1.一种电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置包括：传感器、解调装置；其中，
所述传感器包括开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔、第一反射点、第二反射点、导体反射面、电介质腔；其中，所述第一反射点设置在所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔内部的第一位置处，所述第二反射点设置在所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔内部的第二位置处，所述导体反射面设置在所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔内部的第三位置处，所述第一反射点和所述第二反射点之间不发生相对移动，所述第一反射点和所述第二反射点的反射率大于等于预设阈值；所述第二反射点与所述导体反射面之间为电介质腔，所述电介质腔腔内的电介质是导体或绝缘体，是固体、液体或气体；所述导体反射面能够发生移动或变形，导致所述电介质腔的腔长发生变化；所述电介质腔的腔内介质的折射率可以发生变化，导致所述电介质腔的腔长发生变化；
所述解调装置与所述传感器相连，所述解调装置包括解调主板和同轴电缆，用于对所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔内的微波信号进行分析，得到所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔长，其中，所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的腔长为所述第一反射点与所述第二反射点之间的距离，且该距离受到所述第二反射点和所述导体反射面之间距离变化的影响；当所述第一反射点和所述第二反射点之间距离不变且所述第二反射点和所述导体反射面之间距离发生变化时，所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率会发生变化，基于所述谐振频率的变化量确定所述第二反射点和所述导体反射面之间的距离，所述第二反射点和所述导体反射面之间距离为所述电介质腔的腔长。
2.根据权利要求1所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述传感器还包括外壳、或者外壳加内杆，所述外壳为所述传感器的外导体，所述内杆为所述传感器的内导体；
其中，
所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的一端连接至射频同轴电缆转接头，所述射频同轴电缆转接头通过同轴电缆连接至所述解调主板；或者，所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的一端直接连接至解调主板上；
所述开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的另一端，外壳端面与导体反射面之间用导体连接，内杆端面与导体反射面之间用绝缘体或电阻率大于等于预设阈值的导体连接，这种情况下，第二反射点是内杆导体区域的端面；或者，内杆端面与导体反射面之间用导体连接，外壳端面与导体反射面之间用绝缘体或电阻率大于等于预设阈值的导体连接，这种情况下，第二反射点是外壳导体区域的端面；或者，外壳和内杆端面与导体反射面之间均用绝缘体或电阻率大于等于预设阈值的导体连接且外壳和内杆的端面在同一断面上，这种情况下，第二反射点是外壳和内杆的端面；或者，外壳和内杆端面与导体反射面之间均用绝缘体或电阻率大于等于预设阈值的导体连接且外壳和内杆的端面不在同一断面上，这种情况下，第二反射点介于外壳端面和内杆端面之间。
3.根据权利要求1所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置为反射式腔长测量装置，在所述反射式腔长测量装置中：
所述传感器的一端连接射频同轴电缆转接头，所述射频同轴电缆转接头通过同轴电缆连接所述解调主板；或者，所述传感器的一端直接连接在解调主板上，即传感器的一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；或者，所述解调主板直接连接在贯穿外壳壁的同轴射频转接头上，该同轴射频转接头有一段导体插入到外壳内部；
所述传感器的另一端为第二反射点和导体反射面。
4.根据权利要求1所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置为透射式腔长测量装置，在所述透射式腔长测量装置中：
所述传感器的一端连接第一射频同轴电缆转接头，所述传感器的外壳壁连接第二射频同轴电缆转接头，所述解调主板的一端通过同轴电缆连接所述第一射频同轴电缆转接头，所述解调主板的另一端通过同轴电缆连接所述第二射频同轴电缆转接头；或者，所述传感器的一端连接第一射频同轴电缆转接头，所述解调主板的一端通过同轴电缆连接所述第一射频同轴电缆转接头；所述传感器的外壳壁直接连接解调主板，即外壳壁可以通过第二射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；或者，所述传感器的一端直接连接在解调主板上，即传感器的一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述传感器的外壳壁连接第二射频同轴电缆转接头，所述第二射频同轴电缆转接头通过同轴电缆连接所述解调主板；或者，所述传感器的一端直接连接在解调主板上，即传感器的一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述传感器的外壳壁上直接连接解调主板，即外壳壁可以通过第二射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板。
5.根据权利要求4所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置为透射式腔长测量装置时，所述腔长测量装置至少具有以下模式：正反馈环路模式、无环路模式；其中，
在所述正反馈环路模式中，所述解调主板包括：定向耦合器、波形放大器、计频器/频谱仪；
在所述无环路模式中，所述解调主板为矢量网络分析仪、或微波发生源加标量网络分析仪、或微波时域反射仪、或解调频谱的解调电路板。
6.根据权利要求5所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述正反馈环路模式包括：微波正反馈环路、基于光电振荡器的正反馈环路；其中，
在所述微波正反馈环路中，包括：同轴电缆环路、微波定向耦合器、微波放大器或者微波功率分离器，所述解调主板中的各器件通过同轴电缆环路连接；
