在材料处理系统中监视等离子体的方法和装置
专利汇可以提供在材料处理系统中监视等离子体的方法和装置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 提供一种改进的设备和方法以监视材料处理系统，其中材料处理系统包括 等离子体 处理工具，多个耦合至等离子体处理工具的射频响应 传感器 以产生和发送等离子体数据，和传感器 接口 组件(SIA)以从多个射频响应传感器接收等离子体数据。，下面是在材料处理系统中监视等离子体的方法和装置专利的具体信息内容。
1.一种材料处理系统，包括：
等离子体处理工具，其中等离子体处理工具包括一个处理室；
多个耦合至等离子体处理工具的射频响应等离子体传感器，射频 响应等离子体传感器被配置成可以为等离子体处理工具产生等离子体 数据并发送等离子体数据；以及
传感器接口组件(SIA)，配置成可以从至少一个射频响应等离子 体传感器接收等离子体数据。
2.权利要求1所要求的材料处理系统，其中等离子体数据包括等 离子体密度，等离子体均匀性，等离子体持续时间，等离子体功率， 和等离子体化学中的至少一个。
3.权利要求1所要求的材料处理系统，其中至少一个射频响应等 离子体传感器包括：
过程化学传感器，以产生过程化学数据；以及
耦合到过程化学传感器的射频响应发射器以发送过程化学数据。
4.权利要求3所要求的材料处理系统，其中过程化学数据包括流 率，气体品种，流通时间，排气率，和压力数据中的至少一个。
5.权利要求1所要求的材料处理系统，其中至少一个射频响应等 离子体传感器包括：
等离子体传感器以产生等离子体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器，以发送等离子体数据。
6.权利要求5所要求的材料处理系统，其中等离子体传感器包括 朗缪尔探针，扫描朗缪尔探针，紫外探针，红外探针，微波探针、扫 描光发射光谱仪(OES)，和干涉仪中的至少一个。
7.权利要求1所要求的材料处理系统，其中至少一个射频响应等 离子体传感器被耦合到处理室部件。
8.权利要求7所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响应 等离子体传感器包括：
等离子体传感器，配置成可以为室部件产生等离子体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器，以为室部件发送等离 子体数据。
9.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括一个上部组件，其 中至少一个射频响应等离子体传感器被耦合到上部组件的至少一个部 件。
10.权利要求9所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器包括：
等离子体传感器，用以为上部组件的该至少一个部件产生等离子 体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器，以对于上部组件的该 至少一个部件发送等离子体数据。
11.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括基片握持器，其 中至少一个射频响应等离子体传感器被耦合至该基片握持器。
12.权利要求11所要求的材料处理系统，其中该基片握持器包括 卡盘，静电卡盘(ESC)，护罩，聚焦环，挡板，和电极中的至少一种。
13.权利要求11所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器包括：
等离子体传感器，用以为基片握持器产生等离子体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器，以为基片握持的发送 等离子体数据。
14.权利要求11所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器包括：
等离子体传感器，用以为在基片握持器上的晶片产生等离子体数 据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器，以为该晶片发送等离 子体数据。
15.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括一个环，其中至 少一个射频响应等离子体传感器被耦合至该环。
16.权利要求15所要求的材料处理系统，其中该环包括聚焦环， 屏蔽环，电极环，和绝缘体环中的至少一种。
17.权利要求15所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器包括：
等离子体传感器，用以为该环产生等离子体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器，以为该环发送等离子 体数据。
18.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括一平板，其中至 少一个射频响应等离子体传感器被耦合至该平板。
19.权利要求18所要求的材料处理系统，其中该平板包括排气平 板，挡气平板，电极平板，和绝缘体平板中的至少一种。
20.权利要求18所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器包括：
等离子体传感器，用以为平板产生等离子体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器以为平板发送等离子体 数据。
21.权利要求5所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器还包括耦合至该等离子体传感器和该射频响应发射 器中至少一个的计时器。
22.权利要求5所要求的材料处理系统，其中射频响应发射器包 括天线，用以发送响应信号，以及耦合至天线的发射器，其中该发射 器被配置成可以用等离子体数据来调制和/或编码响应信号。
23.权利要求5所要求的材料处理系统，其中该射频响应等离子 体传感器还包括功率源，该功率源耦合至等离子体传感器和射频响应 发射器中的至少一个。
24.权利要求23所要求的材料处理系统，其中该功率源包括用来 把从等离子体相关信号所发射的能量转换为直流信号的射频-直流转 换器，用来把非等离子体相关信号转换为直流信号的射频-直流转换 器，直流-直流转换器，和电池中的至少一个。
25.权利要求24所要求的材料处理系统，其中该功率源把直流信 号提供给等离子体传感器。
26.权利要求24所要求的材料处理系统，其中该功率源把直流信 号提供给射频响应发射器。
27.权利要求5所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器还包括控制器，该控制器耦合至等离子体传感器和 射频响应发射器中的至少一个。
