光檢測裝置
阅读：1016发布：2020-10-25
专利汇可以提供光檢測裝置专利检索，专利查询，专利分析的服务。并且本發明之半導體光檢測元件10係將包含以蓋革模式動作之複數個 雪 崩光電二極體APD、相對於各雪崩光電二極體APD串列連接之滅弧電阻R1、及並列地連接滅弧電阻R1之信號線TL之光電二極體陣列PDA作為一個通道且具有複數個通道。搭載 基板 20係與各通道對應之複數個電極E9配置於主面20a側，並且處理來自各通道之輸出信號之信號處理部SP配置於主面20b側。於半導體基板1N中，針對各通道而形成有與信號線TL電性連接之貫通電極TE。貫通電極TE與電極E9經由凸塊電極BE而電性連接。，下面是光檢測裝置专利的具体信息内容。
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