下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法
阅读：680发布：2020-10-10
专利汇可以提供下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种下照式 X射线 荧光 光谱 仪测定液体 水 玻璃的方法。本发明直接将液体水玻璃称入铂金 坩埚 中加入熔剂、 氧 化剂和 脱模剂 后烘干、熔融制片后，然后用下照式x射线荧光光谱分析测定水玻璃多元素。本 专利 方法不仅使水玻璃的测定变得简单、快捷、准确；而且信息量大，方法大量用于产品分析和高端水玻璃产品研制，均取得良好效果。，下面是下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法专利的具体信息内容。
1.一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法，其特征在于它包括以下步骤：
A，样品的制备
首先，称取液体水玻璃于铂金坩埚内，然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6：5：0.5～1：0.015～0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂；然后在低温电炉上烤干水分后，在温度为690～720℃的条件下预氧化2～4min；接着升温至1050～1070℃，熔融6～8min，混匀，冷却，得到所述样品；
B，样品的测定
用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量；
在步骤A中，所述熔剂是一种混合溶剂，其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成；
在步骤B中，所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA，铍窗厚度为75μm。
2.根据权利要求1所述的下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法，其特征在于在步骤A中，所述氧化剂为硝酸铵；所述脱模剂为溴化锂。
3.根据权利要求1所述的下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法，其特征在于在步骤A中，所述熔融的过程中，需摇动坩埚，将气泡赶尽。
下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法
技术领域
背景技术
[0002] 液体水玻璃是含水的多硅酸钠，为粘稠状液体，在建筑上常用作接合剂或胶粘剂，也是生产耐酸水泥的重要原料之一，液体水玻璃也是焊接材料生产的重要粘接剂和电弧稳定剂，其质量直接关系到产品性能的好坏。对液体水玻璃化学成分的检测目前一般都是采用化工行业标准HG/T2830-2009《工业硅酸钾钠》，采用重量法测定K2O、酸碱中和滴定法测定SiO2及Na2O、比浊法测定S。其中，水玻璃测定大都采用容量法测钾钠合量，用差减法减去四苯硼钠重量法测得的K2O，得到Na2O的含量；SiO2则采用氟化取代滴定容量法进行测定。仅仅测三个元素就如此耗时且过程繁杂，测定的元素也有限，不能满足水玻璃在线分析和科研要求，尤其是现有方法的信息量太小，不能对水玻璃产品质量作出更加全面的分析；因而制约了对水玻璃产品的评价和认。而目前广泛使用的下照式x射线荧光光谱仪又不能直接对液体水玻璃进行测定，因为x射线光管在待测试样测量面的下方，稍有不慎，液体滴落会烧毁x射线光管。
[0003] 高端焊接材料对不同技术指标的水玻璃质量要求苛刻。具有上百年历史、世界著名的一流焊材品牌企业：日本神刚、美国林肯、德国伯乐蒂森、瑞士奥林康等大都选购某国外名牌优质水玻璃，它在焊接材料的抗吸潮、低烟尘等方面的焊接工艺表现尤为独特优异。而国产水玻璃产品单一且品质不佳，主要表现在：浑浊、有悬浮物、易分层、颜色深及杂质高、性能稳定性差，不能满足特种高端焊接材料研发和生产需要。因此，发明水玻璃国内外质量差异的检测方法就显得迫切而重要。
发明内容
[0004] [要解决的技术问题]
[0005] 本发明的目的是解决上述现有技术的问题，提供一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃化学成分的方法。该方法简单、快捷，并且信息量大，准确。
[0006] [技术方案]
[0007] 为了达到上述的技术效果，本发明采取以下技术方案：
[0009] 一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法，它包括以下步骤：
[0010] A，样品的制备
[0011] 首先，称取液体水玻璃于铂金坩埚内，然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6：5：0.5～1：0.015～0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂；然后在低温电炉上烤干水分后，在温度为690～720℃的条件下预氧化2～4min；接着升温至1050～1070℃，熔融6～8min，混匀，冷却，得到所述样品；
[0012] B，样品的测定
[0013] 用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
[0014] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤A中，所述熔剂是一种混合熔剂，其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成。
[0015] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤A中，所述氧化剂为硝酸铵；所述脱模剂为溴化锂。
[0016] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤A中，所述熔融的过程中，需摇动坩埚，将气泡赶尽。
[0017] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤B中，所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA，铍窗厚度为75μm。
[0018] 下面将详细地说明本发明。
[0019] 一种下照式X射线荧光光谱仪测定液体水玻璃的方法，它包括以下步骤：
[0020] A，样品的制备
[0021] 首先，称取液体水玻璃于铂金坩埚内，然后按水玻璃、熔剂、氧化剂与脱模剂的质量比为0.6：5：0.5～1：0.015～0.02加入熔剂、氧化剂与脱模剂；然后在低温电炉上烤干水分后，在温度为690～720℃的条件下预氧化2～4min；接着升温至1050～1070℃，熔融6～8min，混匀，冷却，得到所述样品；
[0022] B，样品的测定
