同轴度测量仪器
专利汇可以提供同轴度测量仪器专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 同轴度 测量仪器，该仪器由 机架 10、滑尺5、滑尺8、滑尺12、 角 位移 传感器 4、角位移传感器7、角位移传感器13、直线位移传感器6、直线位移传感器11、 接触 块 3、接触块14、及 数据处理 显示模块9组成。通过角位移传感器测得两轴1、2之间角度关系，直线位移传感器测得两轴1、2之间位移的关系，再通过数据处理显示模块9显示轴1和轴2之间的同轴度误差。本发明结构简单，易操作，成本低廉。，下面是同轴度测量仪器专利的具体信息内容。
1.一种同轴度测量仪器，构成包括机架(10)、第一直滑尺(5)、直角滑尺(8)、第二直滑尺(12)、第一角位移传感器(4)、第二角位移传感器(7)、第三角位移传感器(13)、第一直线位移传感器(6)、第二直线位移传感器(11)、第一接触块(3)、第二接触块(14)及数据处理显示模块(9)，其特征在于所述第一直滑尺(5)与第一接触块(3)之间通过第一角位移传感器(4)联接，第一直滑尺(5)和直角滑尺(8)之间通过第二角位移传感器(7)联接，第二直滑尺(12)与第二接触块(14)之间通过第三角位移传感器(13)联接，所述第一直线位移传感器(6)与第一直滑尺(5)配合，一端与第一角位移传感器(4)联接，另一端与第二角位移传感器(7)联接，第二直线位移传感器(11)与第二直滑尺(12)配合，一端与第三角位移传感器(13)联接，另一端安装在机架(10)上。
同轴度测量仪器
技术领域
目前，为测量两独立轴的同轴度，大多采用激光准直器。将激光准直器插入一个心轴孔 或者延伸轴上，测量原理为以激光准直器发出的光线为基准线，转动激光准直器，激光将围
绕轴心位置划出一个圆。通过调整激光准直器的X轴和Y轴，将激光最终调整到轴线的中心。 这种激光测量仪虽然精度高，但是价格比较昂贵。
发明目的
本发明的目的是克服现有技术中低要求高成本的不足，提供一种结构简单、使用方便的 机械零部件同轴度测量的仪器。
发明内容
在机架的两边各安装一个支撑脚，机架上还安装有显示模块。在机架装有显示模块的边 上安装有一个滑尺，该滑尺的另一端通过一个角位移传感器与一个和直线位移传感器配合使 用的滑尺连接，此滑尺的另一端又通过另一个角位移传感器与一个接触块连接。机架的另一 端也与一个和直线位移传感器配合使用的滑尺连接，此滑尺的另一端也通过一个角位移传感 器与一个接触块连接。
通过角位移传感器测得两轴之间的角度，直线位移传感器测得两轴之间的位移关系，然 后通过数据处理模块对如上数据进行处理，检测上下两轴的同轴度，并直接显示同轴度误差。
有效效果
采用本发明的有益效果是：l)结构简单，易于制造，能有效的检测出两独立轴的同轴度； 2)使用简单，操作方便，对测量人员的技术要求低；3)成本低。
附图说明
附图l是本发明的结构示意图。 附图2是本发明的测量原理示意图。
下面结合附图对本发明作进一步详细介绍，并不是对本发明的限定。
在图1中，在直角形机架10的两直角边各安装一个支撑脚，机架10上还安装有显示模 块9，其功能是显示两轴l、 2的同轴度误差数值。在机架10装有显示模块9的直角边上安 装有直角滑尺8,直角滑尺8的另一直角边通过角位移传感器7与直滑尺5连接。直滑尺5 与直线位移传感器6配合使用。直滑尺5的另一边通过角位移传感器4与V形接触块3连接。 直角机架10的另一直角边与直滑尺12连接，直滑尺12与直线位移传感器11配合使用。直 滑尺12另一边通过角位移传感器13与V形接触块14连接。
以轴l为基准轴，在图2中，轴l直径为山，轴2直径为d2，接触块的长为R，在给定 测量长度L范围内对两端点A、 B进行测量。角位移传感器4通过接触块3测得在XOY平 面内轴2相对轴1的偏差角a ;角位移传感器13通过接触块14测得XOZ平面内轴1相对于 轴2的偏差角P :角位移传感器7通过滑尺5相对滑尺8的旋转角度测得在YOZ平面内轴2 相对于轴1的组合角Y 。直线位移传感器6测得滑尺5的伸长为&，直线位移传感器11测得 滑尺12长为X,。
在XOY平面内，A点的误差值为：=
B点的误差值为：
则A点处的同轴度误差为：/,2^//;+"z ， B点处的同轴度误差为：A=2V/^+/fl2z
取其中较大值为被测轴的同轴度误差，通过数据模块9显示输出。
通过采用本发明，可以简单方便的测得两轴1、 2之间的同轴度，而不需要熟练各种现行 测同轴度所需的技术。
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台，是提供专利分析，专利查询，专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据，免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析，涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度，系统通过AI智能系统对图表进行解读，只需1分钟，一键生成行业专利分析报告。
