[0001] 本
申请是
发明名称为“在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的方法和设备”、
国际申请日为2014年12月15日、国际申请号为PCT/IB2014/066929、中国
国家申请号为201480068439.6的发明
专利申请的分案申请。
技术领域
[0002] 本发明涉及在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的方法。
[0003] 本发明还涉及在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的设备。
背景技术
[0004] 用于
车轮的轮胎一般包括
胎体结构，所述胎体结构包括至少一个
胎体帘布层，所述至少一个胎体帘布层的相应相反终端边缘接合到一般称为"
胎圈芯"的相应锚固环形结构，锚固环形结构在通常称为"胎圈"的区域中确定，所述胎圈的内径基本对应于在相应安装
轮辋上的轮胎的所谓"装配直径"。轮胎还包括胎冠结构，胎冠结构包括具有布置在相对于所述胎体帘布层的径向外部
位置的至少一根带束条的带束结构、和在相对于所述带束条的径向外部的一个
胎面带。由弹性体材料制成的所谓"底层"介于胎面带和所述带束条之间，所述底层具有适于确保所述带束条与胎面带自身稳定联接的特性。在胎体结构的侧表面上施加由弹性体材料制成的相应
侧壁，所述侧表面中的每个从胎面带的侧边缘之一延伸直到锚固到胎圈的相应锚固环形结构。在"无内胎"类型的轮胎中，胎体帘布层由优选基于丁基的弹性体材料层在内部
覆盖，弹性体材料层通常称为"衬里"，所述衬里具有空气
密封性的最佳特征且从一个胎圈延伸到另一个。
[0005] 术语"弹性体材料"旨在指代包括至少一种弹性体
聚合物和至少一种加固填充物的合成物。优选地，这种合成物还包括诸如交联剂和/或塑化剂的添加剂。由于交联剂的存在，这种材料能够通过加热交联，以便形成最终产品。
[0006] "半成品"指的是连续细长元件，其具有平整横截面、由弹性体材料制成、且结合有优选为织物或金属帘线的一个或多个
加强帘线，所述一个或多个加强帘线在细长元件自身的纵向方向上平行于彼此放置。
[0007] "初级半成品"指的是上述半成品的切割到适当尺寸的部件；前述初级半成品在下文中称为"条状元件"。
[0008] "最小
亮度值"在黑白检测中指的是这样的亮度值，在数字检测中，当基本无
光子入射在所使用的检测装置的
像素上时所述亮度值被赋予数字图像的对应像素。
[0009] 在彩色检测中，所述最小亮度值对应于当基本无光子入射在一个或多个
传感器(例如，一组三个传感器)上时赋予关联到相同像素的所述传感器的亮度值。在更多传感器关联到相同像素的情况下，每个传感器能够例如专
门用于检测入射在该像素上的光的相应基本色彩成分。
[0010] "最大亮度值"在黑白检测中指的是这样的亮度值，在数字检测中，当像素能够接收的最大数量的光子入射在所使用的检测装置的对应像素上时(即，光子的数量能够使关联到该像素的传感器自身和所述检测装置的成形部分的容量饱和)所述亮度值被赋予数字图像的对应像素。如果更高数量的光子被接收，则被赋予的亮度值维持等于所述最大亮度值。
[0011] 在彩色检测中，所述最大亮度值对应于当一个或多个传感器(例如，一组三个传感器)能够接收的最大数量的光子入射在所述传感器上或所述传感器中的每个上时赋予关联到相同像素的所述传感器的亮度值。在更多传感器关联到相同像素的情况下，每个传感器能够例如专门用于检测入射在该像素上的光的相应基本色彩成分。
[0012] 适当布置成并排关系或彼此部分重叠的条状元件借助于将条状元件铺设在优选具有基本环面或基本柱形形状的成形鼓上而与轮胎的各种部件的成形同时发生。
[0013] 具体地，条状元件能够用于制造胎体结构的一个或多个胎体帘布层和/或轮胎的带束结构的一个或多个带束条或带束层。
[0014] 来自本
申请人的文献WO 2012/085632描述了在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的方法和设备。
[0015] 申请人观察到，在半成品从所述半成品与所谓服务性织物(由塑性材料、优选聚酯或聚乙烯制成的膜)一起缠绕在其上的卷轴解绕期间，可能发生的是即使在半成品自身已经从服务性织物分开之后，服务性织物的部分也维持关联到半成品，这主要是由于制造半成品的混合物的粘合特性。
[0016] 申请人也验证到，服务性织物初始经常具有与半成品不同的长度；例如，服务性织物可能以大约700m的
片段使用，而半成品的长度可依据必须制造的部件的类型而在2000m和4000m之间变化。服务性织物的不同部分因此必须彼此结合，从而达到合适于关注的半成品的长度。
[0017] 申请人也验证到，在解绕步骤期间从半成品分开之后，服务性织物被集合到辅助卷轴中，从而随后被再次使用。该服务性织物还与相对于前一个半成品具有不同长度的半成品一起被使用数次，使得必须要减小服务性织物的长度、或通过借助于例如粘合带将服务性织物自身与另外的部分结合而增加服务性织物的长度。
