专利汇可以提供一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器及其制备工艺专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种多层耦合结构多波段 石墨 烯探测器及其制备工艺。该探测器包括 二 氧 化 硅 /硅基底、底层 石墨烯 、底层金属纳米颗粒、源极、漏极、顶层石墨烯、顶层金属纳米颗粒和背栅。金属 电极 在两层石墨烯之间的夹层结构,形成双 活性层 。两层金属纳米颗粒修饰两层石墨烯的结构,实现对双波段、多波段光电响应增强。通过分别调控两层金属纳米颗粒,改变金属纳米颗粒的尺寸、材料及颗粒间距,实现对特定 波长 入射光选择性吸收增强及多波段的选择性光电探测。背栅 电压 调控进一步增强光的吸收,提高响应度。该探测器制备工艺简单,实现了室温下的高速、高灵敏、多波段探测,有效解决了双波段、多波段探测的迫切需求。,下面是一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器及其制备工艺专利的具体信息内容。
1.一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器,其特征在于,包括二氧化硅/硅基底(1)、底层石墨烯(2)、底层金属纳米颗粒(3)、源极(4)、漏极(5)、顶层石墨烯(6)和顶层金属纳米颗粒(7);其中,
底层石墨烯(2)设置于二氧化硅/硅基底(1)表面上,源极(4)和漏极(5)分别设置于底层石墨烯(2)表面上的两侧,底层金属纳米颗粒(3)设置于源极(4)和漏极(5)之间的底层石墨烯(2)表面上,顶层石墨烯(6)设置于源极(4)、漏极(5)以及底层金属纳米颗粒(3)的表面上,顶层金属纳米颗粒(7)设置于顶层石墨烯(6)表面上;二氧化硅/硅基底(1)上的硅一侧还设置有背栅(8)。
2.根据权利要求1所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器,其特征在于,通过在源极(4)和漏极(5)上转移顶层石墨烯(6),实现由单活性层变为双活性层。
3.根据权利要求1所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器,其特征在于,金属纳米颗粒为金、银和铜在内的能够激发局域表面等离激元的金属纳米颗粒。
4.根据权利要求1所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器,其特征在于,通过分别调控两层金属纳米颗粒,改变金属纳米颗粒的尺寸、材料及颗粒间距实现对设定波长入射光选择性吸收增强及多波段的选择性光电探测。
5.权利要求1至4所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器的制备工艺,其特征在于,包括如下步骤:
1)在二氧化硅/硅基底(1)上的硅一侧制备背栅(8);
2)采用化学气相沉积法生长石墨烯并转移到二氧化硅/硅基底(1)上;
3)在步骤2)的石墨烯上利用电子束蒸发沉积一层金属纳米薄膜;
4)将沉积金属纳米薄膜后的样品在氮气氛围下退火,得到底层金属纳米颗粒(3);
5)在底层金属纳米颗粒(3)两侧的石墨烯两端制备金属电极;
6)在金属电极上转移一层化学气相沉积法生长的石墨烯;
7)在步骤6)转移的石墨烯上利用电子束蒸发沉积一层金属纳米薄膜;
8)将步骤7)沉积金属纳米薄膜后的样品在氮气氛围下退火,得到顶层金属纳米颗粒(7);
9)利用半导体封装技术进行引线封装,从而制备完成该多层耦合结构多波段石墨烯探测器。
6.根据权利要求5所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器的制备工艺,其特征在于,步骤3)和步骤7)中,金属纳米薄膜的厚度均为4-15nm。
7.根据权利要求5所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器的制备工艺,其特征在于,步骤5)中,采用紫外光刻技术,并结合电子束蒸发及剥离工艺,在石墨烯两端制备了Cr/Au电极,其中Cr厚20nm,Au厚80nm;Cr作为缓冲材料,增加Au与基底粘合性。
8.根据权利要求5所述的一种多层耦合结构多波段石墨烯探测器的制备工艺,其特征在于,步骤8)中,退火温度350-500℃,退火时间10-90min。
标题 | 发布/更新时间 | 阅读量 |
---|---|---|
一种基于环路热管和相变材料耦合冷却的动力电池模块 | 2020-05-08 | 671 |
冷却装置和投影仪 | 2020-05-08 | 878 |
一种选择性发射红外隐身材料及其制备方法 | 2020-05-08 | 773 |
一种聚酰胺的连续合成反应回收系统及方法 | 2020-05-08 | 84 |
散热性强的LED驱动电源 | 2020-05-08 | 413 |
蒸发冷却器高效成膜布水器 | 2020-05-08 | 521 |
制冷控温型货架 | 2020-05-08 | 562 |
一种甲胺催化剂后期废水处理与回用的工艺及装置 | 2020-05-08 | 722 |
一种海水淡化用蒸发器 | 2020-05-08 | 312 |
内燃机的排气净化装置 | 2020-05-08 | 855 |
高效检索全球专利专利汇是专利免费检索,专利查询,专利分析-国家发明专利查询检索分析平台,是提供专利分析,专利查询,专利检索等数据服务功能的知识产权数据服务商。
我们的产品包含105个国家的1.26亿组数据,免费查、免费专利分析。
专利汇分析报告产品可以对行业情报数据进行梳理分析,涉及维度包括行业专利基本状况分析、地域分析、技术分析、发明人分析、申请人分析、专利权人分析、失效分析、核心专利分析、法律分析、研发重点分析、企业专利处境分析、技术处境分析、专利寿命分析、企业定位分析、引证分析等超过60个分析角度,系统通过AI智能系统对图表进行解读,只需1分钟,一键生成行业专利分析报告。