Integrated circuit testing apparatus
专利汇可以提供Integrated circuit testing apparatus专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且PURPOSE:To increase the setting and reducing speeds of the value of a circuit to be tested at a time when a logical circuit according to a scanning-in-and-out system, by forming a system latch into a tree shape. CONSTITUTION:When a set value is applied to the scanning input I3 of a system latch S0 and a system clock phi is applied, a value is set to S0. In the next step, when control signals C0, C1 are set to ''1, 0'' while phi is applied, the value is set to S2 from S0 through I2. In addition, when signals C0, C1 are set to ''0, 1'' to apply phi, the value is set to ''1,0'' and phi is applied to S0, the value is read to S4 from S1 through I2. Next, when signals C0, C1 are set to ''0,1'' and phi is applied, the voltage is read to S6 from S4 through I1 and sent out to the outside from output Q.，下面是Integrated circuit testing apparatus专利的具体信息内容。
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