28.权利要求27所要求的材料处理系统，其中该控制器包括微处 理器，微控制器，计时器，数字信号处理器(DSP)，存储器，接收器， A/D转换器，D/A转换器中的至少一个。
29.权利要求1所要求的材料处理系统，其中至少一个射频响应 等离子体传感器包括：
等离子体传感器以产生等离子体数据；
耦合至等离子体传感器的射频响应发射器以发送等离子体数据； 以及
接收器，它耦合至等离子体传感器和射频响应发射器中的至少一 个。
30.权利要求29所要求的材料处理系统，其中该射频响应发射器 包括天线和背散射调制器。
31.权利要求29所要求的材料处理系统，其中该射频响应发射的 包括天线，用以发送响应信号，以及耦合至天线的发射器，其中发射 器被配置成可以用等离子体数据来调制和/或编码该响应信号。
32.权利要求31所要求的材料处理系统，其中该射频响应发射器 还包括射频-直流转换器，直流-直流转换器，和电池中的至少一个。
33.权利要求29所要求的材料处理系统，其中该射频响应等离子 体传感器还包括至少功率源，功率源用射频-直流转换器，直流-直 流转换器，和电池中的至少一个来产生直流信号。
34.权利要求29所要求的材料处理系统，其中该接收器包括天线 和处理器，该天线被用来接收输入信号，该处理器被配置成可以用该 输入信号来产生操作数据，并用此操作数据来控制该射频响应发射器， 该接收器，和该等离子体传感器中的至少一个。
35.权利要求34所要求的材料处理系统，其中该接收器还包括用 以把从过程相关信号发射的能量转换为直流信号的射频-直流转换 器，用以把非过程相关信号转换为直流信号的射频-直流转换器，直 流-直流转换器，和电池中的至少一个。
36.权利要求29所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器还包括控制器，该控制器耦合到接收器，等离子体 传感器，和射频响应发射器中的至少一个。
37.权利要求36所要求的材料处理系统，其中该控制器包括微处 理器，微控制器，数字信号处理器(DSP)，存储器，A/D转换器，和 D/A转换器中的至少一个。
38.权利要求1所要求的材料处理系统，其中至少一个射频响应 等离子体传感器包括：
等离子体传感器以产生等离子体数据；以及
耦合至等离子体传感器的射频响应收发器，以发送等离子体数据。
39.权利要求38所要求的材料处理系统，其中该射频响应收发器 包括天线，用以发送响应信号，耦合至天线的发射器，其中该发射器 被配置成可用等离子体数据来调制和/或编码该响应信号，第二天线， 接收器，和处理器，该第二天线被用来接收输入信号，该接收器被配 置成可以用输入信号来产生操作数据，该处理器被配置成可以用操作 数据来控制该射频响应收发器。
40.权利要求38所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器还包括控制器，该控制器耦合至等离子体传感器和 射频响应收发器中的至少一个。
41.权利要求40所要求的材料处理系统，其中该控制器包括微处 理器，微控制器，数字信号处理器(DSP)，计时器，存储器，A/D转 换器，和D/A转换器中的至少一个。
42.权利要求38所要求的材料处理系统，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器还包括至少功率源，它耦合至等离子体传感器和射 频响应收发器中的至少一个，功率源包括射频-直流转换器，直流- 直流转换器，和电池中的至少一个。
43.权利要求1所要求的材料处理系统，其中SIA包括：
接收器，用以接收响应信号，该响应信号包括从至少一个射频响 应等离子体传感器来的等离子体数据；以及
发射器，用以向该至少一个射频响应等离子体传感器发送输入信 号，其中该输入信号引起该至少一个射频响应等离子体传感器向接收 器送出响应信号。
44.权利要求1所要求的材料处理系统，其中该材料处理系统还 包括：
耦合至SIA的控制器，该控制器被用来分析等离子体数据，其中 该控制器把等离子体数据与目标电性能数据加以比较，并用这种比较 来改变一个过程。
45.权利要求1所要求的材料处理系统，其中该材料处理系统还 包括：
耦合至SIA的控制器，该控制器被用来分析等离子体数据，其中 该控制器把等离子体数据与历史上的等离子体数据加以比较，并用这 种比较来预示一种故障。
46.权利要求1所要求的材料处理系统，其中该材料系统还包括：
耦合至SIA的控制器，该控制器被用以分析等离子体数据，其中 该控制器把等离子体数据和历史上的等离子体数据加以比较，并用这 种比较来宣布一种故障。
47.权利要求1所要求的材料处理系统，其中该材料处理系统还 包括：
耦合至SIA的控制器，该控制器用来向SIA提供指令数据。
48.权利要求1所要求的材料处理系统，其中该材料处理系统还 包括：
耦合至SIA的控制器，该控制器用以分析等离子体数据和控制处 理工具。
49.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括射频系统，其中 一个射频响应等离子体传感器被耦合至至少一个射频系统部件。
50.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括气体供给系统， 其中一个射频响应等离子体传感器被耦合至至少一个气体供给系统部 件。
51.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括转移系统，其中 一个射频响应等离子体传感器被耦合至至少一个转移系统部件。
52.权利要求1所要求的材料处理系统，还包括排气系统，其中 一个射频响应等离子体传感器被耦合至至少一个排气系统部件。
53.权利要求1所要求的材料处理系统，其中材料处理系统还包 括：
耦合至SIA的控制器，该控制器用以分析等离子体数据并用此分 析结果来决定何时对处理工具进行维护。
54.一种射频响应等离子体传感器，包括：
等离子体传感器，为在材料处理系统中的一个部件产生等离子体 数据；以及
和该等离子体传感器耦合的射频响应发射器，以为该部件发送等 离子体数据。
55.权利要求54所要求的射频响应等离子体传感器，其中该部件 是一个腐蚀系统的一部分。
56.权利要求54所要求的射频响应等离子体传感器，其中该部件 是一个淀积系统的一部分。
57.权利要求54所要求的射频响应等离子体传感器，其中该部件 是一个清洗系统的一部分。
58.权利要求54所要求的射频响应等离子体传感器，其中该部件 是一个转移系统的一部分。
59.一种等离子体处理系统，包括：
处理工具，其中该处理工具包括一个等离子体室；
多个直流电合至该处理工具的射频响应等离子体传感器以产生和 发送等离子体数据，其中至少一个射频响应等离子体传感器被耦合到 等离子体室；以及
传感器接口组件(SIA)，用以接收从多个射频响应等离子体传感 器送来的等离子体数据。
60.权利要求59所要求的材料处理系统，其中该处理系统还包括：
耦合至SIA的控制器，该控制器被用以分析等离子体数据以及控 制等离子体处理系统。
61.一种监视包括一个处理工具的材料处理系统的方法，其中该 处理工具包括至少一个处理室，该方法包括：
