一种消费类电子产品测试供电系统
阅读：752发布：2020-05-12
专利汇可以提供一种消费类电子产品测试供电系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种消费类 电子 产品测试供电系统，包括LDO、DC/DC、 差分 放大器 和CPU，所述DC/DC分别连接供电端、LDO、 采样 电阻 、接地 热敏电阻 、被测产品电源正极、CPU使能端和 差分放大器 同相端，采样电阻另一端分别连接差分放大器反相端、CPU的一个ADC端口和被测产品电源正极，差分放大器输出端连接CPU的第二个ADC端口，CPU还连接串行数据输入、使能输入和过载标志输出，所述LDO还连接CPU的VCC端。本发明消费类电子产品测试供电系统体积小、成本低、弥补了由于 导线 连接产生的 电压 压降、易生产、产量高、过流保护 电流 可设定、输出电流提升至6A。，下面是一种消费类电子产品测试供电系统专利的具体信息内容。
一种消费类电子产品测试供电系统
技术领域
[0001] 本发明涉及一种测试系统，具体是一种消费类电子产品测试供电系统。
背景技术
[0003] 目前供电主要有两大类：1、直流电源供电设备。使用该方案供电，输出电压调节精准（0~30V@0.2%+3mV），输出电流调节精准（0~3000mA@0.2%+3mA），纹波：3mV；2、电源适配器供电，线性调整率：1%，纹波：50mV，过载：超过300%脉冲保护输出。
[0004] 但是这两大类都存在以下问题：通过导线引至负载端时会产生线路衰减；供电设备庞大，电流有限；过流保护功能不能设定。
发明内容
[0005] 本发明的目的在于提供一种消费类电子产品测试供电系统，以解决上述背景技术中提出的问题。
[0006] 为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种消费类电子产品测试供电系统，包括LDO、DC/DC、差分放大器和CPU，所述DC/DC分别连接供电端、LDO、采样电阻、接地热敏电阻、被测产品电源正极、CPU使能端和差分放大器同相端，采样电阻另一端分别连接差分放大器反相端、CPU的一个ADC端口和被测产品电源正极，差分放大器输出端连接CPU的第二个ADC端口，CPU还连接串行数据输入、使能输入和过载标志输出，所述LDO还连接CPU的VCC端。
[0007] 作为本发明再进一步的方案：所述供电端电压为5~21V。
[0008] 与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明消费类电子产品测试供电系统体积小（仅有现有产品的5%大小）、成本低（仅有现有产品的15%）、弥补了由于导线连接产生的电压压降、易生产、产量高、过流保护电流可设定、输出电流提升至6A。附图说明
[0009] 图1为消费类电子产品测试供电系统的结构示意图。
具体实施方式
[0010] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0011] 请参阅图1，本发明实施例中，一种消费类电子产品测试供电系统，包括LDO、DC/DC、差分放大器和CPU，所述DC/DC分别连接供电端、LDO、采样电阻、接地热敏电阻、被测产品电源正极、CPU使能端和差分放大器同相端，采样电阻另一端分别连接差分放大器反相端、CPU的一个ADC端口和被测产品电源正极，差分放大器输出端连接CPU的第二个ADC端口，CPU还连接串行数据输入、使能输入和过载标志输出，所述LDO还连接CPU的VCC端。
[0012] 所述供电端电压为5~21V。
[0013] 本发明的工作原理是：5~21V电源输入经过DC/DC转换后输出设定电压，再经过采样电阻（0.1%）输出到负载端；采样电阻经过差分放大器将电流信号转换为电压信号输送到CPU的ADC输入端；CPU控制DC/DC的使能引脚控制输出，通过对输出的电压检测和差分放大器的输出检测，辨别是否输出故障、过流。
[0014] 对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
[0015] 此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
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