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一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统

阅读：45发布：2020-05-12

专利汇可以提供一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本实用新型公开了一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统，包括：信号发生器、定时控制开关和测试顶针；信号发生器与定时控制开关的第一端连接，定时控制开关的第二端与测试顶针连接，测试顶针外接待测板卡；信号发生器，用于生成高电平使能信号并输出至测试顶针；当定时控制开关接收到开路触发信号时，定时控制开关根据开路触发信号控制定时控制开关断开，以阻断测试顶针向待测板卡发送高电平使能信号，使待测板卡具备低电平使能信号，以使低电平使能信号控制待测板卡切换至待机状态。本实用新型实施例通过定时控制开关定时自动控制待测板卡工作状态的切换，减少了待机功耗的测试时间，并提高了待测板卡的测试效率。，下面是一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统专利的具体信息内容。

权利要求

1.一种板卡工作状态的控制设备，其特征在于，包括：信号发生器、定时控制开关和测试顶针；
所述信号发生器与所述定时控制开关的第一端连接，所述定时控制开关的第二端与所述测试顶针连接，所述测试顶针外接待测板卡；
所述信号发生器，用于生成高电平使能信号并输出至测试顶针；
当所述定时控制开关接收到开路触发信号时，所述定时控制开关根据所述开路触发信号控制所述定时控制开关断开，以阻断所述测试顶针向所述待测板卡发送高电平使能信号，使所述待测板卡具备低电平使能信号，
其中，所述低电平使能信号用于控制所述待测板卡切换至待机状态。
2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，
当所述定时控制开关接收到导通触发信号时，所述定时控制开关根据所述导通触发信号控制所述定时控制开关导通，以使所述测试顶针将接收的高电平使能信号输入至所述待测板卡，
其中，所述高电平使能信号用于控制所述待测板卡切换至非待机状态。
3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，
所述低电平使能信号通过控制所述待测板卡中功率因数校正PFC电路的断开，以控制所述待测板卡切换至待机状态；
所述高电平使能信号通过控制所述待测板卡中功率因数校正PFC电路的导通，以控制所述待测板卡切换至非待机状态。
4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测试顶针与所述待测板卡上的信号测试点连接，用于向所述待测板卡输入高电平使能信号。
5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述定时控制开关为继电器。
6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述高电平使能信号的电压范围为2.5-
3.3V；所述低电平使能信号的电压范围为0-1.2V。
7.一种板卡测试系统，其特征在于，包括：待测板卡、电源自动测试仪、测试治具，以及权利要求1-6任一所述的板卡工作状态的控制设备；
所述电源自动测试仪的第一端与所述板卡工作状态的控制设备的第一端连接，所述电源自动测试仪的第二端与所述测试治具连接；所述待测板卡放置在所述测试治具上；所述板卡工作状态的控制设备的第二端与所述待测板卡连接；
当测试治具上电时，所述电源自动测试仪根据设定间隔时长向所述板卡工作状态的控制设备发送导通触发信号或开路触发信号，以控制所述待测板卡切换至对应的工作状态；
所述测试治具根据所述待测板卡的工作状态，对所述待测板卡的对应测试项进行测试。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述设定间隔时长为待机功耗测试时长与预设误差时间阈值的总和；
所述电源自动测试仪根据设定间隔时长向所述板卡工作状态的控制设备发送开路触发信号，以控制所述待测板卡切换至待机状态。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述设定间隔时长为满载测试项测试时长与预设误差时间阈值的总和；
所述电源自动测试仪根据设定间隔时长向所述板卡工作状态的控制设备发送导通触发信号，以控制所述待测板卡切换至非待机状态。
10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述待测板卡处于待机状态，所述测试治具对所述待测板卡的待机功耗进行测试；
所述待测板卡处于非待机状态，所述测试治具对所述待测板卡的满载测试项进行测试。

说明书全文

一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统

技术领域

[0001] 本实用新型实施例涉及测试技术，尤其涉及一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统。

背景技术

[0002] 随着电子设备的不断发展，电子设备的种类呈爆发式增长，随之而来的，电子设备的耗电量也在不断增加。因此，为了降低电子设备的耗电量，对电子设备待机功耗的测试也变得尤为关键。