[0018] 申请人观察到，在服务性织物(在数次使用之后)和半成品之间分开之后，服务性织物的部分或用于结合服务性织物的粘合带的部分能够维持关联到半成品。
[0019] 申请人也观察到，服务性织物和/或粘合带在半成品上的残留物的存在能够对轮胎的结构、性能和整体性产生极度负面的影响，因为这些残留物能够阻止在部件的条状元件之间和/或在轮胎的不同部件之间的正确粘合。
[0020] 申请人也观察到，用于结合服务性织物的一些类型的带会尤其难于检测，尤其是通过人工视觉/检测系统，因为服务性织物是部分透明的或服务性织物具有小尺寸，且当服务性织物
挤压半成品时，服务性织物倾向于似乎有与半成品自身基本相同的色彩。
[0021] 申请人的直觉是，通过适当设定人工视觉/检测系统的操作参数，在最困难的情况下也可以识别粘合带残留物的存在，因此显著减少在过程期间和/或在过程结束时必须丢弃的部件或轮胎的数量。
[0022] 申请人最终发现，通过设定与在受控半成品的图像部分中检测的亮度值相关的
阈值，可以在检测的数字图像中总体上将半成品部分与服务性织物和粘合带的残留物或异物区分开来，以显著增加
制造过程的整体效率。
发明内容
[0023] 依据第一方面，本发明涉及在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的方法。
[0024] 优选地，所述方法包括检测代表半成品的至少第一图像，其中，所述第一图像由多个第一部分形成，每个第一部分关联到相应亮度值。
[0025] 优选地，所述方法包括限定用于所述亮度值的第一阈值。
[0026] 优选地，所述方法包括执行在所述第一部分的亮度值和所述第一阈值之间的第一比较。
[0027] 优选地，所述方法包括依据所述第一比较确定第一操作参数，第一操作参数代表在所述第一图像中由关联到比所述第一阈值更高或更低亮度值的第一部分占据的全部区域。
[0028] 优选地，所述方法包括执行在所述第一操作参数和第二阈值之间的第二比较。
[0029] 优选地，所述方法包括依据所述第二比较导致第一通知
信号的产生。
[0030] 依据第二方面，本发明涉及在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的设备。
[0031] 优选地，所述设备包括至少第一检测装置以检测代表半成品的至少第一图像，其中，所述第一图像由多个第一部分形成，每个第一部分关联到相应亮度值。
[0032] 优选地，所述设备包括至少第一
存储器，在其中存储用于所述亮度值的第一阈值。
[0033] 优选地，所述设备包括关联到所述第一检测装置和所述第一存储器的至少第一处理单元。
[0034] 优选地，所述至少第一处理单元配置成执行在所述第一部分的亮度值和所述第一阈值之间的第一比较。
[0035] 优选地，所述至少第一处理单元配置成依据所述第一比较确定第一操作参数，第一操作参数代表在所述第一图像中由关联到比所述第一阈值更高或更低亮度值的第一部分占据的全部区域。
[0036] 优选地，所述至少第一处理单元配置成执行在所述第一操作参数和第二阈值之间的第二比较。
[0037] 优选地，所述至少第一处理单元配置成依据所述第二比较导致第一通知信号的产生。
[0038] 申请人相信，以这种方式，可能的一般异物、服务性织物的残留物和粘合带的残留物能够以准确和可靠的方式被检测，同样在残留物基本透明且因此非常难于与不被这些残留物覆盖的半成品的部分区别开的那些情况下也可以检测。
[0039] 依据前述方面中的一个或多个，本发明包括下文描述的优选特征中的一个或多个。
[0040] 优选地，通过设置亮度值的第一线性范围，第一线性范围被限定在与零亮度值对应的第一值和与最大亮度值对应的第二值之间，其中，所述第一值和所述第二值之间的差异的绝对值限定所述第一线性范围的幅度，所述第一阈值与所述第一线性范围相关地被限定。
[0041] 优选地，所述第一阈值使得所述第一阈值和所述第一值之间的差异的绝对值介于所述第一线性范围的幅度的大约5％和大约20％之间。
[0042] 优选地，所述第一操作参数代表在所述第一基准图像中由关联到比所述第一阈值更低亮度值的第一部分占据的全部区域。
[0043] 优选地，如果所述第一操作参数低于所述第二阈值，则所述第一通知信号产生。
[0044] 优选地，所述第一图像是单色图像。
[0045] 优选地，在所述半成品从卷轴解绕且朝向适于构建由所述半成品制造的初级半成品的构建站被驱动时检测所述至少第一图像。
[0046] 优选地，如果所述第一操作参数低于所述第二阈值，则导致第一中断信号的产生，以停用促使所述半成品从所述卷轴解绕和/或所述半成品朝向所述构建站移动的一个或多个
致动器。
[0047] 优选地，设置第一基准图像，第一基准图像代表基本没有残留物或异物的半成品部分，所述第一基准图像由多个第一基准部分形成，每个第一基准部分关联到相应亮度值。