在所述基于光电振荡器的正反馈环路中，包括：高速光电解调器、激光或发光二极管光源、光纤环路、光纤耦合器、微波放大器或者光学放大器、微波定向耦合器或者微波功率分离器，所述解调主板中的各器件通过光纤环路连接。
7.根据权利要求1至6任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述传感器内具有：外壳或者外壳加内杆、导体反射面；其中，所述外壳由连续导体形成，所述内杆由连续导体形成，所述导体反射面由连续导体形成，所述连续导体为：单个导电零件、或者多个导电零件连接而成，或者绝缘体上的导体镀层，所述导电零件的材料为导电材料，所述导电材料至少包括：金属、非金属；非金属至少包括：石墨，或碳纤维，或导电陶瓷；
所述导体反射面的形状是实体结构，或者平面结构，或者曲面结构；所述导体反射面的形状是孔隙结构，或者圆形结构，或者长条形结构，或者多个导体拼接而成，或者导体和绝缘体拼接而成；所述导体反射面由单一导体材料构成，或者由不同种类的导体材料构成，或者由一部分导体材料和一部分绝缘体材料构成；所述导体反射面的导体区域是连续的或者非连续的；
所述导体反射面的摆放满足以下要求：要确保外壳和内杆的包络面沿着轴线方向扫掠出的柱体，与导体反射面所在区域有交集，其中，所述导体反射面与外壳和内杆的轴线垂直或者不垂直；所述导体反射面是平面或者是曲面；
所述导体反射面与第二反射点之间端面距离的变化，通过以下至少一种方式来实现：
所述导体反射面的移动；所述导体反射面的变形；所述导体反射面与第二反射点之间的电介质的折射率发生改变；
所述导体反射面的尺寸大于等于外壳的直径，对外壳的端面形成全覆盖；或者，所述导体反射面尺寸小于外壳的直径。
8.根据权利要求7所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述外壳的断面为闭合形状或者非闭合形状；
所述传感器包括外壳加内杆的情况下：
所述外壳包裹所述内杆，或者所述外壳不包裹所述内杆；
所述外壳和内杆是一个平面上的两条导体镀层，或者是空间上的两个导体平行杆；
所述外壳与所述内杆同轴，或者所述外壳与所述内杆不同轴。
9.根据权利要求7所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，
在所述第一反射点和所述第二反射点之间，以及所述外壳和所述内杆之间的开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔内，填充的介质为以下之一：真空、气体、液体、固体；
在所述第二反射点与所述导体反射面之间的电介质腔腔内，填充的介质为以下之一：
真空、气体、液体、固体。
10.根据权利要求7所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述第一反射点和所述第二反射点设置在所述外壳和所述内杆之间；所述第二反射点是所述外壳或所述内杆的端面；或者，当所述外壳和所述内杆都不和所述导体反射面接触，且所述外壳和所述内杆的长度不同时，所述第二反射点介于所述外壳端面和所述内杆端面之间；其中，所述绝缘体或电阻率大于等于预设阈值的导体是固体、液体或气体；对于所述第一反射点和所述第二反射点中的一个或两个反射点，反射点可以是导体或绝缘体，反射点与所述外壳和所述内杆满足如下位置关系：
反射点与外壳和内杆均用电阻率小于预设阈值的导体连接；或者，
反射点与外壳不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，反射点与内杆用电阻率小于预设阈值的导体连接；或者，
反射点与内杆不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，反射点与外壳用电阻率小于预设阈值的导体连接；或者，
反射点与外壳和内杆均不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接；
所述第二反射点和所述导体反射面满足如下位置关系：
外壳和内杆与导体反射面均不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，且外壳和内杆的导体区域的端面是同一个平面时，第二反射点为外壳和内杆的共同端面；或者，
外壳和内杆与导体反射面均不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，且外壳和内杆的导体区域的端面不是同一个平面时，第二反射点为外壳端面和内杆端面之间的一个点；或者，
外壳与导体反射面用电阻率小于预设阈值的导体连接，且内杆与导体反射面不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接时，第二反射点为内杆的端面；
或者，
外壳与导体反射面不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，且内杆与导体反射面用电阻率小于预设阈值的导体连接时，第二反射点为外壳的端面。
11.根据权利要求3所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，在反射式腔长测量装置中：
所述传感器包括外壳加内杆时，所述外壳和所述内杆的第一端均与所述射频同轴电缆转接头连接，所述射频同轴电缆转接头通过同轴电缆连接所述解调主板；或者所述外壳和所述内杆的第一端直接与解调主板连接，即外壳和内杆的第一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述第一反射点和所述第二反射点至少有一部分设置在所述外壳加内杆的包络范围之内；
所述传感器只有外壳且没有内杆时，所述外壳的第一端与所述射频同轴电缆转接头连接，所述射频同轴电缆转接头通过同轴电缆连接所述解调主板；或者外壳的第一端直接与解调主板连接，即外壳的第一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述第一反射点和所述第二反射点设置在所述外壳的包络范围之内。
12.根据权利要求4和5所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，在透射式腔长测量装置中，所述腔长测量装置至少具有以下模式：正反馈环路模式、无环路模式：
所述传感器包括外壳和内杆时，所述外壳和所述内杆的第一端均与第一射频同轴电缆转接头连接，所述第一射频同轴电缆转接头通过第一同轴电缆连接到解调主板上；或者所述外壳和所述内杆的第一端均直接与解调主板连接，即外壳和内杆的第一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述外壳壁与第二射频同轴电缆转接头连接，所述第二射频同轴电缆转接头通过第二同轴电缆连接到解调主板上；
或者所述外壳壁直接与解调主板连接，即外壳壁可以通过第二射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述第一反射点和所述第二反射点至少有一部分设置在所述外壳加内杆的包络范围之内；
