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一种液晶模组光学检测方法

阅读：467发布：2021-06-06

专利汇可以提供一种液晶模组光学检测方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本发明涉及一种液晶模组光学检测方法，包括检测装置，检测方法包括如下步骤：第一步，放置液晶模组（3）到测试平台（2）上，并使得两者具有共同的中心；第二步，调整旋转盘4的角度，使得激发光源 5的照射角度经过液晶模组3的中心处，并使得激发光源5发射出的光线和液晶模组3呈现30-60°的角度，启动伺服电机 1转动；第三步，开启相机7，利用相机7连续拍摄，拍摄的间隔为0.1秒一张，拍摄完的图像发给控制系统，控制系统对图像进行分析处理。本装置能够方便对液晶模组表面的平整度进行检测。，下面是一种液晶模组光学检测方法专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种液晶模组光学检测方法，包括检测装置，所述检测装置包括，伺服电机（1）、通过所述伺服电机（1）驱动进行转动的测试平台（2），所述测试平台（2）上放置有待检测液晶模组（3），还包括用于向液晶模组（3）射入的光源的线性激发光源（5），以及位于所述测试平台（2）上方的反射板（8），所述反射板（8）上阵列设置有不同颜色的三角形凸条（9），其特征在于，检测方法包括如下步骤：
第一步，放置液晶模组（3）到测试平台（2）上，并使得两者具有共同的中心；
第二步，调整旋转盘（4）的角度，使得激发光源（5）的照射角度经过液晶模组（3）的中心处，并使得激发光源（5）发射出的光线和液晶模组（3）呈现30-60°的角度，启动伺服电机（1）转动；
第三步，开启相机（7），利用相机（7）连续拍摄，拍摄的间隔为0.1秒一张，拍摄完的图像发给控制系统，控制系统对图像进行分析处理。
2.根据权利要求1所述的一种液晶模组光学检测方法，其特征在于，所述第三步具体为：
获取图像，截取反射光线位于一个三角形凸条上的图像；
将图像转化为灰度模式，计算各像素点灰度值，将像素点中任意相邻两个像素点的灰度值进行比较，若相邻两个像素点的灰度值比值为0.9 1之间，则将这两个相邻像素即为同~
一类像素点，这些同一类像素点会形成图像点，得到多个图像点后形成了两个区域，其中一个区域为凸条本身的图像，一个区域为反射光线的图像，统计反射光线图像的像素数量；
在反射光线图像的外部，套设一个能够包括反射光线图像的最小矩形，计算矩形内所有的像素数量，统计反射光线图像的像素数量占矩形内所有的像素数量的占比，如果该占比小于95%，则认为该反射光线图像中有超出正常反射光线外部的凸起，该凸起即为平整度有缺陷的点。
3.根据权利要求1所述的一种液晶模组光学检测方法，其特征在于：所述第二步中，所述激发光源5射出的光线和三角形凸条（9）的尖部平行。
4.根据权利要求1所述的一种液晶模组光学检测方法，其特征在于：所述伺服电机（1）还连接有减速箱，所述减速箱连接有所述测试平台（2）。
5.根据权利要求1所述的一种液晶模组光学检测方法，其特征在于：所述三角形凸条（9）为至少两种颜色的涂装间隔设置。
6.根据权利要求1所述的一种液晶模组光学检测方法，其特征在于：所述激发光源（5）为红色激光光源。

说明书全文

一种液晶模组光学检测方法

技术领域

[0001] 本发明涉及液晶模组技术领域，具体涉及一种液晶模组光学检测方法。

背景技术

[0002] 随着科技的发展，液晶显示器 (Liquid Crystal Display，LCD) 由于体积小、厚度薄、重量轻及低功耗而广泛应用在个人电脑、移动电话、电视及监视器等电子产品。

[0003] 液晶显示器在制造生产后需要对其表面的平整度进行检测，平整度检测也叫正面度检测、共面度检测，平整度检测系统专门用于检测各种IC芯片、电子连接器等各种电子元器件的针脚的水平直线度、共面度、间隙、针脚宽度等指标，目前大量电子产品生产厂商开始应用机器视觉检测系统替代原始的人工检测方式，进行简单设定后，即可自动识别、检测，无需人员操作，但现有的平整度检测装置使用时，还是有价格昂贵的缺点，同时机构复杂，不利于大规模生产使用。

