一种定日镜三维测量方法
专利汇可以提供一种定日镜三维测量方法专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种 定日镜 三维测量方法，按照以下步骤实施：步骤1、设定定日镜三维测量结构，采集光屏上的光栅条纹，利用数字投影仪向定日镜投射编码好的条纹图案，通过光屏的反射，工业相机采集光屏反射后的光栅条纹并传送至计算机；步骤2、计算机进行四步 相移 法运算，得到 相位 主值；步骤3、进行负指数增长时间相位展开，得到一个条纹周期数的展开相位，作为最终的展开相位。本发明方法具有更高的 分辨率 和测量 精度 。，下面是一种定日镜三维测量方法专利的具体信息内容。
1.一种定日镜三维测量方法，其特征在于，按照以下步骤实施：
步骤1、设定定日镜三维测量结构，采集光屏上的光栅条纹，
利用数字投影仪向定日镜投射编码好的条纹图案，通过光屏的反射，工业相机采集光屏反射后的光栅条纹并传送至计算机；
步骤2、计算机进行四步相移法运算，得到相位主值，
投影条纹的灰度值用式(1)得到：
式中，g(x,y)为光栅条纹像素点(x,y)的灰度值，a(x,y)为背景光强值，b(x,y)为调制强度，f0为载波频率， 为被测物体高度调制相位，
对于连续的四帧光栅条纹，该四帧带有π/2相移光栅条纹的灰度值分别表示为：
由式(2)和式(4)得到式(6)：
由式(3)和式(5)得到式(7)：
由式(6)和式(7)得到式(8)：
对式(8)求取反正切函数，得到式(9)：
式(9)中，mod为取余算子，反正切运算得到的相位值ψ(x,y)被限制在(-π,π)之间，称为相位主值，而完整实际相位 为式(10)：
式中，k为周期数；
步骤3、进行负指数增长时间相位展开，具体步骤为：
相邻两套展开相位差计算公式：
式中，s为光栅条纹最大周期数，NINT为取整算子，t'＝1,2,4，…,s/2，四步相移法解包裹相位，光栅条纹周期数(s-t’)和(s-2t’)的包裹相位计算分别是：
则包裹相位差Δψ(s-t',s-2t')为：
得到一个条纹周期数的展开相位，作为最终的展开相位。
2.根据权利要求1所述的定日镜三维测量方法，其特征在于：所述的步骤1中，采用的三维测量结构是，计算机(1)输出端与数字投影仪(2)输入端连接，数字投影仪(2)发出的照射光线对向定日镜(3)，照射光线被定日镜(3)反射至光屏(4)，工业相机(5)与光屏(4)对应设置采集光屏(4)上的光栅条纹，工业相机(5)的信号输出端接回计算机(1)中。
3.根据权利要求1所述的定日镜三维测量方法，其特征在于：所述的步骤3中，具体过程是，
假设最大投影条纹周期数s＝64，需要投影的条纹周期数分别为t＝64、63、62、60、56、
48和32，则得到相邻两套条纹的包裹相位之差为：
由于 则相邻两套条纹展开相位之差为：
由于 根据上式得到条纹周期数为32的展开相位
为：
条纹周期数为64、63、62、60、56、48的展开相位都能够获得，其中条纹周期数为64的展开相位为 作为最终的展开相位。
一种定日镜三维测量方法
技术领域
背景技术
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附图说明
具体实施方式
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