所述传感器只有外壳且没有内杆时，所述外壳的第一端与第一射频同轴电缆转接头连接，所述第一射频同轴电缆转接头通过第一同轴电缆连接到解调主板上；或者所述外壳的第一端直接与解调主板连接，即外壳的第一端可以通过第一射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述外壳壁与第二射频同轴电缆转接头连接，所述第二射频同轴电缆转接头通过第二同轴电缆连接到解调主板上；或者所述外壳壁直接与解调主板连接，即外壳壁可以通过第二射频同轴电缆转接头连接解调主板，也可以直接连接解调主板；所述第一反射点和所述第二反射点至少有一部分设置在所述外壳的包络范围之内；
其中，所述第二射频同轴电缆转接头设置在所述第一反射点和所述第二反射点之间。
13.根据权利要求7所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，
所述第一反射点为导体，且与所述内杆和所述外壳均连接，使所述内杆和所述外壳之间短路；所述第二反射点为所述外壳或所述内杆的端面；
当所述外壳为闭合形状时，所述外壳内部形状是圆形或矩形，所述内杆断面也是圆形或矩形，所述第一反射点在所述外壳和所述内杆之间构成短路，所述第二反射点是所述外壳或所述内杆端面断开形成的高反射；
所述第一反射点是一个尺寸小于预设面积的断面，至少可以通过一根或多根圆杆或者方杆垂直于传感器内杆的轴线方向放置，或者在外壳和内杆之间固定一个有一定透射率的多孔结构，所述第一反射点覆盖所述外壳和所述内杆之间区域的面积小于所述外壳和所述内杆之间包络面积；所述第一反射点对所述外壳和所述内杆构成短路，或者所述外壳和所述内杆之间连接件的电阻大于等于预设阈值，或者所述外壳和内杆之间无连接件；所述第二反射点是外壳端面，或内杆端面，或外壳导体区域的端面和内杆导体区域的端面之间的一个点；所述导体反射面与所述外壳和所述内杆不同时用电阻率小于预设阈值的导体连接；
所述第一反射点和所述第二反射点的位置固定，通过改变所述导体反射面到第二反射点之间的距离，能够实现对位移、或应变、或压强、或角度、或液位、或流速的测量；其中，通过以下至少一种方式改变所述导体反射面到所述第二反射点之间的距离：所述导体反射面的移动，所述导体反射面的变形，所述导体反射面和第二反射点之间的介质的折射率的改变。
14.根据权利要求7所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，
通过改变所述内杆断面形状和尺寸来调节反射率，可去掉在所述外壳和所述内杆之间添加的第一反射点，将射频同轴电缆转接头与所述外壳和所述内杆连接处作为第一反射点；其中，将射频同轴电缆转接头与所述外壳和所述内杆连接处作为第一反射点时，所述内杆直径与所述外壳内径比值介于0到1之间；或者，
将第一反射点设置在所述外壳和所述内杆连接射频同轴电缆转接头的位置；或者，将第一反射点设置在所述外壳和所述内杆连接解调频谱的解调电路板的位置，其中，外壳和内杆的第一端面直接连接解调电路板，或者外壳和内杆的第一端面通过射频同轴电缆转接头连接解调电路板。
15.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于压强传感器中；
外壳和内杆一端连接解调装置；外壳的另一端连接膜片，连接材料是导体或者是绝缘体，膜片是导体或者膜片的第一侧面有导体镀膜；第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳或内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点；膜片靠近外壳和内杆的第一侧面为导体反射面；内杆端面与膜片的第一侧面不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，第二反射点与导体反射面之间的空间为电介质腔；膜片的第二侧面是受压的一面，且膜片与内杆的端面之间有一定距离，处于非接触状态，或使用电阻率小于预设阈值的液体或固体填充，即电介质腔的腔内是气体、液体或固体；当压强发生改变时，膜片挠度发生变化，第二反射点到膜片的第一侧面之间的距离会发生变化，即电介质腔的腔长发生变化，从而改变开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔长，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定电介质腔的腔长变化量，从而确定压强的大小；膜片变形后，第一侧面由平面变成曲面，其中，膜片的挠度变化量受到膜片各个点挠度的影响，膜片的挠度变化量介于最小挠度和最大挠度之间；
其中，通过以下几种方式能够增大压强传感器的灵敏度：一是减少膜片的第一侧面与第二反射点之间的初始距离；二是减小膜片厚度；三是增大膜片直径，加大外壳端面处的内径和外径，在扩径结构的端面外圈连接直径大于等于外壳直径的膜片，膜片的外圈与扩径结构的端面密封连接。
16.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于压强传感器中；
外壳和内杆一端连接解调装置；外壳和内杆的另一端是切断的端面，不连接任何物体；
第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳或内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点；采用波登管测量压强，波登管的端面或管上的一点会产生一定的移动量；针对波登管上A点的移动，在A点固定连接一个导体反射面，该导体反射面为刚体，导体反射面的法线平行于压强改变后波登管在A点处的移动方向；导体反射面与外壳和内杆的端面均不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接，并有一定距离；导体反射面与第二反射点之间的空间为电介质腔；导体反射面的法线平行于外壳和内杆的轴线；
将电介质腔的腔长测量装置和波登管基座固定到一个刚性物体上，腔长测量装置和波登管基座不发生相对移动；由于导体反射面的法线、外壳和内杆的轴线、以及A点的移动方向均平行，所以当压强发生改变时，波登管上A点会发生移动，带动导体反射面发生移动，导致导体反射面到第二反射点之间的距离发生变化，即电介质腔的腔长发生变化，从而改变开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定电介质腔的腔长变化量，从而确定压强的大小；所述波登管的类型至少包括C型波登管、或C型组合波登管、或螺旋型波登管、或麻花型波登管、或圆形波登管。
17.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于加速度传感器中；
