聚醚醚酮导电薄膜及其导电性能可调控的制备方法
专利汇可以提供聚醚醚酮导电薄膜及其导电性能可调控的制备方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 属于高分子材料技术领域，具体涉及一种具有较高机械强度和较好 导电性 能的导电填料和聚醚醚 酮 树脂 复合的聚醚醚酮导电 薄膜 及其导电性能可调控的制备方法。本发明所述的聚醚醚酮导电薄膜，按各组分和100.0wt％计算，由89.0wt％～99.0wt％聚醚醚酮树脂和11.0wt～1.0wt％导电填料（ 炭黑 、 碳 纳米管 、 石墨 等）组成。制备方法包括树脂在 挤出机 内的熔融挤出，熔体过滤，熔体进入弓形口膜形成熔体膜片，熔体膜片进入三辊压光机的冷却定型等步骤。通过调整所用树脂的熔融指数，导电填料的含量能够调控聚醚醚酮导电薄膜的导电性能，另外也可通过对制得的聚醚醚酮薄膜进行拉伸， 热压 等方法来调控其导电性能。，下面是聚醚醚酮导电薄膜及其导电性能可调控的制备方法专利的具体信息内容。
1.一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：按各组分和100.0wt%计算，由89.0wt%～
99.0wt%结构式如（Ⅰ）所述的聚醚醚酮树脂和11.0wt～1.0wt%导电填料组成，薄膜的厚度为0.01～0.20mm，导电填料为炭黑、碳纳米管或石墨；
n表示聚合度，n≥1的整数；
且由如下方法制备得到：将聚醚醚酮树脂在120～150℃下干燥2～3小时，将干燥后的聚醚醚酮树脂与导电填料在高速混料机内进行预混，得到含有导电填料的聚醚醚酮树脂粉料；然后将聚醚醚酮树脂粉料加入到双螺杆挤出机内并于280～400℃下熔融，熔融的聚醚醚酮树脂粉料依靠双螺杆挤出机的旋转推进装置通过过滤装置，而后流入弓形狭缝式口模，口模的模唇厚度为0.05～0.30mm，口模的模唇宽度为150mm；进入弓形狭缝式口模的熔融的聚醚醚酮粉料在温度为380～400℃的口模中成型为熔融的熔体膜片，再将熔融的熔体膜片导入三辊压光机进行拉伸冷却定型，三辊压光机的辊温为100～150℃，辊速为1～
3m/min，牵引比为1：1～3，从而得到导电填料和聚醚醚酮树脂复合的聚醚醚酮导电薄膜。
3
2.如权利要求1所述的一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：在10Hz频率下的交流电-11 -1
导率为7.7×10 ～1.5×10 s/m。
3.如权利要求1所述的一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：聚醚醚酮树脂的熔融指数为10～40g/10min，对数比浓粘度为0.75～0.81；其中，熔融指数测试条件：测试温度为
400℃，载荷为5kg；对数比浓粘度测试条件：25℃，溶剂为浓硫酸，溶液浓度为0.01g/mL。
4.如权利要求1所述的一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：双螺杆挤出机为四区段式加热熔融结构，加热区段温度逐渐提高，后一加热区段的温度比前一加热区的温度高
10～30℃。
5.如权利要求1所述的一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：双螺杆挤出机喂 料螺杆转速与挤出机双螺杆转速比为1～3：1。
6.如权利要求1所述的一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：将得到的聚醚醚酮导电薄膜再置于热压机中进行压延后处理，压延温度为380～400℃，压延时间为0.5～
1.0min，从而实现对聚醚醚酮导电薄膜导电性能的调控。
7.如权利要求1所述的一种聚醚醚酮导电薄膜，其特征在于：将得到的聚醚醚酮导电薄膜进行拉伸后处理，拉伸方式采用恒速拉伸的方法，拉伸速度为1～3mm/min，拉伸比为
1：1～2.5，从而实现对聚醚醚酮导电薄膜导电性能的调控。
聚醚醚酮导电薄膜及其导电性能可调控的制备方法
技术领域
背景技术
发明内容
3
纳米管、石墨等）组成，薄膜的厚度为0.01～0.20mm，在10Hz频率下的交流电导率为-11 -1
7.7×10 ～1.5×10 s/m。
0.75～0.81（测试条件：25℃，溶剂为浓硫酸，溶液浓度为0.01g/mL），（该聚醚醚酮树脂的制备方法见中国发明专利“含氟聚醚醚酮类三元共聚物及其合成方法”，专利号：ZL
200710055849.9），其结构式如（Ⅰ）所示，n表示聚合度，n≥1的整数。
具体实施方式
3
薄膜，薄膜厚度为0.105mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦-7
4294A精密阻抗分析仪）为1.2x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为103.0Mpa，断裂伸长率为172.5％（力学性能测试仪器：日本岛津AG-120KN型电子万能材料实验机；测试标准：
ASTM D 638）。
0.098mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分-11
析仪）为7.7x10 s/m，此外，该薄膜的拉伸强度为104.2Mpa，断裂伸长率为171.8％。
0.102mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分-1
析仪）为1.5x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为98.6Mpa，断裂伸长率为166.5％。
3
400℃，制得聚醚醚酮导电薄膜厚度为0.110mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导-7
率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为1.1x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为
105.0Mpa，断裂伸长率为170.4％。
3
为390℃，制得聚醚醚酮导电薄膜厚度为0.088，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导-7
率测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为1.5x10 s/m.此外，该薄膜的拉伸强度为
104.0Mpa，断裂伸长率为168.5％。
经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为-8
8.8x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为104.0Mpa，断裂伸长率为170.9％。
经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为-7
6.8x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为103.9Mpa，断裂伸长率为171.1％。
3 -2
在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为1.3x10 s/m。
此外，该薄膜的拉伸强度为103.4Mpa，断裂伸长率为167.5％。
制备得到压延后处理聚醚醚酮导电薄膜，薄膜厚度为0.12mm，经测试该薄膜在10Hz频率下-3
的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为9.6×10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为103.6Mpa，断裂伸长率为168.8％。
制备得到压延后处理聚醚醚酮导电薄膜，薄膜厚度为0.102mm，经测试该薄膜在10Hz频率-3
下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为9.9x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为103.8Mpa，断裂伸长率为169.5％。
导电薄膜，薄膜厚度为0.098mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安-7
捷伦4294A精密阻抗分析仪）为1.02x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为130.0Mpa，断裂伸长率为130.5％。
1∶1，通过拉伸得到的聚醚醚酮导电薄膜，薄膜厚度为0.098mm，经测试该薄膜在10Hz频-8
率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为2.8x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为128.0Mpa，断裂伸长率为133.5％。
聚醚醚酮导电薄膜，薄膜厚度为0.098mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试-8
仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为8.4x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为129.5Mpa，断裂伸长率为128.6％。
醚酮导电薄膜，薄膜厚度为0.093mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪-4
器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为9.9x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为155.6Mpa，断裂伸长率为78.5％。
醚醚酮导电薄膜，薄膜厚度为0.085mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪-5
器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为1.6x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为185.0Mpa，断裂伸长率为55.5％。
膜厚度为0.118mm，经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A-9
精密阻抗分析仪）为1.2x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为103.6Mpa，断裂伸长率为
163.8％。
经测试该薄膜在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精密阻抗分析仪）为-10
8.8x10 s/m。此外，该薄膜的拉伸强度为101.5Mpa，断裂伸长率为164.5％。
的方法制成板材，经测试该板材在10Hz频率下的交流电导率（测试仪器：安捷伦4294A精-9
密阻抗分析仪）为1.7x10 s/m。
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