提供耦合至处理工具的射频响应等离子体传感器，其中该射频响 应等离子体传感器被用以产生和发送等离子体数据；以及
提供传感器接口组件(SIA)，其中SIA被用以从射频响应等离子 体传感器接收等离子体数据。
62.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
产生等离子体数据；以及
发送等离子体数据，其中射频响应等离子体传感器接收包括操作 数据的输入信号并用该操作数据以响应信号来发送等离子体数据。
63.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
产生等离子体数据；以及
发送等离子体数据，其中该等离子体数据包括淀积数据和腐蚀数 据中的至少一个。
64.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把至少一个射频响应等离子体传感器耦合至一个室部件；
为室部件产生等离子体数据；以及
为室部件发送等离子体数据，其中该至少一个射频响应等离子体 传感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感器的射频响应发射 器。
65.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
把至少一个射频响应等离子体传感器耦合至上部组件的一个部 件；
对于上部组件的该部件产生等离子体数据；以及
对上部组件的该部件发送等离子体数据，其中该至少一个射频响 应等离子体传感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感器的射 频响应发射器。
66.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把至少一个射频响应等离子体传感器耦合至一个基片握持器；
为基片握持器产生等离子体数据；以及
为基片握持器发送等离子体数据，其中该至少一个射频响应等离 子体传感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感器的射频响应 发射器。
67.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把至少一个射频响应等离子体传感器耦合至一个晶片；
为该晶片产生等离子体数据；以及
为该晶片发送等离子体数据，其中该至少一个射频响应等离子体 传感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感器的射频响应发射 器。
68.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把射频响应等离子体传感器耦合到转移系统部件，射频系统部件， 气体供给系统部件，和排气系统部件中的至少一个；
为该部件产生等离子体数据；以及
为该部件发送等离子体数据，其中该至少一个射频响应等离子体 传感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感器的射频响应发射 器。
69.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把至少一个射频响应等离子体传感器耦合至一个环；
为该环产生等离子体数据；以及
为该环发送等离子体数据，其中该至少一个射频响应等离子体传 感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感器的射频响应发射 器。
70.权利要求69所要求的监视材料处理系统的方法，其中该环包 括聚焦环，屏蔽环，淀积环，电极环和绝缘体环中的至少一种。
71.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把至少一个射频响应等离子体传感器耦合至一个平板；
为该平板产生等离子体数据；以及
为该平板发送等离子体数据，其中该至少一个射频响应等离子体 传感器包括等离子体传感器和耦合至该等离子体传感器的射频响应发 射器。
72.权利要求71所要求的监视材料处理系统的方法，其中该平板 包括阻挡板，排气板，电极板，和注入板中的至少一种。
73.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
把至少一个功率源耦合至一个射频响应等离子体传感器，其中该 射频响应等离子体传感器包括等离子体传感器和耦合至等离子体传感 器的射频响应发射器；
产生直流信号；以及
把该直流信号供给至该射频响应发射器和该等离子体传感器中的 至少一个。
74.权利要求73所要求的监视材料处理系统的方法，其中该方法 还包括：
用电池，滤波器，射频-直流转换器，和直流-直流转换器中的 至少一个来产生直流信号。
75.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
用SIA发送输入信号，该SIA包括发射器，其中该输入信号包括 操作数据；以及
接收等离子体数据，其中该SIA包括接收器，用以从至少一个射 频响应等离子体传感器接收响应信号。
76.权利要求75所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
产生等离子体数据；以及
发送等离子体数据，其中该射频响应等离子体传感器接收输入信 号并用操作数据来以响应信号发送等离子体数据。
77.权利要求61所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
用SIA来发送输入信号，该SIA包括发射器，其中输入信号包括 操作数据；
接收输入信号，其中射频响应等离子体传感器包括接收器，用以 接收该输入信号并从输入信号来得到操作数据；
产生等离子体数据，其中射频响应等离子体传感器包括等离子体 传感器，用以产生等离子体数据；
发送等离子体数据，其中射频响应等离子体传感器包括发射器， 用以用响应信号来发送等离子体数据；以及
接收等离子体数据，该SIA包括接收器，用以从至少一个射频响 应等离子体传感器接收该响应信号。
78.权利要求77所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
当等离子体没有正在被产生时用SIA来发送输入信号；
当等离子体没有正在被产生时，接收该输入信号。
79.权利要求77所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
当一个过程正在被进行时，产生等离子体数据；
当等离子体没有正在被产生时，用射频响应等离子体传感器来发 送响应信号；以及
当等离子体没有正在被产生时，接收响应信号。
80.权利要求77所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
存储等离子体数据，其中该射频响应等离子体传感器包括存储器 用以存储等离子体数据。