[0048] 优选地，将所述第一基准部分的亮度值与所述第一阈值比较。
[0049] 优选地，确定第一基准参数，第一基准参数代表在所述第一基准图像中由关联到比所述第一阈值更低亮度值的第一基准部分占据的全部区域。
[0050] 优选地，依据所述第一基准参数确定所述第二阈值。
[0051] 优选地，设置所述第一基准图像包括在基本没有残留物或异物的所述半成品的部分中检测所述半成品的图像。
[0052] 因此，第一基准参数在检查半成品的相同环境条件(例如，亮度)下获得，使得根据本发明的方法更加准确且可靠。
[0053] 优选地，所述第一图像由面向所述半成品的第一检测装置检测。
[0054] 优选地，向至少所述半成品发送电磁
辐射，以允许或有助于所述第一检测装置进行检测。
[0055] 因此，由于第一检测装置操作的亮度条件的变化造成的检测的不准确性能够被最小化。
[0056] 优选地，设置相对于所述第一检测装置与所述半成品相反的第一背景墙。
[0057] 优选地，所述第一背景墙使得重现所述第一背景墙的所述第一图像的一个或多个部分关联到比所述第一阈值更高的亮度值。
[0058] 因此，可以优化由第一检测装置实施的检测的
质量，提供最大化与制造半成品的主要材料的对照的背景。
[0059] 优选地，所述第一图像代表所述半成品的第一表面的一部分。
[0060] 优选地，检测第二图像，其代表所述半成品的第二表面的一部分，第二表面相反于所述第一表面，所述第二图像由多个第二部分形成，每个第二部分关联到相应亮度值。
[0061] 优选地，限定用于所述亮度值的第三阈值。
[0062] 优选地，执行所述在第二部分的亮度值和用于这种亮度值的所述第三阈值之间的第三比较。
[0063] 优选地，所述第三阈值基本等于所述第一阈值。
[0064] 优选地，依据所述第三比较确定第二操作参数，第二操作参数代表在所述第二图像中由关联到比所述第三阈值更高或更低亮度值的第二部分占据的全部区域。
[0065] 优选地，执行在所述第二操作参数和第四阈值之间的第四比较。
[0066] 优选地，所述第四阈值基本等于所述第二阈值。
[0067] 优选地，依据所述第四比较导致第二通知信号的产生。
[0068] 因此，可以执行在半成品的两个表面上的验证，以进一步减小维持关联到服务性织物和/或粘合带的残留物的半成品会提供到后续构建站的可能性。
[0069] 优选地，设置亮度值的第二线性范围，第二线性范围被限定在与零亮度值对应的第三值和与最大亮度值对应的第四值之间，其中，所述第三值和所述第四值之间的差异的绝对值限定所述第二线性范围的幅度，所述第三阈值与所述第二线性范围相关地被限定。
[0070] 优选地，所述第三阈值使得所述第三阈值和所述第三值之间的差异的绝对值介于所述第二线性范围的幅度的大约5％和大约20％之间。
[0071] 优选地，所述第二操作参数代表在所述第二图像中由关联到比所述第三阈值更低亮度值的第二部分占据的全部区域。
[0072] 优选地，如果所述第二操作参数低于所述第四阈值，则产生所述第二通知信号。
[0073] 优选地，如果所述第二操作参数低于所述第四阈值，则导致第二中断信号的产生，以停用促使所述半成品从所述卷轴解绕和/或所述半成品朝向所述构建站移动的一个或多个致动器。
[0074] 优选地，所述第一检测装置面向所述半成品的第一表面。
[0075] 优选地，在所述卷轴解绕且朝向所述构建站移动期间，所述半成品遵循确定路径。
[0076] 优选地，所述第一图像和所述第二图像在所述路径的不同位置被检测。
[0077] 因此，避免两个检测操作彼此干涉。
[0078] 优选地，所述第二图像由面向所述半成品的第二表面的第二检测装置检测。
[0079] 优选地，向至少所述半成品发送
电磁辐射，以允许或有助于由所述第二检测装置检测。
[0080] 因此，由于第二检测装置操作的亮度条件的变化造成的检测的不准确性能够被最小化。
[0081] 优选地，设置相对于所述第二检测装置与所述半成品相反的第二背景墙。
[0082] 优选地，所述第二背景墙使得重现所述第一背景墙的所述第二图像的一个或多个部分关联到比所述第三阈值更高的亮度值。
[0083] 因此，可以优化由第二检测装置实施的检测的质量，提供最大化与制造半成品的主要材料的对照的背景。
[0084] 优选地，所述第一处理单元配置成在所述第一操作参数低于所述第二阈值的情况下导致中断信号的产生，以停用促使所述半成品从所述卷轴解绕和/或所述半成品朝向所述构建站移动的一个或多个致动器。
[0085] 优选地，设置第一发射装置，其
定位在所述半成品相对于所述第一检测装置的相同侧上，且配置成向至少所述半成品发送电磁辐射，以允许或有助于所述第一检测装置的检测。
[0086] 优选地，设置第一背景墙，其相对于所述第一检测装置与所述半成品相反地定位。
[0087] 优选地，所述第一检测装置面向所述半成品的第一表面。