[0003] 目前，可直接采用带有LLC谐振电路的方案对电子设备的待机功耗进行测试，比如，可采用富士的FA6A31、三垦的SSC3S910等。同时，采用常用的测试流程(初测-老化-复测-自动化测试-人工抽检检测)对板卡进行测试。

[0004] 在对板卡的待机功耗进行测试时，一般采用自动化测试站，在自动化测试站在对板卡的待机功耗进行测试的同时，还需对其他测试项进行测试，比如交叉调整率，输出效率，纹波电压，关机时序等。但这些测试项需要板卡在非待机状态下才能进行测试，因此需将板卡在待机状态与非待机状态之间来回切换。目前，需要测试人员手动按键使板卡在待机状态与非待机状态之间进行切换，从而额外增加了板卡的测试时长，影响了板卡的测试效率。实用新型内容

[0005] 有鉴于此，本实用新型提供一种板卡工作状态的控制设备和板卡测试系统，实现了待测板卡工作状态的定时自动切换，从而减少了待机功耗的测试时间，并提高了待测板卡的测试效率。

[0006] 第一方面，本实用新型实施例提供了一种板卡工作状态的控制设备，包括：信号发生器、定时控制开关和测试顶针；

[0007] 所述信号发生器与所述定时控制开关的第一端连接，所述定时控制开关的第二端与所述测试顶针连接，所述测试顶针外接待测板卡；

[0008] 所述信号发生器，用于生成高电平使能信号并输出至测试顶针；

[0009] 当所述定时控制开关接收到开路触发信号时，所述定时控制开关根据所述开路触发信号控制所述定时控制开关断开，以阻断所述测试顶针向所述待测板卡发送高电平使能信号，使所述待测板卡具备低电平使能信号，

[0010] 其中，所述低电平使能信号用于控制所述待测板卡切换至待机状态。

[0011] 进一步的，当所述定时控制开关接收到导通触发信号时，所述定时控制开关根据所述导通触发信号控制所述定时控制开关导通，以使所述测试顶针将接收的高电平使能信号输入至所述待测板卡，

[0012] 其中，所述高电平使能信号用于控制所述待测板卡切换至非待机状态。

[0013] 进一步的，所述低电平使能信号通过控制所述待测板卡中功率因数校正PFC电路的断开，以控制所述待测板卡切换至待机状态；

[0014] 所述高电平使能信号通过控制所述待测板卡中功率因数校正PFC电路的导通，以控制所述待测板卡切换至非待机状态。

[0015] 进一步的，所述测试顶针与所述待测板卡上的信号测试点连接，用于向所述待测板卡输入高电平使能信号。

[0016] 进一步的，所述定时控制开关为继电器。

[0017] 进一步的，所述高电平使能信号的电压范围为2.5-3.3V；所述低电平使能信号的电压范围为0-1.2V。

[0018] 第二方面，本实用新型实施例提供了一种板卡测试系统，包括：待测板卡、电源自动测试仪、测试治具，以及第一方面任一所述的板卡工作状态的控制设备；

[0019] 所述电源自动测试仪的第一端与所述板卡工作状态的控制设备的第一端连接，所述电源自动测试仪的第二端与所述测试治具连接；所述待测板卡放置在所述测试治具上；所述板卡工作状态的控制设备的第二端与所述待测板卡连接；

[0020] 当测试治具上电时，所述电源自动测试仪根据设定间隔时长向所述板卡工作状态的控制设备发送导通触发信号或开路触发信号，以控制所述待测板卡切换至对应的工作状态；所述测试治具根据所述待测板卡的工作状态，对所述待测板卡的对应测试项进行测试。

[0021] 进一步的，所述设定间隔时长为待机功耗测试时长与预设误差时间阈值的总和，所述电源自动测试仪根据设定间隔时长向所述板卡工作状态的控制设备发送开路触发信号，以控制所述待测板卡切换至待机状态。

[0022] 进一步的，所述设定间隔时长为满载测试项测试时长与预设误差时间阈值的总和，所述电源自动测试仪根据设定间隔时长向所述板卡工作状态的控制设备发送导通触发信号，以控制所述待测板卡切换至非待机状态。