81.权利要求77所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
提供直流信号，其中该射频响应等离子体传感器包括功率源，用 以产生直流信号并把该直流信号供给至射频响应等离子体传感器接收 器和射频响应等离子体传感器发射器中的至少一个。
82.权利要求81所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
提供直流信号，其中该射频响应等离子体传感器包括功率源，用 以通过把至少一个等离子体相关频率转换为直流信号来产生直流信 号。
83.权利要求81所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
提供直流信号，其中该射频响应等离子体传感器包括功率源，用 以通过把至少一个非等离子体相关频率转换为直流信号来产生直流信 号。
84.权利要求81所要求的监视材料处理系统的方法，该方法还包 括：
提供直流信号，其中射频响应等离子体传感器包括功率源，用以 通过把输入信号的一部分转换为直流信号来产生直流信号。
85.权利要求54所要求的射频响应等离子体传感器，其中等离子 体数据包括部件标志，等离子体密度，等离子体均匀性，等离子体持 续时间，等离子体功率和等离子体化学中的至少一个。
技术领域
本发明涉及在一个处理系统中监视一个过程，以及更具体地讲， 用带有一个积分传输器件的一个监视装置来监视一个过程。
背景技术
例如在一个腐蚀过程中，当确定等离子处理系统的状态和确定正 在生产的器件质量时监视等离子体处理系统可以是非常重要的。附加 的过程数据可以用来防止关于系统状态和正在生产的产品的状态的错 误的结论。例如，一个等离子体处理系统的连续使用能够导致等离子 体处理性能的逐渐恶化，最终导致系统的完全失效。附加的过程有关 数据和装置有关数据将改进等离子体处理系统的管理以及正在生产的 产品质量。
发明内容
本发明提供一种设备和方法以监视在一个材料处理系统中的一个 等离子体过程，更具体地讲，提供一个具有积分传输器件的等离子体 监视装置以及一种用一个具有积分传输器件的等离子体监视装置来监 视在材料处理系统中一个等离子体过程的方法。
本发明也提供了在一个材料处理系统中监视一个过程的一种手 段，它包括至少一个耦合到至少一个传感器接口组件(SIA)的射频 响应传感器。
附图说明
从下面本发明示例性实施方案的详细叙述并结合附图，本发明的 这些和其它优点将变得更加清楚和更加容易领会，其中
图1给出按照本发明的一个实施方案，材料处理系统的一个简化 框图；
图2给出按照本发明的一个实施方案，射频响应等离子体传感器 和传感器接口组件的一个简化框图；
图3a-3c给出按照本发明的几个实施方案，射频响应等离子体传 感器的简化框图；
图4a-4c给出按照本发明的另外几个实施方案，射频响应等离子 体传感器的简化框图；
图5a-5c给出按照本发明的另外几个实施方案，射频响应等离子 体传感器的简化框图；
图6a-6c给出按照本发明的几个实施方案，传感器接口组件的简 化框图；
图7a-7c给出按照本发明的另外几个实施方案，传感器接口组件 的简化框图；
图8a-8c给出按照本发明的另外几个实施方案，传感器接口组件 的简化框图；以及
图9给出按照本发明一个实施方案，监视一个材料处理系统的方 法。
具体实施方式
图1给出按照本发明的一个实施方案，一个材料处理系统的简化 框图。例如，材料处理系统100能够包含一个腐蚀系统，诸如一个等 离子体腐蚀器。材料处理系统100也能够包含一个涂光刻胶系统，如 一个光刻胶旋涂系统，和/或材料处理系统100能够包含一个光刻胶成 图系统，诸如一个光刻系统。在另一个实施方案中，材料处理系统100 能够包含一个电介质涂覆系统，诸如一个玻璃上旋涂(Spin-on-glass， SOG)或电介质上旋涂(Spin-on-dielectri，SOD)系统。在另一个实 施方案中，材料处理系统100能够包含一个淀积室，诸如一个化学蒸 汽淀积(CVD)系统，一个物理蒸汽淀积(PVD)系统，一个原子层 淀积(ACD)系统，和/或其组合。在另一个实施方案中，材料处理系 统100能包含一个热处理系统，诸如一个快速热处理(RTP)系统。 在另一个实施方案中，材料处理系统100能够包含一个批扩散炉或其 它半导体处理系统。
在图中给出的实施方案中，材料处理系统100包含处理室110， 上部组件120，基片握持器130以支持基片135，泵系统160和控制器 170。例如，泵系统160能在处理室110中提供一个可控制的压力。例 如，处理室110能在邻近基片135的一个处理空间115中有利于处理 气体的形成。材料处理系统100能被配置成可以处理200mm基片， 300mm基片，或更大的基片。材料处理系统也能够通过在一个或多个 处理室内产生等离子体来运作。
基片135能用，例如，自动基片转移系统，通过狭缝阀(未画出) 和室供给通道(未画出)来转移进或转移出处理室110，在该转移系 统中，基片用位于基片握持器130内的基片提升针来接收，并用位于 握持器130内的装置来机械移动。一旦从基片转移系统接收到基片 135，就能把基片下降至基片握持器130的一个上表面。
基片135能够用例如一个静电固定系统来粘在基片握持器130上。 另外，基片推持器130还能包括一个冷却系统，它包括一个循环冷却 剂流，以从基片握持器130接收热量并把热量转送到一个热交换系统 (未画出)，或在加热时，把热量从热交换器传送出。另外，气体能够， 例如，通过一个背侧气体系统被传送到基片135的背侧，以改进在基 片135和基片握持器130之间的气-隙热传导。当在较高或较低温度下 需要基片的温度控制时，能够用这样的系统。在其它的实施方案中， 能够包括诸如电阻加热元件这样的加热元件或热电加热器/冷却器。
在另外的实施方案中，基片握持器130能够，例如，还包括一个 垂直移动装置(未画出)，它能够被围以耦合至基片握持器130和处理 室110并用来密封垂直移动装置使之与处理室110的低压气氛隔离的 一个波纹管。另外，一个波纹管护罩(未画出)能够，例如，耦合到 基片握持器130，并用来保护波纹管。基片握持器130能，例如，还 提供一个聚焦环(未画出)，一个屏蔽环(未画出)和一个挡板(未画 出)。
在图1所给出的实施方案中，基片握持器130能够包含一个电极 (未画出)，通过这个电极，射频功率能被耦合到在处理空间115中的 处理气体。例如，基片握持器130能够通过从射频系统150发送射频 功率而电偏置在一个射频电压上。在某些情况下，一个射频偏置能够 被用来加热电子以形成和保持等离子体。射频偏置的典型频率能在 1MHz到100MHz的范围内。例如，用13.56MHz作等离子体处理的 半导体处理系统，对本领域的技术人员是熟知的。
如图1所示，上部组件120能够被耦合到处理室110并用来实现 下述功能中至少一个功能：提供一个气体注入系统，提供一个电容性 耦合等离子体(CCP)源，提供一个电感性耦合等离子体(ICP)源， 提供一个变压器耦合等离子体(TCP)源，提供一个微波供功率的等 离子体源，提供一个电子回旋共振(ECR)等离子体源，提供一个螺 旋波等离子体源，以及提供一个表面波等离子体源。