[0088] 优选地，第二检测装置设置成面向所述半成品的第二表面，第二表面相反于所述第一表面，所述第二检测装置适于检测代表所述半成品的第二表面的一部分的第二图像，所述第二图像由多个第二部分形成，每个第二部分关联到相应亮度值。
[0089] 优选地，设置第二存储器，其配置成存储第三阈值。
[0090] 优选地，设置第二处理单元，其关联到所述第二检测装置。
[0091] 优选地，所述第二处理单元配置成执行在所述第二部分的亮度值和所述第三阈值之间的第三比较。
[0092] 优选地，所述第二操作参数配置成依据所述第三比较确定第二操作参数，第二操作参数代表在所述第二图像中由关联到比所述第三阈值更高或更低亮度值的第二部分占据的全部区域。
[0093] 优选地，所述第二处理单元配置成执行在所述第二操作参数和第四阈值之间的第四比较。
[0094] 优选地，所述第二处理单元配置成依据所述第四比较导致第二通知信号的产生。
[0095] 优选地，所述第二处理单元配置成在所述第二操作参数低于所述第四阈值的情况下导致第二中断信号的产生，以停用促使所述半成品从所述卷轴解绕和/或所述半成品朝向所述构建站移动的一个或多个致动器。
[0096] 优选地，所述第一和第二检测装置沿在所述卷轴解绕且朝向所述构建站移动期间由所述半成品遵循的路径布置在不同位置。
[0097] 优选地，设置第二背景墙，其相对于所述第二检测装置与所述半成品相反地定位。
[0098] 优选地，设置第二发射装置，其定位在所述半成品相对于所述第二检测装置的相同侧上，且配置成向至少所述半成品发送电磁辐射，以允许或有助于所述第二检测装置的检测。
附图说明
[0099] 通过对本发明的优选但非唯一的实施方式的详细说明，另外的特征和优点将变得更加清楚。该说明在下文中参考附图提供，以示例给出且因此不具有限定性，其中：
[0100] -图1示意性示出用于构建轮胎的装备的一部分，其中，依据本发明的设备被插入；
[0101] -图2a-2d示意性示出在根据本发明的设备和方法中使用的说明性图像；
[0103] -图4a、4b示出在根据本发明的设备和方法中使用的一些参数；
[0104] -图5示意性示出图1和图3的设备的装置形成部分的详细视图。
具体实施方式
[0105] 参考附图，1整体指代在轮胎构建过程中控制半成品的制造和供给的设备。
[0106] 如图1示意性所示，设备1用于控制从卷轴20解绕的半成品10。
[0107] 初始，半成品10与服务性织物3一起缠绕在卷轴20上；在从卷轴20解绕期间，半成品10和服务性织物3以已知的方式分开。
[0108] 服务性织物3优选缠绕在辅助卷轴4上。
[0109] 半成品10继而朝向后续构建站30适当移动，其中，初级半成品(未示出)从所述半成品10开始被制备而后使用。
[0110] 在一实施方式中，在输入中被提供到构建站30之前，半成品10在适当的累积站50中累积，有利地用于管理装备的处理时间和不同站之间的同步。
[0111] 半成品10从卷轴20的解绕以及半成品朝向构建站30的移动借助于一个或多个适当的致动器40发生，致动器是例如关联到一个或多个辊的优选机电类型的致动器，所述辊有助于限定半成品10遵循的轨迹。
[0112] 如图1示意性所示，半成品10遵循从卷轴20到构建站30的路径P。
[0113] 所述设备1首先至少包括第一检测装置110，以检测表示半成品10的至少第一图像A。
[0114] 第一检测装置110可包括能够将接收的光辐射转换成
电信号的传感器或感光元件、和使其它装置/设备能够使用这种电信号所需的
电路，这将在下文中更详细地描述。
[0115] 例如，传感器能够是CMOS类型的。
[0116] 然而，也可使用其它类型的传感器，只要它们具有适宜的功能性特征。
[0117] 在一实施方式中，第一检测装置110可包括或被关联到偏光滤光器。
[0118] 第一图像A由多个第一部分A1、A2形成，它们中的每个被关联到相应的亮度值(图2a)。
[0119] 第一部分A1、A2能够由单个像素或像素组形成。
[0120] 在每个第一部分A1、A2由单个相应像素形成的情况下，赋予这个部分的亮度值将是相应像素的亮度值。
[0121] 在每个部分A1、A2包括两个或更多像素的情况下，关联到部分A1、A2的亮度值将依据形成所述部分的各个像素的亮度值而确定。
[0122] 申请人观察到，图像像素的亮度值基于在第一检测装置110的传感器形成部分的对应像素上的入射光子的数量而确定。
[0123] 具体地，在传感器的像素上的入射光子的数量越多，赋予图像中的对应像素的亮度值将越高。
[0124] 必须注意到，传感器的每个像素能够接收受限数量的光子；这个限制由所谓的传感器容量赋予。
[0125] 如果这个像素接收的光子的数量等于或高于所述受限数量，关联到这个像素的亮度值将是最大值，且即使入射光子的数量增加，关联到这个像素的亮度值也将不能够增加。
[0126] 在图2a中，基准A1、A2识别具有不同于彼此的亮度值的像素。
[0127] 所述设备1还包括至少第一存储器150，其中，用于所述亮度值的第一阈值TH1被存储。