外壳和内杆一端连接解调装置；外壳的另一端连接带有一定刚度的结构，所述结构至少包括膜片或梁，连接材料是导体或者是绝缘体；第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳或内杆的端面，第一反射和第二反射点均为固定点；膜片或梁靠近外壳和内杆的第一侧面为导体反射面；内杆端面与膜片或梁的第一侧面无导体连接，有一定距离；膜片或梁第二侧面中心处固定有一个质量为m的质量块，质量块在加速度为a的情况下，会对膜片或梁产生力F，F＝ma，使得膜片或梁的中心点挠度发生变化，从而使得导体反射面到第二反射点之间的距离发生变化，即电介质腔的腔长发生变化，最终使得开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定电介质腔的腔长变化量，从而确定加速度的大小；
膜片的直径或梁的长度与外壳的外径或外壳端面扩径区域的外径相等，增大膜片厚度或梁的刚度，减小质量块的重量，加速度传感器的灵敏度会降低，适合大量程加速度的测量；扩大膜片直径或增大梁的长度，减小膜片厚度或梁的刚度，增加质量块的重量，加速度传感器的灵敏度会增大，适合小量程加速度的测量；当增大膜片直径时，可采用外壳端面加上一个扩径结构来实现，所述扩径结构至少包括喇叭口或扩大直径的导体，膜片的外圈与扩径结构的端面密封连接；当增加梁的长度时，外壳端面要沿着直径方向，向两边分别增加一个悬臂支撑，两个支撑的端面用来作为梁的两个支点，采用连接件进行连接，两端采用刚性连接或者做成两端铰接的简支梁；或者做成悬臂梁，悬臂梁端面固定有质量块，质量块靠近外壳和内杆端面的一侧是导体反射面。
18.根据权利要求7或15所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于流速传感器中，所述流速传感器为第一种流速传感器或第二种流速传感器；
在第一种流速传感器中，使用压强传感器进行改装，利用不同流速产生的压强不同，通过测量压强的大小得到流速；所述流速传感器至少包括板孔流速传感器、或U型管压差流速传感器；在流体从左到右运动的情况下，在所述压强传感器旁边固定挡板，使流体冲击到挡板时产生附加压强，利用挡板左边固定的压强传感器测出所述挡板左边的附加压强，通过附加压强的大小确定流速；
在第二种流速传感器中，第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳或内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点；流速不同，则对插入流体中的探杆端面探头的推力不同，使得探头移动距离发生变化，且探杆上的一点会绕着铰发生转动，所述铰通过连接零件固定到传感器的外壳上，探杆的另一端连接导体反射面，所述导体反射面和内杆端面之间不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接；其中，在第二种流速传感器的第一种结构中：导体反射面和外壳之间由弹性材料连接，弹性材料是导体或者是绝缘体；测量时，探头的移动会带动探杆发生转动，从而带动探杆另一头发生反向移动，带动导体反射面发生移动，导致导体反射面和外壳之间的弹性材料发生拉伸或压缩，从而改变了导体反射面到第二反射点之间的距离，即改变了电介质腔的腔长；其中，流速越大，对探头产生的推力越大，柔性导体材料的拉伸或压缩量也会越大，电介质腔的腔长变化量也越大，从而使得同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量也越大；在第二种流速传感器的第二种结构中：外壳连接膜片，第二反射点是内杆端面，导体反射面的载体是膜片，流体推动探头产生的力带动探杆另一头发生反向移动，通过连接第二反射点载体的带铰零件挤压膜片的中心点，使膜片的挠度发生变化，电介质腔的腔长发生变化，从而使得同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化；所述第一种结构和所述第二种结构均通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定电介质腔的腔长变化量，从而确定流速的大小。
19.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于测力计中，所述测力计为第一种测力计或第二种测力计；
第一种测力计，是利用外壳端面梁或膜片的刚度和挠度做出的测力计；外壳和内杆一端连接解调装置；外壳的另一端连接有带有一定刚度的结构，所述结构至少包括膜片或梁，连接材料是导体或者是绝缘体；第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳或内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点，所以第二反射点到导体反射面之间的距离变化量等于第一反射点到导体反射面之间的距离变化量；膜片或梁靠近外壳和内杆的第一侧面为导体反射面；内杆端面与膜片或梁的第一侧面之间的电介质腔无导体连接，有一定距离；当膜片或梁的中心点受到作用力F时，膜片或梁的中心点挠度发生变化，从而使得导体反射面到第二反射点之间的距离发生变化，即电介质腔的腔长发生变化，最终使得开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定电介质腔的腔长变化量，从而确定力的大小；
第二种测力计，是利用外壳的刚度和变形做出的测力计；外壳和内杆一端连接解调装置；外壳的另一端连接一个导体反射面，导体反射面的载体的厚度大于等于预设阈值；第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点，所以第二反射点到导体反射面之间的距离变化量等于第一反射点到导体反射面之间的距离变化量；导体反射面与外壳固定且不和内杆接触，第二反射点与导体反射面之间有一定的距离；当导体反射面的载体受到拉力或压力时，外壳会发生拉伸或压缩，外壳材料的弹性为E，净面积为A，从第一反射点到导体反射面之间的距离为L，受力后，开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，基于开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长的变化量，确定导体反射面到内杆端面之间的距离的变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd，求出的作用力为F＝EA·Δd/L。
20.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于应变计中；
所述传感器内具有第一反射点、第二反射点、导体反射面，第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳或内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点；其中，所述第一反射点处的外壳外部固定凸起的结构作为第一固定点，所述导体反射面处的外壳外部固定凸起的结构作为第二固定点，所述第一固定点和所述第二固定点之间的距离为L；所述第二反射点为内杆的端面，距离导体反射面有一定距离，第二反射点与导体反射面之间不接触，中间是电介质腔，或者，在第二反射点和导体反射面之间的电介质腔腔内填充固体或液体；外壳和内杆的一端或外壳的外壳壁上连接解调装置；外壳分段，由两段导体材料构成，两段导体材料之间采用嵌套结构或导体波纹管连接，或者，外壳不分段，应变发生变化时，外壳材料发生拉伸或压缩；内杆是一个刚体，不分段，第二反射点为内杆端面；