例如，上部组件120能包含一个电极，一个绝缘环，一个天线， 一个传输线，和/或其它射频部件(未画出)。另外，上部组件120能 包含永久磁铁，电磁铁，和/或其它磁系统部件(未画出)。另外，上 部组件120能包含供给管线，注入装置，和/或其它气体供应系统部件 (未画出)。另外，上部组件120能包含一个室，一个盖，密封装置， 和/或其它机械部件(未画出)。
在另一个实施方案中，处理室110能够，例如，还包含一室衬垫 (未画出)或处理管(未画出)以保护处理室110免受在处理空间115 中的处理等离子体的损伤。另外，处理室110能包含一个监视口(未 画出)。一个监视口能够，例如，允许处理空间115的光学监视。
材料处理系统100还包含至少一个有一个积分传输装置的测量设 备。如图示实施方案所示，至少一个射频响应等离子体传感器190能 被用以产生和发送等离子体数据。例如，室110能够包含至少一个射 频响应等离子体传感器190，和/或上部组件120能包含至少一个射频 响应等离子体传感器190，和/或基片握持器能包含至少一个射频响应 等离子体传感器190。
材料处理系统100还包含至少一个具有一个积分接受装置的接口 设备。如图1所示，一个传感器接口组件(SIA)180能够用来与至少 一个射频响应等离子体传感器190通信。例如，SIA 180能够接收等 离子体数据。
在一个实施方案中，射频响应等离子体传感器190能包含一个传 感器(未画出)和一个发射器(未画出)，而SIA180能包含一个接收 器(未画出)和一个发射器(未画出)。射频响应等离子体传感器190 能用发射器来传送数据，而该SIA180能用接收器来接收传送来的数 据。各个射频响应等离子体，传感器190能用同一或不同频率来运作， 而SIA180能用一个或多个频率来运作。
材料处理系统100还包含一个控制器170。控制器170能够被耦 合到室110，上部组件120，基片握持器130，射频系统150，泵系统 160，和SIA180。控制器能够被配置成可以向SIA提供控制数据和从 SIA接收等离子体数据。例如，控制器170能够包含一个微处理器， 一个存储器(例如易失性和/或非易失性存储器)，和一个数字I/O端 口，该端口能产生多个控制电压，这些电压是以和处理系统100通信 激活对处理系统100的输入，以及监视从处理系统100的输出。另外， 控制器170能够和室110，上部组件120，基片握持器130，射频系统 150，泵系统160，和SIA180交换信息。例如，能够利用存储在存储 器中的一个程序按照一个被存储的处理方案来控制一个材料处理系统 100的上述部件。另外，控制器170能够配置成可以分析等离子体数 据，来把等离子体数据和目标等离子体数据比较，并用这种比较来改 变一个处理过程和/或来控制等离子体处理工具。另外，控制器能够被 配置成可以分析等离子体数据，把等离子体数据和以往的等离子体数 据比较，并用这种比较来预报和/或警告一种故障。
图2给出按照本发明的一个实施方案，一个射频响应等离子体传 感器和一个SIA的简化框图。在所述的实施方案中，SIA180包含SIA 接收器181和SIA发射器182，而射频响应等离子体传感器190包含 等离子体传感器191和射频响应发射器192。
SIA180用通信链接195能够耦合到射频响应电传感器190。例如， 射频响应电传感器190和SIA180能在0.01MHz到110.0GHz的范围 内用一个或多个射频频率来运作。通信链接195也能够包含光学装置。
SIA接收器181能够被配置成可以接收从一个或更多个射频响应 传感器来的信号。例如，SIA接收器181能够配置成可以接收从至少 一个射频响应等离子体传感器来的响应信号，而该响应信号能够包含 数据，此数据能够包括等离子体数据。
另外，SIA发射器182能够配置或可以把信号发送到一个或多个 射频响应等离子体传感器。例如，SIA发射器182能够配置成可以把 一个输入信号发送到至少一个射频响应等离子体传感器，而该输入信 号能够包含数据，此数据能够包括控制数据。
等离子体传感器191能够被配置成可以测量一个或多个与等离子 体有关的性质。例如，等离子体传感器191能够配置成可以产生等离 子体数据，这可以包含等离子体密度，等离子体均匀性，以及等离子 体化学等数据中至少一个，并把这些等离子体数据提供至射频响应发 射器192。
在各个实施方案中，等离子体传感器191能包含一个朗缪尔探针， 一个扫描朗缪尔探针，紫外探针，红外探针，一个扫描光学发射光谱 仪(OES)，以及一个干涉仪中的至少一个。另外，等离子体传感器能 够是窄带或宽带装置，以及等离子体传感器能够测量，存储，和/或处 理等离子体数据。
等离子体传感器191也能进一步包含功率源，接收器，发射器， 控制器，存储器(例如易失性和/或非易失性存储器)，和外壳中的至 少一个。
等离子体传感器191能够配置成可以在一个长时间内或在一个短 时间内产生等离子体数据。例如，一个等离子体传感器能够包含一个 连续工作的计时器和一个触发计时器中至少一个，而一个触发计时器 能够用一个过程相关部件或一个非过程相关部件来触发。一个过程传 感器能够把射频能量转换为直流信号，并用此直流信号来操作该传感 器，以这种方式，过程相关数据，诸如射频小时数据能够被产生出来。
射频响应发射器192能够配置成可以把信号发送到至少一个 SIA180。例如射频响应发射器192能够配置成可以发送一个响应信号， 而该响应信号能够包含数据，该数据能够包括电学数据。另外，该发 射器能够用来处理和发送窄带和宽带信号，包括调幅信号，调频信号， 和/或调相信号。另外，该发射器也能够处理和发送编码信号和/或扩 频信号以在诸如半导体处理设备这样一个高干扰环境内提高其性能。
在各种实施方案中，射频响应发射器192能包括一个功率源，一 个信号源，一个调制器，一个放大器，一个天线，一个存储器(例如 易失性和/或非易失性存储器)，一个外壳，和一个控制器中的至少一 个。在一种情况下，射频响应发射器192能包括一个天线(未画出)， 当位于一个射频场内时，它被用作一个背散射器件。
在另一个实施方案中，射频响应等离子体传感器190还能包含一 个功率源，信号源，接收器，天线，存储器(例如易失性和/或非易失 性存储器)，计时器，外壳，和控制器中的至少一个。另外，射频响应 等离子体传感器190也能进一步包含诸如在同一日期提交的，委托书 编号为231748US6YA，题目为“监视一材料处理系统的方法和装置” 共同未决申请10/＿＿；在同一日期提交的，委托书编号为 231749US6YA，题目为“监视一材料处理系统的方法和装置”共同未 决申请10/＿＿；在同一日期提交的，委托书编号为231750US6YA， 题目为“监视一材料处理系统的方法和装置”共同未决申请10/＿＿； 以及在同一日期提交的，委托书编号为231227US6YA，题目为“在一 材料处理系统中的监视部分的方法和装置”共同未决申请10/＿＿中所 叙述的传感器，所有这些共同未决申请在此插入以供参考。