[0128] 第一阈值TH1被限定在亮度值的第一线性范围内(图4a)。
[0129] 第一范围介于第一值V1和第二值V2之间。
[0130] 第一值V1对应于零亮度值；优选地，第一值V1与所述零亮度值一致。
[0131] 第二值V2对应于最大亮度值；优选地，第二值V2与所述最大亮度值一致。
[0132] 在第一值V1和第二值V2之间的差异的绝对值限定第一范围的幅度。
[0133] 在第一阈值TH1和第一值V1之间的差异的绝对值介于第一范围的幅度的大约5％和大约20％之间。
[0134] 图4a示意性示出第一范围的亮度值，其中，第一值V1等于零，第二值V2等于255，且第一阈值TH1例如位于20处。
[0135] 在图2a中，基准A1识别具有低于第一阈值TH1的亮度值的像素，而基准A2识别具有高于第一阈值TH1的亮度值的像素。
[0136] 必须注意到，在图2a中，为了简化，基准A1仅关联到某些像素；基准A1旨在识别与低于第一阈值TH1的亮度值关联的所有像素或像素组。
[0137] 设备1包括关联到至少第一检测装置110和第一存储器150的第一处理单元160(图1，3)。
[0138] 第一处理单元160配置成执行在关联到第一图像A的所述部分A1、A2的亮度值和第一阈值TH1之间的第一比较。
[0139] 依据这个第一比较，第一处理单元160配置成确定第一操作参数P1，第一操作参数代表在第一图像A中由关联到比第一阈值TH1更高或更低的亮度值、优选低于前述第一阈值TH1的亮度值的第一部分A1占据的全部区域。
[0140] 在实践中，第一操作参数P1表示暗区域存在于第一图像A中的程度。
[0141] 第一处理单元160配置成将第一操作参数P1与第二阈值TH2比较。
[0142] 优选地，第二阈值TH2代表由第一图像A的具有比第一阈值TH1更低亮度的部分全部占据的最小可接受区域。
[0143] 例如，第二阈值TH2能够在由足够暗(即，具有低于第一阈值TH1的亮度)的像素占据的区域和第一图像A的全部区域之间的百分比的方面被限定。第二阈值TH2依据第一图像A的尺寸和由半成品10的图示占据的第一图像A的部分的尺寸而适当设定。
[0144] 通过将第一检测装置110放置在距半成品10介于大约100mm和大约300mm之间的距离处，第二阈值TH2能够例如介于大约85％和大约95％之间。
[0145] 在一实施方式中，第二阈值TH2能够以至少部分自动的方式确定。
[0146] 具体地，能够设置第一基准图像ARef(图2c)，其代表基本没有残留物或异物的半成品10的部分。第一基准图像ARef能够例如借助于用于
图像处理的
软件程序人工生成，或者第一基准图像能够借助于第一检测装置110检测。在第二种情况下，准确选择完全没有残留物或异物的半成品部分。
[0147] 第一基准图像ARef包括多个第一基准部分ARef1。每个第一基准部分ARef1被关联到相应的亮度值。
[0148] 有利地，将第一基准部分ARef1中的每个的亮度值与所述第一阈值TH1比较。
[0149] 借助于这个比较，第一基准参数PRef1被确定，第一基准参数代表在所述第一基准图像ARef中由关联到比第一阈值TH1更低的亮度值的第一基准部分ARef1占据的全部区域。
[0150] 因此基于第一基准参数PRef1，第二阈值TH2能够被确定。
[0151] 在实践中，第一基准参数PRef1代表在半成品的理想或至少优化的部分的情况下，由暗像素占据的区域必须有多宽。
[0152] 通过计算这个区域和第一基准图像ARef的全部区域之间的比率，由此可以确定第一图像A中的暗像素的优化百分比。依据该百分比，最终可以确定第二阈值TH2。
[0153] 例如，第二阈值TH2能够在某种程度上低于基于第一基准参数PRef1识别的优化百分比，从而避免系统可能的不理想和不完美，否则具有比平均更高亮度的仅仅小的区域(至少无关于半成品质量)就可能扭曲由设备1执行的分析的结果。
[0154] 必须注意到，优选地，第一基准图像ARef和第一图像A具有相同尺寸，且半成品10以相同比例(即，例如根据相同的放大或缩小比例)在两个图像中示出。
[0155] 例如，在第一基准图像ARef由第一检测装置110检测的情况下，第一检测装置定位在与半成品的距离等于第一检测装置110自身检测第一图像A的距离处。第一检测装置110的光学器件优选在两种情况下以相同方式配置，从而在示出的半成品的放大/缩小的方面保持一致性。
[0156] 正如所述，第一处理单元160配置成将第一操作参数P1与第二阈值TH2比较。
[0157] 依据所述比较，第一处理单元160导致第一通知信号NS1的产生。
[0158] 优选地，第一处理单元160在第一操作参数P1低于第二阈值TH2的情况下导致第一通知信号NS1的产生。在实践中，第一图像A总体不具有足够大的暗区域这一事实归因于粘合带和/或服务性织物的残留物的一部分的存在，因此产生第一通知信号NS1。