发明内容

[0004] 为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种液晶模组光学检测方法。

[0005] 本发明的技术方案如下：一种液晶模组光学检测方法，包括检测装置，所述检测装置包括，伺服电机（1）、通过所述伺服电机（1）驱动进行转动的测试平台（2），所述测试平台（2）上放置有待检测液晶模组（3），还包括用于向液晶模组（3）射入的光源的线性激发光源（5），以及位于所述测试平台（2）上方的反射板（8），所述反射板（8）上阵列设置有不同颜色的三角形凸条（9），其特征在于，检测方法包括如下步骤：
第一步，放置液晶模组（3）到测试平台（2）上，并使得两者具有共同的中心；
第二步，调整旋转盘（4）的角度，使得激发光源（5）的照射角度经过液晶模组（3）的中心处，并使得激发光源（5）发射出的光线和液晶模组（3）呈现30-60°的角度，启动伺服电机（1）转动；
第三步，开启相机（7），利用相机（7）连续拍摄，拍摄的间隔为0.1秒一张，拍摄完的图像发给控制系统，控制系统对图像进行分析处理。

[0006] 进一步的，获取图像，截取反射光线位于一个三角形凸条上的图像；
将图像转化为灰度模式，计算各像素点灰度值，将像素点中任意相邻两个像素点的灰度值进行比较，若相邻两个像素点的灰度值比值为0.9 1之间，则将这两个相邻像素即为同~
一类像素点，这些同一类像素点会形成图像点，得到多个图像点后形成了两个区域，其中一个区域为凸条本身的图像，一个区域为反射光线的图像，统计反射光线图像的像素数量；
在反射光线图像的外部，套设一个能够包括反射光线图像的最小矩形，计算矩形内所有的像素数量，统计反射光线图像的像素数量占矩形内所有的像素数量的占比，如果该占比小于95%，则认为该反射光线图像中有超出正常反射光线外部的凸起，该凸起即为平整度有缺陷的点。

[0007] 进一步的，所述第二步中，所述激发光源5射出的光线和三角形凸条（9）的尖部平行。

[0008] 进一步的，所述伺服电机（1）还连接有减速箱，所述减速箱连接有所述测试平台（2）。

[0009] 进一步的，所述三角形凸条（9）为至少两种颜色的涂装间隔设置。

[0010] 进一步的，所述激发光源（5）为红色激光光源。

[0011] 借由上述方案，本发明至少具有以下优点：本装置能够方便对液晶模组表面的平整度进行检测，在液晶模组表面有较大的缺陷的时候，可以通过观察三角形凸条方便知道结果，在液晶模组表面的缺陷不大的时候可以通过控制系统对图像进行处理，知道相关结果。

[0012] 上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

[0013] 为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某个实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

[0014] 图1是本发明检测的结构示意图；图2是本发明检测正常和异常的示意图；
图中：
1-伺服电机；2-测试平台；3-液晶模组；301-缺陷处；4-旋转盘；5-激发光源；6-导轨；7-相机；8-反射板；9-三角形凸条。

具体实施方式

[0015] 下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

[0016] 参见图1，本发明一较佳实施例所述的液晶模组光学检测方法，该检测方法用到的硬件如下，安装到地面上的一个伺服电机1，该伺服电机1采用高精度电机，在伺服电机1的驱动端一般连接一个减速箱，在减速箱的驱动端连接了测试平台2，测试平台2是一个平板形状的正方形板块，其中心处连接到减速箱的驱动端上，由于正方形板块是用来放置测试用的液晶模组，在正方形板块的表面还粘贴一层柔性材料，该柔性的材料可以为厚度2-3mm的橡胶垫，也可以为厚度3-5mm的硬海绵，在具体测试的时候，液晶模组是放置到正方形板块上的，柔性材料主要起到两个作用，一个是缓冲作用，对液晶模组进行保护，二是增加正方形板块和液晶模组之间的摩擦力，放置在测试的过程中，液晶模组在正方形板块上面移动。还设置了一个旋转盘4，该旋转盘4安装到测试平台2的斜上方，旋转盘4是可以连接一个电机的驱动端，通过电机可以实现旋转盘的转动，在旋转盘4上是安装了一个激发光源5的，激发光源5为线光源，激发光源5固定在了旋转盘4上，由于旋转盘4是竖直设置的，激发光源5又是垂直连接了旋转盘4，因此，通过调节旋转盘4的转动角度，就能够改变激发光源4照射到液晶模组3上的位置和角度。