图3a-3c给出按照本发明的几个实施方案，射频响应等离子体传 感器的简化框图。在所画出的各实施方案中，射频响应等离子体传感 器190包含等离子体传感器191，射频响应发射器192和功率源194。
如图3a中所示，功率源194能和射频响应发射器192耦合。功率 源194也能够安插在射频响应发射器192内部。如图3b中所示，功率 源194能够和等离子体传感器191耦合，功率源194也能够安插在等 离子体传感器191内部。如图3c所示，功率源194也能够和等离子体 传感器191和射频响应发射器192耦合。功率源194也能够安插在等 离子体传感器191内部和安插在射频响应发射器192内部。
功率源194能包含一个射频-直流转换器，一个直流-直流转换 器和一个电池中的一个。例如，射频-直流转换器能包含一个天线， 二极管，和滤波器中至少一个。在一种情况下，射频-直流转换器能 把至少一个等离子体相关频率转换为直流信号。在另一种情况下，一 个射频-直流转换器能把至少一个非等离子体相关频率转换为一个直 流信号。例如，一个输入和/或外部信号能够被提供给转换器。
图4a-4c给出按照本发明其它的实施方案，一个射频响应等离子 体传感器的简化框图。在所画出的各实施方案中，射频响应等离子体 传感器190包含等离子体传感器191，射频响应发射器192和接收器 196。
如图4a中所示，接收器196能被耦合至射频响应发射器192。接 收器196也可以安插在射频响应发射器192内部。如图4b中所示，接 收器196能够被耦合至等离子体传感器191。接收器196也能被安插 在等离子体传感器191内部。如图4c中所示，接收器也能被耦合至等 离子体传感器191和射频响应发射器192。接收器196也能被安插在 等离子体传感器191内部和安插在射频响应发射器192的内部。
接收器196能够包含一个功率源，信号源，天线，降频变频器， 解调器，解码器，控制器，存储器(例如易失性和/或非易失性存储器)， 和转换器中的至少一个。例如，该接收器能够被用来接收和处理包括 调幅信号调频信号和/或调相信号在内的窄带和宽带信号。另外，该接 收器也能接收和处理编码信号和/或扩频信号以在一个诸如半导体处 理设备这样的高干扰环境内提高其性能。该接收器可以从SIA接收要 存储在存储器内的表明状态或部件状况的信号(例如，诸如arcs这样 的出错)。
图5a-5c给出按照本发明另外一些实施方案，射频响应等离子体 传感器的简化框图。在所画出的各实施方案中，射频响应等离子体传 感器190包含等离子体传感器191，射频响应发射器192和控制器198。
如图5a所示，控制器198能被耦合至射频响应发射器192。控制 器198也能被安插在射频响应发射器192内部。如图5b所示，控制器 198能被耦合至等离子体传感器191。控制器198也能被安插在等离子 体传感器191内部。如图5c所示，控制器被耦合至等离子体传感器 191和射频响应发射器192。控制器198也能被安插在等离子体传感器 191内和射频响应发射器192内。
控制器198能包含一个微处理器，微控制器，计时器，数字信号 处理器(DSP)，存储器(例如易失性和/或非易失性存储器)，A/D转 换器，和D/A转换器中的至少一个。例如，控制器可以用来处理从调 幅信号，调频信号，和/或调相信号接收到的数据以及用来处理要在调 幅信号，调频信号或调相信号上要发送的数据。另外，控制器198能 够被用来处理编码和/或扩频信号。控制器198也能被用于存储信息， 诸如测量数据，指令代码，传感器信息，和/或部件信息，这可以包括 传感器标志和部件标志数据。例如，输入信号数据能被提供给控制器 198。
图6a-6c给出按照本发明的各实施方案，一个SIA的简化框图。 在所画出的各实施方案中，SIA180包含SIA接收器181，SIA发射器 182，和功率源184。
SIA发射器182能被配置成可以把一个输入信号发送给至少一个 射频响应等离子体传感器，而该至少一个射频响应等离子体传感器能 够用该输入信号来控制其操作。例如，一个射频响应等离子体传感器 能用该输入信号信息来确定什么时候产生等离子体数据和/或什么时 候发送一个响应信号。
SIA发射器182能包括一个功率源，信号源，天线，升频变频器， 放大器，调制器，编码器，计时器，控制器，存储器(例如，易失性 和/或非易失性存储器)，一个D/A转换器，和一个A/D转换器中的至 少一个。例如，该发射器能被用来处理和发送包括调幅信号，调频信 号和/或调相信号的窄带和宽带信号。另外，SIA发射器182能够配置 成可以处理和发送编码信号和/或扩频信号，以在诸如一个半导体处理 设备这样一个高干扰环境内提高性能。
SIA接收器181能够被配置成可以从至少一个射频响应等离子体 传感器接收一个响应信号，而该响应信号能包含等离子体数据。
SIA接收器181能包含一个功率源，一个信号源，天线，降频变 频器，解调器，解码器，计时器，控制器，存储器(例如，易失性和/ 或非易失性存储器)，一个D/A转换器，和一个A/D转换器中至少一 个。例如，该SIA接收器能被用来接收和处理包括调幅信号，调频信 号和/或调相信号的窄带和宽带信号。另外，SIA接收器181也能够配 置成可以接收和处理编码信号，以在一个诸如半导体处理设备这样一 个高干扰环境内提高性能。
如图6a所示，功率源184能被耦合至SIA发射器182。功率源 184也可被安插在SIA发射器182内。如图6b所示，功率源184能被 耦合至SIA接收器181。功率源184也能被安插在SIA接收器181内 部。如图6c中所示，功率源184能被耦合至SIA接收器181和SIA 发射器182。功率源184也能被安插在SIA接收器181和SIA发射器 182内部。
功率源184能包含一个射频一直流变换器，直流一直流变换器， 一个电池，滤波器，计时器，存储器(例如，易失性和/或非易失性存 储器)，和一个控制器中的至少一个。另外，该功率源也能在室的外部， 并用一条或多条电缆耦合至SIA。
图7a-7c给出按照本发明的其它一些实施方案，一个传感器接口 组件的简化框图。在所画出的实施方案中，SIA180包含SIA接收器 181，SIA发射器182，和控制器186。
如图7a所示，控制器186能被耦合至SIA接收器181。控制器 186也能被安插在SIA接收器181的内部。如图7b所示，控制器186 能被耦合至SIA发射器182。控制器186也能被安插在SIA发射器182 的内部。如图7c所示，控制器186能被耦合至SIA接收器181和SIA 发射器182。控制器186也能被安装插在SIA接收器181和SIA发射 器182的内部。
控制器186能包含一个微处理器，微控制器，数字信号处理器 (DSP)，存储器(例如，易失性和非易失性存储器)，A/D转换器， 和D/A转换器中的至少一个。例如，控制器能被用来处理从响应信号 接收到的数据以及用来处理要在输入信号上被发送的数据。另外，控 制器186能被用来存储信息，诸如测量到的数据，指令代码，传感器 信息，和/或部件信息，这能包括传感器标志和部件标志数据。