[0159] 第一通知信号NS1旨在给负责控制装备的操作员报告情况。因此操作员将能够例如通过移除存在于半成品上的粘合带和/或服务性织物的残留物的一部分而进行干预。
[0160] 在一实施方式中，第一处理单元160直接产生第一通知信号NS1，以便以声音和/或图像方式警告负责的操作员。
[0161] 在不同实施方式中，第一处理单元160与和第一处理单元160分开的至少第一外部装置ED1协作，第一外部装置诸如是PLC，功能在于控制设备1和其它可能设备和/或装备的其它工作站形成部分。在这种情况下，第一处理单元160输出一条信息，所述信息代表第一操作参数P1低于第二阈值TH2的事实。第一外部装置ED1在接收这个信息之后产生第一通知信号NS1。
[0162] 优选地，所述至少第一图像A在半成品10从前述卷轴20解绕时被检测。
[0163] 优选地，如果第一参数P1低于第二阈值TH2，则第一处理单元160导致第一中断信号XS1的产生，以停用致动器40中的一个或多个。
[0164] 因此，半成品10的移动停止且有利于操作员的可能干预。
[0165] 而且，第一中断信号XS1能够由第一处理单元160直接产生，或第一中断信号能够由与第一处理单元160协作的第一外部装置ED1产生。具体地，该第一外部装置ED1一旦接收与第一参数P1低于第二阈值TH2的事实有关的信息，就能够产生第一通知信号NS1和第一中断信号XS1。
[0166] 优选地，设备1还包括相对于第一检测装置110定位在半成品10的相同侧上的至少第一发射装置170。
[0167] 如能够在图1中示意性示出的，第一检测装置110和第一发射装置170面向半成品10的第一表面10a。
[0168] 第一发射装置170配置成向至少半成品10发送电磁辐射，以允许或有助于所述第一检测装置110的检测。
[0169] 优选地，由第一发射装置170发送的辐射是可见
光谱中的光辐射，所述光辐射例如借助于适当配置且被供电的一个或多个LED发射器E1-E8获得。
[0170] 例如，第一发射装置170能够是冠状类型(图5)；第一检测装置110的传感器S能够有利地定位在中央区域中，发射器E1-E8围绕中央区域周向设置。
[0171] 优选地，为了最大化由第一检测装置110执行的检测的质量，设备1包括相对于第一检测装置110定位在与半成品10的相反侧上的至少第一背景墙120。换言之，半成品10放置在第一检测装置110和第一背景墙120之间。
[0172] 背景墙120的功能是有助于第一图像A的检测；具体地，第一背景墙120使得重现第一背景墙120自身的第一图像A的部分AX关联到比第一阈值TH1更高的亮度值。因此第一背景墙120不会负面干涉第一操作参数P1的确定，相反，第一背景墙对于部分A1的准确识别提供适宜的对照。
[0173] 在实践中，第一发射装置170照亮必须由第一检测装置110检测的半成品10的部分和可能的第一背景墙120(如果存在)。因此第一检测装置110检测对应的反射辐射，以便限定第一图像A。
[0174] 在一优选实施方式中，设备1还包括面向与半成品10的前述第一表面10a相反的第二表面10b的第二检测装置130。
[0175] 优选地，第二检测装置130在与第一检测装置110不同的位置沿由半成品10遵循的路径P放置。
[0176] 第二检测装置130可包括能够将接收的光辐射转换成电信号的传感器或感光元件、以及使这种电信号能够由其它装置/设备使用所需的电路，这将在下文中更详细地描述。
[0177] 例如，传感器能够是CMOS类型。
[0178] 然而，也可使用其它类型的传感器，只要它们具有适宜功能性特征。
[0179] 在一实施方式中，第二检测装置130可包括或关联到偏光滤光器。
[0180] 优选地，第二检测装置130具有与第一检测装置110基本相同的结构性和功能性特征。
[0181] 第二检测装置130适于检测半成品10的第二图像B。
[0182] 优选地，第二图像B是单色图像。
[0183] 类似于第一图像A，第二图像B由多个第二部分B1、B2形成，它们中的每个关联到相应亮度值(图2b)。
[0184] 第二检测装置130关联到第二处理单元180(图1、3)。
[0185] 第二处理单元180配置成将第二部分B1、B2的亮度值与第三阈值TH3比较。
[0186] 第三阈值TH3被限定在亮度值的第二线性范围内(图4b)。
[0187] 第二范围介于第三值V3和第四值V4之间。
[0188] 第三值V3对应于零亮度值；优选地，第三值V3与所述零亮度值一致。
[0189] 第四值V4对应于最大亮度值；优选地，第四值V4与所述最大亮度值一致。
[0190] 在第三值V3和第四值V4之间的差异的绝对值限定第二范围的幅度。
[0191] 在第三阈值TH3和第三值V3之间的差异的绝对值介于第二范围的幅度的大约5％和大约20％之间。
[0192] 优选地，第三阈值TH3与第一阈值TH1一致。
[0193] 优选地，第三值V3与第一值V1一致且第四值V4与第二值V2一致；具体地，第二范围可与第一范围一致。