通过所述第一固定点和所述第二固定点能够将所述应变计固定到待检测的物体上或者埋入待检测的介质中，所述待检测的物体或介质发生应变时能够带动所述第一固定点和所述第二固定点发生相对移动，从而带动第一反射点和导体反射面之间发生相对位移Δd，由于第一反射点和第二反射点之间的距离固定，第一反射点和导体反射面之间发生的相对位移等于第二反射点和导体反射面之间发生的相对位移，即电介质腔的腔长发生变化，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量可求出电介质腔的腔长变化量Δd，从而得到应变的大小为ε＝Δd/L。
21.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于单向倾斜仪中；采用一个测量电介质腔的腔长测量装置做成单向倾斜仪；
所述传感器内具有第一反射点、第二反射点、导体反射面，第一反射点固定在外壳和内杆端面与解调装置之间，第二反射点为外壳和内杆的端面，第一反射点和第二反射点均为固定点；外壳上固定有支架，用来悬挂柔性绳或两端铰接的弹性杆，重物悬挂在柔性绳或两端铰接的弹性杆的下方；重物靠近外壳和内杆端面的第一端面为导体材料制作的导体反射面；当被测物体带动倾斜仪发生倾斜时，支架和第二反射点会随着被测物体发生倾斜，导体反射面和重物则在重力作用下保持原状态或仅发生转动，因此导体反射面和重物会相对第二反射点发生移动，从而使得导体反射面到第二反射点之间的距离发生变化，即电介质腔的腔长发生变化，最终使得开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，通过谐振频率/谐振腔腔长变化量确定倾斜角度的大小；
导体反射面与第二反射点对应的端面平行放置时，以下第一种工况采用两根或更多等长柔性绳或两端铰接的弹性杆悬挂重物，当这些等长柔性绳或两端铰接的弹性杆在支架上的固定点的连线不垂直于外壳和内杆的轴线时，倾斜角度改变后，导体反射面与第二反射点对应的端面始终平行；以下第二种工况采用前后放置的两根等长柔性绳悬挂重物，两根柔性绳与支架和重物的四个固定点构成的平面垂直于外壳和内杆的轴线，或两端刚接的弹性杆悬挂重物，倾斜角度改变后，导体反射面与第二反射点对应的端面之间的夹角会发生变化；
第一种工况：将所述倾斜仪固定到被测物体上，使用两根平行且等长的左右放置的柔性绳或两端铰接的弹性杆，柔性绳或弹性杆与支架和重物的四个连接点构成的平面平行于外壳和内杆的轴线；弹性杆与支架和重物均采用铰接连接，柔性绳或两端铰接的弹性杆的长度为L，当所述倾斜仪的倾斜角度在所述两根柔性绳或两端铰接的弹性杆构成的平面上发生变化时，导体反射面始终平行于外壳和内杆的端面，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定第二反射点与导体反射面之间的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd，从而得到倾斜角度的变化量为Δθ＝arcsin(Δd/L)；
第二种工况：将所述倾斜仪固定到被测物体上，采用前后放置的两根等长柔性绳或两端铰接的弹性杆悬挂重物，两根柔性绳或弹性杆与直接和重物的四个固定点构成的平面垂直于外壳和内杆的轴线；或采用两端刚接的弹性杆，弹性杆数量可以是一根弹性杆，或两根弹性杆，或多根弹性杆，弹性杆的两端与支架和重物刚性连接，柔性绳或两端刚接的弹性杆长度为L，当所述倾斜仪的倾斜角度发生变化时，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长变化量确定开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔第二反射点与导体反射面之间的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd，需要通过标定得到距离变化量Δd与倾斜角度变化量Δθ之间的关系。
22.根据权利要求21所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于双向倾斜仪中；
采用两个不平行且水平放置的电介质腔的腔长测量装置，分别刚性固定到倾斜仪的顶板、底面或侧壁上；两个腔长测量装置，外壳和内杆在同一个端面上，该端面作为第二反射点；以下第一种工况，顶板固定有至少三根平行且等长的柔性绳或两端铰接的弹性杆，且柔性绳或两端铰接的弹性杆与顶板或重物的所有固定点不在一条直线上，此时电介质腔的腔长变化量只与绳长/杆长和倾角有关，与绳或杆的数量以及位置无关；柔性绳或两端铰接的弹性杆底部悬挂重物，且重物上有与柔性绳或两端铰接的弹性杆平行的竖直面，这两个竖直面分别作为两个腔长测量装置的导体反射面，由导体材料制作；以下第二种工况，使用一根或多根弹性杆刚性连接顶板和重物，且重物上的两个导体反射面不平行；
第一种工况：使用平行且等长柔性绳或两端铰接的弹性杆连接顶板和重物，将所述倾斜仪固定到被测物体上，使用三根平行且等长的柔性绳或两端铰接的弹性杆，即三根柔性绳或两端铰接的弹性杆分别与顶板和重物连接的三个点构成的两个三角形全等，柔性绳或两端铰接的弹性杆长度为L；当所述三根柔性绳或两端铰接的弹性杆与顶板的三个交点不在一条直线上时，两个倾斜方向分别为绕X轴倾斜和绕Y轴倾斜；三根绳下方悬挂有一个重物，作为导体反射面的两个面的法线分别为X轴和Y轴；两个电介质腔的腔长测量装置的轴线分别垂直于这两个导体反射面，两个腔长测量装置的外壳和内杆的端面与这两个导体反射面保持一定的距离；当倾斜仪绕着X轴和Y轴均发生倾斜后，两个腔长测量装置的第二反射点到导体反射面之间的距离发生变化，使得开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，可求出两个腔长测量装置的第二反射点到导体反射面之间的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量分别为Δd1和Δd2；通过第一个腔长测量装置的第二反射点到导体反射面之间的距离变化量Δd1和绳长L的大小，可确定出倾斜仪绕X轴的倾斜角度变化量Δθ1＝arcsin(Δd1/L)；通过第二个腔长测量装置的第二反射点到导体反射面之间的电介质腔的腔长变化量Δd2和绳长L的大小，可确定出倾斜仪绕Y轴的倾斜角度变化量Δθ2＝arcsin(Δd2/L)；只要柔性绳或两端铰接的弹性杆的数量大于等于3根，所有柔性绳或两端铰接的弹性杆都等长且平行放置，且所有柔性绳或两端铰接的弹性杆与顶板的固定点的连线不在一条直线上，两个方向的倾斜角度均可使用该工况的计算方法求得；