图8a-8c给出按照本发明的另外一些实施方案，一个传感器接口 组件的简化框图。在所画出的实施方案中，SIA180包含SIA接收器 181，SIA发射器182，和接口188。
如图8a中所示，接口188能够被耦合至SIA接收器181。接口 188也能被安插在SIA接收器181的内部。如图8b中所示，接口188 能够被耦合至SIA发射器182。接口188也能被安插在SIA发射器182 的内部。如图8c中所示，接口188能够被耦合至SIA接收器181和 SIA发射器182。接口188也能被安插在SIA接收器181和SIA发射 器182的内部。
接口188能够包含一个功率源，一个信号源，一个接收器，一个 发射器，一个控制器，一个处理器，存储器(例如，易失性和/或非易 失性存储器)，和一个转换器中的至少一个。例如，该接口能够用来处 理从一个系统及部件，诸如控制器170(图1)接收到的或送至一个系 统及部件的数据。
本领域的技术人员能认识到，接收器和发射器能结合成一个收发 器。
图9给出按照本发明的一个实施方案，监视材料处理系统的一种 方法。程序900从910开始。
在920中，提供至少一个射频响应等离子体传感器。在一个材料 处理系统中，能够在许多不同位置提供射频响应等离子体传感器。例 如，射频响应等离子体传感器能够位于室壁，上部组件，和基片握持 器内。射频响应等离子体传感器也能够安置在室衬垫(处理管)内， 如果在材料处理系统内用了衬垫的话。另外，射频响应等离子体传感 器能够耦合至一个转移系统部件，一个射频系统部件，一个气体供给 系统部件，和/或一个排气系统部件，如果在该材料处理系统内用了一 个或多个这些部件的话。
一个射频响应等离子体传感器能包含耦合至一个等离子体传感器 的一个射频响应发射器。该等离子体传感器能包含一个朗缪尔探针， 一个扫描朗缪尔探针，一个扫描光学发射光谱仪(OES)，红外探针， 紫外探针和一个干涉仪中的至少一个。
一个等离子体传感器能被配置成可以产生诸如等离子体数据这样 的数据，并把数据提供给一个射频响应发射器。一个等离子体传感器 也能包含一个处理器，存储器(例如，易失性和/或非易失性存储器)， 计时器，和功率源中的至少一个，以及周内部控制程序来产生，存储， 和/或分析诸如等离子体数据这样数据并接着把这些数据供给至射频 响应发射器的传感器，一个等离子体传感器能用一个过程相关和/或非 过程相关的信号来确定什么时候来运作。等离子体传感器也能进一步 包含接收器，发射器，和外壳中的至少一个。
在各个实施方案中，一个射频响应发射器包含一个发射器和一个 天线。例如，该发射器能被配置成可以用数据，诸如等离子体数据来 调制和/或编码一个输入信号，而该天线被配置成可以发送该输入信 号。
在其它情况下，一个射频响应发射器能包含一个调制器和一个天 线，而该调制器能被配置成可以用等离子体数据来调制一个输入信号， 而该天线能被配置成可以发送该调制信号。一个射频发射器也能包含 一个天线和一个背散射调制器(backscatter modulator)。
在930中，提供一个传感器接口组件(SIA)。一个SIA可以提供 在一材料处理系统的多个不同位置上。例如，一个SIA可以位于室壁 内，上部组件内，和基片握持器内。在其它实施方案中，SIA可以安 置在室的外面，如果能够建立它和射频响应等离子体传感器的通信连 系的话。SIA也能够被耦合至一个监视口或其它输入口。
一个SIA能够包含一个接收器，用以接收从至少一个射频响应等 离子体传感器来的响应信号，而该响应信号能够包含数据，诸如等离 子体数据。例如，一个射频响应等离子体传感器能被配置成可以用过 程有关和/或非过程有关的内部控制程序来产生和发送一个响应信号。
另外，该SIA能包括一个发射器，用以把一个输入信号发送至至 少一个射频响应等离子体传感器，而该输入信号能包括对至少一个射 频响应等离子体传感器的操作数据。例如，一个射频响应等离子体传 感器能被配置成当它从一个SIA接收一个输入信号时，可以产生并发 送一个响应信号。
在其它情况下，该SIA能包含一个功率源，它能被耦合至SIA发 射器和SIA接收器。在其它的实施方案中，该SIA包含一个能耦合至 SIA发射器和SIA接收器的控制器。
在940中，用至少一个有等离子体传感器和射频响应发射器的射 频响应等离子体传感器来产生等离子体数据。一个等离子体传感器能 在一个过程前，过程中，或过程后产生等离子体数据。例如，射频响 应等离子体传感器能对室部件，上部组件部件，以及基片握持器部件 产生等离子体数据。另外，一个射频响应等离子体传感器能对室衬垫 (处理管)(如果材料处理系统用了室衬垫的话)产生等离子体数据。 另外，一个射频响应等离子体传感器能够为一个转移系统部件，一个 射频系统部件，一个气体供给系统部件，和/或一个排气系统部件产生 等离子体数据。
例如，射频响应等离子体传感器能够产生等离子体密度，等离子 体均匀性，等离子体时间，和等离子体化学数据中的至少一个。
射频响应等离子体传感器能够被提供在材料处理系统许多个不同 位置内，以及能够被配置成可以在材料处理系统进行一个等离子体过 程前，进行一个等离子体过程中，和/或过程后产生等离子体数据。例 如，射频响应等离子体传感器能够被耦合至一个室部件，一上部组件， 和一个基片握持器中的至少一个，并能够在系统中的不同位置上产生 等离子体数据。另外，一个射频响应等离子体传感器能够为一个室衬 垫(处理管)产生等离子体数据，如果该材料处理系统用了室衬垫的 话。另外，一个射频响应等离子体传感器能为一个气体供给系统和/ 或一个排气系统产生等离子体数据。
在一个或多个实施方案中，一个射频响应等离子体传感器能包含 一个功率源，而该功率源能被配置成可以用等离子体相关的频率来使 射频响应等离子体传感器产生等离子体数据。例如，该功率源能够把 提供给等离子体室的某些射频能量转换成直流信号，并用该直流信号 来操作在射频响应等离子体传感器中的等离子体传感器。射频响应等 离子体传感器也可以包含一个耦合至等离子体传感器的电池，而该直 流信号能被用来使等离子体传感器开始产生等离子体数据。
在其它的实施方案中，一个射频响应等离子体传感器能包含一个 功率源，而该功率源能够被配置成可以用一个非等离子体相关的频率 来使射频响应等离子体传感器产生等离子体数据。例如，该功率源可 以把由输入信号提供的某些射频能量转化成直流信号，并用该直流信 号来操作在射频响应等离子体传感器中的等离子体传感器。射频响应 等离子体传感器也能包含一个耦合至等离子体传感器的电池，而该直 流信号能够被用来使等离子体传感器开始产生等离子体数据。
在另外一些实施方案中，一个射频响应等离子体传感器能够用等 离子体相关的和非等离子体相关的各个频率来产生等离子体数据。在 其它的实施方案中，一个射频响应等离子体传感器能包含一个存储器， 以用来存储等离子体数据。
在950中，至少一个射频响应等离子体传感器用它的射频响应发 射器去发送等离子体数据。例如，一个射频响应发射器能够发送一个 包括等离子体数据的响应信号。在另一个实施方案中，一个射频响应 发射器可以耦合到不止一个等离子体传感器。