[0023] 进一步的，所述待测板卡处于待机状态，所述测试治具对所述待测板卡的待机功耗进行测试；

[0024] 所述待测板卡处于非待机状态，所述测试治具对所述待测板卡的满载测试项进行测试。

[0025] 上述实用新型实施例通过信号发生器与定时控制开关的第一端连接，定时控制开关的第二端与测试顶针连接，测试顶针外接待测板卡；信号发生器，用于生成高电平使能信号并输出至测试顶针；当定时控制开关接收到开路触发信号时，定时控制开关根据开路触发信号控制定时控制开关断开，以阻断测试顶针向待测板卡发送高电平使能信号，使待测板卡具备低电平使能信号，以使低电平使能信号控制待测板卡切换至待机状态。本实用新型实施例通过定时控制开关自动控制待测板卡的工作状态，减少了待机功耗的测试时间，并提高了待测板卡的测试效率。附图说明

[0026] 图1是本实用新型实施例提供的一种板卡工作状态的控制设备的功能框图；

[0027] 图2是本实用新型实施例提供的一种板卡工作状态的控制设备的电路示意图；

[0028] 图3是本实用新型实施例提供的一种板卡测试系统的功能框图；

[0029] 图4是本实用新型实施例提供的一种板卡测试系统的功能框图。

具体实施方式

[0030] 下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

[0031] 实施例

[0032] 图1是本实用新型实施例提供的一种板卡工作状态的控制设备的功能框图，本实施例可适用于在对待测板卡的待机功耗进行测试时，如何实现待测板卡工作状态的自动切换的场景。参考图1，该板卡工作状态的控制设备110包括：信号发生器1101、定时控制开关1102和测试顶针1103；

[0033] 其中，信号发生器1101与定时控制开关1102的第一端连接，定时控制开关1102的第二端与测试顶针1103连接，测试顶针1103外接待测板卡120；

[0034] 信号发生器1101，用于生成高电平使能信号并输出至测试顶针1103；

[0035] 当定时控制开关1102接收到开路触发信号时，定时控制开关1102根据开路触发信号控制定时控制开关1102断开，以阻断测试顶针1103向待测板卡120发送高电平使能信号，使待测板卡120具备低电平使能信号，

[0036] 其中，低电平使能信号用于控制待测板卡120切换至待机状态。

[0037] 在此需要说明的是，开路触发信号可以理解为触发定时控制开关1102断开的信号。其中，定时控制开关1102为一种定时控制自身通断的器件，比如，定时控制开关1102可以为继电器。在实施例中，开路触发信号是由电源自动测试仪发送的，其中，定时控制开关断开的时间长短是通过预先编写的程序进行设置的，并且，将该预先编写的程序烧录至电源自动测试仪，以通过电源自动测试仪控制定时控制开关1102的断开时间。电源自动测试仪自动控制定时开关1102断开，并进行待机功耗测试的过程见下述实施例的具体描述。

[0038] 在实施例中，电源自动测试仪发送开路触发信号至定时控制开关1102之后，定时控制开关1102接收该开路触发信号，并根据该开路触发信号控制定时控制开关1102断开，以阻断测试顶针1103将高电平使能信号发送至待测板卡120，从而使得待测板卡120具备低电平信号，并通过低电平信号控制待测板卡120切换至待机状态。

[0039] 本实用新型的实施例，通过信号发生器与定时控制开关的第一端连接，定时控制开关的第二端与测试顶针连接，测试顶针外接待测板卡；信号发生器，用于生成高电平使能信号并输出至测试顶针；当定时控制开关接收到开路触发信号时，定时控制开关根据开路触发信号控制定时控制开关断开，以阻断测试顶针向待测板卡发送高电平使能信号，使待测板卡具备低电平使能信号，以使低电平使能信号控制待测板卡自动切换至待机状态，实现了通过定时控制开关自动控制待测板卡的工作状态，从而减少了待机功耗的测试时间，并提高了待测板卡的测试效率。

[0040] 在上述实施例的基础上，当定时控制开关1102接收到导通触发信号时，定时控制开关1102根据导通触发信号控制定时控制开关1102导通，以使测试顶针1103将接收的高电平使能信号输入至待测板卡120，

