专利汇可以提供频率测量装置、频率测量方法和低频减载装置专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且一种 频率 测量装置,包括: 采样 模 块 单元,根据输入的待采样 电压 和 采样频率 , 输出电压 采样值;基于单周波DFT的 角 度偏移计算单元,根据电压采样值,计算并输出基于单周波DFT的第1角度偏移;基于多周波DFT的角度偏移计算单元,根据电压采样值,计算并输出基于多周波DFT的第2角度偏移;角度偏移选择单元,根据第1角度偏移和第2角度偏移,选择并输出其中绝对值较小的角度偏移,作为 选定 角度偏移量;采样频率计算输出单元,根据选定角度偏移量计算新的采样频率,并将其输出到采样模块;以及频率测量值计算输出单元,根据输入的选定角度偏移量计算并输出频率测量值。,下面是频率测量装置、频率测量方法和低频减载装置专利的具体信息内容。
1.一种频率测量装置,其特征在于,包括:
采样模块单元,根据输入的待采样电压和采样频率,输出电压采样值;
基于单周波离散傅立叶变换DFT的角度偏移计算单元,根据输入的来自所述采样模块单元的所述电压采样值,计算并输出基于单周波DFT的第1角度偏移;
基于多周波DFT的角度偏移计算单元,根据输入的来自所述采样模块单元的所述电压采样值,计算并输出基于多周波DFT的第2角度偏移;
角度偏移选择单元,根据输入的所述第1角度偏移和所述第2角度偏移,选择并输出其中绝对值较小的角度偏移,作为选定角度偏移量;
采样频率计算输出单元,根据输入的所述选定角度偏移量计算新的采样频率,并将新的采样频率输出到所述采样模块;以及
频率测量值计算输出单元,根据输入的所述选定角度偏移量计算并输出频率测量值。
2.如权利要求1所述的频率测量装置,其特征在于,
所述基于单周波DFT的角度偏移计算单元包括:
单周波DFT单元,对输入的单周波的电压采样值进行DFT处理,输出第1电压相位角;
第1角度偏移计算单元,根据所述第1电压相位角,计算并输出第1角度偏移量,作为所述第1角度偏移,
所述基于多周波DFT的角度偏移计算单元包括:
窗口单元,通过窗函数,截取并输出多个周波的所述电压采样值;
多周波DFT单元,对输入的所述多个周波的电压采样值进行DFT处理,计算并输出第2电压相位角;
第2角度偏移计算单元,根据所述第2电压相位角,计算并输出第2角度偏移量,作为所述第2角度偏移。
3.如权利要求2所述的频率测量装置,其特征在于,
所述窗函数为海明窗函数,所述多个周波为1至10个周波,可根据应用需要进行调整。
4.如权利要求1所述的频率测量装置,其特征在于,
所述采样频率计算输出单元包括:
频率偏移计算单元;
第1乘法器;
采样基准频率值计算单元;以及
第2乘法器,
所述频率偏移计算单元根据输入的所述选定角度偏移量,计算并输出频率偏移量,所述第1乘法器将所述频率偏移量乘以第1系数后,将第1结果输出到所述采样基准频率值计算单元,所述采样基准频率值计算单元根据输入的所述第1结果计算并输出采样基准频率值,所述第2乘法器对所述采样基准频率值乘以整数倍后,生成新的采样频率,输出到所述采样模块,从而调整采样频率,
频率测量值计算输出单元包括:
第3乘法器;以及
频率测量值计算单元,
所述第3乘法器将所述频率偏移量乘以第2系数后,将第2结果输出到频率测量值计算单元,所述频率测量值计算单元根据所述第2结果计算并输出所述频率测量值。
5.如权利要求4所述的频率测量装置,其特征在于,
所述第1系数为大于0小于1的值,所述第2系数为1。
6.如权利要求1所述的频率测量装置,其特征在于,
每隔规定的运算间隔,运算一次从所述采样模块单元至所述采样频率计算输出单元并将新的采样频率输出到所述采样模块的迭代处理过程,所述运算间隔由具体应用进行设定。
7.一种频率测量方法,其特征在于,包括:
采样步骤,在采样模块中输入待采样电压和采样频率,输出电压采样值;
基于单周波离散傅立叶变换DFT的角度偏移计算步骤,根据输入的来自所述采样模块步骤的所述电压采样值,计算并输出基于单周波DFT的第1角度偏移;
基于多周波DFT的角度偏移计算步骤,根据输入的来自所述采样模块步骤的所述电压采样值,计算并输出基于多周波DFT的第2角度偏移;
角度偏移选择步骤,根据所述第1角度偏移和所述第2角度偏移,选择 并输出其中绝对值较小的角度偏移,作为选定角度偏移量;
采样频率计算输出步骤,根据输入的所述选定角度偏移量计算采样频率,并将其作为新的采样频率输出到所述采样模块;以及
频率测量值计算输出步骤,根据输入的所述选定角度偏移量计算并输出频率测量值。
8.如权利要求7所述的频率测量方法,其特征在于,
所述基于单周波DFT的角度偏移计算步骤包括:
单周波DFT步骤,对输入的单周波的电压采样值进行DFT处理,输出第1电压相位角;
第1角度偏移计算步骤,根据所述第1电压相位角,计算并输出第1角度偏移量,作为所述第1角度偏移,
所述基于多周波DFT的角度偏移计算步骤包括:
窗口步骤,通过窗函数,截取并输出多个周波的所述电压采样值;
多周波DFT步骤,对输入的所述多个周波的电压采样值进行DFT处理,计算并输出第2电压相位角;
第2角度偏移计算步骤,根据所述第2电压相位角,计算并输出第2角度偏移量,作为所述第2角度偏移。
9.如权利要求8所述的频率测量方法,其特征在于,
所述窗函数为海明窗函数,所述多个周波为1至10个周波,可根据应用需要进行调整。
10.如权利要求7所述的频率测量方法,其特征在于,
所述采样频率计算输出步骤包括:
频率偏移计算步骤;
第1乘法步骤;
采样基准频率值计算步骤;以及
第2乘法步骤,
所述频率偏移计算步骤根据输入的所述选定角度偏移量计算并输出频率偏移量,所述第1乘法步骤将所述频率偏移量乘以第1系数后,将第1结果输出到所述采样基准频率值计算步骤,所述采样基准频率值计算步骤根据输入的所述第1结果计算并输出采样基准频率值,所述第2乘法步骤对所述采样基准频率值乘以整数倍后,生成新的采样频率,输出到所述采样模块,从 而调整采样频率,
频率测量值计算输出步骤包括:
第3乘法步骤;以及
频率测量值计算步骤,
所述第3乘法步骤将所述频率偏移量乘以第2系数后,将第2结果输出到频率测量值计算步骤,所述频率测量值计算步骤根据所述第2结果计算并输出所述频率测量值。
11.如权利要求10所述的频率测量方法,其特征在于,
所述第1系数为大于0小于1的值,所述第2系数为1。
12.如权利要求7所述的频率测量方法,其特征在于,
每隔规定的运算间隔,运算一次从所述采样步骤至所述采样频率计算输出步骤的迭代处理过程,所述运算间隔由具体应用进行设定。
13.一种低频减载装置,其特征在于,包括权利要求1至6的任意一项所述的频率测量装置。
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