其中，当使用三个或以上与顶板固定点不在一条直线上的平行且等长的弹性杆铰接连接顶板和重物时，计算方法同所述第一种工况；
第二种工况：使用弹性杆刚性连接顶板和重物，将所述倾斜仪固定到被测物体上，使用一根弹性杆，或两根弹性杆，或三根以上弹性杆，弹性杆长度均为L，弹性杆与顶板和重物刚性连接；当倾斜仪绕着X轴和Y轴均发生倾斜后，通过两个腔长测量装置的谐振频率/谐振腔腔长变化量可求出第二反射点与导体反射面之间的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd1和Δd2，需要通过标定得到两个介质腔的腔长变化量Δd1、Δd2与倾斜角度变化量Δθ1、Δθ2之间的关系。
23.根据权利要求15或16所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于单向倾斜仪中；
使用两个压强传感器做成单向倾斜仪，所述倾斜仪包括一个固定到被测物体上的密闭容器，所述密闭容器的底部有一定深度的液体，所述倾斜仪利用两个压强传感器的压强差值来确定倾斜角度，这样可以消除温度的影响，无需温度补偿；
当两个压强传感器刚性固定到容器内部的顶板、底板或侧面时，两个压强传感器随着被测物体的倾斜发生转动；两个压强传感器左右放置，两个压强传感器轴线平行且两条轴线的平行间距为d；外壳和内杆的端面在下方，两个测压膜片或波登管端面膜片浸入液体中，并且距离容器底部相等；当被测物体带动密闭容器在两个压强传感器的轴线构成的平面内发生倾斜时，两个压强传感器浸入液体的深度也会发生变化，所以两个压强传感器测出的压强也会发生变化；又由于两个压强传感器的轴线始终平行，所以两个压强传感器的轴线间距随着倾斜角度的变化也会发生变化；通过两个压强传感器的压强变化量求出浸入深度的变化量ΔL1和ΔL2，最终得到倾斜角度的变化量为Δθ＝arctan[(ΔL2-ΔL1)/d]；
当两个左右放置的压强传感器的顶部通过柔性绳或两端铰接的弹性杆连接到容器内部的顶板时，两个固定点之间的间距是d，在重力作用下，两个压强传感器的轴线始终竖直，不随着被测物体的倾斜发生转动；外壳和内杆的端面在下方，两个测压膜片或波登管端面膜片浸入液体中，并且距离容器底部相等；当被测物体带动密闭容器在两个压强传感器的轴线构成的平面内发生倾斜时，两个压强传感器浸入液体的深度也会发生变化，所以两个压强传感器测出的压强也会发生变化，通过两个压强传感器的压强变化量求出浸入深度的变化量ΔL1和ΔL2，最终得到倾斜角度的度变化量为Δθ＝arcsin[(ΔL2-ΔL1)/d]。
24.根据权利要求15或16所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于双向倾斜仪中；
使用三个压强传感器做成双向倾斜仪，所述倾斜仪包括一个固定到被测物体上的密闭容器，所述密闭容器的底部有一定深度的液体，所述倾斜后利用三个压强传感器的压强差值来确定倾斜角度，这样可以消除温度的影响，无需温度补偿；
当三个压强传感器刚性固定到容器内部时，三个压强传感器随着被测物体的倾斜发生转动；三个压强传感器的轴线与水平面的三个交点不在一条直线上；所述密闭容器的底部装有液体，所述三个压强传感器测压膜片或波登管端面膜片浸入液体中，并且距离容器底部相等；当所述三个压强传感器的轴线与水平面的三个交点构成一个直角三角形时，两个直角边分别是倾斜方向的X轴和Y轴；第一个压强传感器和第二个压强传感器轴线的平行间距为d1，第二个压强传感器和第三个压强传感器之间轴线的平行间距为d2；当倾斜仪绕着X轴和Y轴均发生倾斜后，第一个压强传感器和第二个压强传感器浸入液体的深度也会发生变化，所以两个压强传感器测出的压强也会发生变化，通过两个压强传感器的压强变化量求出浸入深度的变化量ΔL1和ΔL2，再根据平行间距d1的大小，可以确定出倾斜仪绕X轴的倾斜角度变化量为Δθ1＝arctan[(ΔL2-ΔL1)/d1]；第二个压强传感器和第三个压强传感器浸入液体的深度也会发生变化，所以两个压强传感器测出的压强也会发生变化，通过两个压强传感器的压强变化量求出浸入深度的变化量ΔL2和ΔL3，再根据平行间距d2的大小，可以确定出倾斜仪绕Y轴的倾斜角度变化量为Δθ2＝arctan[(ΔL3-ΔL2)/d2]；
当三个压强传感器顶部通过柔性绳或两端铰接的弹性杆连接到容器内部的顶板时，在重力作用下，三个压强传感器的轴线始终竖直，不随着被测物体的倾斜发生转动；三个压强传感器的轴线与水平面的三个交点不在一条直线上；所述密闭容器的底部装有液体，所述三个压强传感器测压膜片或波登管端面膜片浸入液体中，并且距离容器底部相等；当所述三个压强传感器的轴线与顶板的三个交点构成一个直角三角形时，两个直角边分别是倾斜方向的X轴和Y轴；第一个压强传感器和第二个压强传感器轴线的平行间距为d1，第二个压强传感器和第三个压强传感器之间轴线的平行间距为d2；当倾斜仪绕着X轴和Y轴均发生倾斜后，第一个压强传感器和第二个压强传感器浸入液体的深度也会发生变化，所以两个压强传感器测出的压强也会发生变化，通过两个压强传感器的压强变化量求出浸入深度的变化量ΔL1和ΔL2，再根据平行间距d1的大小，可以确定出倾斜仪绕X轴的倾斜角度变化量Δθ1＝arcsin[(ΔL2-ΔL1)/d1]；第二个压强传感器和第三个压强传感器浸入液体的深度也会发生变化，所以两个压强传感器测出的压强也会发生变化，通过两个压强传感器的压强变化量求出浸入深度的变化量ΔL2和ΔL3，再根据平行间距d2的大小，可以确定出倾斜仪绕Y轴的倾斜角度变化量Δθ2＝arcsin[(ΔL3-ΔL2)/d2]。
25.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于滑移计中；
使用两个电介质腔的腔长测量装置做成测量单向水平滑移量以及纵向分离量的滑移计；针对介质A相当于介质B在轴向和法向的相对位移，其中，介质A与滑移计载体固定，介质B与双斜面载体固定；两个腔长测量装置分别为第一腔长测量装置和第二腔长测量装置，每个腔长测量装置的外壳和内杆导体区域的端面在一个平面上，该平面为第二反射点所在的平面，而且该平面平行于导体反射面；两个斜孔是固定到介质A上的滑移计载体的两个斜孔，分别通过并固定第一腔长测量装置和第二腔长测量装置的外壳，两个斜孔的轴线垂直于两个斜面；所述双斜面是固定到介质B上的双斜面载体的两个导体材料做成的斜面，分别为第一斜面和第二斜面，双斜面的两个斜面分别为第一腔长测量装置和第二腔长测量装置对应的第一导体反射面和第二导体反射面；
所述滑移计载体固定在介质A上，第一腔长测量装置的外壳固定在滑移计载体的第一斜孔内，第二腔长测量装置的外壳固定在滑移计载体的第二斜孔内，所述第一腔长测量装置外壳和内杆的端面正对且平行于第一斜面，所述第二腔长测量装置外壳和内杆的端面正对且平行于第二斜面，所述第一斜面与所述第二斜面为双斜面载体的两个斜面，所述双斜面载体固定在介质B上；所述两个斜面的法向量构成的二阶矩阵 的秩等于2，其中，所述第一斜面的法向量为(l1,n1)T，第二斜面的法向量为(l2,n2)T，所述两个斜面相对于水平面的倾斜角度θ1和θ2在-90°到90°之间；