[0041] 其中，高电平使能信号用于控制待测板卡120切换至非待机状态。

[0042] 在此需要说明的是，导通触发信号可以理解为触发定时控制开关1102导通的信号。在实施例中，导通触发信号是由电源自动测试仪发送的，其中，定时控制开关导通的时间长短是通过预先编写的程序进行设置的，并且，将该预先编写的程序烧录至电源自动测试仪，以通过电源自动测试仪控制定时控制开关1102的导通时间。电源自动测试仪自动控制定时开关1102导通，并进行满载测试项测试的过程见下述实施例的具体描述。

[0043] 在实施例中，信号发生器1101用于产生高电平使能信号，在电源自动测试仪发送导通触发信号至定时控制开关120，定时控制开关1102接收到该导通触发信号，并根据导通触发信号控制定时控制开关1102导通，以使测试顶针1103接收到该高电平使能信号，并通过测试顶针1103将高电平使能信号输入至待测板卡120，以使待测板卡120根据高电平使能信号控制自身工作状态切换至非待机状态。当然，在实际操作过程中，测试顶针1103与待测板卡120上的信号测试点连接，用于向待测板卡120输入高电平使能信号。其中，高电平使能信号的电压范围为2.5-3.3V；低电平使能信号的电压范围为0-1.2V。可以理解为，当待测板卡140上的信号测试点所接收到使能信号的电压范围在0-1.2V内，则待测板卡120具备低电平使能信号；当待测板卡120上的信号测试点所接收到使能信号的电压范围在2.5-3.3V内，则待测板卡120具备高电平使能信号。

[0044] 在此需要说明的是，待测板卡120中包括功率因数校正(Power Factor Correction，PFC)电路，用于对输入电压进行升压处理，以使得PFC电路输出的电压保持在一定数值范围内，进而保证对待测板卡120进行待机功耗测试的LLC电路的输出增益保持稳定。需要理解的是，待测板卡所具备的高电平使能信号或低电平使能信号用于控制待测板卡120中PFC电路的通断。具体来说，低电平使能信号通过控制待测板卡中PFC电路的断开，以控制待测板卡切换至待机状态；高电平使能信号通过控制待测板卡中PFC电路的导通，以控制待测板卡切换至非待机状态。可以理解为，当待测板卡120具备低电平使能信号时，待测板卡120中PFC电路断开，从而待测板卡120无法正常工作，即待测板卡120切换至待机状态；当待测板卡120具备高电平使能信号时，待测板卡120中PFC导通，从而待测板卡120可以正常工作，即待测板卡120可切换至非待机状态。

[0045] 图2是本实用新型实施例提供的一种板卡工作状态的控制设备的电路示意图。本实施例是在上述实施例的基础上，以电路形式对板卡工作状态的控制设备进行说明。

[0046] 如图2所示，以信号发生器1101输出3.3V信号，定时控制开关1102采用SW1符号来表示，以及测试顶针1103采用PS_ON顶针来表示为例，对板卡工作状态的控制设备110的电路形式进行说明。在实施例中，信号发生器1101用于产生3.3V信号，用来提供待测板卡120工作时所需的使能信号；定时控制开关SW1，用来控制自身通断时间的长短，并且定时控制开关SW1的结构如同单刀单掷开关，具备一个静触点和一个动触点，以根据接收到的开路触发信号/导通触发信号控制自身的通断；并且，通过定时控制开关SW1将作为高电平使能信号的3.3V信号输入至测试顶针1103，以控制待测板卡120切换至非待机状态。如图2所示，定时控制开关SW1的端口1为静触点，端口2为动触点，当定时控制开关SW1接收到导通触发信号时，定时控制开关SW1的端口1和端口2连接，相当于一根导线，以通过PS_ON顶针将3.3V信号输入至所外接的待测板卡120，以使待测板卡120切换至非待机状态；反之，当定时控制开关SW1接收到开路触发信号时，定时控制开关SW1的端口1和端口2断开，相当于定时控制开关SW1开路，以阻断将3.3V信号输入至所外接的待测板卡120，以使待测板卡120切换至待机状态，通过定时控制开关SW1的定时通断，实现了对待测板卡120工作状态的定时自动切换。

[0047] 图3是本实用新型实施例提供的一种板卡测试系统的功能框图。本实施例是在上述实施例的基础上，对板卡的测试系统进行说明。参考图3，板卡测试系统，包括：待测板卡120、电源自动测试仪130、测试治具140，以及上述实施例中任一所述的板卡工作状态的控制设备110；

