专利汇可以提供对称楔形腔高光谱全偏振成像装置及方法专利检索,专利查询,专利分析的服务。并且本 发明 公开了一种对称楔形腔高 光谱 全偏振成像装置及方法,该装置沿光路方向依次放置成像物镜、干涉偏振调制系统、探测器及 信号 处理系统。方法步骤为:第一步,入射光束经过成像物镜后,进入干涉偏振调制系统;第二步,同一物点的光束经过干涉偏振调制系统,被调制后成像在探测器靶面上;第三步,系统对场景目标进行推扫,获取目标点不同光程差下的干涉信息,并且不同的Stokes偏振参量沿光程差分开;第四步, 信号处理 系统对采集到的光强信息进行重构,得到场景的二维光强信息、光谱信息及各谱段的全Stokes偏振参量。该方法具有高光通量、高光谱 分辨率 、光谱偏振信息同步获取以及轻小型化等优点。,下面是对称楔形腔高光谱全偏振成像装置及方法专利的具体信息内容。
1.一种对称楔形腔高光谱全偏振成像装置,其特征在于:包括沿光路方向依次放置的成像物镜(1)、干涉偏振调制系统(2)、探测器(3),探测器(3)和信号处理系统(4)连接;其中干涉偏振调制系统(2)包括沿光路方向依次放置的相位延迟器 、相位延迟器 、线偏振器 、对称楔板(21)和平板(22),对称楔板(21)和平板(22)之间的空气隙为干涉腔;干涉偏振调制系统(2)与探测器(3)靶面的大小相等,平板(22)的后表面贴于探测器(3)的感光面;
所有光学元件相对于基底同轴等高。
2.根据权利要求1所述的对称楔形腔高光谱全偏振成像装置,其特征在于:干涉偏振调制系统(2)由相位延迟器 、相位延迟器 、线偏振器 、对称楔板(21)和平板(22)组成,其中对称楔板(21)的两个楔面沿楔面顶端的棱线对称,该棱线与平板(22)中线接触,二者之间的空气隙形成对称楔形腔,即干涉腔;对称楔板(21)出射面和平板(22)入射面镀制反射膜;相位延迟器 、相位延迟器 和线偏振器 依次贴在一起, 的快轴水平放置, 的快轴方向相对的 快轴旋转45°, 的透光轴与 快轴方向平行。
3.一种基于权利要求1所述的对称楔形腔高光谱全偏振成像装置的成像方法,其特征在于包括以下步骤:
第一步,来自目标点的入射光束进入成像物镜(1),确定目标视场,消除杂散光;
第二步,从成像物镜(1)出射的光束进入干涉偏振调制系统(2),光束在干涉偏振调制系统(2)中由相位延迟器 、相位延迟器 和线偏振器 组成的偏振组件进行偏振调制;
在对称楔板(21)出射面处透射和反射,形成第一透射光和第一反射光,第一透射光在干涉偏振调制系统(2)的干涉腔内多次在对称楔板(21)和平板(22)之间透射和反射;
第三步,每个目标点经过干涉偏振调制系统(2)调制后成像在探测器(3)对应的像素上面,在探测器(3)靶面上获取物点的干涉光强信息;通过成像装置对场景目标进行推扫,获取目标点不同光程差下的干涉图像,并且不同的Stokes偏振参量沿光程差分开,光强信息转化成电信号进入信号处理系统(4);
第四步,信号处理系统(4)从收到的电信号中提取目标点不同光程差下的干涉数据,对干涉数据提取处理,得到各个Stokes偏振参量下的干涉信息,对其进行傅里叶变换,从而得到目标各点的光谱信息及全偏振信息。
4.根据权利要求3所述的对称楔形腔高光谱全偏振成像装置的成像方法,其特征在于:
所述系统整体推扫的方式,探测器(3)获得的干涉图像序列中的干涉条纹位置不变,探测目标的图像随着推扫产生横向偏移,即探测目标上各物点的干涉信息分布在图像序列的不同位置上,在提取目标点所对应的干涉数据时首先需要进行图像配准处理,确保每幅干涉图上提取的干涉强度值属于同一个目标点。
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