所述第一腔长测量装置用于测量该装置的第二反射点到第一导体反射面的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd1，所述第二腔长测量装置用于测量该装置的第二反射点到第二导体反射面的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd2；两个距离变化量，即电介质腔的腔长变化量Δd1和Δd2，均可通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长得到；通过所述两个电介质腔的腔长变化量和两个斜面的法向量，能够得到所述介质A相对于所述介质B的水平滑移量Δx和纵向分离量Δz：
26.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于滑移计中；
使用三个电介质腔的腔长测量装置做成测量双向水平滑移量以及纵向分离量的滑移计；针对介质A相当于介质B在平面两个方向以及法向的相对位移，其中，介质A与滑移计载体固定，介质B与三斜面载体固定；三个腔长测量装置分别为第一腔长测量装置、第二腔长测量装置和第三腔长测量装置，每个腔长测量装置的外壳和内杆导体区域的端面在一个平面上，该平面为第二反射点所在的平面，而且该平面平行于导体反射面；三个斜孔是固定到介质A上的滑移计载体的三个斜孔，分别通过并固定第一腔长测量装置、第二腔长测量装置和第三腔长测量装置的外壳，三个斜孔的轴线垂直于三个斜面；所述三个斜面是固定到介质B上的三斜面载体上的三个导体材料做成的斜面，分别为第一斜面、第二斜面和第三斜面，三斜面的三个斜面分别为第一腔长测量装置、第二腔长测量装置和第三腔长测量装置对应的第一导体反射面、第二导体反射面和第三导体反射面；
所述滑移计载体固定在介质A上，第一腔长测量装置的外壳固定在滑移计载体的第一斜孔内，第二腔长测量装置的外壳固定在滑移计载体的第二斜孔内，第三腔长测量装置的外壳固定在滑移计载体的第三斜孔内，所述第一腔长测量装置外壳和内杆的端面正对且平行于第一斜面，所述第二腔长测量装置外壳和内杆的端面正对且平行于第二斜面，所述第三腔长测量装置外壳和内杆的端面正对且平行于第三斜面，所述第一斜面、所述第二斜面与所述第三斜面为三斜面载体的三个斜面，所述三斜面载体固定在介质B上；所述三个斜面的法向量构成的三阶矩阵 的秩等于3，其中，所述第一斜面的法向量为(l1,m1,n1)T，第二斜面的法向量为(l2,m2,n2)T，第三斜面的法向量为(l3,m3,n3)T，所述三个斜面相对于水平面的倾斜角度θ1、θ2和θ3在-90°到90°之间；
所述第一腔长测量装置用于测量该装置的第二反射点到第一导体反射面的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd1，所述第二腔长测量装置用于测量该装置的第二反射点到第二导体反射面的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd2，所述第三腔长测量装置用于测量该装置的第二反射点到第三导体反射面的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd3；三个距离变化量，即电介质腔的腔长变化量Δd1、Δd2和Δd3，均可通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长得到；通过所述三个电介质腔的腔长变化量和三个斜面的法向量，能够得到所述第一物体相对于所述第二物体的水平滑移量Δx、Δy和纵向分离量Δz：
27.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于基于弹簧和膜片的位移传感器中；
所述位移传感器通过弹簧和膜片，将较大的位移变化量转换成较小的膜片挠度变化量；膜片靠近电介质腔的腔长测量装置的一侧为导体反射面；使用测量第二反射点到导体反射面距离的电介质腔的腔长测量装置做成位移传感器，腔长测量装置外壳和内杆的左端面连接解调装置，右端面为第二反射点，第二反射点的右边一定距离处放有膜片，膜片和外壳内杆的轴线重合，膜片的左端面为导体反射面；膜片的右端面连接有一个顶着膜片中心点的推杆，推杆的右边有支挡结构，支挡结构的右边是弹簧，弹簧右边是带有一个支挡结构的探杆；
当位移发生变化时，探杆移动，弹簧的压缩量发生变化，弹力发生变化，通过推杆使得作用到膜片上的力发生变化，最终使得膜片的挠度发生变化，从而使得导体反射面到第二反射点之间的距离发生变化，即电介质腔的腔长发生变化，最终使得开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，通过标定可以得到谐振频率/谐振腔腔长和位移之间的关系；
当外壳端面有扩口时，可以通过加大膜片的直径来增加位移传感器的灵敏度。
28.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于基于斜面结构的位移传感器中；
使用斜面作为导体反射面，腔长测量装置的外壳和内杆的轴线垂直于斜面；斜面与位移计所测量的水平位移方向之间有一个夹角θ，θ的范围是-90°到90°之间，即斜面可以向左倾斜，也可以向右倾斜，位移计的轴线始终垂直于斜面，位移计的量程越大，θ越小；当位移发生变化时，斜面将水平方向较大的位移变化量，变成斜面在斜面法线方向较小的移动量；
使用测量第二反射点到导体反射面之间距离的电介质腔的腔长测量装置做成位移传感器，腔长测量装置的外壳和内杆导体区域的端面在一个平面上，该平面为第二反射点所在的平面，而且该平面平行于导体反射面，即腔长测量装置的轴线平行于斜面的法线；斜面为导体反射面；
斜面的倾斜角度是已知量θ，当位移计探杆的水平位移量为w时，开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，从而得到腔长测量装置第二反射点到导体反射面的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd＝w·sinθ；通过谐振频率/谐振腔腔长的变化量可确定第二反射点到导体反射面之间电介质腔的腔长变化量Δd的大小，从而确定位移的大小；在电介质腔的腔长的最大值和最小值不变的情况下，通过减小斜面斜率的方法增大位移传感器的量程。
29.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于基于折叠杠杆结构的位移传感器中；
折叠杠杆折数较少的一侧折叠的端面固定有导体反射面，能够将轴线方向较大的位移变化量，变成导体反射面在轴线方向较小的移动量；使用测量第二反射点到导体反射面距离的电介质腔的腔长测量装置做成位移传感器，从左往右依次是解调装置、电介质腔的腔长测量装置、M个折叠、折叠的固定点、N个折叠和探杆；腔长测量装置的外壳和内杆导体区域的端面在一个平面上，该平面为第二反射点所在的平面，而且该平面平行于导体反射面，即腔长测量装置的轴线垂直于导体反射面，腔长测量装置的轴线和折叠端面探杆的运动方向相同；