[0048] 其中，电源自动测试仪130的第一端与板卡工作状态的控制设备110的第一端连接，电源自动测试仪130的第二端与测试治具140连接；待测板卡120放置在测试治具140上；板卡工作状态的控制设备110的第二端与待测板卡120连接；

[0049] 当测试治具140上电时，电源自动测试仪130根据设定间隔时长向板卡工作状态的控制设备110发送导通触发信号或开路触发信号，以控制待测板卡120切换至对应的工作状态；测试治具140根据待测板卡的工作状态，对待测板卡120的对应测试项进行测试。

[0050] 在此需要说明的是，待测板卡120的测试流程包括：初测、老化、复测、自动化测试和人工抽检检测。可以理解为，当待测板卡120处于测试流程的不同测试步骤时，所采用的测试仪器也是不同的。具体来说，在对待测板卡120进行初测时，采用初测仪器对待测板卡120进行软件升级，以使待测板卡120进入老化模式；然后采用复测仪器对待测板卡120进行复测，以检测待测板卡120在老化模式下所出现的故障，然后将待测板卡120退出老化模式，并使待测板卡120处于待机状态；然后采用测试治具对待测板卡120进行自动化测试；在完成待测板卡120的自动化测试之后，通过人工抽检检测待测板卡120，以保证待测板卡120的出厂质量。

[0051] 在实际测试过程中，自动化测试的项目包括：待机功耗和满载测试项；其中，待机功耗是待测板卡120处于待机状态时所要测试的项目；满载测试项是待测板卡120处于非待机状态时所要测试的项目。由于待测板卡120在进入自动化测试步骤之前，待测板卡120的工作状态处于待机状态。可以理解为，当待测板卡120首次放置在测试治具140进行自动化测试时，无需通过定时控制开关1102根据接收到的开路触发信号控制定时控制开关1102断开，便可直接对待测板卡120的待机功耗进行测试；当待测板卡120并非首次放置在测试治具进行自动化测试时，需通过定时控制开关120根据接收到的开路触发信号控制定时控制开关120断开，以阻断信号发生器1101所产生的高电平使能信号输入至待测板卡120，使待测板卡120具备低电平使能信号，以通过低电平使能信号控制待测板卡120从非待机状态切换至待机状态。

[0052] 在此需要说明的是，当设定间隔时长为不同时长时，电源自动测试仪130向板卡工作状态的控制设备110所发送的触发信号也是有区别的。

[0053] 一个实施例中，设定间隔时长为待机功耗测试时长与预设误差时间阈值的总和，电源自动测试仪130根据设定间隔时长向板卡工作状态的控制设备110发送开路触发信号，以控制待测板卡120切换至待机状态。

[0054] 其中，待机功耗测试时长可以理解为对待测板卡120的待测功耗进行测试时所需的时间长度。在实施例中，待机功耗测试时长是根据多次对待测板卡120的待机功耗进行测试所需时间的平均时间来设定的。预设误差时间阈值是在对待测板卡120测试所预留的误差时间，即待测板卡120在待机状态与非待机状态之间进行切换时所预留的时间。其中，为了保证待测板卡120的工作状态的顺利切换，预设误差时间阈值至少设置为1S。

[0055] 在此需要说明的是，待机功耗测试时长与预设误差时间阈值的总和，可以理解为定时控制开关1102处于断开状态的时间长度。其中，设定间隔时长是开发人员通过预先编写程序进行设置的。在实施例中，当测试治具140上电时，若待测板卡120处于待机状态，则在待机功耗测试时长与预设误差时间阈值的总和的间隔之后，电源自动测试仪向定时控制开关1102发送导通触发信号，使定时控制开关1102导通，以控制待测板卡120切换至非待机状态。当然，当待测板卡120处于待机状态，测试治具140对120待测板卡的待机功耗进行测试；当待测板卡120处于非待机状态，测试治具140对待测板卡120的满载测试项进行测试。

[0056] 一个实施例中，设定间隔时长为满载测试项测试时长与预设误差时间阈值的总和，电源自动测试仪根据设定间隔时长向板卡工作状态的控制设备发送导通触发信号，以控制待测板卡切换至非待机状态。