射频响应等离子体传感器能够被提供在材料处理系统的许多个不 同位置上，并被配置成可以在材料处理系统进行一个等离子体过程以 前，期间，和/或以后发送等离子体数据。例如，射频响应等离子体传 感器能够被耦合到一个室壁，一个上部组件或一个基片握持以中的至 少一个并能从系统的不同位置发送等离子体数据。另外，一个射频响 应等离子体传感器能从一个室衬垫(处理管)发送等离子体数据，如 果在材料处理系统内用衬垫的话。另外，射频响应等离子体传感器能 够从一个转移系统部件，一个射频系统部件，一个气体供给系统部件， 和/或一个排气系统部件发送等离子体数据。
在某些实施方案中，射频响应等离子体传感器能包含一个功率源， 而该功率源能够被配置成可以用一个等离子体相关频率来使射频响应 等离子传感器发送等离子体数据。例如，该功率源能够把提供给等离 子体室的某些射频能量转换为直流信号并用该直流信号来操作在射频 响应等离子体传感器中的发射器。射频响应等离子体传感器也能包含 一个耦合至发射器的电池，以及能够用该直流信号来使射频响应发射 器开始发射数据。
在其它的一些实施方案中，射频响应等离子体传感器能够包含一 个功率源，以及该功率源能被配置成可以用一个非等离子体相关的频 率来使射频响应等离子体传感器发送等离子体数据。例如，该功率源 能够把由一个输入信号所提供的某些射频能量转换成一个直流信号并 用该直流信号来操作在射频响应等离子体传感器中的发射器。射频响 应等离子体传感器也可以包含一个耦合至发射器的电池并用该输入信 号以使射频响应发射器开始发送数据。
当发送等离子体数据时，在射频响应等离子体传感器中的射频响 应发射器能用一个等离子体相关频率或一个非等离子体相关频率来发 送一个响应信号。
在另外一些实施方案中，射频响应等离子体传感器能包含一个接 收器，它能被用来接收一个输入信号。例如，一个接收器能够被配置 成可以接收一个输入信号并能用此输入信号来产生操作数据的控制该 射频响应等离子体传感器。同样，该输入信号能用等离子体相关和/ 或非等离子体相关频率。
在其它的一些实施方案中，射频响应等离子体传感器能包含一个 存储器，它能用来存储等离子体数据。等离子体数据能在过程的一段 时间内被存储而在过程的另一段不同的时间内被发送。例如，等离子 体数据能在一等离子体事件中被存储而在该等离子件事件已经结束后 被发送。
在另外一些实施方案中，射频响应等离子体传感器能包含一个能 用来控制射频响应等离子体传感器操作的控制器。该控制器能包含操 作数据和/或从SIA接收操作数据。例如，该控制器能够用来确定何时 产生和发送等离子体数据。
在某些实施方案中，射频响应等离子体传感器能包含一个计时器。 计时器能包含一个连续运行计时器和一个触发计时器中的至少一个， 而触发计时器能用一个过程相关或一个非过程相关的频率来触发。例 如，一个计时器能够把射频能量转换为一个直流信号以及用该直流信 号来操作该计时器。以这种方式，射频小时数据就能被产生出来。另 外，计时器也能被为射频响应等离子体传感器所接收的输入信号所触 发。
在960中，能够用一个SIA从一个或多个射频响应等离子体传感 器来接收一个包含等离子体数据的响应信号。例如，在SIA中的接收 器能够被配置成可以在整个过程中或在过程的部分时间内接收一个或 多个响应信号。在某些情况下，当一个射频信号被提供给等离子体室 时，射频响应等离子体传感器能发送等离子体数据。
另外，SIA能够被用来发送一个输入信号至一个或多个射频响应 等离子体传感器。例如，在SIA中的发射器能够被配置成可以在整个 过程中或过程的一部分时间内发送一个或多个输入信号。在某些情况 下，射频响应等离子体传感器当它从SIA接收一个输入信号时能够发 送等离子体数据至SIA。一个输入信号，例如，能包含对于射频响应 等离子体传感器的操作数据。
该SIA能够用内部的和/或外部的控制数据来确定什么时候来接 收和什么时候来发送信号。例如，SIA能够被配置成可以在材料处理 系统进行一个等离子体过程之前，之间和/或之后来运作。
SIA能够提供在材料处理系统内一个或多个位置上。例如，SIA 能够被耦合至一个室壁，一个上部组件，和一个基片握持器中的至少 一个并能从系统内不同位置接收等离子体数据。另外，SIA能够从耦 合至室衬垫(处理管)的射频响应等离子体传感器接收等离子体数据， 如果在材料处理系统内用了室衬垫的话。另外，SIA能够从耦合至一 个转移系统部件，一个时频系统部件，一个气体供给系统部件，和/ 或一个排气系统部件的一个射频响应等离子体传感器接收等离子体数 据。
在某些实施方案中，SIA能包含一个功率源，而该功率源能够被 配置成可以用一等离子体相关频率来使SIA运作。例如，该功率源能 包含一个能把提供给等离子体室的某些射频能量转换为直流信号的射 频-直流转换器，而该直流信号能被用来操作在SIA中的发射器和/ 或接收器。
在另外一些实施方案中，SIA能包含一个功率源，而该功率源能 被配置成可以用非等离子体相关的频率来使SIA运作。例如，该功率 源能包含一个能把由外部信号提供的某些射频能量转换成直流信号的 射频-直流转换器，以及该直流信号能被用于保持在SIA中的发射器 和/或接收器。
另外，该功率源也能在室的外部并用一个或多根电缆耦合至SIA。 功率源也能包含一个电池。
在970中，该SIA能把等离子体数据送至系统控制器。另外，该 SIA能予处理等离子体数据。例如，该SIA能够压缩和/或加密数据。 程序900终止于980。
SIA和/或系统控制器能被配置成可以分析诸如等离子体数据这 样的数据，并用这样分析结果去控制一个过程和/或控制一个处理工 具。该SIA和/或系统控制器能被配置成可以把等离子体数据和目标等 离子体数据比较，以及用这种比较来控制一个过程和/或一个处理工 具。另外，该SIA和/或系统控制器能够被配置成可以把等离子体数据 和历史上的等离子体数据比较，并用这种比较来预言，防止，和/或宣 布一种故障。另外，该SIA和/或系统控制器能够被配置成可以分析诸 如等离子体数据这样的数据，并用这种分析结果来确定何时来进行某 一部件的维护。
虽然上面只对本发明的某些示例性的实施方案进行了详细叙述， 但本领域的技术人员容易了解，可能对示例性实施方案作许多修改而 没有显著地偏离本发明的创新的内容和优点。因而，所有这些修改都 被要求包括在本发明的范围内。
有关申请的交叉参考
本申请与在同一日期提交的，委托书编号为231748US6YA，题目 为“监视一材料处理系统的方法和装置”共同未决申请10/＿＿；在同 一日期提交的，委托书编号为231749US6YA，题目为“监视一材料处 理系统的方法和装置”共同未决申请10/＿＿；在同一日期提交的，委 托书编号为231750US6YA，题目为“监视一材料处理系统的方法和装 置”共同未决申请10/＿＿；以及在同一日期提交的，委托书编号为 231227US6YA，题目为“在一材料处理系统中的监视部分的方法和装 置”共同未决申请10/＿＿等有关，这些申请的每一个申请的全部内容 在此插入以供参考。
| 标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
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