[0194] 在一不同实施方式中，第三阈值TH3与第一阈值TH1不一致。第一和第二范围、与相应的第一、第二、第三和第四值V1-V4一起能够彼此不同。
[0195] 在第一和第三阈值TH1、TH3不一致的情况下，第三阈值TH3能够存储在第二存储器150a中。
[0196] 第二处理单元180依据第二部分B1、B2的亮度值和第三阈值TH3之间的比较而确定第二操作参数P2。
[0197] 第二操作参数P2代表在所述第二图像B中由关联到低于或高于第三阈值TH3、优选低于所述第三阈值TH3的亮度值的第二部分B1占据的全部区域。第一处理单元180配置成将第二操作参数P2与第四阈值TH4比较。
[0198] 优选地，第四阈值TH4代表由第二图像B的具有比第三阈值TH3更低亮度的部分全部占据的最小可接受区域。
[0199] 例如，第四阈值TH4能够在由足够暗(即，具有低于第三阈值TH3的亮度)的像素占据的区域和第二图像B的全部区域之间的百分比的方面被限定。
[0200] 优选地，第四阈值TH4与第二阈值TH2一致。
[0201] 在一不同的实施方式中，第四阈值TH4独立于第二阈值TH2计算。
[0202] 为计算第四阈值TH4实施的操作能够与为计算第二阈值TH2实施的操作基本相同。差异可包括例如所使用的不同装置(第二检测装置130，而非第一检测装置110)、作为基准截取的半成品的不同表面(第二表面10b，而非第一表面10a)、检测基准图像的不同光照条件，等等。
[0203] 总之，包括第二基准部分BRef1(图2d)的第二基准图像BRef以另一种方式检测(借助于第二检测装置130)或产生；通过将第二基准部分BRef1的亮度与第三阈值TH3比较，第二基准参数PRef2被确定，第二基准参数代表在半成品的理想或至少优化部分的情况下由暗像素占据的区域的大小；第四阈值TH4依据该第二基准参数PRef2计算。
[0204] 依据所述第二操作参数P2和所述第四阈值TH4之间的比较，第二处理单元180导致第二通知信号NS2的产生。
[0205] 优选地，第二处理单元180在第二操作参数P2低于第四阈值TH4的情况下导致所述第二通知信号NS2的产生。
[0206] 第二通知信号NS2具有优选与第一通知信号NS1相同的特征。
[0207] 第二通知信号NS2具有警告操作员的功能，使得操作员能够干预以移除存在于半成品10的第二表面10b上的服务性织物和/或粘合带的残留物。
[0208] 类似于第一通知信号NS1，第二通知信号NS2也能够由第二处理单元180直接产生，或第二通知信号能够由与第二处理单元180协作的第二外部装置ED2产生。具体地，第二处理单元180可给第二外部装置ED2提供与第二操作参数P2低于第四阈值TH4的事实相关的信息；然后第二外部装置ED2可以产生第二通知信号NS2。
[0209] 优选地，第一和第二外部装置ED1、ED2被形成为例如形式为如上所示的PLC的单个设备。
[0210] 优选地，第二处理单元180配置成导致第二中断信号XS2的产生，以停用致动器40中的一个或多个，以便暂时停止半成品10的解绕和/或移动，因此允许/有助于负责操作员的干预。
[0211] 同样，第二中断信号XS2能够由第二处理单元180直接产生，或第二中断信号能够在由第二处理单元180提供的适当输入之后由第二外部装置ED2产生。
[0212] 在优选实施方式中，在已经接收与第二操作参数P1低于第四阈值TH4的事实相关的信息之后，第二外部装置ED2产生第二通知信号NS2和第二中断信号XS2。
[0213] 优选地，设备1还包括相对于第二检测装置130定位在半成品10的相同侧上的第二发射装置190。
[0214] 如图1中示意性所示，第二发射装置190面向半成品10的第二表面10b。
[0215] 第二发射装置190配置成至少向半成品10发送电磁辐射，以允许或有助于所述第二检测装置130进行检测。
[0216] 优选地，由第二发射装置190发射的辐射是可见光谱中的光辐射，所述光辐射例如借助于适当配置和被供电的一个或多个LED获得。
[0217] 例如，第二发射装置190能够是冠状类型的；第二检测装置130的传感器能够有利地定位在所述
冠部的中央区域中。在实践中，第二发射装置190能够以与在图5中参考第一发射装置170示意性示出的方式相同的方式成形。
[0218] 优选地，第二发射装置190具有与第一发射装置170基本相同的结构性和功能性特征。
[0219] 优选地，为了最大化由第二检测装置130执行检测的质量，设备1包括相对于第二检测装置130定位在半成品10的相反侧上的至少第二背景墙140。换言之，半成品10放置在第二检测装置130和第二背景墙140之间。
[0220] 第二背景墙140的功能是有助于第二图像B的检测；具体地，第二背景墙140使得重现第二背景墙140自身的第二图像B的部分BX关联到比第三阈值TH3更高的亮度值。因此第二背景墙140不会负面干涉第二操作参数P1的确定，且相反地，第二背景墙提供用于部分B1的准确识别的适宜对照。