通过折叠杠杆结构对位移进行折减；折叠杠杆有多个转轴，折叠杠杆结构的固定点靠近导体反射面，固定点到导体反射面之间有M个折叠，固定点到位移传感器探头之间有N个折叠；固定点到位移传感器探头之间的每一个折叠的长度的一半为L；固定点到导体反射面之间的每一个折叠的长度的一半为a；如果右边的探杆移动的位移量为w，那么，第二反射点到导体反射面之间的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量Δd为：
通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的腔长变化量可确定第二反射点到导体反射面之间的距离变化量，即电介质腔的腔长变化量为Δd，由于第二反射点到导体反射面之间，电介质腔的腔长变化范围有限，所以位移传感器的量程越大，Na与ML的比值越小；位移变化量和电介质腔的腔长变化量始终成正比。
30.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于基于齿轮和齿条结构的位移传感器中；
齿轮和齿条结构由以下至少一种机械结构组成：齿轮、双层齿轮、齿条、蜗杆，所述齿轮和齿条结构将较大的位移变化量进行折减，使得第二反射点到导体反射面之间的距离发生较小的变化，其变化量为Δd，即电介质腔的腔长变化量为Δd；位移变化量和Δd始终成正比；电介质腔的腔长测量装置的外壳和内杆导体区域的端面在一个平面上，该平面为第二反射点所在的平面，而且该平面平行于导体反射面，即腔长测量装置的轴线垂直于导体反射面；
位移传感器的探杆带有第一齿条，位移发生变化时，带动第一齿条移动，第一齿条对接双层齿轮上的大直径齿轮，双层齿轮上的小直径齿轮对接第二齿条，第二齿条的端面固定有导体反射面，导体反射面的轴线与腔长测量装置外壳和内杆的轴线平行，且腔长测量装置固定到基板上；探杆的位移发生较大变化时，通过双层齿轮进行位移折减，使得带有导体反射面的第二齿条发生较小的位移变化，即第二反射点到导体反射面之间的距离发生较小的变化，变化量为Δd；通过标定，可以得到位移变化量与Δd之间的线性关系式；如果位移传感器的量程较大，一个双层齿轮对位移的折减不够，可通过多个双层齿轮的组合对位移进行折减；或者，
位移传感器的探杆带有第一齿条，位移发生变化时，带动第一齿条移动，第一齿条对接带有蜗杆的第一齿轮，第一齿轮和蜗杆共用一个转轴，第一齿轮转动带动蜗杆转动；蜗杆对接第二齿轮，较大的位移通过蜗杆进行折减，带动第二齿轮发生较小转动；第二齿轮对接第二齿条，第二齿条的端面是导体反射面，导体反射面的轴线与腔长测量装置外壳和内杆的轴线平行，且腔长测量装置固定到基板上；通过标定，可得到位移量与电介质腔的腔长变化量Δd之间的线性关系式。
31.根据权利要求2至7中任一项所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于折射率传感器中，所述折射率传感器为第一种折射率传感器或第二种折射率传感器；
在第一种折射率传感器中，电介质腔的腔长测量装置的外壳和内杆在左，导体反射面在右，每个腔长测量装置的内杆导体区域的右端面作为第二反射点，内杆导体区域的端面和导体反射面之间不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接；外壳导体区域的端面和内杆端面是同一个平面，或者外壳导体区域的端面在内杆端面的右边，外壳和导体反射面之间用导体连接或者用绝缘体连接或者不连接；导体反射面在第二反射点的右端，第二反射点所在的平面平行于导体反射面，第二反射点和导体反射面之间的几何距离d保持不变，即电介质腔的几何腔长d保持不变；第二反射点左端的外壳和内杆之间带有密封结构，使得待测折射率的液体或固体或气体均填充在第二反射点所在平面与导体反射面之间；因为填充物的折射率不同，所以会导致放入填充物前后，测出的电介质腔的实际腔长发生变化，该腔长大小d'与折射率的大小有关，从而导致开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长发生变化，通过谐振频率/谐振腔腔长的大小，可以确定第二反射点和导体反射面之间的距离d'，即放入填充物后，电介质腔的腔长为d'，通过d和d'的比值可以得到填充的液体或固体或气体的折射率；外壳和导体反射面之间部分连接或全部连接，导体反射面的结构至少包括多孔结构；
在第二种折射率传感器中，外壳和内杆在左，导体反射面在右，内杆的导体区域和导体反射面连接，外壳导体区域的端面在内杆端面的左边，即在导体反射面的左边，此时每个传感器的外壳导体区域的右端面作为第二反射点；外壳导体区域的端面和导体反射面之间不接触、或用绝缘体连接、或用电阻率大于等于预设阈值的导体连接；第二反射点所在的平面平行于导体反射面，第二反射点和导体反射面之间的几何距离d保持不变，即电介质腔的腔长不变；外壳与内杆之间在第二反射点左端的区域内带有密封结构，使得待测折射率的液体或固体或气体均填充在第二反射点所在平面与导体反射面之间；因为填充物折射率不同，所以会导致放入填充物前后，开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔长发生变化，电介质腔的几何腔长d不变，放入填充物后，测出的电介质腔的腔长为d'，通过d和d'的比值可以得到填充的液体或固体或气体的折射率。
32.根据权利要求31所述的电介质腔的腔长测量装置，其特征在于，所述腔长测量装置应用于测量腐蚀的传感器中；测量腐蚀的传感器具有以下两种工况：
第一种工况是导体反射面发生腐蚀，测量腐蚀的传感器的结构与折射率传感器的结构相同，第二反射点和导体反射面之间的距离保持不变，即电介质腔的几何腔长d不变；在第二反射点和导体反射面之间之间的电介质腔为空腔，导体反射面的载体是实心的，或者做成孔隙结构，以加大腐蚀面积，增加传感器的灵敏度；导体反射面的材料为能够发生腐蚀的材料；外壳与导体反射面之间采用部分连接，或者用孔隙结构连接，使得液体或气体更容易浸入电介质腔内部；导体反射面的材料发生腐蚀后，会产生腐蚀产物，使得第二反射点到导体反射面之间电介质腔腔内的电介质的折射率发生变化，从而改变开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长的变化量，可测出电介质腔的腔长变化量，并得到折射率的变化量，从而确定腐蚀程度；
第二种工况是导体反射面不发生腐蚀，当导体反射面的载体不发生腐蚀时，要保证外界的腐蚀产物能够浸入外壳和导体反射面之间的电介质腔区域；导体反射面为孔隙结构，或者，外壳与导体反射面之间采用部分连接或者用孔隙结构连接；当腐蚀产物浸入外壳和导体反射面之间的电介质腔腔内时，该区域的折射率发生改变，从而改变开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长，通过开放式空心同轴电缆-法布里珀罗谐振腔的谐振频率/谐振腔腔长的变化量和电介质腔的几何腔长d的大小，可测出折射率的变化量，从而确定腐蚀程度。