[0023] 用下照式X射线荧光光谱仪分析步骤A得到的样品中的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
[0024] 由于本发明后期需要与标准样品进行比对，因此，在样品的制备上需要和标准样品保持一致，以消除制备过程中产生的误差，避免影响结果的比对。
[0025] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤A中，所述熔剂是一种混合熔剂，其是由质量比为4.5:1:0.4的四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂混合而成。
[0026] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤A中，所述氧化剂为硝酸铵；所述脱模剂为溴化锂。
[0027] 因为考虑到本发明测定的是水玻璃里面的Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2化合物，因此，在混合熔剂、氧化剂和脱模剂的选择上避免选择铝、钙、镁、铁、钾、钠、硅的化合物，避免对真正测试的化合物产生影响。其中，K2O、Na2O、SiO2化合物为水玻璃的主含量化合物，其余的化合物在水玻璃中的含量较少。
[0028] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤A中，所述熔融的过程中，需摇动坩埚，将气泡赶尽。
[0029] 在使用X射线荧光光谱仪测定时，气泡对X荧光强度有一定的影响，因此应尽量避免气泡的产生。
[0030] 根据本发明更进一步的技术方案，在步骤B中，所述下照式X射线荧光光谱仪的参数为X射线管管压4.0KW、管流160mA，铍窗厚度为75μm。
[0031] 一般来说，上照式最大的优点在于分析粉末压片、疏松粉末和液体样品时，样品破损不会损坏X射线管，但上照式结构装样、卸样比较麻烦，需要一套复杂的机械进样装置，上照式荧光分析仪样品到X射线管的距离每次都需要定位，如果出现误差的话对分析结果产生很大的影响；下照式不需要复杂的进样装置，样品到X射线管的距离固定，下照式结果更加有利于空间的利用，并且下照式的检测准确度更高，但下照式结构最大的问题在于破损的样品会污染X射线管，造成较大的损害。因此，本发明通过改进液体水玻璃为固体玻璃，避免液体水玻璃在测定过程中污染X射线管。
[0032] [有益效果]
[0033] 本发明与现有技术相比，具有以下的有益效果：
[0035] 2，本发明测定方法获得的信息量大，并且本方法大量用于产品分析和高端水玻璃产品研制，均取得良好效果；
[0036] 3，本发明的测定方法对下照式X射线荧光光谱仪的损害小，污染小。
具体实施方式
[0037] 下面结合本发明的实施例对本发明作进一步的阐述和说明。
[0038] 在测定水玻璃样品前，需要对水玻璃标准样品进行定值：依据化工行业标准HG/T2830-2009《工业硅酸钾钠》和国家标准GB/T4209-2008《工业硅酸钠》，对各类型液体水玻璃样品中K2O、Na2O、SiO2、S含量进行化学分析定值，只有当各检测项目的测量结果均满足以上标准方法中的相应规定，才能将该液体水玻璃样品作为标准样品。
[0039] 本发明测定的标准样品组分元素含量范围如表1所示。
[0040] 表1 标准样品组分元素含量范围
[0041]
[0042] 本发明使用的仪器为：Axios mAX X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科)、SST陶瓷超尖锐x射线光管、SuperQ5.0k软件；TNBDRYL～02电加热熔样机(河南洛阳特耐实验设备有限公司，熔样最高温度1100℃)。
[0043] 下面表2为本发明使用的下照式X射线荧光光谱仪的待测元素测量条件。
[0044] 表2 下照式X射线荧光光谱仪的待测元素测量条件
[0045]
[0046]
[0047] 实施例1：
[0048] A，样品的制备
[0049] 直接将0.6000g水玻璃液体称入熔片专用的铂金坩埚中，加混合熔剂5.0000g(Li2B4O7:LiBO2:LiF＝4.5:1:0.4)、氧化剂0.50克NH4NO3、脱模剂LiBr：15毫克。低温电炉上烤干水分后，在700℃预氧化2分钟，升温至1050℃，熔融及摇动6分钟。其间摇动坩埚，将气泡赶尽，使熔融物混匀，然后冷却，取出样片，备用。
[0050] B，样品的测定
[0051] 用下照式x射线荧光光谱分析测定Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
[0052] 同时，将步骤A得到的样品用国标法即HG/T2830-2009法测定主要含量的元素——K2O、Na2O、SiO2含量；用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定次要含量的元素——Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3含量。
[0053] 本实施例的测定结果与国标法的测定结果对比结果如表3所示。
[0054] 表3 本实施例1的水玻璃样品国标法与本方法测定的结果对比表
[0055]
[0056]
[0057] 从表3中可以看出，本发明的方法测定水玻璃中主含量时，其结果与国标法的结果吻合。而水玻璃中低含量的杂质元素Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3的测定结果与电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)的结果基本吻合。
[0058] 实施例2
[0059] A，样品的制备
[0060] 直接将0.6000g水玻璃液体称入熔片专用的铂金坩埚中，加混合熔剂5.0000g(Li2B4O7:LiBO2:LiF＝4.5:1:0.4)、氧化剂1.00克NH4NO3、脱模剂LiBr：20毫克。低温电炉上烤干水分后，在700℃预氧化2分钟，升温至1050℃，熔融及摇动6分钟。其间摇动坩埚，将气泡赶尽，使熔融物混匀，然后冷却，取出样片，备用。
[0061] B，样品的测定
[0062] 用下照式x射线荧光光谱分析测定Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
[0063] 实施例3
[0064] A，样品的制备
[0065] 直接将0.6000g水玻璃液体称入熔片专用的铂金坩埚中，加混合熔剂5.0000g(Li2B4O7:LiBO2:LiF＝4.5:1:0.4)、氧化剂0.70克NH4NO3、脱模剂LiBr：17毫克。低温电炉上烤干水分后，在700℃预氧化2分钟，升温至1050℃，熔融及摇动6分钟。其间摇动坩埚，将气泡赶尽，使熔融物混匀，然后冷却，取出样片，备用。
[0066] B，样品的测定
[0067] 用下照式x射线荧光光谱分析测定Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O、SiO2含量。
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