[0221] 在一实施方式中，设备1能够设有适宜的对准系统(未示出)，所述对准系统优选与前述一个或多个辊协作，将半成品10保持面向第一和/或第二检测装置110、130，使得第一和/或第二图像A、B的检测和后续分析能够以准确和正确的方式执行。
[0222] 必须注意到，仅为了清楚原因而分开描述第一和第二处理单元160、180。
[0223] 在一实施方式中，第一和第二处理单元能够被制造为单个
电子装置，所述单个电子装置被适当编程以便执行在此描述和要求保护的操作。
[0224] 该单个电子装置能够由PLC形成或被操作性关联到PLC，所述PLC监督设备1和装备的其它可能部分的功能。
[0225] 在一不同实施方式中，第一和第二处理单元160、180能够被制造为不同的电子装置。例如，每个电子单元160、180能够被部分或完全结合在摄影机或
数字电视摄像机中，至少还包括相应的检测装置110、130。
[0226] 在实践中，这种类型的
电视摄像机或摄影机能够被构建和编程，以便至少产生与第一/第二操作参数P1、P2低于第二/第四阈值TH2、TH4的事实相关的信息作为输出。适当提供给第一/第二外部装置ED1、ED2的这种信息然后允许第一/第二通知信号NS1、NS2和可能的第一/第二中断信号XS1、XS2的产生。正如所述，第一外部装置ED1和第二外部装置ED2能够由优选结合在前述PLC中的单个装置/设备形成。
[0227] 鉴于上文所述，依据本发明执行以下操作。
[0228] 首先，第一图像A被检测。
[0229] 然后，在第一图像A的第一部分A1、A2的亮度值和第一阈值TH1之间执行第一比较。
[0230] 依据这个第一比较，第一操作参数P1被确定，第一操作参数代表在第一图像A中由关联到比第一阈值TH1更高或更低的亮度值、优选低于第一阈值TH1的第一部分A1占据的全部区域。
[0231] 然后在第一操作参数P1和第二阈值TH2之间执行第二比较。
[0232] 依据前述比较，导致第一通知信号NS1的产生。
[0233] 优选地，如果第一操作参数P1低于第二阈值TH2，则导致第一通知信号NS1的产生。
[0234] 优选地，如果第一操作参数P1低于第二阈值TH2，则也导致第一中断信号XS1的产生。
[0235] 优选地，为了允许或有助于第一图像A的检测，电磁辐射被发送到半成品10上，所述电磁辐射例如具有包括在可视辐射范围中的
波长。
[0236] 优选地，设置前述第一背景墙120，以使得半成品10放置在所述第一背景墙120和用于检测第一图像A的第一检测装置110之间。
[0237] 优选地，还能够检测代表半成品10的第二图像B。
[0238] 然后，在第二图像B的第二部分B1、B2的亮度值和第三阈值TH3之间执行第三比较。
[0239] 依据该第三比较，第二操作参数P2被确定，第二操作参数代表在第二图像B中由关联到比第三阈值TH3更低或更高的亮度值、优选低于所述第三阈值TH3的第二部分B1占据的全部区域。
[0240] 然后在第二操作参数P2和第四阈值TH4之间执行第四比较。
[0241] 依据前述第四比较，导致第二通知信号NS2的产生。
[0242] 优选地，如果第二操作参数P2低于第四阈值TH4，则导致第二通知信号NS2的产生。
[0243] 而且，如果第二操作参数P2低于第四阈值TH4，则优选导致第二中断信号XS2的产生。
[0244] 优选地，为了允许或有助于第二图像B的检测，电磁辐射被发送到半成品10上，所述电磁辐射例如具有包括在可视辐射范围中的波长。
[0245] 优选地，前述第二背景墙140设置成使得半成品10放置在所述第二背景墙140和用于检测第二图像B的第二检测装置130之间。
[0246] 必须注意到，到目前为止，参考一个单个图像A和一个单个图像B，它们分别代表半成品10的第一和第二表面10a、10b的一部分。然而，本发明提供的是一系列第一图像A和优选地一系列第二图像B被检测，以便以全面的方式检查半成品10自身。具体地，第一图像A和优选第二图像B的检测也基于半成品10的移动/卷动速度设定，以便避免半成品10的一部分不被包括在第一和/或第二图像A、B中从而不能够依据本发明分析。
[0247] 例如，第一和/或第二检测装置110、130能够使用介于大约0.95ms和大约1.05ms之间的曝光时间。对于每个图像的平均处理时间介于大约8ms和12ms之间。半成品10的卷动速度能够介于大约1.5m/s和大约2.5m/s之间。
[0248] 假设处理时间等于11ms，则可以每秒处理90.9个图像，再假设卷动速度等于2m/s，则摄影机和半成品之间的距离调整将必须被设定成使得包括在每个图像中的半成品的长度是大约22mm。在摄影机和半成品之间的距离也是所使用的透镜的聚焦长度的函数。通过改变透镜，摄影机的距离将必须被调整，以使得画面中半成品的长度一直是22mm。
[0249] 通过以卷动速度等于大约1.8m/s而其它参数相同的不同方式设定系统，可以调整摄影机的距离以便框住大约20mm的图像。
