺激性和特有的臭味限制了它的使用。
[0004] 因此有必要提出一种不含金属离子而且不具有臭味的弱碱性介电层抛光液,以解决上述问题。使用后不但不会污染介电层,并没有令人讨厌的臭味。

发明内容

[0005] 本发明的目的在于提供一种不含金属离子而且不具有臭味的弱碱性介电层抛光液,使用后不但不会污染介电层,并没有令人讨厌的臭味。
[0006] 为了实现上述目的,本发明的技术方案如下:
[0007] 一种介电层抛光液,其组成部分为:
[0008] 二氧化硅磨料2-50%;PH调节剂0.2-10%;螯合剂0.1-5%;铵盐0.1-5%;表面活性剂0.01-5%;其余为去离子水,混合,搅拌而形成。
[0009] 采用本发明的技术方案,具有以下优点:
[0010] 1)本发明所述的PH调节剂为碱性有机胺,如三乙胺和二异丁基胺中至少一种,不含金属离子而且不具有臭味。用来调节抛光液的PH值,使二氧化硅处于良好的悬浮状态,提供稳定的抛光速率。采用的胺不含金属类成分避免对硅片的玷污而影响以后的器件的性能。
[0011] 所述的螯合剂为乙二胺四乙酸柠檬酸及其盐中的至少一种。可以和前制程带入的大量金属离子结合而除去,从而改善抛光片的质量
[0012] 所述的表面活性剂为醇醚类非离子类表面活性剂,如OP-10,TX-10等,可以优先吸附,形成长期易清洗的物理吸附表面,以改善表面状态,同时提高质量传递速率,以降低晶圆的表面粗糙度。
[0013] 所述的铵盐为为硝酸铵,硫酸铵中至少一种。适当的用量可以改善二氧化硅和介电层表面的亲水性,辅助PH调节剂提供稳定的抛光速率。
[0014] 2)本发明所采用的二氧化硅磨料在制备时通过对表面改性,改善其表面的物理和
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