[0017] 还包括了位于测试平台2上方的反射板8，反射板8位于测试平台2的正上方，反射板8是和测试平台2平行设置的。

[0018] 反射板8的下表面直线阵列设置了多个三角形凸条9，三角形凸条9之间间隔一个设置不同的颜色。

[0019] 还包括了一个导轨6，导轨6上滑动设置了一个相机7，相机7的摄像口朝向反射板8，相机7是一个高速摄像机。

[0020] 本发明还包括了一个控制系统，该控制系统连接伺服电机1、驱动旋转盘4的电机、相机7，控制系统不仅用于两个电机的控制，还能够接收相机7拍摄的图像，并对该图像进行分析处理，以检测处以上是本发明的硬件装置，本发明具体的测试方法及原理如下。

[0021] 第一步，放置液晶模组3，需要保证液晶模组3在测试平台2上的时候，两者的中心重合，由于液晶模组3一般为方形，测试平台2是正方形的，只需要保证液晶模组3相对设置的两边到测试平台2边缘的距离相等，就能够保证两者具有共同的中心。

[0022] 保证两者具有共同中心的同时，能够保证在旋转的过程中，液晶模组3始终和测试平台具有共同的中心。

[0023] 第二步，调整旋转盘4的角度，使得激发光源5的照射角度经过液晶模组3的中心处，并使得激发光源5发射出的光线和液晶模组3呈现30-60°的角度。启动伺服电机1转动。

[0024] 激发光源5发出的是一种线光源，具体可以选择红色的激光线光源，由于液晶模组3是平面形的，具有反射效果，该装置是为了检测液晶模组3表面的缺陷，检测其表面平整度，激发光源5照射到液晶模组3上之后会反射到反射板8上，在经过反射后，光线会被反射到反射板8上，如果液晶模组3的表面是平整的，其反射到反射板8上三角形凸条9的位置就会与反射正常情况发生变化，由于反射的光线经过了不同的三角形凸条9，通过人眼观察就能够确定液晶模组3的表面是否有缺陷，而如果缺陷的位置比较小，反射过的光线始终在同一个三角形凸条9上，那么就会启用相机7并利用控制系统进行分析。

[0025] 第三步，开启相机7，利用相机7连续拍摄，拍摄的间隔为0.1秒一张，拍摄完的图像发给控制系统，控制系统对图像进行分析处理，具体分析的过程如下。

[0026] 对任意一张图像做如下处理：获取图像，截取反射光线位于一个三角形凸条上的图像；
将图像转化为灰度模式，计算各像素点灰度值，将像素点中任意相邻两个像素点的灰度值进行比较，若相邻两个像素点的灰度值比值为0.9 1之间，则将这两个相邻像素即为同~
一类像素点，这些同一类像素点会形成图像点，得到多个图像点后形成了两个区域，其中一个区域为凸条本身的图像，一个区域为反射光线的图像，统计反射光线图像的像素数量。

[0027] 在反射光线图像的外部，套设一个能够包括反射光线图像的最小矩形，计算矩形内所有的像素数量，统计反射光线图像的像素数量占矩形内所有的像素数量的占比，如果该占比小于95%，则认为该反射光线图像中有超出正常反射光线外部的凸起，该凸起即为平整度有缺陷的点。

[0028] 本装置具有如下优点：本装置能够方便对液晶模组表面的平整度进行检测，在液晶模组表面有较大的缺陷的时候，可以通过观察三角形凸条方便知道结果，在液晶模组表面的缺陷不大的时候可以通过控制系统对图像进行处理，知道相关结果。

[0029] 以上所述仅是本发明的优选实施方式，并不用于限制本发明，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

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