[0057] 其中，满载测试项测试时长可以理解为对待测板卡120的满载测试项进行测试时所需的时间长度。在实施例中，满载测试项测试时长是根据多次对待测板卡120的满载测试项进行测试所需时间的平均时间来设定的。预设误差时间阈值是在对待测板卡120测试所预留的误差时间，即待测板卡120在待机状态与非待机状态之间进行切换所预留的时间。其中，为了保证待测板卡120的工作状态的顺利切换，预设误差时间阈值至少设置为1S。

[0058] 在此需要说明的是，满载测试项测试时长与预设误差时间阈值的总和，可以理解为定时控制开关1102处于导通状态的时间长度。在实施例中，设定间隔时长是开发人员通过预先编写程序进行设置的。具体来说，当测试治具140上电时，若待测板卡120处于待机状态，则对待测板卡120的待机功耗进行测试，并在待机功耗测试时长与预设误差时间阈值的总和的间隔之后，电源自动测试仪130向定时控制开关1102发送导通触发信号，控制定时控制开关1102自动导通，以使待测板卡120的工作状态切换至非待机状态，并对待测板卡120的满载测试项进行测试；然后在满载测试项测试时长与预设误差时间阈值的总和的间隔之后，电源自动测试仪130向定时控制开关1102发送开路触发信号，控制定时控制开关1102自动断开，以使待测板卡120切换至待机状态，并对待测板卡120的待机功耗进行测试。依次类推，从而通过定时控制开关1102实现了对待测板卡120工作状态的定时自动切换，并在待测板卡120处于不同工作状态时，对对应的测试项进行测试，而无需测试人员手动控制待测板卡120工作状态的切换，节省了待测板卡120的测试时间，并提高了待测板卡120的测试效率。

[0059] 图4是本实用新型实施例提供的一种板卡测试系统的功能框图。本实施例是在上述实施例的基础上，对板卡工作状态的控制设备110和板卡测试系统之间的连接关系以及工作原理进行具体说明。

[0060] 如图4所示，信号发生器1101与定时控制开关1102的第一端连接，定时控制开关1102的第二端与测试顶针1103连接，测试顶针1103外接待测板卡120；电源自动测试仪130的第一端与定时控制开关1102连接，电源自动测试仪130的第二端与测试治具140连接；待测板卡120放置在测试治具140上。

[0061] 在实施例中，当测试治具140上电时，电源自动测试仪130根据设定间隔时长向定时控制开关1102发送导通触发信号或开路触发信号。具体来说，当定时控制开关1102接收到导通触发信号时，定时控制开关1102导通，信号发生器1101将自身产生的高电平使能信号通过测试顶针1103输入至待测板卡120的信号测试点，以使待测板卡120具备高电平使能信号，此时测试治具140对待测板卡120的满载测试项进行测试；当定时控制开关1102接收到开路触发信号时，定时控制开关1102断开，以阻断信号发生器1101将自身产生的高电平使能信号通过测试顶针1103输入至待测板卡120的信号测试点，使得待测板卡120具备低电平使能信号，此时测试治具140对待测板卡120的待机功耗进行测试。

[0062] 以满载测试项测试时长为T1、待机功耗测试时长为T2、以及预设误差时间阈值为1S为例，对板卡测试系统的工作原理进行说明。假设当测试治具140上电时，电源自动测试仪130通过程序控制定时控制开关1102闭合，信号发生器1101所产生的3.3V信号直接通过测试顶针1103输入至待测板卡120的信号测试点，以使得待测板卡120的信号测试点上的信号为高电平使能信号，此时待测板卡120处于非待机状态，即可以进行满载测试项的测试；
经过T1+1S之后，电源自动测试仪130通过程序控制定时控制开关1102断开，信号发生器
1101所产生的3.3V信号无法通过测试顶针1103输入至待测板卡120的信号测试点，以使得待测板卡120的信号测试点上的信号为低电平使能信号，此时待测板卡120处于待机状态，即可以进行待机功耗的测试。

[0063] 本实施例的技术方案，无需测试人员手动来控制待测板卡工作状态的切换，直接通过板卡工作状态的控制设备和程序设定即可实现待测板卡的自动化测试，节省了待测板卡的测试时间，进而提高了待测板卡的测试效率。

[0064] 在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

[0065] 注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

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